材料现代分析测试技术试卷

期末考试试卷记标修重--------名姓-记标修重--------名姓------号学---------级班题号题号满分一20二20三40四20五六七合计100评阅人得分一、选择题（每小题2分，共20评阅人得分1、下列材料现代分析方法中能进行局部点的微结构分析的是（）A）X射线衍射分析B）扫描电子显微镜C）透射电子显微镜D）热重分析法2、X射线衍射分析是近代材料微观结构与缺陷分析必不可少的重要手段之一，以下哪个选项不是X射线衍射分析的应用（）A）晶体结构研究B)物相分析C）精细结构研究D）表面元素分析3、X射线管所产生的特征谱的波长受以下哪种因素所影响（）A）管电压B)管电流C）阳极靶材的原子序数D）电子电荷4X靶材元素确定的，根据滤波片材料选择规律，当阳极靶材料为元素Mo料应该是下列选项中的（）A）FeB）CoC）NiD）Zr5X射线衍射定量分析中，如待测样品中含有多个物相，各相的质量吸收系数又不同，常采用下列哪种方法（ ）A）外标法 B）内标法 C）参比强度法 D）直接对比法6、透射电子显微镜成像系统中通常包含三级放大系统，下列选项中不是其三级放大系统的是（ ）A）物镜 B）中间镜 C）目镜 D）投影镜7、利用透射电子显微镜观察纳米二氧化钛形态，通常采用下列哪种制样方法（ ）A）支持膜法 B)超薄切片法 C）复型法 D）晶体减薄法8、扫描电子显微镜观察中，二次电子像的衬度主要受以下哪个因素所影响（ ）A）形貌 B）成分 C）电压 D）电磁9、采用X光电子能谱分析Be的化学状态，根据影响其化学位移的规律，下列选项中Be的1s电子结合能排列正确的是（ ）>BeF2 >Be B)BeF2>Be>BeO C)BeF2>BeO>Be D)Be>>BeO10、根据差热曲线方程，为了提高仪器的检测灵敏度，采用如下哪种方法（ ）A）高升温速率 B)低升温速率 C）采用惰性气氛 D）采用氧化气氛命题教师（签字）命题教师（签字）试做教师（签字）系、室主任（签字）第1页共7页评阅人得分二、填空题（每空1分，共20评阅人得分1、X射线管发出的X射线，其波长并不相同，根据其波长变化的特点可分为和 。2、布拉格方程：3、像差包含 、 、 和畸变4、德拜相机中底片的安装方式有 、 和 。5、透射电子显微镜成像衬度包含 、 、 原子序数衬度。6、电子探针显微分析中，根据其工作原理的不同可分为 和 。7、扫描隧道显微镜的工作模式为 和 。8X射线光电子能谱图中，通常强度最大、峰宽最小、对称性最好的谱峰是 。9、热重分析中常采用的热天平一般可分为 、 和 。评阅人得分三、简答题（每小题10分，共40评阅人得分1、X射线衍射定量分析有哪些方法？它们各自的应用特点有哪些？（10分）2?（10分）3、透射电子显微镜样品制备方法中有支持膜法、复型法以及晶体薄膜法，采用这三种制备方法的样品分别为哪些类型？支持膜材料必须具备的条件有哪些？（10分）4、能谱仪和波谱仪的工作原理是什么？比较两种谱仪在进行微区成分分析时的优缺点？（10分）评阅人得分四、 计算题（每小题10分，共20评阅人得分1、某一MgCl29h后，0031.1°，110衍射峰半高宽1.0°0030.4°，1100.6°，00325.1°，实验用CuKα003MgCl2样品球磨后的晶粒尺寸并推测其形态？（10分）2100kVnsinβ1式计算该透射电子显微镜的理论分辨率？（10分）期末考试答案及评分标准课程名称：材料现代分析技术 A 卷一、选择题（220）12345678910CDCDBCAACA二、填空题（每空题1分，共20分（答案中文，或英文简写均可）2、1、连续谱（或硬X射线；标示谱（或特征谱、或软X2、3、球差；像散；色差。4、正装法；反装法；不对称装法。5、质厚衬度；衍射测度；相位衬度。6、能谱仪EDX或ED；波谱仪（WD）7、恒电流模式；恒高度模式。8、光电子峰（或主峰。9、上皿式；下皿式；水平式三、简答题（1040）关键知识点（下划线部分）答对即可1、1）X射线衍射定量分析有外标法、内标法、K值法、任意内标法。（2分，每条0.5分）>2的多组分混合物相，但绘制定标曲线需配制多个复合样品，工作量大，适用于物相种类比较固定且经常性的样品分析工作；K值法不需要制作内标曲线，K采用任意物质为标准物质，更为简单（82分）2、材料科学研究领域最常见的微结构分析有光学显微镜、X射线衍射和电子显微镜。（3分，每条1分）光学显微镜（2分）优点：观察表面形貌，操作简单，信息直观；缺点：分辨率低0.2mX射线衍射（2分）电子显微镜（3分）优点：分辨率高、可做细微图像观察；结构分析；成分分析以及电子结构分析；分析可在一台仪器（TEM）上实现、可对局部点进行分析；缺点：但只能做局部分析；价格昂贵，获得的信息是非直观的，分析过程复杂；操作复杂；样品制备过程复杂。3以制成电子束可以透过的薄膜的试样；晶体薄膜法主要用于能制备成薄膜样品并保持大块材（62条）（4分）本身是“非晶体的，在高倍（如十万倍）成像时，也不显示其本身的任何结构细节。对电子束足够透明（物质原子序数低；具有足够的强度和刚度，在复制过程中不致破裂或畸变；具有良好的导电性，耐电子束轰击。4、能谱仪和波谱仪的工作原理是什么？比较两种谱仪在进行微区成分分析时的优缺点？（10分）能谱仪工作原理为依据不同元素的特征X射线具有不同的能量这一特点来对检测的X行分散展谱，实现对微区成分分析（3分）波谱仪则是依据不同元素的特征X射线具有不同波长这一特点对样品进行成分分析（3分能谱仪分辨率较低，谱线有重叠现象，探测效率高，灵敏度较好，但对痕量元素分析精度不（2分）波谱仪分辨率较高，检测效率低，适合用痕量元素分析，但灵敏度较低，分析速度较慢等优缺点（2分）四、计算题（201（10）根据谢乐公式D（1D（1分）0.890.9均可ΔB=1.1o-0.4o=0.7o=0.01222弧度 （1分）D003=D003==11.5nm（3分）ΔB=1.0o-0.6o=0.