光衍射技术基础重点

XX光衍射技术基 X光之理论 第1 晶体学基 需要记住的晶面间距的 球面投 极射投 第2 X光基本性 X光管结构（大概了解 X光基本知 X光 X光减弱规 第3 X光的散射与.......................................................................................................自由电子对X光散射 散射线的 第4 晶体的衍 函 消光规 厄瓦尔球（爱球 X光之方法 第5 应 第6 粉末照相 德拜法原 德拜的计算与标 第7 衍射仪 衍射 测角 探测 试样要 第8 X光之应用 第9 k双线的分 第10 物相分 定性分析 第11 此章总结起来只有一条 第12 宏观应 X光衍射方法测应力的原理 用X光衍射方法测应力的特 第13 织构的测 织构的定 特殊的织 织构的分 利于X射线来探测织构的原 正极 反极 第14 XXX光技术的工科同学来说，了解一些定第1章晶体学基晶体结构与空间点阵需要记住的晶面间距的d

d 六方系 对称操作以及对称元素晶体的投影（描述晶面、晶向、原子面、晶带、对称性，比较重要哦球面投影极射投影利用网，还可以测两个任意极点之间的夹角（将基圆直径一样的网与投影中心钉在一起，转动网，使两极点落倒易点阵（可简化体学计算， c a* c,b* ,c*ab,va(bc 的面间距dhkl1/ghkl第2章X光基本性X光管结构（大概了解XX光是波长1012~108m

E(keV)/X1R(11)(Z⑵特征谱，

H XIIed,/,'w imii1滤片：XZ40，用(Z靶1)Z靶40，用(Z靶2)第3章X光的散射自由电子对X光散射：e2e

21cos2⑴相干偏振II0mc2r)h⑵非相干 (1cos2散射线的

；相干非偏振II0(mc2r S 2 i2相位差2sr，s 0，s ；合成A(s) f j 原子的散射： sin2 j单原子f(s)04 2 dr；多原子f(s)fj(s)j第4章晶体的衍小晶体的散射强度

(s)F(s)L(s晶 电 L(L(s 函2 2L(s)ei2

Rmnpmanbpcss1as2bs3cL(s)

Na Nb Nc ei ei ei

L(s1)L(s2)L(s3L(s1

Nai2

sin2Na1picsin2 方程、布拉格定

2

dhkl

）sin ）消光规律

可产生衍射的充分必要条件为：F(s与L(s)均不为零，一般称

jF(s)fj

rua wn v j，得到n

fei2(ujhvjkwjl F(s)

F(s)j

F(s)=4，hkl=0，hkl石结 值为 F(s)F(shkl奇偶混杂时 F(s密排六

F(s

厄瓦尔球（爱球X第5章及其应 应测定单晶取向塑性变形的研究⑴双面法测滑移面⑵⑶第6章粉末照相德拜法原理 hkl10011011120021021122022131031122232032112345689x2x4x68xxxxx34xx8xxxx石38 h2k2 ，sinh2k2其他照相方法

l)聚焦原理：当XS，试P和底片都处在一个称为聚焦圆的圆周上，不管X光所第7章衍射仪衍射测角⑴测角仪有两个转盘，转盘可作θ-2θ联动。接收狭缝绕O转动的轨迹为衍射⑵测角仪的狭缝系统狭缝SS用于仅让X光衍射线通过接收狭缝进入探测器。接收狭缝RS决定了同时进入探测器衍射线的角宽度。狭缝S1和S2，由于X光源的线焦垂直于衍射仪圆，所以X光入两个狭缝S1和S2。探测晶体单色器的使用衍射图样的获得试样要⑵试样的大小厚度与质量：X⑶试样的厚度要大于衍射全图的获得单峰测试（比如说测晶粒大小⑴连续扫描⑶θ2θ2θ固定不动，使θ角在一定角度范围内摆动时，可以测从衍射获得材料信息⑴①图形法（极大值、切、I1/2中点法②曲线近似法（用抛物线拟合衍射峰顶点③重心法22IdId⑵①峰高强度（准确度稍差，JCPDS卡为积分强度②积分强度（称、积分仪、计算机处理 I积分＝[I(2)I（2）]d2 第8章衍射线的理论X有两个应用我们做过实验，希望大家了才好。第9章衍射线的线形从衍射获得材料信息实测线形与真实线形：kk双线分离是真实线形不可缺少的重要步骤，k双线分离的基础：k1k2强度与波长的分布一样；k1的强度是k2强度的2倍。 第10相分物相分析包括：定性分析和定量分析定性分析：⑴目的：判断试样的物相组成（θ）取决于晶胞的大小，⑶①与已知进行比较，如PDF②m的比值（

2

(h

kl)

m=1,2,3,4,5,6,8,9,10,11,12,13,14,16,17（7,15外所有数） m=2:1为 四方结m=3:1为 六方结物相定量分析：⑶方法①外标法：以外部试样为标样（0 w f(w

w(**)

工作曲线即可进行定量分析，再根据实测的I/I0值即可求出的重量分数。 ww

kI/IsIc；3.理论计算（不重要）③自标法：

1wIikwii1,2,,n1,w II i kj(kjj kj由内标法中第11章精确测定点阵此章总结起来只有一条外推法测定点阵参数的原理：90o测量，所以通常测量一系列高角度线，外推至90o，获得较准确的点阵参数。第12章宏观应力的测宏观应力宏观应力的测定原理X光衍射方法测应力的原理：直于表面的应力3＝0，任一方向的应变为：

1

sin2E

2E 而 dd0 d d ctg 21 只要测出某特定晶面的d随的变化量，就可以利用上述求的应力。需要注意的是： X光衍射方法测应力的方法（主要掌握衍射仪法）⑴0o-45o法（ψ0法：X光入射线方向与被测物体都不动，探测器扫描记录衍射线位的方法；测试中ψ0保持不变，但ψ角需根据θ变化和ψ0计算。） 和 ，由00 45o ctg 2 0180sin2 ⑵45o单倾斜法（ψ0法14511351，24522 ctg 22 0180sin22sin2⑶sin2ψ（ψ1/2θ－2θ联动测试衍射线位置，测试中。ψ保持不变。）2sin2表面应力状态的确定若主应力方向未知，则需要测三个方向,2,单轴拉伸求Ehkl由 及Ehkl，X光衍射方法测应力的特点⑴X⑵⑶X织构的定义特殊的织构织构的分类⑴丝织构得，即固定2θ角，只转动样品。半高宽越小，说明丝织构越明显）。⑵板织构利于X射线来探测织构的原理织构的表示方法：正极反极（001（011（111第14章微晶尺寸与微观应力的测定微晶尺寸测定： ：Dhkl

为试样衍射线形的半高宽，需从实测线形的半高宽中“扣除”仪器的半高宽（一般减：即