青岛理工大学 增补试验金属电子逸出功的测定

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增补试验：金属电子逸出功的测定

1.了解热电子发射的基本规律，验证肖特基效应；

2.学习用理查森直线法处理数据，测量电子逸出电位。

二十世纪前半叶，物理学在工程技术方面最引人注目的应用之一是在无线电电子方面。无线电电子学的基础是热电子发射。当时名为热离子学的学科研究的就是热电子发射。它的创始人之一，英国著名物理学家理查森（OwenW.Richardson，1879-1959），由于发现了热电子发射定律，即理查森定律，为设计合理的电子发射机构是指明白道路，其研究工作队无线电电子学的发展产生了深远的影响，因而荣获1928年诺贝尔物理学奖。

在真空玻璃管中装上两个电极，其中一个用金属丝做成（一般称为阴极），并通过电流使之加热，在另一个电极（即阳极）上加一高于金属丝的正电位，则在连接这两个电极的外电路中就有电流通过。有电子从加热的金属丝中射出，这种现象称为热电子发射。研究各种材料在不同温度下的热电子发射，对于以热阴极为基础的各种真空电子器件的研制是极为重要的，电子的逸出电位正是热电子发射的一个基本物理参数。

根据量子理论，原子内电子的能级是量子化的。在金属内部运动着的自由电子遵循类似的规律：1.金属中自由电子的能量是量子化的；2.电子具有全同性，即各电子是不可区分的；3.能级的填充要符合泡利不相容原理。根据现代的量子论观点，金属中电子的能量分布听从费米-狄拉克分布。在绝对零度时，电子数按能量的分布曲线如图1中的曲线（1）所示，此时电子所具有的最大动能为Wi，Wi所处能级又称为费米能级。当温度升高时，电子能量分布曲线如图1中的曲线（2）所示，其中少数电子能量上升到比Wi高，并且电子数随能量以接近指数的规律减少。

dN/dWT=0KT=1500KWWi图1电子能级分布曲线

WW0WaWidN/dW

图2势能壁垒图

由于金属表面存在一个厚约10-10米左右的电子-正电荷电偶层，阻碍电子从金属表面逸出。也就是说金属表面与外界之间有势能壁垒Wa，如图2，因此电子要从金属中逸出，必需具有至少大于Wa的动能，即必需战胜电偶层的阻力作功，这个功就叫电子逸出功，以W0表示，显然W0=Wa-Wi=e0φ。W0的常用单位为电子伏特（eV），它表征要使处于绝对零度下的金属中具有最大能量的电子逸出金属表面所需要的给予的能量。φ称为逸出电位，其数值等于以电子伏特表示的电子逸出功，单位为伏特（V）。

有上述可知：热电子发射是用提高阴极温度的方法以改变电子的能量分布，使动能大于Wi的电子增多，从而使动能大于Wa的电子数达到一可观测的大小。可见，逸出功的大小对热电子的发射强弱有决定性的作用。

根据以上理论，可以推导出热电子发射的理查森-杜旭曼（S.Dushman）公式Ie=AST2e-(eφ/kT)（1）

式中：Ie为热电子发射的电流强度，单位为安培；S为阴极金属的有效发射面积，单位为cm2;T为热阴极绝对温度，单位为K；e0φ为阴极金属的逸出功，单位为电子伏特；k为波尔兹曼常数k=1.38*10-23（J*K）；A为与阴极化学纯度相关的系数。（1）式即为本试验的理论依据。从原则上看，似乎只要能测出式中有关的Ie、S、A、及T等物理量，就可以求出逸出功e0φ的数值，请看下面的探讨。

1.A与S两个量的处理

A这个量直接与金属表面对发射电子的反射系数Re有关，而Re又与金属表面的化学纯度有很大的关系，其数值决定于势能壁垒。假使金属表面处理得不够清白，电子管内真空度不够高，则所得的Re值就有很大的区别，直接影响到A值。其次，由于金属表面是粗糙的，计算出的阴极发射面积与实际的有效面积S也可能有差异，因此，A与S这两个量难以测定，甚至是无法测量。

为此，我们可以用理查森直线法（曲线取直）进行数据处理。将（1）式除以T2，再取以10为底的常用对数，并将e0和k的数值带入得

lg(Ie/T2)=lg(AS)–5.039*103(φ/T)（2）

从（2）式可以看出，lg（Ie/T2）和（1/T）成线性关系。这样，以（1/T）和lg（Ie/T2）分别为横坐标、纵坐标，做出lg（Ie/T2）~（1/T）图线，由直线的斜率即可确定φ。由于A和S对于某一固定的阴极来说是常数，故lg（AS）一项只改变直线的截距，而并不影响直线的斜率，这就避免了由于A与S不能确凿确定对测定φ的影响。

0

2.发射电流Ie的测量如图3，在阴极与阳极之间接一灵敏电流计G，当阴极通一电流If时，产生热电子发射，相应的有发射电流Ie通过G。但是，当热电子不断从阴极发射出来飞往阳极的途中，必然形成空间电荷积累，这些空间电荷的电场必将阻碍后续的热电子飞往阳极，这就严重地影响发射电流的测量。为此，必需维持阳极电位高于阴极，即在阳极与阴极之间加一个加速电场Ea，使热电子一旦溢出就能迅速飞往阳极。图4是测量Ie的示意图。

阳极IeG玻罩阴极If

图3测量Ie的原理图

I+eGEaIf

图4测量Ie的示意图

外加速场Ea纵然可以消去空间电荷积累的影响，然而正是由于Ea的存在，就不能不影响热电子的发射，即出现肖特基效应。所谓肖特基效应是指在热电子发射过程中受到阳极加速电场的作用影响，使热电子从阴极发射出来将得到一个辅助作用，因而增加了热电子发射的数量，实际测量值Ie+自然不是真正的Ie值，而必需做相应的处理。根据肖特基的研究，在加速电场Ea的作用下，热电子发射电流Ie+与Ea有如下关系：

Ie+=Iee0.439

Ua/T(3)

上式中Ie+与Ie分别为在加速电场Ea及Ea=0时的发射电流。同样，对（3）式取以10为底的对数，得：

lgIe+=lgIe+0.439Ua/2.303T（4）

假使把阴极和阳极作成共轴圆柱形，r1和r2分别为阴极和阳极的半径，Ua为阳极电压，如忽略接触电位差及其他影响，加速电场可以表示为Ea=Ua/r1（lnr2-lnr1）则（4）式变为

lgIe+=lgIe+（0.439/2.303T）/r1（lnr2-lnr1）Ua（5）

由（5）式可见，在阴极温度及管子结构一定的状况下，lgIe+与Ua成线性关系，因此可以用作图法处理数据。以Ua为横坐标，lgIe+为纵坐标作lgIe+~Ua试验关系，将这个直线型试验关系外推到Ua=0处，获得截距数值C，而C=lgIe，由此可以间接获得不同温度条件（即不同If下的）下的Ie值，如图5所示。

lgIe+T为定值lgIeUa

图5lgIe+~Ua关系曲线

3.温度T的测量

在热电子发射公式的指数项中包括有温度T，所以阴极温度测量的误差对试验结果影响很大，因此，确凿地测定阴极温度是热电子发射试验研究的一个重要方面。

本试验采用通过测量阴极加热电流，利用灯丝电流与灯丝温度关系的数值表来确定阴极温度T。应当指出：加热电流If与灯丝温度的关系并不是一成不变的，它与阴极的材料的纯度有关，管子的结构也影响阴极的热辐射。在表1中我们给出LB-MTP金属电子逸出功试验仪的经验数据

表1阴极灯丝电流与阴极温度的经验关系灯丝电流（A）灯丝温度（103K）0.6501.960.6752.000.7002.040.7252.080.7502.120.7752.160.8002.20本试验仪所用电子管直热式理想二极管，阳极是用镍片制成的圆筒形电极（半径r2=4.0mm），在阳极上有一个小孔以便用光测高温计（利用黑体辐射原理制成的商业化产品）测定阴极灯丝的温度。为了避免灯丝有冷端效应和电场边缘效应，在阳极两端装有两个保护电极，保护电极与阳极加同一电压，但其电流不计入热电子发射电流。

LM-MTP金属电子逸出功试验仪的面板如图7所示。

LM-MTP金属电子逸出功试验仪If灯丝电流Ua阳极电压Ie+热电子电流灯丝电流调理阳极电压调理图7试验仪面板

开关

1.电子管经过了老化处理，因此灯丝性脆，通电加热与降温以缓慢为宜，灯丝炽烈后避免

猛烈震动。

2.灯丝材料钨的熔点为3643K，正常使用温度为1700-2200K，过高的灯丝温度会明显缩

短管子的使用寿命，灯丝加热电流不要超过0.800A；过低的灯丝温度会导致热电子发射电流过小而无法测量，因此，试验时应选中择适当的灯丝工作温度范围，请参考表1的范围使用。

3.当改变灯丝加热电流后，由于灯丝温度上升趋稳的滞后性，每当调理灯丝加热电流后要

略等片刻，待稳定后再进行测量。

1.熟悉仪器，将灯丝加热电流和阳极电压旋钮逆时针旋到最小，接通电源！2.将灯丝加热电流调定在0.650A保持不变，预热十分钟！

3.改变阳极加速电压，使Ua分别为4.0V、5.0V、6.0V、7.0V、8.0V、9.0V、10.0V测量对

应的阴极发射电流Ie+，并计入试验数据记录表格；

4.将灯丝加热电流以0.025A间隔逐渐增大，每调整一次加热电流后要等待2分钟，再重

复进行步骤3的测定，直至加热电流达到0.800A。5.根据所测定的试验数据在坐标纸上做出lgIe+~Ua直线，利用这条直线的截距C=lgIe，求出不同温度条件下的lgIe值；

6.由lgIe和T的值，做出lgIe/T2~1/T直线，在该直线上标定两个计算点（一定不能用前

面画直线用的数据点）的坐标，利用两点式求出该直线的斜率，间接求出金属电子逸出电位φ，并与理论值进行比较计算出百分偏差：Eφ=(φ-φ0)/φ0*100%。7.降低灯丝阴极的加热电流到最小，关断电源，终止试验！

数据记录表格1：不同阳极加速电压Ua与灯丝加热电流下的阴极发射电流Ie+(?A)

Ua灯丝电流If（A）4.05.06.07.08.09.010.00.6500.6750.7000.725

0.7500.7750.800根据所测试验数据做出的lgIe+~Ua