工艺和操作规程

一、射线检测工艺规程(JB/T4730-2023)1．合用范围1.1本工艺规程合用于厚度为2mm~400mm的碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍合金制承压设备，以及厚度为2mm~80mm的铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金制承压设备的熔化焊对接接头的1.2本工艺规程合用壁厚T≥2mm的碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍合金、铜及铜合金制承压设备管子及压力管道的熔化焊对接接头X射线检测技术和质量分级。2．引用标准JB/T4730-2023《承压设备无损检测》3．检测人员检测人员必须通过技术培训，并按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》取得与其工作相适应的资格证书。上岗前还应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证书。射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0）。从事评片的人员应每年检查一次视力。4．射线防护4.1X射线对人体有不良影响，应遵守公司有关检测工作安全管理制度。4.24.3拍片现场划定“射线放射区”并放好警戒标记。4.4确认工作人员均已完毕各自工作并离开辐射区，方可启动射线发生器进行透照。4.5每次透照完毕后，均应用报警器确认射线装置是否停止辐射后，方可进入辐射现场。4.6现场作业完毕后对仪器进行清点、核对无误后清理现场，撤除警戒标志方可撤离现场。5．设备、器材和材料射线源和能量的选择透照不同厚度的焊缝时，应选择不同能量的X射线装置。X射线机允许使用的最高管电压应符合标准的规定规定。胶片和增感屏胶片：在满足检测灵敏度规定的情况下，A级和AB级X射线检测选用T3类或更高类别的胶片，B级X射线检测选用T2类或更高类别的胶片；对Rm540MPa的高强度材料对接焊接接头X射线检测，应选用T2类或更高类别的胶片。增感屏：采用金属增感屏或不用增感屏。金属增感屏的选用应符合标准的规定规定。曝光电压增感屏种类前屏厚度(mm)后屏厚度(mm)≤100Kv铅不用或≤0.03≤0.03＞100~150Kv铅≤0.10≤0.15＞150~250Kv铅0.02~0.150.02~0.15＞250~500Kv铅0.02~0.20.02~0.2胶片和增感屏在透照过程中应始终紧密接触。像质计5.3.1像质计的选用：采用线型金属丝像质计，其型号和规格应符合下表的规定规定：像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源侧应辨认丝号（丝径，mm）公称厚度（T）范围，mmA级AB级B级18（0.063）//≤2.517（0.080）/≤2.0＞2.5~4.016（0.100）≤2.0＞2.0~3.5＞4~615（0.125）＞2.0~3.5＞3.5~5.0＞6~814（0.160）＞3.5~5.0＞5.0~7＞8~1213（0.20）＞5.0~7＞7~10＞12~2012（0.25）＞7~10＞10~15＞20~3011（0.32）＞10~15＞15~25＞30~3510（0.40）＞15~25＞25~32＞35~459（0.50）＞25~32＞32~40＞45~658（0.63）＞32~40＞40~55＞65~1207（0.80）＞40~55＞55~85＞120~2006（1.00）＞55~85＞85~150＞200~3505（1.25）＞85~150＞150~250＞3504（1.60）＞150~250＞250~350/3（2.00）＞250~350＞350/2（2.50）＞350//像质计灵敏度值——双壁双影透照、像质计置于源侧应辨认丝号（丝径，mm）透照厚度（W）范围，mmA级AB级B级18（0.063）//≤2.517（0.080）/≤2.0＞2.5~4.016（0.100）≤2.0＞2.0~3.0＞4~615（0.125）＞2.0~3.0＞3.0~4.5＞6~914（0.160）＞3.0~4.5＞4.5~7＞9~1513（0.20）＞4.5~7＞7~11＞15~2212（0.25）＞7~11＞11~15＞22~3111（0.32）＞11~15＞15~22＞31~4010（0.40）＞15~22＞22~32＞40~489（0.50）＞22~32＞32~44＞48~568（0.63）＞32~44＞44~54/7（0.80）＞44~54//像质计灵敏度值——双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧应辨认丝号（丝径，mm）透照厚度（W）范围，mmA级AB级B级18（0.063）//≤2.517（0.080）/≤2.0＞2.5~4.016（0.100）≤2.0＞2.0~3.5＞4~615（0.125）＞2.0~3.5＞3.5~5.5＞6~1214（0.160）＞3.5~5.5＞5.5~11＞12~1813（0.20）＞5.5~11＞11~17＞18~3012（0.25）＞11~17＞17~26＞30~4211（0.32）＞17~26＞26~39＞42~5510（0.40）＞26~39＞39~51＞55~709（0.50）＞39~51＞51~64＞70~1008（0.63）＞51~64＞64~85＞100~1807（0.80）＞64~85＞85~125＞180~3006（1.00）＞85~125＞125~225＞3005（1.25）＞125~225＞225~375/4（1.60）＞225~375＞375/3（2.00）＞375//5.3.2像质计的放置：像质计一般应放在射线源一侧的工作表面上，中心钢丝处在一次透照长度的1/4位置，钢丝横跨且垂直于焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多个焊接接头时，像质计应放在透照区最边沿的焊缝处。5.3.3单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照规定像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。5.3.4单壁透照中，假如像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧。5.3.5单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比实验。5.3.6当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置“F”作为标记，“F”标记的影像应当和像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中说明。5.3.7原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完毕多张胶片照相时，使用的像质计允许减少，但要符合以下规定：1）采用中心透照时，至少在圆周上等间隔地放3个像质计。2）球罐对接焊接接头采用源侧置于球心的全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计。3）一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置1个像质计。5.3.8如数根管接头在一张底片上同时显示时，应至少放置一个像质计，假如只用一个时，则必须放在最边沿的那根钢管上。5.3.9小径管可选用通用线型像质计或专用像质计，金属丝应应横跨焊缝放置。5.3.10透照厚度的拟定：射线透照方向上的材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料的公称厚度之和。5.4B标记背部散射线及无用射线应采用常规方法屏蔽。为验证背部散射线的影响，在每个暗盒背向工件侧贴一个“B”铅字标记（高13mm厚度1.6mm）。若在底片的黑色背影上出现B的较淡影像，就说明背散射线防护不良，应予重照。但若较淡背影上出现较黑的影像，则不作为底片质量判废依据。5.5辨认系统辨认系统由定位标记和辨认标记构成。5.5.1定位标记焊缝透照定位标记涉及搭接标记和中心标记。局部检测时搭接标记称为有效区段标记。5.5.2辨认标记辨认标记涉及产品编号、焊缝编号、底片编号和透照日期。返修部分还应有返修标记R1，R2……（其数码表达返修次数）5.5.3标记位置5.5.3.1辨认系统编号至少距焊缝边沿5mm。5.5.3.2搭接标记除中心全景曝光外，一般放于射线源侧的工件表面上，但对于曲面工件环缝，且焦距大于曲率半径时，必须放于胶片侧。5.5.3.3透照封头拼缝（余高磨平）时应在焊缝两侧放置定位标记，以利于焊缝定位。5.6观片灯和评片室5.6.1观片灯观片灯的重要性能应符合相关的规定，且观片窗口的漫射光亮度可调，并备有遮光板，对不需观测或透光量过强部分屏蔽。5.6.2评片室评片应在评片室进行。评片室的光线应暗淡，但不全暗，周边环境亮度应大体与底片上需要观测部位透过光的亮度相称。室内照明光线不得在观测的底片上产生反射。5.7黑度计和比较黑度片采用数字式黑度计和仪器自带的黑度片，可测的最大黑度应不小于4.5，黑度计误差小于等于0.05。5.8显影剂手工解决用的显影剂配方、显影时间和温度等应符合胶片厂使用说明书的规定。6.受检部位的表面准备6.1同一条焊缝的余高在允许范围内应均匀，以保证底片黑度处在规定范围内。6.2距焊缝中心各40mm范围内的焊疤、飞溅、成形粗糙及表面缺陷等应修磨，以不掩盖或干扰缺陷影像的显示为度。6.3焊缝及热影响区的表面质量（涉及余高高度）应经检查员检查合格。6.4受检表面应经射线探伤人员认可。7.检测技术射线探伤人员按工艺卡及受检件情况使用设备、器件和材料进行检测。7.1几何条件7.1.1.L2与L1/d的关系应满足标准规定，或按下式计算：A级：L1/d≥7.5L22/3AB级：L1/d≥10L22/3B级：L1/d≥15L22/3式中：L1－源至被检部位工件表面的距离（或称透照距离）。d－焦点尺寸（方焦点取边长，长焦点取长短边之和的1/2）。L2－被检部位工件表面至胶片的距离。7.1.2分段曝光时，每次曝光所检测的焊缝长度称一次透照长度L3。一次透照长度除满足几何不清楚度的规定外，还应满足透照厚度比K值的规定：射线检测技术级别A级、AB级B级纵向焊接接头K≤1.03K≤1.01环向焊接接头K≤1.1K≤1.06对100mm＜D≤400mm的环向焊接接头（涉及曲率相同的曲面焊接接头），A级、AB级允许采用K≤1.2。7.2透照技术按射线源，工件和胶片三者间的互相关系，透照方式可采用单壁透照的纵缝透照法，环缝周向中心曝光法和环缝外透法以及双壁透照的双壁单影法双壁双影法。只要实际可行应采用单壁透照技术，当单壁透照技术不可行时，方可采用双壁透照技术。7.2.1单壁透照（涉及纵缝透照、环缝外透照和环缝周向透照等）。7.2.1.1纵缝透照纵缝单壁透照一般L1≥2L3，当胶片长300mm时，一次透照长度L3＝250~260mm。中薄板焦距用600mm，对于厚板用增大焦距来满足标准的规定。7.2.1.2周向中心曝光源置于圆筒形容器或管道环焊缝的中心，一次曝光检测整条环焊缝，焦距F为D/2+2（mm），当胶片长300mm时，L3选用250－260mm。当使用卷片时，L3就是整条焊缝。7.2.1.3环缝外透法采用外透法透照环缝时，一次透照长度应按公式计算。7.2.2双壁透照7.2.2.1双壁单影透照7.2.2.1.1能量的选择按标准的规定规定。7.2.2.1.2在满足K值的条件下，为了使一次透照长度L3增大，应尽也许地缩短L1（不得低于最小L1）。7.2.2.1.3一次透照长度L3应按公式计算。7.2.2.2双壁双影透照7.2.2.2.1能量的选择按标准的规定规定。7.2.2.2.2小径管采用双壁双影透照，当同时满足以下条件应采用椭圆成像：1）T（壁厚）≤8mm；2）g（焊缝宽度）≤D/4mm。椭圆成像时，开口宽度（上下焊缝投影最大间距）应控制在1倍焊缝宽度左右。不满足上述条件或椭圆成像有困难时，应采用垂直透照重叠成像。7.2.2.2..3小径管环向焊接接头100％检测的透照次数：采用椭圆成像时，当T/D≤0.12时，相隔90度透照2次。当T/D＞0.12时，相隔120度或60度透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔120度或60度透照3次。7.2.2.2..4由于结构因素不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照1次。此时应保证底片评估范围内黑度和灵敏度满足规定。7.3暗室解决暗室解决按公司《暗室工作管理制度》和《暗室操作规程》规定的内容进行。7.4底片评估底片的评估由Ⅱ级以上人员进行。7.5底片的质量7.5.1底片黑度D（涉及胶片自身的灰雾度）应符合以下规定：A级：1.5≤D≤4.0AB级：2.0≤D≤4.0B级：2.3≤D≤4.0用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至1.5，B级最低黑度允许降至2.0。7.5.2每张底片应测定四点，即：中心标记处焊缝两侧母材的黑度和搭线标记处焊缝中心无缺陷处的黑度。7.5.3底片上的像质计和辨认系统齐全，位置准确，且不得掩盖受检焊缝的影像。7.5.4底片上至少应辨认出表1规定的象质指数且长度不少于10mm。7.5.5底片有效评估区域内不得有胶片解决不妥或其它妨碍底片准确评估的伪像。8.验收标准及质量等级8.1验收标准压力容器、压力管道等设备的验收合格等级按照设计、制造、安装等国家规范、标准规定执行。8.2压力容器的质量分级。根据缺陷的性质和数量将焊缝质量分四级：a)Ⅰ级焊缝内应无裂纹、未焊透、未熔合和条状缺陷；b)Ⅱ级焊缝内应无裂纹、未焊透和未熔合；c)Ⅲ级焊缝内应无裂纹、未熔合及双面焊和加垫板的单面焊的未焊透。不加垫板的单面焊应采用有效的焊接方法，也不得有未焊透。d)焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级8.2.1圆形缺陷的质量分级8.2.1.1长宽比小于等于3的气孔、夹渣、夹钨或夹珠定义为圆形缺陷，它可以是圆形、椭圆型、锥型或带尾巴等不规划形状.8.2.1.2圆形缺陷按下表折算成点数,按下表的评估区内的点数评级.圆形缺陷的评级评估区（mm×mm）10×1010×2010×30母材公称厚度T，mm≤10＞10~15＞15~25＞25~50＞50~100＞100Ⅰ级123456Ⅱ级369121518Ⅲ级61218243036Ⅳ级缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于T/2备注：当母材公称厚度不同时，取壁厚较薄的厚度。缺陷点换算表缺陷长径(mm)≤1＞1~2＞2~3＞3~4＞4~6＞6~8＞8点数1236101525注:1)Ⅰ级焊缝和母材厚度等于或小于5mm的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺陷在评估区内不得多于10个.2)评估区框线的长边与焊缝平行.框线内必须完整包含最严重区域的重要缺陷,与框线外切的不算点数.8.2.2条状缺陷的分级长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷,条状缺陷的分级见表.条状缺陷的分级（单位：mm）级别单个条状缺陷长度条状缺陷总长Ⅰ不允许Ⅱ≤T/3（最小可为4）且≤20在长度为在12T的任意选定条状缺陷评估区域内，相邻两缺陷间距不超过6L的任一组条状缺陷的累计长度应不超过T，但最小可为4。Ⅲ≤2T/3（最小可为6）且≤30在长度为在6T的任意选定条状缺陷评估区域内，相邻两缺陷间距不超过3L的任一组条状缺陷的累计长度应不超过T，但最小可为6。Ⅳ大于Ⅲ级者注：（1）表中“L”为该组缺陷中最长者的长度。（2）条状缺陷评估区是指与焊缝平行的、具有一定宽度的矩形区，T≤25mm，宽度为4mm；25mm＜T≤100mm，宽度为6mm；T＞100mm，宽度为8mm。（3）当两个或两个以上条状缺陷在一直线上且相邻间距小于或等于较小夹渣长度时，应按单个连续缺陷解决，其间距也应计入缺陷长度。8.2.3综合评级在圆形缺陷评估区，同时存在圆形缺陷和条状缺陷时，应各自评级，其级别之和减一作为最终级别。8.3压力管道的质量分级8.3.1根据缺陷性质和数量，将焊缝缺陷分为四个等级。Ⅰ级焊缝内应无裂纹，未熔合、未焊透和条状缺陷。Ⅱ、Ⅲ级焊缝内应无裂纹，未熔合。8.3.2圆形缺陷的质量分级圆形缺陷的质量分级按8.2.1的规定进行。8.3.3条状缺陷的质量分级长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷、条状缺陷的分级按8.2.2的规定进行。8.3.4根部未焊缝的质量分级：Ⅰ级焊缝不允许有未焊透，外径大于100mm（单面焊不加垫板）、外径小于等于100mm的小径管（不加垫板）环缝根部未焊透、内凹、咬边的质量分级分别见下面的表：外径D＞100mm时（单面焊不加垫板）未焊透的分级等级未焊透最大深度单个未焊透最大长度（mm）未焊透累计长度与壁厚的比例％最大深度mmⅠ不允许Ⅱ≤10≤1.0≤T/3（最小可为4）且≤20在任意6T的长度区内应不大于T（最小可为4），且任意300长度范围内总长度不大于30。Ⅲ≤15≤1.5≤2T/3（最小可为6）且≤30在任意3T的长度区内应不大于T（最小可为6），且任意300长度范围内总长度不大于40。Ⅳ大于Ⅲ级者注：对断续未焊透，以未焊透自身的长度累计计算总长度。外径D≤100mm时（单面焊不加垫板）未焊透的分级等级未焊透深度未焊透总长度与焊缝总长度的比例％与壁厚的比例％最大深度mmⅠ不允许Ⅱ≤10≤1.0≤10Ⅲ≤15≤1.5≤15Ⅳ大于Ⅲ级者注：对断续未焊透，以未焊透自身的长度累计计算总长度。外径D＞100mm时根部内凹和根部咬边的分级等级根部内凹和根部咬边最大深度根部内凹和根部咬边累计长度与壁厚的比例％最大深度mmⅠ不允许Ⅱ≤15≤1.5在任意3T的长度区内应不大于T，且总长度不大于100。Ⅲ≤20≤2.0Ⅳ大于Ⅲ级者注：对断续根部内凹和根部咬边，以根部内凹和根部咬边自身的长度累计计算总长度。外径D≤100mm时根部内凹和根部咬边的分级等级根部内凹和根部咬边最大深度根部内凹和根部咬边最大总长度与焊缝总长度的比例％与壁厚的比例％最大深度mmⅠ不允许Ⅱ≤15≤1.5≤30Ⅲ≤20≤2.0≤30Ⅳ大于Ⅲ级者注：对断续根部内凹和根部咬边，以根部内凹和根部咬边自身的长度累计计算总长度。8.3.5综合评级：在缺陷评估区内，同时存在几种类型的缺陷时，应先按各类缺陷分别评级，取质量级别最低的级别作为综合评级的级别；当各类缺陷级别相同时，则减少一级作为综合评级的级别。8.4铝制压力容器焊缝透照等级评估8.4.1根据缺陷的性质和数量，将焊缝缺陷分为四个等级：a.Ⅰ级焊缝内应无裂纹、未熔合、未焊透、夹铜。b.Ⅱ级焊缝内应无裂纹、未熔合和未焊透.c.Ⅲ级焊缝内应无裂纹、未熔合以及双面焊和加垫板单面焊中的未焊透。允许存在单面不加垫板焊缝中尺寸不超过母材厚度的15％且不大于2mm的未焊透。d.焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。8.4.2圆形缺陷的拟定和分级a.长宽比小于或等于3的缺陷定义为圆形缺陷。它们可是圆形、椭圆形、锥形或带有尾巴（在测定尺寸时应涉及尾巴）等不规则的形状。b.圆形缺陷用评估区进行评估，评估区应选在底片上缺陷最严重部位，评估区的大小见下表缺陷评估区母材公称厚度T，mm≤20＞20～80评估区尺寸10×1010×20c.评估圆形缺陷时将缺陷尺寸按下表换算成点数。如缺陷尺寸低于下表的规定，则不需换算成点数参与缺陷评估。缺陷点数换算表缺陷长径mm≤1＞1～2＞2～3＞3～4＞4～6＞6～8＞8～10点数1236101525不计点数的缺陷尺寸母材公称厚度T，mm缺陷长径，mm≤20＞20～40＞40≤0.4≤0.6≤1.5％Td.在评估区边界线上时，应把它划在该评估区内计算点数。e.圆形缺陷的分级见下表。圆形缺陷的分级评估区mm×mm10×1010×20母材厚度≤3＞3～5＞5～10＞10～20＞20～40＞40～80等级ⅠⅡⅢ136271431021414286214272449Ⅳ缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于2T/3或缺陷长径大于10mm注：①表中的数字是允许缺陷点数的上限。②母材板厚不同时，取薄的厚度值。f.当评估区附近缺陷较少，且认为只用该评估区大小划分等级不适当时，经供需双方协商，可将评估区沿焊缝方向扩大3倍，求出缺陷总点数，用此值的1/3进行评估，可扩大评估区的解决办法。g.圆形缺陷的长径超过母材厚度的1/2或大于10mm（取其较小者）时作Ⅳ级解决。h.Ⅰ级焊缝或母材厚度小于或等于5mm的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺陷，在评估区内不得多于10个。i.当Ⅲ级焊缝的缺陷连续存在，并超过评估区尺寸3倍时应评Ⅳ级。8.4.3条状缺陷的拟定和分级a.长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷。b.条状缺陷的分级条状缺陷的分级按8.2.2的规定进行。8.4.4综合评级a.当条状缺陷和圆形缺陷连在一起时，应作为单个缺陷解决。b.在圆形缺陷评估区，同时存在圆形缺陷和条状缺陷时，应各自评级，其级别之和减一作为最终级别。8.5钛制压力容器焊缝透照质量等级评估。8.5.1根据缺陷的性质和数量，将焊缝缺陷分为四个等级：a.Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级焊缝内应无裂纹、未熔合、未焊透。b.焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。8.5.2圆形缺陷的拟定和分级a.长宽比小于或等于3的缺陷定义为圆形缺陷。它们可以是圆形、椭圆形、锥形或带有尾巴（在测定尺寸时应涉及尾巴）等不规则的形状。b.圆形缺陷用评估区进行评估，评估区应选在底片上缺陷最严重的部位，评估区的大小见表。当缺陷在评估区边界上时，应把它划在该评估区内计算点数。c.评估圆形缺陷时将缺陷尺寸按标准换算成点数。如缺陷尺寸低于标准的规定，则不需换算成点数参与缺陷评估。d.评估区附近缺陷较少，且认为只用该评估区大小划分等级不适当时，经供需双方协商，可将评估区沿焊缝方向扩大3倍，求出缺陷总点数，用此值的1/3进行评估，可扩大评估区的解决办法。缺陷评估区mm母材公称厚度T，mm≤20＞20～50评估区尺寸10×1010×20缺陷点数换算表缺陷长径mm≤1＞1～2＞2～4＞4～8＞8点数124816不计点数的缺陷尺寸母材公称厚度T，mm缺陷长径≤10＞10～20＞20～500.30.40.7e.圆形缺陷的分级见下表圆形缺陷的分级评估区mm×mm10×1010×20母材公称厚度Tmm≤3＞3～5＞5～10＞10～20＞20～30＞30～50等级ⅠⅡⅢ124248361248165102061224Ⅳ缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于T/2注：①表中的数字是允许缺陷的上限。②母材的板厚不同时，取薄的厚度值。f.Ⅰ级焊缝或母材厚度小于或等于5mm的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺陷，在评估区内不得多于10个，当母材厚度大于5mm的Ⅱ级焊缝内不得多于20个，在Ⅲ级焊缝不得多于30个。超过者应分别将底片的等级减少一级。8.5.3条状缺陷的拟定和分级a.长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷。b.条状缺陷的分级条状缺陷的分级按8.2.2的规定进行。8.5.4综合评级a.当条状缺陷和圆形缺陷连在一起时，应作为单个缺陷解决。b.在圆形缺陷评估区，同时存在圆形缺陷和条状缺陷时，应各自评级，其级别之和减一作为最终级别。9.记录、报告和资料保管。9.1记录射线探伤记录由操作人员填写。射线底片评估记录由评片人员填写。9.2报告射线检测报告由检测人员编制，检测责任工程师审核，具体参照《检测报告管理制度》。9.3检测资料和底片由资料员存档，至少保存七年。

三、射线检测工艺规程(GB/T3323-2023)1.合用范围1.1本工艺规程X射线照相的基本方法以及焊缝质量分级。1.2本规程合用于金属材料板和管的熔化焊焊接接头。2.引用标准GB/T3323-2023《金属熔化焊焊接接头射线照相》3.检测人员检测人员必须通过技术培训，并按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》取得与其工作相适应的资格证书。上岗前还应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证书。检测人员应每年检查一次视力，校正视力不小于1.0，评片人员还应辨别出400mm距离处高0.5mm、间距0.5mm的一组印刷字母。4.射线防护4.1X射线对人体有不良影响，应遵守公司有关检测工作安全管理制度。4.24.3拍片现场划定“射线放射区”并放好警戒标记。4.4确认工作人员均已完毕各自工作并离开辐射区，方可启动射线发生器进行透照。4.5每次透照完毕后，均应用报警器确认射线装置是否停止辐射后，方可进入辐射现场。4.6现场作业完毕后对仪器进行清点、核对无误后清理现场，撤除警戒标志方可撤离现场。5.受检表面规定及检测时机5.1.施工单位质量检查人员确认表面质量合格，接到检测委托后方可进行RT拍片检测。5.2.检测人员应对焊接工艺有所了解，对焊后需热解决和有产生延迟裂纹倾向材料的焊接接头，应在焊后24～48小时后方可进行RT拍片检测。6.射线源和能量的选择6.1对不同透照厚度TA所允许的最高管电压(工作范围)应符合标准的规定。6.2在满足射线穿透能力的前提下，宜使用较低管电压，以获得更佳的照相灵敏度。7.检测材料及辅助材料7.1胶片7.1.1射线照相检测所使用的胶片系统类别依据相关规定选定。7.1.2对不同的射线源，可选用的最低胶片系统类别见下表。7.2增感屏金属增感屏的选用下表，在使用增感屏的过程中，胶片与增感屏应始终紧贴。胶片系统类别和金属增感屏的选用曝光电压增感屏种类胶片系统类别前屏厚度(mm)后屏厚度(mm)A级B级<100Kv铅C5C3不用屏或屏厚≤0.03不用屏或屏厚≤0.03100~150Kv铅≤0.15≤0.15150~250Kv铅C40.02~0.150.02~0.15250~500Kv铅C5C40.02~0.20.02~0.2C50.1~0.2（备注）0.02~0.2备注：只要在工件与胶片之间加0.1mm附加铅屏，就可以使用前屏≤0.03mm的真空包装胶片。7.3像质计7.3.1像质计的选用：按照透照厚度和象质级别所需要达成的像质指数，选用符合标准规定的像质计具体规定见下表。单壁透照（A级）线型像质计A级公称厚度t/mm像质计数值应辨认的丝径/mm应辨认的丝号t≤1.20.063W181.2＜t≤2.00.080W172.0＜t≤3.50.100W163.5＜t≤5.00.125W155.0＜t≤7.00.16W147.0＜t≤100.20W1310＜t≤150.25W1215＜t≤250.32W1125＜t≤320.40W1032＜t≤400.50W940＜t≤550.63W855＜t≤850.80W785＜t≤1501.00W6150＜t≤2501.25W5t＞2501.60W4注：像质计置于射线源侧单壁透照（B级）线型像质计B级公称厚度t/mm像质计数值应辨认的丝径/mm应辨认的丝号t≤1.50.050W191.5＜t≤2.50.063W182.5＜t≤4.00.080W174.0＜t≤6.00.100W166.0＜t≤8.00.125W158.0＜t≤120.16W1412＜t≤200.20W1320＜t≤300.25W1230＜t≤350.32W1135＜t≤450.40W1045＜t≤650.50W965＜t≤1200.63W8120＜t≤2000.80W7200＜t≤3501.00W6t＞3501.25W5注：像质计置于射线源侧双壁双影透照（A级）线型像质计A级公称厚度ω/mm像质计数值应辨认的丝径/mm应辨认的丝号ω≤1.20.063W181.2＜ω≤2.00.080W172.0＜ω≤3.50.100W163.5＜ω≤5.00.125W155.0＜ω≤7.00.16W147.0＜ω≤120.20W1312＜ω≤180.25W1218＜ω≤300.32W1130＜ω≤400.40W1040＜ω≤500.50W950＜ω≤600.63W860＜ω≤850.80W785＜ω≤1201.00W6120＜ω≤2201.25W5220＜ω≤3801.60W4ω＞3802.00W3注：像质计置于射线源侧双壁双影透照（B级）线型像质计B级公称厚度ω/mm像质计数值应辨认的丝径/mm应辨认的丝号ω≤1.50.050W191.5＜ω≤2.50.063W182.5＜ω≤4.00.080W174.0＜ω≤6.00.100W166.0＜ω≤8.00.125W158.0＜ω≤150.16W1415＜ω≤250.20W1325＜ω≤380.25W1238＜ω≤450.32W1145＜ω≤550.40W1055＜ω≤700.50W970＜ω≤1000.63W8100＜ω≤1700.80W7170＜ω≤2501.00W6ω＞2501.25W5注：像质计置于射线源侧双壁单影或双影透照（A级）线型像质计A级公称厚度ω/mm像质计数值应辨认的丝径/mm应辨认的丝号ω≤1.20.063W181.2＜ω≤2.00.080W172.0＜ω≤3.50.100W163.5＜ω≤5.00.125W155.0＜ω≤100.16W1410＜ω≤150.20W1315＜ω≤220.25W1222＜ω≤380.32W1138＜ω≤480.40W1048＜ω≤600.50W960＜ω≤850.63W885＜ω≤1250.80W7125＜ω≤2251.00W6225＜ω≤3751.25W5ω＞3751.60W4注：像质计置于胶片侧双壁单影或双影透照（B级）线型像质计B级公称厚度ω/mm像质计数值应辨认的丝径/mm应辨认的丝号ω≤1.50.050W191.5＜ω≤2.50.063W182.5＜ω≤4.00.080W174.0＜ω≤6.00.100W166.0＜ω≤120.125W1512＜ω≤180.16W1418＜ω≤300.20W1330＜ω≤450.25W1245＜ω≤550.32W1155＜ω≤700.40W1070＜ω≤1000.50W9100＜ω≤1800.63W8180＜ω≤3000.80W7ω＞3001.00W6注：像质计置于胶片侧7.3.2像质计的放置：线型像质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区的一端(被检区长度的1/4部位)。钢丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，细钢丝置于外侧。当射线源一侧无法放置像质计时，也可放在胶片一侧的工件表面上，但应通过对比实验，使实际象质指数达成规定的规定。7.3.3采用射线源置于圆心位置的周向曝光技术时，像质计应放在内壁，每隔90°放一个。7.3.4对比实验的做法：截取一个与被检工件完全相同的短试块，在被检部位的内外表面端各放一个像质计，采用与工件相同的透照条件进行透照，观测所得到的底片以拟定相应的象质指数。7.3.5像质计放在胶片一侧工件表面上时，像质计应附加“F”标记，以示区别。7.4透照厚度的拟定：透照厚度为射线透照方向上的母材公称厚度，多壁透照时，穿透厚度为各层材料公称厚度之和。8.透照方法按射线源、工件和胶片之间的互相位置关系，透照方式分为纵缝透照法、环缝外透法、环缝内透法、双壁单影法、双壁双影法五种。9.透照参数9.1焦距计算公式：F≥L1＋L2L1≥10dfL22/3式中：L1：焦点至工件表面的距离。L2：工件表面至胶片的距离。df：射源直径或Ｘ射线机有效焦点。F：焦点至胶片的距离。9.2一次透照长度是指采用分段曝光时，每次曝光所检查的焊缝长度。9.2.1.直（纵）焊缝单壁单投影透照方法1.分段透照示意图：2.分段透照数量的计算方法:胶片侧一次透照长度：L3＝２Ｌ1tgθ底片有效长度：Leff＝２Ftgθθ＝Cos-1k-1K：透照厚度比（T‘/T）。F：焦距（L1+L2）；L1：焦点至工件表面的距离。L2：工件表面至胶片的距离；L3：射源侧一次透照长度。3.透照搭接标记应在射线源一侧。9.2.2直（纵）焊缝双壁单投影透照方法1.分段透照示意图:2.分段透照数量的计算方法:胶片侧透照长度：L,3＝２Ｆtgθ底片有效长度：Leff＝２（F＋Ｌ2）tgθθ＝Cos-1k-1FＫ：透照厚度比。L,3：胶片侧一次透照长度。3.透照搭接标记应在胶片一侧。9.2.3环（曲）焊缝双壁双投影透照方法1.双壁双投影示意图：2.外径小于或等于８９ｍｍ的钢管对接焊缝采用双壁双投影法时；射线束的方向应满足上下焊缝的影象在底片呈椭圆形，其间距以３～１０ｍｍ为宜，最大间距不超过１５ｍｍ，通常采用偏心距方法进行透照，射源平移距离（S0）。计算方法为：S0＝(L1/L2)×（a＋b）S0：射源平移距离。L2：工件表面至胶片距离。L1：射源至工件表面距离。b：钢管对接焊缝宽度。a：上下焊缝的影象在底片呈椭圆形的间距。(1)对外径大于76mm且小于或等于89mm的钢管,其焊缝以双壁双投影法透照时,至少分两次透照间隔90ｏ。(2)对外径小于或等于76mm的钢管，其焊缝以双壁双投影法透照(3)检出范围的计算：L＝[（L1－4L2）/L1]％L1：管外壁周长。L2：专用像质计在底片上，不见钢丝区域一段。9.2.4环（曲）焊缝双壁单投影分段透照方法1.双壁单投影分段透照示意图：2双壁单投影分段透照数量（N）及底片有效长度（Leff）的计算方法:∵N＝180O/α。α＝θ+ηθ＝Cos-1k-1η＝Sin-1{D/(2F－D)}SinθF：焦距。K：透照厚度比。D:钢管环焊缝外径。胶片侧等分长度：L,3＝AB∴底片有效长度：Leff＝L,3＝πD/N3.透照搭接标记应在胶片一侧。4.钢管环焊缝双壁单投影透照次数：(1)外径大于89ｍｍ的钢管采用双壁单投影分段透照时，对K值的规定和一次透照长度的规定可根据具体情况(如管径和壁厚的大小及照相方法等级等)适当放宽，但整圈焊缝的透照次数不应小于4次，以免缺陷漏检。(2)外径小于等于89mm的管子双壁单影法透照时，可不受K值约束，但一般不应小于2次，即至少应在互相垂直的方向上各透照一次。9.2.5环（曲）焊缝内透中心法（F＝R）1.透照示意图：2.采用周向曝光时射源应与直径圆心重合。3.此时透照搭接标记放在射线源和胶片侧均可。4.钢管对接焊缝透照时，必须严格遵守L1≥10dfL22/3；当L1小于钢管内径时不得采用周向曝光。9.2.6.环（曲）焊缝单壁内投影（F＞R）1.分段透照示意图：2.分段透照数量（N）及底片有效长度（Leff）的计算方法同9.2.4。3.透照搭接标记应在胶片一侧。9.2.7环（曲）焊缝单壁内投影（F＜R＝分段透照1.分段透照示意图：2.分段透照数量（N）及底片有效长度（Leff）的计算方法:∵N＝180O/αα＝η-θθ＝Cos-1k-1η＝Sin-1{Di/(Ｄi－２Ｌ1)}SinθDi：环焊缝内径；K：透照厚度比。胶片侧等分长度：L,3＝πD/ND:环焊缝外径。∴底片有效长度：Leff＝πD/N＋２Ｌ2tgθ3.透照搭接标记应在射线源一侧。9.2.8环（曲）焊缝单壁外投影分段透照1.分段透照示意图：2.分段透照数量（N）及底片有效长度（Leff）的计算方法:∵N＝180°/αα＝θ-ηθ＝Cos-1k-1η＝Sin-1{D/(Ｄ＋２Ｌ1)}SinθD:环焊缝外径。K：透照厚度比。一次透照长度：AB＝L3∴底片有效长度：Leff＝πD/N＋２Ｌ2tgθ9.3焊缝的透照厚度比为K，环缝的A级和AB级K值一般不大于1.1，B级K值一般不大于1.06，纵缝的A级和AB级K值不大于1.03，B级K值一般不大于1.01。9.4射线束应指向被检部位的中心，高深莫测在该点与被检区平面或曲面的切面垂直，但需要时，也可从有助于发现缺陷的其它方向进行透照。如采用双壁透照法时，一般应使射线偏离焊缝轴线所在的平面进行倾斜透照，以免两侧焊缝影像重叠。10.定位标记和辨认标记透照前胶片上应有被检部位的透照搭接标记(涉及中心标记和搭接标记)、还得有工件编号、焊缝编号、部位编号、返修标记、日期等辨认标记。搭接标记的安放应符合GB3323-2023标准附录C的规定。11.暗室解决暗室解决按公司《暗室工作管理制度》及《暗室操作规程》执行。12.底片质量12.1黑度：选择的曝光条件应使底片有效评估区域内的黑度均满足如下规定：A级：≥2.0经协议各方商定，可降为1.5。B级：≥2.3经协议各方商定，可降为2.0。12.2底片上的象质指数必须显示的最小钢丝直径与相应的象质指数应符合表2的规定。12.3底片上的像质计影像位置规定对的，定位标记和辨认标记齐全，且不掩盖被检焊缝影像。底片上有效区域内不应有因胶片解决不妥引起的缺陷或其它妨碍底片评估的缺陷。13.焊缝质量分级13.1根据缺陷的性质和数量将焊缝质量分四级：a)Ⅰ级焊缝内应无裂纹、未焊透、未熔合和条状缺陷；b)Ⅱ级焊缝内应无裂纹、未焊透和未熔合；c)Ⅲ级焊缝内应无裂纹、未熔合及双面焊和加垫板的单面焊的未焊透。不加垫板的单面焊未焊透允许长度按表7条状缺陷长度的Ⅲ级评估。d)焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级13.2圆形缺陷的质量分级13.2.1长宽比小于等于3的气孔、夹渣、夹钨或夹珠定义为圆形缺陷，它可以是圆形、椭圆型、锥型或带尾巴等不规划形状.13.2.2圆形缺陷按表5折算成点数,按表5的评估区内的点数评级.表5圆形缺陷的评级评估区/mm10×1010×2010×30评估厚度T/mm≤10＞10~15＞15~25＞25~50＞50~100＞100Ⅰ123456Ⅱ369121518Ⅲ61218243036Ⅳ缺陷点数大于Ⅲ级者注:1)表中的数字是允许值的上限.2)圆形缺陷长径大于1/2T时,评为Ⅳ级.3)Ⅰ级焊缝和母材厚度等于或小于5mm的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺陷在评估区内不得多于10个.4)评估区框线的长边与焊缝平行.框线内必须完整包含最严重区域的重要缺陷,与框线外切的不算点数.表6缺陷点换算表缺陷长径(mm)≤1＞1~2＞2~3＞3~4＞4~6＞6~8＞8点数123610152513.3条状缺陷的分级长宽比大于3的缺陷定义为条状缺陷,条状缺陷的分级见表7.表7条状缺陷的分级质量等级母材厚度T单个条状缺陷长度条状缺陷总长ⅡT≤1212＜T＜60T≥60最长为4mm最长为1/3T20在任一直线上相邻两缺陷间距不超过6L的任何一组缺陷,其累计长度在12T焊缝长度内不超过TⅢT≤99＜T＜45T≥45最长为6最长为2/3T30在任一直线上相邻两缺陷,间距不超过3L的任何一组缺陷,其累计长度在6T焊缝长度内不超过TⅣ大于Ⅲ级者注：（1）表中“L”为该组缺陷,中最长者的长度。（2）长宽比大于3的气孔评级与条状缺陷相同。（3）当被检焊缝长度为小于12T（Ⅱ）或6T（Ⅲ）时，可按比例折算，当折算的条状缺陷总长小于单个条状缺陷长度时，以单个条状缺陷长度为允许值。13.4综合评级在圆形缺陷评估区，同时存在圆形缺陷和条状缺陷时，应各自评级，其级别之和减一作为最终级别。13.5对允许存在根部内凹、根部咬边和单面未焊透的管子，应在焊缝边上放置槽形测深计以判断缺陷的深度。根部内凹、根部咬边和设计焊缝系数小于等于0.75的焊缝根部未焊透的分级见表8和表9。表8根部内凹和根部咬边的分级质量分级根部内凹和根部咬边的深度长度mm占壁厚的百分数%深度，mm不限Ⅰ≤10≤1Ⅱ≤20≤2Ⅲ≤25≤3Ⅳ大于Ⅲ级者表9未焊透的分级质量分级未焊透的深度长度mm占壁厚的百分数%深度，mmⅠ000Ⅱ≤15≤1.5≤10%周长Ⅲ≤20≤2.0≤15%周长Ⅳ大于Ⅲ级者14.检测记录和报告14.1记录射线探伤记录由操作人员填写。射线底片评估记录由评片人员填写。14.2报告射线检测报告由检测人员编制，检测责任工程师审核，具体参照《检测报告管理制度》。14.3检测资料和底片由资料员存档，至少保存七年。

四、超声波检测工艺规程(JB/T4730-2023)1一般规定1.1重要内容和合用范围1.1.1本规程规定了焊缝超声检测人员具有的资格、仪器探头、试块、检测范围、方法和质量分级等。1.1.2本规程采用A型脉冲反射式超声探伤仪器对钢板、锻件、钢管和焊缝进行检测。1.1.3本规程按JB/T4730-2023的规定编写，符合《容规》和GB150的规定。1.1.4检测工艺卡是本规程对具体工件的具体规定，由Ⅱ级以上人员按协议规定编制，其检测参数规定的更具体。1.2引用标准JB/T4730-2023《承压设备无损检测》1.3检测人员1.3.1检测人员必须通过培训，按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》的规定，经理论和实际考试合格，取得相应等级资格证书。1.3.2检测人员必须每年检查一次视力，未经矫正或矫正视力应不低于5.0。视力测试方法应符合GB11533-1989的规定。1.4仪器、探头和试块1.4.1仪器、探头1.4.1.1仪器和探头的组合灵敏度：在达成所检工件最大声程时，其灵敏度余量应≥10dB。1.4.1.2衰减器精度：任意相邻12dB误差在±1dB以内，最大累计误差不超过1dB。1.4.1.3水平线性：水平线性误差不大于1％。1.4.1.4在荧光屏满刻度的80％范围内线性显示。垂直线性误差不大于5％。1.4.1.5探头1.4.1.5.1晶片有效面积除另有规定外一般不应超过500mm2，且任意一边长不大于25mm。1.4.1.5.2单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2°，主声束垂直方向不应当有明显的双峰。1.4.1.5.3直探头的远场分辨力应当大于或等于30dB，斜探头的远场分辨力应大于或等于6dB。1.4.2试块试块应采用与被检工件相同或相近似声学性能的材料制成，该材料用直探头检测时，不得有大于Ф2mm平底孔当量直径的缺陷。试块的制造规定应符合相关标准的规定。现场检测时，也可采用其它形式的等效试块。1.5检测的一般方法1.5.1检测覆盖率检测时探头的每次搜查覆盖应大于探头直径的15%。1.5.2探头的移动速度探头的扫查速度不应超过150mm/S，当采用自动报警装置扫查时，不受此限。1.5.3扫查灵敏度扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度1.5.4应采用机油、浆糊、甘油和水等透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂。1.5.5检测面检测面和检测范围的拟定原则上保证检查到工件被检部分的整个体积；对于钢板和锻件应检查到整个工件；而对焊缝则应检查到整条焊缝。检测前应经外观检查合格，所有影响超声检测的锈浊、飞溅、污物都应予以清除，其表面粗糙度应符合检测规定。1.6校准校准应在基准试块上进行，校准中应使超声主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。1.6.1仪器校准在仪器开始使用时，应对仪器的水平线性进行测定，测定方法按相关规定进行。在使用过程中，每三个月至少应对仪器的水平和垂直线性进行一次测定。1.6.2探头校准在探头开始使用时，应对探头进行一次全面的性能校准。测定方法按有关规定进行。斜探头校准使用前，斜探头至少应进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等的校准。使用过程中，每个工作日应校准前沿距离、K值和主声束偏离。直探头校准直探头的灵敏度余量和分辨力应每月检查一次。1.6.3仪器和探头系统的复核复核时机每次检测前均应对扫描线性、灵敏度进行复核，碰到下属情况应随时对其进行重新核查：校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时；开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时；连续工作4小时以上时；工作结束时；扫描量程的复核假如距离一波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过读数的10％，则扫描量程应予以修正，并在检测记录中加以说明。c.距离一波幅曲线的复核时，校核应不少于3点，如曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次以来所有的检测结果进行复核，如幅度上升2dB，则应对所有的记录信号进行重新评估。1.7报告和存档超声检测报告经责任工程师审核后由技术负责人签发，压力容器焊缝检测报告，与其它检测资料一起交档案室存档；资料存档不少于七年。2.承压设备用钢板超声检测2.1检测范围和一般规定合用于板厚6-250mm的钢制承压设备用板材的超声检测和缺陷评估。奥氏体钢板材的超声检测也可参照执行。2.2探头选用探头的选用应按表1的规定执行。2.3标准试块2.3.1用双晶直探头检测壁厚小于或等于20mm的钢板时，采用JB/T4730.3-2023规定的标准阶梯试块。2.3.2用单直探头检测板厚大于20mm的钢板采用Φ5平底孔试块，应符合表2的规定。试块厚度应与被检测钢板厚度相近。2.4检测灵敏度2.4.1板厚小于或等于20mm时，用试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50％，再提高10dB作为检测灵敏度。2.4.2板厚大于20mm时，用Φ5平底孔试块将平底孔第一次反射波高度调整到满刻度的50％作为检测灵敏度。表1探头选用板厚mm采用探头公称频率探头晶片尺寸双晶探头单晶直探头6-20双晶直探头5MHZ晶片面积不小于150mm2/＞20～250单晶直探头2.5MHZ/圆晶片直径14～25mm,或方晶片面积不小于200mm2表2试块编号被检钢板厚度检测面到平底孔的距离S试块厚度T123456＞20～40＞40～60＞60～100＞100~160＞160~200＞200~25015305090140190≥20≥40≥65≥110≥170≥220注：板厚大于60mm时，也可取无缺陷的完好部位的第一次底波来校准灵敏度，其结果应与2.4.2条的规定相一致。2.5检测面2.5.1可选用钢板的任一轧制平面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有规定期，也可对钢板的上下两轧制平面进行检测。2.5.2扫查方式探头沿垂直于钢板压延方向，间距为100mm的平行线进行扫查。在钢板坡口预定线两侧各50mm（当板厚超过100mm，以板厚的一半为准）内应作100％扫查。根据协议、技术协议或图样的规定，也可以进行其它形式的扫查。2.5.3在检测过程中，发现下列三种情况之一者即作为缺陷：缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于满刻度的50％，即F1≥50％者。当底面第一次反射波（B1）波高大于或等于满刻度的50％，即B1＜100％，而F1/B1≥50％者。当底面波第一次反射波（B1）波高小于满刻度的50％，即B1＜50％者。2.5.4缺陷的边界或指示长度的测定方法检出缺陷后，应在它的周边继续检测，以拟定缺陷的延伸。用双晶探头拟定缺陷的边界或指示长度时，探头的移动方向应与探头的声波分割面相垂直，并使缺陷波下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的25％或使缺陷第一次反射波高与底面第一次反射波高之比为50％。此时，探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。用单直探头拟定缺陷的边界或指示长度时，移动探头，使缺陷波第一次反射波下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的25％或使缺陷第一次反射波与底面第一次反射波之比为50％。此时，探头中心移动的距离即为缺陷的指示长度，探头中心即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。拟定2.5.3c条缺陷的边界或指示长度时，移动探头，使底面第一次反射波高升到荧光屏满刻度的50％。此时，探头中心移动的距离即为缺陷指示长度，探头中心即为缺陷的边界点。当采用第二次缺陷波和第二次底波来评估缺陷时，检测灵敏度以相应的第一次反射波来校准。2.6缺陷的评估方法2.6.1缺陷指示长度的评估规则一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度2.6.2单个缺陷面积的评估规则一个缺陷按其指示的最大面积作为该缺陷的单个指示面积。当其小于表3的规定期，可不作记录。多个缺陷其相邻间距小于100mm或间距小于相邻小缺陷的指示长度（取其较大值）时，其各块缺陷面积和作为单个缺陷指示面积。2.6.3缺陷面积占有率的评估规则在任一1m×1m检测面积内，按缺陷面积所占的比例来拟定。表3等级单个缺陷指示长度mm单个缺陷指示面积cm2在任一1m×1m检测面积内存在缺陷面积比例％以下单个缺陷指示面积不记cm2Ⅰ＜80＜25≤3＜9Ⅱ＜100＜50≤5＜15Ⅲ＜120＜100≤10＜25Ⅳ＜150＜100≤10＜25Ⅴ超过Ⅳ级者2.7钢板缺陷等级评估2.7.1钢板缺陷等级划分见表32.7.2在坡口预定两侧各50mm（板厚大于100mm时，以板厚的一半为准）内，缺陷的指示长度大于或等于50mm时，则应判废，不作评级。2.7.3在检测过程中，检测人员如拟定钢板中有白点、裂纹等危害性缺陷存在时，应评为Ⅴ级，作叛废解决。3.承压设备用锻件超声检测3.1检测范围和一般规定合用于承压设备用碳素钢和低合金钢锻件的超声检测和质量分级。本条不合用于奥氏体钢等粗晶材料的超声检测，也不合用于内外半径之比小于80％的环形和筒形锻件的周向横波检测.3.2试块应符合1.4.2.a条的规定.3.2.1纵波直探头标准试块试块应采用CSI和CS2试块,也可自行加工,其尺寸按表4的规定.表4纵波直探头采用的标准试块尺寸试块序号CSI-1CSI-2CSI-3CSI-4L50100150200D50608080L为试块检测面到平底孔的距离mm.D为试块直径mm3.2.2纵波双晶直探头标准试块工作检测距离小于45mm时，应用纵波双晶直探头试块。纵波双晶直探头标准试块的尺寸按表5的规定。表5纵波双晶直探头标准试块尺寸序号Φ2Φ3Φ4Φ5检测距离L123456789510152025303540453.2.3检测面是曲面时，应采用对比试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失。3.3检测时机原则上安排在热解决后，槽、孔、台阶加工前进行。在热解决后锻件形状不适合检测时，也可在热解决前进行，但在热解决后仍应对锻件进行尽也许完全的检测。检测面的表面粗糙度Ra不应大于6.3μm。3.4检测方法锻件一般应进行纵波检测。对筒形锻件还应进行横波检测。3.4.1横波检测横波检测应按JB/T4730.3-2023标准附录C（规范性附录）的规定进行。3.4.2纵波检测原则上应从两个互相垂直的方向进行检测，尽也许地检测到锻件的全面积。锻件厚度超过400mm时，应从相对两端面进行100％的扫查。3.5检测灵敏度的拟定3.5.1纵波直探头检测灵敏度的拟定当被检部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区时，原则上可选用底波计算拟定检测灵敏度。对由于几何形状所限，不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时，可直接采用试块法来拟定检测灵敏度。3.5.2纵波双晶直探头检测灵敏度的拟定根据需要选择不同直径平底孔的试块，并依次测试一组不同检测距离的平底孔（至少三个）。调节衰减器，使其中最高的回波幅度达成满刻度的80％。不改变仪器的参数，测出其它平底孔回波最高点，将其标在荧光屏上，连接这些点，即是相应于不同直径平底孔的纵波双晶直探头的距离－波幅曲线，并以此作为检测灵敏度。3.5.3检测灵敏度一般不低于最大检测距离处的Φ2mm平底孔当量直径。3.6工件材质衰减系数的测定3.6.1在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位，调节仪器使第一次底面回波幅度（B1）为满刻度的50％，记录本次衰减器的读数，再调衰减器，使第二次底面回波幅度（B2）为满刻度的50％，两次衰减器读数之差即为（B1－B2）的dB差值。3.6.2衰减系数的计算公式（T＞3N）：a=[(B1-B2)-6dB]/2T式中：a---------衰减系数，dB/mm（单程）；(B1-B2)---------两次衰减器的读数差，dB；T-----------------工件检测厚度，mm；N-----------------单直探头近场区长度，mm。3.6.3工件上三处衰减系数的平均值即为该工件的衰减系数。3.7缺陷当量的拟定3.7.1采用AVG曲线及计算法拟定缺陷当量。对于三倍近场区内的缺陷，可采用单直探头或双晶直探头的距离－波幅曲线来拟定缺陷当量，也可采用其它等效方法来拟定。3.7.2计算缺陷当量时，当材质衰减系数超过4dB/m，应考虑修正。3.8缺陷记录3.8.1记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅和位置。3.8.2密集性缺陷：记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布。饼形锻件应记录大于或等于Φ3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位，其边界可由6dB法决定。应按表6规定记录底波减少量。3.9缺陷等级评估3.9.2底波减少量的等级评估见表6.3.9.1单个缺陷的等级评估见表7.3.9.3密集区缺陷等级评估见表8.3.9.4表6、表7和表8的等级应作为独立的等级分别使用。3.9.5假如被检测人员鉴定为危害性缺陷时，可以不受上述条文的限制。3.9.6假如工件的材质衰减对检测效果有较大的影响，应重新进行热解决。表6由缺陷引起底波减少量的等级评估dB等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径BG/BF≤8＞8～14＞14～20＞20～26＞26表7单个缺陷的等级评估mm等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径≤Φ4Φ4+(>0-8dB）Φ4+(>8-12dB）Φ4+(>12-16dB)Φ4+>16dB表8密集区域缺陷的等级评估等级ⅠⅡⅢⅣⅤ密集区缺陷占检测总面积的比例％0＞0～5＞5～10＞10～20＞203.9.7锻件修补后，应按本标准进行评估。4.钢制承压设备焊缝超声检测4.1检测范围和一般规定规定了焊缝缺陷的超声检测方法及检查结果的等级评估。合用于母材厚度为8～400mm全焊透熔化焊钢对接焊缝和管座角焊缝的超声波检测。不合用于铸钢及奥氏体钢焊缝，外径小于159mm的钢管对接焊缝，内径小于或等于200mm的管座角焊缝，也不合用于外径小于250mm或内外径之比小于80％的纵向焊缝检测。4.2试块4.2.1应符合1.4.2a条规定。4.2.2采用试块为CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA。其形状和尺寸应分别符合标准规定。4.2.3CSK-ⅠA、CSK-ⅡA和CSK-ⅢA试块合用壁厚范围为6～120mm的焊缝，在满足灵敏度规定下，也可采用其它形式的等效试块。4.2.4检测曲面工件，如检测面曲率半径R小于或等于W2/4（W为探头接触面宽度，环焊缝检测时为探头长度）时，应采用与检测面曲率相同的对比试块。4.3检测面压力容器焊缝检测一般采用一种K值探头，运用一次反射法在焊缝的单面双侧对整个焊接接头进行检测。当母材厚度大于46mm时，采用双面双侧直射法检测。对于规定比较高的焊缝，根据实际需要也可将焊缝余高磨平，直接在焊缝上检测。检测区域的宽度是焊缝自身，再加上焊缝两侧各相称于母材厚度的30％的一段区域，这个区域最小为10mm。探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质。检测表面应平整光滑，便于探头的自由扫查，其表面粗糙度Ra应小于6.3μm，一般应进行打磨。(1).采用一次反射法检测时,探头移动区应不小于1.25P;P=2TK式中:P-跨距,mm；T-母材厚度,mm；K-探头K值；(2)采用直射法检测时,探头移动区应不小于0.75P.去除余高的焊缝,应将余高打磨到与相邻母材平齐.保存余高的焊缝,假如焊缝表面有咬边．较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨，并作圆滑过渡，以免影响检查结果的评估。4.3.2探头K值斜探头的K值选取可参照表9的规定，条件允许时，尽量采用较大K值探头。表9推荐应用的斜探头K值板厚TmmK值6-253.0－2.0＞25-462.5－1.5＞46-1202.0－1.0＞120-4002.0－1.04.3.3母材的检查斜探头扫查声束通过的母材区域，应先用直探头检测，以便检测是否有影响斜探头检测结果的分层或其它种类缺陷存在，该项检测仅作记录，不属于对母材的验收检测。母材检测的规程要点如下：方法：接触式脉冲反射法，采用频率２－５ＭＨＺ，晶片直径１０－２５mm灵敏度：将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的１００％记录：凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度20％的部位，应在工件表面作出标记，并以记录。4.4距离一波幅曲线的绘制4.4.1距离一波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成，该曲线由评估线、定量线、和判废线组成，评估线与定量线之间（涉及评估线）为Ⅰ区，定量线与判废线之间（涉及定量线）为Ⅱ区，判废线及其以上为Ⅲ区。4.4.2距离一波幅曲线的灵敏度选择壁厚为6－120mm的焊缝，其距离一波幅曲线灵敏度按表10的规定。直探头的距离一波幅曲线灵敏度按表11的规定。距离一波幅曲线的制作可在ＣＳ２试块上进行，其组成见３.检测横向缺陷时,应将各线灵敏度均提高6dB。检测面曲率半径Ｒ小于或等于Ｗ２/４时,距离一波幅曲线绘制应在曲面对比试块上进行.工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同.否则应按规定进行补偿，在一跨距声程内最大传输损失差不超过２dB时可不进行补偿.扫查灵敏度不低于最大声程处的评估线灵敏度.表１０距离一波幅曲线的灵敏度试块型式板厚mm评估线定量线判废线CSK-ⅡＡ6-46＞46-120Φ2×40-18dbΦ2×40-14dbΦ2×40-12dbΦ2×40-8dbΦ2×40-4dbΦ2×40+2dbCSK-ⅢＡ8-15＞15-46＞46-120Φ1×6-12dbΦ1×6-9dbΦ1×6-6dbΦ1×6-6dbΦ1×6-3dbΦ1×6Φ1×6+2dbΦ1×6+5dbΦ1×6+10db表１１直探头距离-波幅曲线的灵敏度评估线定量线判废线Φ2mm平底孔Φ３mmΦ６mm4.5检测方法4.5.1平板对接焊缝的检测为检测纵向缺陷,原则上采用一种Ｋ值探头或两种Ｋ值探头在焊缝的单面双侧进行检测.母材厚度大于４６mm时,采用双面双侧检测,如受几何条件限制,也可在焊缝双面单侧采用两种Ｋ值探头进行检测.斜探头应垂直于焊缝中心线放置在检测面上作锯齿型扫查.探头前后移动的范围应保证扫查到所有焊缝截面.在保持探头垂直焊缝作前后移动的同时,还应作１０°~１５°的左右转动.当壁厚大于４０mm且单侧坡口角度小于５°时,为检测焊缝及热影响区的横向缺陷应进行平行扫查.检测时可在焊缝两侧边沿使探头与焊缝中心线成１０°~２０°作斜平行扫查.焊缝余高磨平时.可将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查.为拟定缺陷的位置、方向和形状,观测缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号,可采用前后、左右、转角、围绕等四种探头基本扫查方式.4.5.2曲面工件对接焊缝的检测.检测面为曲面时,可尽量按平板对接焊缝的检测方法进行检测.对于受几何形状的限制,无法检测的部位应予以记录.纵缝检测时,对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差应小于１０%根据工件的曲率和材料厚度选择探头Ｋ值,并考虑几何临界角的限制.保证声束能扫查到整个焊缝.探头接触面修磨后,应注意探头入射点和Ｋ值的变化,并用曲率试块作实际测定.当检测面曲率半径R大于Ｗ２/４且采用平面对比试块调节仪器时,应注意到荧光屏指示的缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异,必要时应进行修正.c.环缝检测时,对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的０.９~１.５倍.4.6缺陷定量检测.4.6.1灵敏度应调到定量线灵敏度.4.6.2对所有反射波幅超过定量线的缺陷,均应拟定其位置、最大反射波幅和缺陷当量.4.6.3缺陷定量.应根据缺陷最大反射波幅拟定缺陷当量大小和缺陷指示长度△Ｌ缺陷当量大小.用直探头检测时,用当量平底孔直径表达.可采用公式计算距离\波幅曲线和试块对比来拟定.用斜探头检测时,用ＳＬ±dB来表达.缺陷指示长度△Ｌ的测定采用以下方法:当缺陷反射波只有一个高点，且位于Ⅱ区时，用6dB法测其指示长度。当缺陷反射波峰值起伏变化、有多个高点.且位于Ⅱ区时，应以端点dB法测其指示长度.当缺陷反射波峰位于Ⅰ区,如认为有必要记录时,将探头左右移动,使波幅降到评估线,以此测定缺陷指示长度.4.7缺陷评估4.7.1超过评估线的信号应注意其是否有裂纹等危害性缺陷特性.如有怀疑时,应采用改变探头Ｋ值.增长检测面.观测动态波型并结合工艺特性作鉴定.如对波型不能判断时,应辅以其它检测方法作综合鉴定.4.7.2缺陷指示长度小于１０mm时按５mm4.7.3相邻两缺陷在一直线上,其间距小于其中较小的缺陷长度时,应作为一条缺陷解决.以两缺陷长度之和作为其指示长度(不考虑间距)4.8缺陷等级评估4.8.1不允许存在下列缺陷反射波幅位于判废线及Ⅲ区的缺陷.检测人员鉴定为裂纹等危害性的缺陷.4.8.2最大反射波幅位于Ⅱ区的缺陷.根据其指示长度按表12的规定于以评级.4.8.3最大反射波幅低于定量线的非裂纹类缺陷，均评为Ⅰ级.4.8.4不合格的缺陷应返修.返修部位及热影响区仍按本标准进行检测和等级评估.表12Ⅱ区缺陷的等级评估等级板厚Ｔ单个缺陷的指示长度L多个缺陷的累计指示长度Ｌ/Ⅰ6~120Ｌ=1/3Ｔ最小为10.最大不超过30在任意９Ｔ焊缝长度范围内Ｌ/不超过ＴⅡ6~120Ｌ=2/3T最小为12最大不超过40在任意4.5Ｔ焊缝长度范围内Ｌ/不超过ＴⅢ超过Ⅱ级者注:①板厚不等的焊缝以薄板为准.②当焊缝长度局限性９Ｔ(Ⅰ级)或４.５Ｔ(Ⅱ级)时,可按比例折算.５.管座角焊缝超声波探伤５.１合用范围:合用于锅炉压力容器管座角焊缝的超声波检测.５.２探伤器材５.２.１选用Ａ型脉冲反射式超声波探伤仪,其工作频率范围为２-５ＭＨＺ,５.采用单晶直探头和斜探头.直探头频率为２.５ＭＨＺ,晶片直径１０-２５mm;斜探头声束轴线水平偏离角不大于２０,主声束垂直方向不应有明显的双峰.探头Ｋ值选择应符合下表13表13探头Ｋ值选择母材厚度(mm)Ｋ值(折射角)6~253.0~2.0(720~600)＞25~462.5~1.5(680~560)＞462.0~1.0(600~450)５.标准试块:ＣＳＫ-ⅠＡ对比试块:ＣＳＫ-ⅢＡ当施工验收规范或设计文献另有规定期,也可以采用验收规范或设计文献规定的其它形式的标准试块和对比试块.５.２.４耦合剂５.３工艺参数５.一般采用２.５ＭＨＺ,薄壁探伤时,可采５ＭＨＺ..５.直探头扫查时,母材壁厚小于或等于２０mm时,应使荧光屏出现5次底波,壁厚大于或等于２０mm时,斜探头扫查时,母材壁厚小于或等于２０mm时,节,壁厚大于２０mm时,一般采用深度１：１调节５.３直探头扫查时,将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的１００%,作为检测灵敏度.斜探头扫查时,不低于评估线灵敏度.表面补偿:一般为4dB(当表面粗糙度Ｒa＞6.3μm时应实测).５.３根据焊缝结构形式,管座角焊缝的检测可选择以下一种或几种方式组合实行检测.检测方式的选择应由协议双方商定,并考虑重要检测对象和几何条件的限制.在接管内壁用直探头检测.在容器内壁用直探头检测在接管外壁用斜探头检测.在接管内壁用斜探头检测.在容器外壁用斜探头检测.５.４检测操作５.４.１打开电源,连接仪器与探头,按５.５.４.２按５.３.４条的规定的检测方式进行检测操作５.４.３５.４５.４.４.１用直探头检测时,可用公式计算,５.４.４.２用斜探头检测时,当缺陷反射波只有一个高点且位于Ⅱ区时,用６dB法测量缺陷的指示长度;当缺陷反射波有多个高点且位于Ⅱ区时,用端点６dB法测量缺陷的指示长度;当缺陷反射波位于Ⅰ区,如认为有必要记录时,５.４缺陷评估应按规范\施工图纸规定的验收标准进行评估。６.Ｔ型焊缝超声波探伤６.１合用范围合用于厚度不小于８mmＴ型接头的超声波检测６.２探伤器材６.选用Ａ型脉冲反射式超声波探伤仪,其工作频率范围为２～５ＭＨＺ,水平线误差不大于１%,垂直线性误差不大于５%.６.采用单晶直探头和单晶斜探头.直探头频率为２～５ＭＨＺ,晶片直径１０~２５mm;斜探头声束轴线水平偏离角不大于２０,主声束垂直方向不应有明显的双峰.探头Ｋ值选择应符合下表的规定母材厚度(mm)Ｋ值(折射角)6~253.0~2.0(720~600)＞25~462.5~1.5(680~560)＞462.0~1.0(600~450)６.a.标准试块:ＣＳＫ-ⅠＡb.对比试块:ＣＳＫ-ⅢＡc.当施工验收规范或设计文献另有规定期,也可以采用验收规范或设计文献规定的其它形式的标准试块和对比试块.６.２.４耦合剂６.３工艺参数６.一般采用２.５ＭＨＺ,薄壁探伤时,可采５ＭＨＺ.６.３.２灵敏度调整:直探头探伤时,运用翼板底波或平底孔试块调整灵敏度;６.４检测操作６.４.１拟定焊缝的位置:６.４.２扫查方式:直探头探伤时,探头应在焊缝及热影响区内扫查;斜探头探伤时,探头需在焊缝两侧作垂直于焊缝的锯齿形扫查,每次移动的间距不大于晶片直径,同时在移动过程中作１００-６.４６.４.３.１采用直探头探伤时,要注意区分底波与焊缝中未焊透和层状撕裂,６.４.３.２斜探头探伤时,探头在腹板和翼板焊缝两侧沿垂直于焊缝方向扫查,焊角反射波强烈,６.５缺陷评估:缺陷评估应按规范\施工图纸规定的验收标准进行评估.７.无缝钢管超声波检测７.１使用范围本条合用于外径为12-660mm,壁厚大小或等于２mm的无缝钢管或外径为12-140mm,壁厚2-35mm的不锈钢管的超声波检测和缺陷等级评估.本条不合用于分层缺陷的超声波检测,也不合用于