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文档简介

实验三复反射系数(复阻抗)测量121180166赵琛法测出其驻波系数。4在测量线后接膜片+匹配负载,用直接法、二倍最小法、功率衰,测量晶体检波律。f35GHz2短路法测导波长λgg对比:由数据可见,最小读数法测得的λg稍大于计系数DminDmin0.2Dmin=131.3(mm)=Dmin-在精度要求不太高的时候,我们可以利用史密斯圆图求得阻=0.026+j0.45=0.13-j2.225计算终端开口时的驻波系数及等效阻抗6测量晶体检波律DD1D2D3D4D5D6D7D8D9D10101.103.104.105.106.106.107.108.109.110.2021085300Dmin=111.6d1d2d3d4d5d6d7d8d9d1010.48.67.46.55.64.84.13.32.61.6E1E2E3E4E5E6E7E8E9E100.960.940.860.790.710.620.540.450.360.22nn1n2n3n4n5n6n7n8n9n10—1.571.471.511.491.451.491.511.581.521用测量线测微波阻抗应注意什么问题?为什么能用测等效参考面达第一个波节点之间的,难以直接测量,因此需要在探针到达范围内选择等效截2能否从你的所测得数据求出膜片本身阻抗?能否考虑测膜片阻匹配阻抗合很小(

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