ICP-AES(美国热电teva操作软件用户手册)

TEVA软件用户手册PAGEPAGE79TEVA软件用户手册目录序言..…….………1分析..…………….4程序的基本结构………………...9定性分析和谱线校准…………...14方法……………...21标准化…………...28校准……………...34检查协议及自动顺序分析……...42报告、存储及导出数据………...51自动进样器的操作……………...60报告模板…………….……...68附录A：安全…………...……………….71附录B：添加数据库…………...……….73序言1．1概述TEVA是以Windows为基础，功能强大、应用灵活的ICP操作软件。该软件易于从ICP光谱仪上获取、处理、保存和打印分析数据，既可用于IRISIntrepid系列光谱仪，又可用于IRISAdvantage系列光谱仪。用户手册主要介绍了软件的一些特点，并对分析方法的建立以及数据处理程序进行了详细的解释和说明。1．2启动程序1.2.1启动程序双击Windows桌面上的TEVA图标，打开WelcometoTEVA对话框。键入用户名和密码，并确认。TEVA操作界面打开，如图1-1所示。管理员可以设置用户以及为不同的用户设置不同的安全权限。此功能将在附录B中进行描述。图1-1在1.3部分对TEVA操作界面进行了详细的描述。从该界面可以进入到：TEVA/CIDAnalyst进行数据采集。Publisher产生分析报告。Journal日志。设置等离子条件、点燃等离子体对话框。设置仪器的不同参数对话框。1.2.2TEVA操作界面的常规格式其格式与Windows界面很相似，主要包括以下几部分：MenuBarToolBarWorkspaceDataDisplayAreaStatusBar1．3TEVA操作界面1.3.1TEVA操作界面的功能打开TEVA/CIDAnalyst，用于采集/处理分析数据（见第2章）。通过点击Workspace工作框中的Analyst图标来完成。打开Publisher，用于产生分析报告（见第11章）。通过点击Workspace工作框中的Publisher图标来完成。浏览和打印工作日志（见1.3.2）。通过点击Workspace工作框中的Operations键打开操作面板。通过点击Plasma图标，来设置等离子体条件并点燃等离子体（见第6章）。点击ShutDown来熄灭等离子体。用于打开CID检测器选项对话框。改变当前的系统用户（见1.3.3）。1.3.2日志日志是关于系统动作的列表，，并呈现在TEVA操作界面的底部。它可以通过JournalPrintPreview进行浏览，亦可以通过PrintJournal命令进行打印。在图1-1中呈现了一小部分典型日志。主要包括执行程序的时间、日期、报告信息、用户名、应用、自动进样器名称和简短的描述。在每条纪录前都有一标记，如下所示：表示程序执行是成功的。表示该方法不能打开。表示由于缺少足够的信息方法不能执行。呈现在日志中的典型信息包括：分析样品是否成功、错误信息、警告和警报。通过Options对话框，用户可以选择信息类型，以便简明扼要。日志的格式可以通过PageSetup对话框进行设置，点击File，选择PageSetup即可打开如下对话框。图1-21.3.3登录或中止操作如果分析人员愿意，他可以通过点击File菜单上的LogOff命令来结束当前所使用的系统（例如：在其它分析人员想要使用系统时）。当用户LogOff时，仪器工作条件是不变的。选择File菜单上的LogOn命令，将弹出WelcometoTEVA对话框，用户可以通过键入用户名和密码来进入系统。如果在选择LogOn命令时，系统是被使用的，那么当前用户的权限将被终止。系统管理员决定分析人员的使用权限。1．4惯例通常，TEVA遵循windows2000专业操作系统的常规惯例，并且希望用户能更好地理解该系统。我们将不再描述windows应用程序所通用的功能和命令。（TEVA软件独特的操作命令除外。）假定，当操作人员完成对话框选项后，即可通过OK或Apply键来确认，我们将不再介绍如何使用这些按键，同样，按Cancel键来关闭对话框，对一些数据的更改将不作保存。在许多情况下，执行一项任务或打开一个对话框可以有多种选择，我们在这里只介绍一种。1．5附加信息用户可以通过查阅光谱仪提供的文件来获得。分析2．1概述TEVA应用软件是专门为光谱分析而设计的软件，主要功能是通过控制光谱仪，来测量谱线的光谱强度，进而计算并报告出样品中待测元素的浓度。所有分析过程都是通过应用软件来控制，在该手册中对其进行了详细的描述。这章的任务就是描述分析期间所经历的全部过程，从而使用户更好地了解怎样使用软件来获取数据。在操作界面中，TEVA软件为用户提供了以下几种可选参数：SystemParameters—可对诸如等离子体高压或氩气流速进行全面设置。若您希望，可以改变此类参数以适于特殊的分析方法。Method—包括为个体样品分析提供的所有分析程序参数。方法中包括数据采集/处理，分析报告等信息。Sequence—包括采用特殊的分析方法对一系列样品实行自动分析所需的特殊参数。在应用程序中包括两个基本模块：Analyst—用于控制光谱仪，进行数据采集/处理和打印报告。Publisher—用于管理数据存取和产生多个样品的报告。2．2分析步骤这里主要概述分析过程，以便使用户对TEVA软件的各项功能有所了解。采用TEVA软件分析样品需经以下几个步骤：确定样品种的元素（2.2.1）。这些元素可以是预知的。选择适当的谱线进行测量（2.2.2）。确定分析条件用以优化分析谱线信号（2.2.3）。进行标准化或校准标准化曲线（2.2.4）。标准化曲线即为测量元素浓度与分析谱线强度之间的关系。采用已知浓度的样品作为QC样，对其进行分析，用以测试分析方法的可靠性（2.2.5）。方法中插入适当的质量控制步骤（2.2.6）。产生报告并保存（2.2.7）。 注意：当分析方案发生改变时，可以重复上述过程。例如：测试过程e，用以确定是否存在谱线干扰，从而导致一个或多个待测元素浓度在报告中出现错误。在此情况下，必须重新编辑b，为待测元素选择其它的谱线，或编辑d，为其添加干扰元素校正系数（IEC）,从而获得有用的分析方法。2.2.1确定样品中的元素如果样品是未知样，那么拍摄一幅全谱谱图（Fullframe如图2-1），该谱图包括仪器给定条件下（曝光时间、波长范围等）CID检测器所能拍摄的所有谱线。谱图上每个光斑都代表一条谱线，可以辨别其波长和元素，并可为特定的元素添加彩色矩形框标识。例如：谱图右上边的矩形框表示Pb220.353nm这条谱线。全谱谱图还可用于校正谱线的位置（即MaptheDetector），此功能将在第4章进行描述。图2-1Fullframe全谱谱图2.2.2谱线选择通常，每个元素都拥有许多谱线，一般情况下都是采用灵敏线进行测定。假设样品中待测元素已经确定，用户可根据谱线的相对强度和谱线的干扰情况，为待测元素选择适当的谱线。例如：下图列出了Zn元素用于分析的三条谱线，当您选择谱线时，在右边框中即会列出干扰谱线。图2-2Zn的谱线及干扰情况谱线通常依靠待测样品元素的浓度、干扰情况、分析条件和相对强度来进行选择。如果您愿意，可以每个元素选择两条或多条谱线来确认分析结果。如果您希望，待测元素在测量样品时有很宽的范围，可以在一个方法中选择两条谱线，其中一条灵敏线用于低浓度样品的测定，而另一条非灵敏用于高浓度样品的测定。若样品中其它元素对待测元素产生干扰，并且没有其它足够强度的谱线可选时，必须采用干扰系数校正法。2.2.3分析条件最佳化该软件允许分析人员选择最佳的分析条件，诸如RF功率、氩气流量、蠕动泵泵速、测量样品数量、使用的光源等参数。可以利用TEVA软件使每个元素最佳化。方法由这些分析条件组成，它可以与初始化条件不同。2.2.4标准曲线利用一系列标准（含有已知浓度的溶液）为待测元素的每条谱线绘制标准曲线（如图2-3）。需说明的是，分析所用的空白有两种类型：1.纯试剂空白，2.样品空白。样品空白是不含有待测元素的纯样品基体空白。图2-3标准曲线方法中具有灵活的数据处理功能，主要包括线开关、干扰系数校正（IEC）、扣减空白、元素平均值、重量校正系数等。关于这些特点将在2.4部分进行描述。2.2.5分析方法测试利用分析方法对与标准化无关的、已知浓度的样品进行分析，根据数据报告与标准吻合情况，来判断分析方法是否可靠。2.2.6质量控制TEVA软件允许分析人员运行校准、质量控制检查、恢复检查、重现性、连续稀释等测试活动。这些测试可以放在在样品分析前、分析中或分析后进行。若产生的结果超出了用户指定的极限，系统将做出反应，并为用户提供简要说明。下面举几个测试的例子：系统在样品分析开始前进行校准，若校准失败（超出用户设定的极限），系统操作将终止。系统在分析10个样品后进行QC检查，若QC检查失败，系统必须重新标准化，重新运行QC标样，并且自最后一次QC检查后的样品也必须重新分析。系统在最后一个样品分析结束后运行QC检查，如果QC检查失败，所有的数据必须废弃。2.2.7报告及保存TEVA允许分析人员编排符合特殊要求的简易报告，让用户决定数据怎样保存。需补充说明的是，所有的结果都将保存到为分析报告准备的数据库中。2．3分析方法分析方法包含有特定样品元素分析所需的信息，方法保存到数据库中并且可按自己的要求对其进行修改。用户还可对分析方法进行加锁，这样方法可以修改，但最初的参数设置将作为永久保存。一旦分析方法建立，就可以在常规操作中进行调用，且容易执行。分析方法中包含的信息有：SpecificInstrumentSettings—诸如使用的光源、样品清洗时间、雾化器压力、等离子体设置、泵速、泵管类型等等。MeasurementInformation—诸如积分时间。StorageandReportandExportFormats—样品、空白、标准等分析数据的保存、报告和导出格式。CalibrationInformation—包含校准模式。ConcentrationofStandards—用于绘制浓度/强度标准曲线。Qualitycontrolchecks—检查测试的正确性。如果在分析过程前、过程中或分析结束后系统没有通过QC检查，必须重新标准化。Informationaboutindividualelements—包含标准曲线的格式、所使用的标准等。2．4顺序分析Sequence包含使用自动进样器运行一系列样品所需的信息。如下所示：自动进样器类型和试管排列情况。标准和样品定位。采用的分析方法。分析样品的数量。分析前和分析后需执行那些操作。Sequence是为使用自动进样器操作时编写的，当Sequence运行时，每个样品都采用同一方法进行分析。Session可以包含一个或多个Sequence，一个Sequence执行一个自动化程序，在同一Session中，可以采用不同的分析方法进行分析。2．5定量分析当ICP用于元素分析时，谱线强度与待测元素浓度成正比，并且具有非常宽的线性范围，软件提供的元素谱线，其强度是非常灵敏的。只是在选择谱线时应避免共存元素干扰。当标准和谱线选择适当时，定量分析将变得非常容易。图2-4As在189.041nm处的谱线。如上图所示，As的强度接近350，而基线非常低（在189.017处强度为1.51）。TEVA数据报告可以用净强度、强度比、标准强度比和浓度等不同形式表示。在浓度模式下，程序允许扣除空白和采用干扰元素校正系数（IEC）。只有在分析谱线与样品中其它元素的谱线靠近或重合（无法分开）时，才采用干扰元素校正系数(IEC)进行校正。例如：用Mg333.333nm这条谱线对Mg进行定量分析时，样品中的Ni333.321nm谱线对其产生干扰。设置IEC：在Mg的分析波长处（即Mg333.333nm），确定Ni的浓度/强度比。在Ni的其它分析波长处（即Ni296.111nm），确定Ni的浓度/强度比。在分析未知样时，系统将：测量两条谱线的强度。使用Ni296.111nm确定其浓度。在Mg的分析波长处计算Ni的强度。在Mg的分析波长处扣除Ni的强度，获得校正强度。使用校正后的强度来计算Mg的浓度。程序的基本结构3．1概述通常，TEVA的日常操作主要由TEVAControlCenter、TEVA/CIDAnalyst、Publisher三个窗口组成。当打开程序后，TEVAControlCenter窗口即呈现出来，通过它可以进入：TEVA/CIDAnalyst窗口，用于建立和运行分析方法或Sequence。Publisher窗口，操作人员可以通过它来选择打印分析报告的格式。需补充的是，它还可用于：打开Plasma对话框和Ignite对话框。浏览/打印Journal。打开设置系统配置或操作参数等多种对话框。3．2TEVAControlCenter窗口当点击桌面上的TEVA图标时，出现一对话框，键入有效的用户名和密码，TEVAControlCenter窗口（图3-1）即出现。图3-1TEVAControlCenter窗口该窗口用于打开各种程序功能，显示所有描述系统活动的日志。主要包括以下几部分：MenuBar—(3.2.1)ToolBar—(3.2.2)Workspace—(3.2.3)DataSpace—此区域不使用。Journal—(3.2.4)StatusBar—(3.2.5)3.2.1MenuBarMenuBar用于选择各项功能，在TEVAControlCenter窗口它是激活的。FileFile菜单（如图3-2）是用于用户登录/中止，修改与日志有关的参数。图3-2File菜单LogOn—通过点击它，用户可以键入自己有效的用户名和密码登录系统。如果某人已登录到系统，那么她/他将退出。LogOff—通过点击它，使当前用户退出系统。此时，LogOn是激活的，允许其他用户登录系统。PrintJournal…,JournalPrintPreview,PrintSetup…,PageSetup—均为有关日志的命令，将在3.2.3部分进行描述。Exit—关闭TEVA应用软件。ViewView(视图)菜单是用于显示/隐藏窗口中的各项功能。如图3-3：图3-3视图菜单ToolsTools(工具)菜单是用于运行与基本系统操作相关的各种命令。如图3-4：图3-4工具菜单Changepassword—打开修改密码对话框，用户即可键入当前密码和新密码，来对其进行修改。新密码需要键入两次以便确认。Options—打开TEVA选项对话框，通过它对仪器的各种特定参数和条件进行选择/修改。CIDConfiguration—此命令为维修人员专用。InstrumentOptions—打开仪器选项对话框，用于显示系统配置。CIDCamera—打开CIDCamera对话框，用于设置CID检测器的各项参数。此命令为维修人员专用。CIDResearch—此命令为维修人员专用。CIDTemperature—用于监控当前CID和FPA的温度。Help如图3-5，用于在线帮助和显示版本信息。图3-5帮助菜单3.2.2ToolBar如图3-6所示，主要包括以下图标：图3-6工具条HomePage—在此它不是激活的，因为该页即为HomePage。Back—在此它不是激活的，因为该页即为HomePage。NextPage—在此它不是激活的，它是用于Workspace。PrintJournalShow/HideJournalAboutTEVA3.2.3WorkspaceWorkspace内有两个图标：用于进入TEVA/CIDAnalyst窗口和SelectaMethod对话框。进行分析数据采集/处理，打印报告等。用于生成含有分析数据的报告。如果您点击位于Workspace框下方的Operations键，将显示如下两个图标：用于设置各项等离子体操作条件。用于设置净化时间并点燃等离子体。3.2.4JournalJournal（日志）是关于系统各项动作的列表并呈现在窗口的下方。主要由以下几方面组成：Type -OK-表示数据库错误，数据不能保存。-象征系统错误信息。Date/Time–事件发生的时间Message–简短的描述UserNameApplicationSequenceNameDescription–关于事件的附加信息。（诸如，当顺序分析开始后，该区域将显示样品或标准的序列号。）3.2.5StatusBarStatusBar主要呈现系统状态信息图标，通过点击图标可以直接进入特定的系统，对其进行浏览/修改。如果您的鼠标在其命令图标上停留几秒钟，在左面的状态条中将出现命令的注解。状态条的右边显示如下： 当前用户名。用于浏览/修改等离子体条件。象征联机。浏览互锁情况及等离子体状态象征自动分析。象征系统联网。象征运行样品的类型。3．3TEVA/CIDAnalyst窗口如图3-8所示：它是用于建立/运行方法和顺序分析。图3-8TEVA/CIDAnalyst窗口在Workspace窗口下有三个按键：Analysis–显示分析运行情况，指明当前运行的样品。Method–用于进入分析方法的各组成部分。诸如分析方法选择、数据处理、打印数据等。将在第6章进行详细描述。Sequence–显示采用自动进样器进行顺序分析的情况。将在第10章进行详细描述。对于菜单条上的命令、图标以及工作区域和数据区域，将在以后所涉及的章节进行详细的描述。3．4Publisher窗口如图3-9所示：用于创建分析报告的格式，并获得多样品整合的报告。图3-9Publisher窗口定性分析和谱线校准4．1介绍定性分析包括确定分析元素和分析谱线，同时这些谱线都是经过校准的。通常分析人员可以通过Fullframe（全谱谱图）对样品中的元素进行更详细的了解，全谱谱图包含样品中所有元素的所有谱线。4．2全谱谱图全谱谱图提供特定波长范围内样品的所有发射谱线。样品的所有信息都包括在两张全谱谱图中：Uv–从最低波长到TEVAOptions对话框中OffAxisSlitWavelengthCutoff项设置的波长范围。缺省设置为245nm。Vis-从OffAxisSlitWavelengthCutoff项设置的波长到最高波长范围。获取全谱谱图：建立一个含有待测元素的方法，此时，只需选择元素即可（方法的其余部分可等到谱线校准后在添加）。准备一份含有待测元素的溶液，它可以是典型样品或合成样品。点击Run选择FullFrame命令，打开如图4-1所是对话框。图4-1运行全谱谱图对话框键入样品ID信息。Autostore表示是否自动保存谱图，若选定则自动保存到数据库中。每幅谱图将需要1MB磁盘空间。Intelli-Frame表示智能拍摄，可以得到一幅合成谱图。若选定它，系统会采集一系列不同曝光时间（0.3s,3s,10s,30s）的谱图，根据每条谱线的强度来选择每条谱线的最佳曝光时间，以避免溢出。通过选择不同的狭缝，可以得到两种不同波长范围的谱图。若要得到样品的全部信息，必须拍摄两幅谱图（即Uv-OnAxis和Vis-OffAxis）。选择最大曝光时间（或积分时间），如果Intelli-Frame选定，则此选项是不可用的（非激活的）。选择样品清洗时间和延迟时间。点击Run，采集全谱谱图（图4-2）。图4-2全谱谱图当全谱谱图采集完后，谱图出现在正中央，信息面板和工作框出现在右边。如果选择了自动保存，数据将存储到指定的路径。谱图上的每个斑点都代表一条谱线，矩形框则象征每条谱线的区域。工具条提供了几个功能图标，如图4-3所示。是为研究谱图特设的。图4-3工具条Zoom放大Unzoom缩小Lighten加亮Darken变暗Maps此时不可用。2d呈现一幅柱状图，用于表示较小区域内每个pixel（象素）的相对强度。通过Zoom/Unzoom便于浏览谱图，比如，您在一个很小区域内放大时，就可以看到每个pixel的情况。通过Lighten/Darket可以识别不同强度的区域，因而更容易识别谱线。点击您感兴趣的pixel，然后按2d图标，就会获得柱状图。如图4-4：图4-42d谱图注意：当拍摄可见谱图时，在谱图的顶部会出现曝光过度的谱带，这种现象是正常的，它是氩的连续发射谱线。在谱图的低波长范围，集中了许多像光斑一样的谱线。在信息面板的上部提供了用户选定谱线的信息。典型描述如图4-5，拖动鼠标到选定谱线的位置，点击鼠标左键，即可得到谱线的信息。图4-5谱线信息在信息面板的下部提供了关于每个元素典型谱线的信息。AnalyticalElements文件夹提供了系统所能检测的所有元素的列表以及其典型谱线，如图4-6，而MethodElements文件夹包含有方法中所选定的元素及其谱线，如图4-7。该列表为您确定谱线提供帮助（4.4部分）。图4-6图4-7如果您在全谱谱图上点击鼠标右键，将呈现如图4-8所示菜单。图4-8Scrollto向左移动鼠标指针到xxpixel。Zoomto相当于Zoom图标。RestoreZoom相当于Unzoon图标。RestoreContrast相当于Lighten图标。SelectArea用于定义一个区域，以确定最小强度和最大强度的像素，因而您可以来优化谱线。当您选择SelectArea时，指针将呈现+标记，出现在您所观测区域的一个角上，拽动鼠标到对应的角上。怎样寻找最大（最小）强度的像素。在定义的区域内点击鼠标右键。在下拉式菜单上选择FindMaximum(minimum)。鼠标指针将移动到最大（最小）强度位置。CID检测器是由512*512个检测单元组成，相当于262,144个光电倍增管。对于CID检测器来说，点光谱比线光谱更适合。点光谱通过中阶梯光栅光学系统产生的，该光学系统是由石英棱镜和中阶梯光栅组成二维交叉色散系统，采用高级次作为主色散。而线光谱主要是采用刻线光栅，利用一级、二级，偶尔利用三级谱线进行测定，相反，中阶梯光栅光学系统是利用高光谱级次，其级次为30—150之间，甚至更高。谱线是以光斑的形式落在CID检测器上，每个光斑覆盖了几个像素，光谱仪通过测量落在像素上的光量子数，进而来确定样品中元素的浓度。注意：利用适当浓度（100—10,000倍检出限）的单标溶液，很容易对谱线进行校准。依次对不同的元素进行校准，然后，利用含有所有元素的溶液拍摄全谱谱图，添加所有元素的典型谱线用以核实校准是否正确。图4-2即为一幅典型的全谱谱图，不同的彩色框代表不同元素谱线的位置，通过放大还可观察到谱线情况。当您放大彩色框区域时，彩色框上即会显示元素名称、波长和级次。执行谱线校准，首先，辨别谱线所对应的光斑。然后，移动彩色框，使光斑中最亮的像素落在彩色框的中心。您可以使用指针和信息面板上部的信息，来确定每个像素所对应的波长（拖动鼠标到相应的位置，点击左键即可）。注意：使强度最高的像素落在彩色框的中心，可提高灵敏度。在某些情况下，元素谱线框（彩色框）与谱线光斑中最亮的像素的中心完全重合，仿佛谱线是经过校准的。如图4-9：图4-9而在大多数情况下，给定元素的谱线框与谱线光斑的位置并不完全重合，通常都分布在光斑的附近，因此需要对谱线进行校准。典型情况如图4-10，有三个光斑分布在谱线框周围。图4-10操作者需要确定三个光斑中哪一个是与谱线框相对应的，使用FindMaximum命令确定光斑中最亮的（强度最大的）像素。一旦确认，拖动谱线框，使光斑中最亮的像素位于谱线框的中心。在按住Ctrl键的同时，按下鼠标左键移动鼠标，即可把谱线框移动到您所想要的位置。当您把谱线框移动到谱线的中心位置（即光斑中最亮的像素位于谱线框的中心）时，释放鼠标键即会出现如图4-11所示重新校准对话框。图4-11确认重新校准选择Yes，如果谱线框与光斑相匹配，谱线将进行重新校准。如果不匹配，则打开如图4-12所示对话框，它会告诉您选择的位置不合理，将会影响其他谱线的校准。图4-12点击OK将呈现如图4-13所示对话框。它会警告您，您所校准的谱线位置与CID检测器设置的坐标不符。图4-13在此，您可以选择两种建议之一，或放弃。成功校准谱线后，我们建议您通过方法中的Elements页上的Mapping键为每个元素进行精确的校准。4．5添加谱线全谱谱图包含的灵敏谱线也许不适合方法中选定元素的测定。如果是这样建立一条谱线，并对它进行校准，然后通过以下步骤把谱线添加到方法中。打开分析元素列表（如图4-6）。在适当的元素谱线上点击鼠标右键。点击AddWavelengthtoMethod。4．6谱线库4.6.1谱线库的任务谱线库是根据已报道的ICP发射光谱谱线库编写的。通过Tools菜单上的WavelengthLineLibrary命令即可进入谱线库。谱线库主要用于以下几方面：若在全谱谱图上观测到一条谱线，可通过谱线库来对其进行鉴别。若您怀疑那条谱线对分析元素产生干扰，您可通过谱线库来观察分析谱线附近的所有谱线。4.6.2谱线库对话框谱线库对话框是用于显示特定元素或所有元素在选定波长范围内的谱线列表。当对话框打开后，分析人员可指定元素或选择SelectAllElements,然后指定波长范围。当您选择了谱线，在干扰谱线框内就会呈现干扰谱线列表。典型谱线库如图4-14所示。图4-14谱线库对话框BEC表示背景等效浓度，用于估计信噪比，其计算公式如下：BEC=标准浓度/标准强度*背景强度BEC和检出限是相关联的，通常，有低的BEC就会有低的检出限。有时，虽然绝对强度很低，但低的BEC的谱线，将提供更好的检出限。方法5．1概述方法是为定量分析而编辑的含有特定参数的文件（诸如：采用的谱线、仪器参数、使用的标准等等）。方法还可用于一系列样品连续自动分析。另外，对于方法中的一些命令（诸如：CID配置、保存文件的路径、打印选项等等）是可以修改的。5．2打开方法打开一个保存过的方法：点击TEVA/CID窗口上File菜单，选择Open呈现如图5-1所示对话框。图5-1该对话框包含所有保存过的方法。当方法保存时，用户可对其进行加锁，确保方法不被删除。加锁的方法可以打开、修改和重新保存。如果对加锁的方法进行修改，修改被记录下来，可以通过ShowAllRevisions对话框查看。Lock键是为不安全的方法加锁用的。选择最左边的方法编号，然后点击OK。如图5-2所示：建立一个新方法，首先要为方法选择元素和适当的谱线。点击File菜单，选择New，则打开如图5-3所示元素周期表。图5-3元素周期表移动鼠标点击您所选择的元素（浅色的元素是可选的），即弹出一对话框（如图5-4），其中包含该元素定量分析的谱线和级次。图5-4Cu的谱线选择定量分析所用谱线。对于某些元素来说，一条谱线可能有几个级次。通常情况下，其中一条谱线比其他谱线更灵敏，工作的更好（精密度和检出限更好）。依赖于以下几条原则为元素选择最佳的谱线：在低波长（即Uv），最好选择靠近谱图中心位置的谱线。在高波长（即Vis），谱线往往远离谱图中心位置，最好选择背景简单的谱线。往往一条谱线拥有2-3个级次，有必要检查每一个级次（通过测量检出限和精密度），以便确认哪一条谱线最好。辨别有无样品中其他元素干扰。点击您所要使用的分析线，在右栏中将显示其他谱线的干扰情况。如下图5-5所示：若您想对干扰元素进行校正，点击干扰谱线。双击分析谱线，检查框即被选定。点击OK接受选定的谱线和干扰谱线。此时，元素周期表重新打开用于选择其他的元素。选定的元素将呈现蓝色，选定的谱线将用星号标记（如果指针停留在元素上）。当所有的元素选定后，点击OK。若您打算从方法中删除元素：点击元素周期表图标。（如图5-3）点击要删除的元素，呈现如图5-5对话框。删除选定的谱线并点击OK。5．4编辑方法5.4.1从方法中添加/删除元素如果您想从方法中添加/删除元素：a)点击元素周期表图标。（如图5-3）点击要添加/删除的元素，呈现如图5-5对话框。添加/删除选定的谱线并点击OK。5.4.2方法栏如图5-6所示，方法栏是用于帮助分析人员建立/修改方法的。每一条目都可以打开一个用于修改方法特定部分的对话框。在5.5部分进行详细描述。图5-65.4.3保存方法方法可以在任何时候通过Method菜单中的Save(或SaveAs)命令来保存，并输入描述的名称。当选择SaveAs命令时，打开对话框。如图5-7所示，Test25是加锁的方法，您可以通过适当的选项，来对修改的方法以修订版或新的名称进行保存。如果您选择了Saveasnewname，如果这一个新方法或解锁的方法，那么方法名区域是激活的。当您选择了Locked，并对分析方法进行保存后，它就不能在方法数据库中进行删除。您还可以在描述框内输入方法描述信息。另外，方法还可以通过File菜单上的Advanced命令，进行导入/导出。图5-7方法保存对话框5．5方法栏5.5.1主要任务为方法栏中的每个条目设置参数。诸如：分析参数、自动输出、报告参数、等离子体设置等等。5.5.2AnalysisPreferences如图5-8所示，用于设置各种不同的常规参数。图5-8分析参数对话框SampleOptionsNumberofRepeats–样品分析重复次数（范围1-10）。DelayTime–延迟时间（范围0-1000秒）。SampleFlushTime–样品清洗时间（范围0-1000秒）。AnalysisMaximumIntegrationTimes–最大积分时间（范围0.1-1000秒）。LowWavelengthRange–低波积分时间（范围0.1-1000秒）。HighWavelengthRange–高波积分时间（范围0.1-1000秒）。低波和高波转换波长缺省值为：265nm，但是它可以通过Options对话框中的Analysis页来改变。FullFrameOptionsIntelli-Frame–若选定该框，仪器自动为拍摄全谱谱图选择积分时间，以确保谱线不发生过饱和现象。MaximumIntegrationTime–拍摄全谱谱图时，所用最大积分时间（范围0.1-1000秒）。Slit–指定拍摄谱图的范围，Uv抑或Vis。SourceLightSource–光源类型（ICAP、SSEA和Hg灯等）。在IRISIntrepid光谱仪上没有安装Hg灯。Auto-IncrementSampleName–若选定此项，为连续样品自动添加样品名称。（诸如：teva1,teva2,teva3等等）UseSampleWeightCorrections–若选定此项，分析人员可以在RunUnknown，RunQCStandard或RunBlank对话框上每个样品的重量。UseManualPlasmaConditions–若选定此项，等离子体设置对话框将不可用。该选项通常用于方法开发阶段，一旦最佳化条件确定，取消该选项并在等离子体设置对话框输入等离子条件。CalibrationMode该校准模式区域是用于选择方法使用的校准类型。共提供三种可选项：ConcentrationConcentrationRatioSummationto100%5.5.3AutomatedOutput在状态栏中，每一个样品类型都对应一个自动输出对话框，对话框的格式是相同的。如果您对所有的样品类型使用相同选项，请按ApplytoAllSampleTypes键。5.5.4ReportPreference每一个样品类型都对应一个报告参数对话框，格式是相同的，但不是所有的样品类型中所有的选项都是可用的。5.5.5Checks该对话框是用于建立QC检查表、恢复检查表、样品极限检查表和双重样品表。（极限检查是在报告参数对话框中进行选择）这些表格是为不同的行为或动作设置极限。例如：QC检查表是用于说明QC样品可接受的范围。5.5.6SequenceAutomation连续自动分析需要在分析前、分析过程中或分析后添加一系列步骤。5.5.7PlasmaSettings等离子体设置对话框是为方法设置各种仪器参数。这种设置将取代仪器启动时在等离子体控制面板上的设置。当您按下GetPresentConditions键时，将用设置的条件替换当前条件。5.5.8InternalStandards内标对话框指示在方法中如何使用内标。5.5.9Standards标准对话框用于定义每个标准。5.5.10Elements对话框包含方法中所有的元素，以及与元素相关的信息。General元素参数General选项如图5-16所示。图5-16元素参数General选项TimingGate1和Gate2是为特定的谱线提供积分时间。Gate1是指样品进入到等离子体到开始采集数据这段时间，Gate2是指到采集数据结束为止这段时间。IntensityFactor区域是通过输入数值来增加信号计数。AnalyticalReportPrintunits区域显示分析报告中样品浓度单位。SignificantFigures用于选择有效数字的位数。Conc.Factor用于添加浓度校正系数。StandardsStandards选项用于输入标准样品信息，另外，还用于通过斜率来对标准进行校准。FitFit选项用于显示工作曲线及其信息。IECIEC选项用于输入干扰元素校正系数。SubarraySubarray选项包括数据采集的信息，用以优化每个元素的系统性能。5.5.11ElementReportsElementReports是方法参数的一部分，提供关于所有谱线参数的概况，其内容在报告中是不能改变的。主要有四种类型报告：GeneralReportSubarrayReportStandardsReportCalibrationReport第六章标准化6．1序言定量分析是通过ICP测定和利用浓度/强度关系，来确定未知样中待测元素的浓度。在这有两种途径，通过ICP进行定量分析。Standardization–通过仪器确定标准溶液的谱线强度，并对元素浓度/强度进行线性拟合，以确定其线性关系。这种方法是最常有的，通常浓度/强度的线性关系可达几个数量级。一般情况下使用两个标准，空白和标准，标准的浓度一般要比待测样品的浓度稍高。Calibration–通过仪器确定标准溶液的谱线强度，并采用曲线拟合的方式来优化元素浓度/强度关系。校准需要使用一系列标准，并允许使用权重，正如拟合方式选项中所提到的。关于校准将在第七章进行详细描述。标准化过程需三步：获取/配置一系列标准并编辑标准表。分析标准。使用每条谱线的数据，来获取浓度/强度曲线。6．2输入标准信息点击Method键选择Standards即可进入如图6-1所是对话框。在此输入每个标准的信息，用于产生标准曲线。图6-1标准对话框点击AddCalibrationStd打开图6-2所示对话框，输入标准名称和缺省浓度。图6-2通常，采用两个标准：用高标和空白来建立标准曲线。高标的浓度要比待测样品的浓度稍高（高50-100%是可以接受的）。注：在某些情况下，配置/获取的标准不可能含有所有的待测元素。若遇到这种情况，就需要运行一系列的标准。如果标准不含有某种元素，删除元素左面的检查框（如图6-1）；同样，如果元素的浓度不同，可以对其进行修改。6．3标准化点击Run菜单选择Standard，弹出如图6-3所示对话框。图6-3标准化对话框如果您只想测定给定标准中的几条谱线，点击SelectLines，打开如图6-4所示对话框，并对谱线进行选择。图6-4谱线选择对话框选择Blank并点击Run。系统将测定空白中每条谱线的强度，并打印出分析报告和更新工作框。如图6-5和6-6所示：图6-5分析报告图6-6工作框注：标准报告和工作框中的信息是由AutomatedOutput和ReportPreferences对话框中的选项决定的。依次运行每个标准，在所有的标准运行结束后，点击Done进行标准化。6．4标准曲线6.4.1标准曲线通过从工作框中的Elements条目选择特定的元素，用以观察标准化情况。如图6-7所示：图6-7标准曲线6.4.2Details详细资料面板包含浓度校准曲线所用的参数，当仅仅使用两个标准或需要线性拟合时，A2为零。式中：A0是补偿系数A1是增益系数A2是曲率系数n是使曲线拟合最佳化所需的指数。CorrelationCoefficient（相关系数）是描述浓度和标准强度比之间可信度的一种指标。（对于两点的标准曲线，其值都为1）StandardErrorofEstimation（标准偏差）是用于估量数据点趋近计算出的工作曲线的程度。标准偏差等于SUM(Xi-X平均)2/(n-1)的平方根。（对于两点的标准曲线，其值都为0）MDL（方法检出限）：分析信号高于背景噪声水平时的最低浓度。MDL=3σ(σ表示连续测定11次空白溶液所得到的标准偏差)MQL（方法定量下限）：具有足够可信度的最低浓度。一般为方法检出限的5倍。Status表示工作曲线的状况。诸如，数据是否可用，有无错误产生等等。Re-slope和Y-intercept：当前仪器响应同原始校准相比较所得参数。当Re-slope数值趋近于1，Y-intercept数值趋近于0时，标准化即可忽略。当选择LineSwitch检查框后，将出现在工作曲线显示区域下方，分别代表交替使用不同谱线来测定低、高浓度信号。谱线转换必须是在方法中进行定义，并规定谱线所使用的浓度范围。当选择High(Low)打印极限检查框后，将出现在工作曲线显示区域上方。该标记表示测量的浓度是否低于（或高于）极限检查表规定的范围，若超出极限将给予警告。Low打印极限可用MDL或MQL来定义。当打印极限选择MDL、MQL和Low其中两个或三个时，报告将采用最低的作为打印极限。当指针停留在绘制的工作曲线上时，将显示指针所在位置的SIR和浓度值。注：若采用三点或更多点来绘制标准曲线，相关系数可能比1小，标准偏差可能会比0大。如果愿意，您可以通过添加/删除点来优化标准曲线，也就是使相关系数最大，标准偏差最小。将在6.4.3部分进行描述。StandardsTable用于显示分析谱线所用标准名称。Concentration列用于显示键入的绝对浓度和从校准曲线上查得的浓度。Difference列用于显示找到浓度和规定浓度之间的差别，包括绝对浓度和相对浓度。Signal列用于显示仪器针对每个标准的响应（SIR），以及用于衡量精密度所需的标准偏差。Emphasis（重要性）列所显示数字，代表该数据点在工作曲线进行拟合时使用的次数，用以提高该数据点的重要程度。若Emphasis=0，则忽略该点。6.4.3校准曲线图命令通过在曲线图上点击鼠标右键，打开如图6-8所示命令菜单，即可对标准曲线的常规格式进行修改。图6-8ZoomUp–后退。FullScale–返回到原始尺寸。SetScale–打开对话框用于选择曲线图X轴和Y轴的最大值和最小值。Grid–放置/删除曲线图上的栅格。TickMarks–放置/删除X轴和Y轴上的刻度标志。LogScale–ShowPrintLimits–打开对话框用于设置打印极限，只有在Low或High极限检查框被选择后，该命令才被激活。ShowLineSwitch–打开对话框用于设置使用谱线的上、下限。（诸如：lowlimit=0,highlimit=10或lowlimit=10,highlimit=22）该命令只有在LineSwitch检查框被选择后，才被激活。AddUserStandard–在当前指针的位置为工作曲线添加数据点。数据将重新计算，包括新的数据点。Print–打开对话框用于选择纸张尺寸和各项参数。当您所期望的参数选定后，即可打印工作曲线。若您把指针指向校准曲线上的一点，这时AddUserStandard命令被重新定义为DeleteStandard，如果删除该点，数据将重新计算。UserStandards是任意数据点，无需实际运行这些标准，通过用户添加来修正校准曲线。添加数据点，首先移动指针到所期望的标准位置，点击鼠标右键打开下拉式菜单，点击AddUserStandard用以插入标准。该标准将被添加到标准表中，其SIR和浓度参数通过指针的位置来确定，并重新进行曲线校准。6.4.4重要性和加权当采用两点标准化时，对于得到的线性拟合曲线来说，高浓度比低浓度位置的重要性更高，如想提高低浓度位置的重要性，您可以使用SetEmphasis命令（在数据点上点击鼠标即弹出命令菜单），来修改低浓度标准的Emphasis参数。当命令选择后，弹出如图6-9所示SetEmphasis对话框，选择点的重要性可通过选择参数来提高。图6-9如果标准曲线包括三点（或者更多），您可以修改个别标准的重要性。加权是基于浓度或者方差的倒数。选择Advanced…命令可以打开如图6-10所示AdvancedCurveFit对话框，用于选择极值和加权选项。图6-10关于此技术将在7.5部分进行讨论。第七章校准7．1概述典型地，采用ICP进行元素分析，可以得到非常好的浓度/强度线性关系，这在第六章进行了详尽的描述。在某些情况下，浓度与强度关系并非呈线性，这时需要采用多元非线性拟合来获得有用的工作曲线。建立的非线性浓度/强度关系需定期校准。校准分三步：准备或获取校准所需的一系列标准，建立校准表。分析标准。为每一条使用的谱线建立最佳的浓度/强度曲线。校准曲线建立后，系统需要定期重新标准化。重新标准化只需运行低标和高标，通过此次的强度与校准时的强度相关联，用以重置曲线的斜率和截距。重新标准化的频率是由化验要求的精度决定的，一般情况下每天运行一次。重新标准化将在7.5部分进行讨论。7．2输入标准信息通过点击Method中的Standards，打开Standards对话框（图7-1），输入用于建立标准曲线的每个标准的信息。图7-1点击AddCalibrationStd键，打开NewStandard对话框（下图7-2），添加标准名称及方法中所有元素的缺省浓度。校准时，利用空白和一系列标准。最高标准的元素浓度要比待测样品的最大浓度稍高。如果标准中不含某一待测元素，可以删除元素左面的检查框（图7-1），同样，如果标准元素浓度与缺省浓度不符，在浓度区域修改它。分析校准所用标准：在Run菜单上选择Calibrate，打开Standardization(ReslopeorCalibrate)对话框（图7-3）。图7-3如果您只想测定给定标准中的几条谱线，点击SelectLines键，打开SelectaSubsetofLinestoAnalyze对话框（图7-4）并选择所需谱线。图7-4确信Blank是突出的，点击Run。系统将测定空白溶液中每条谱线的强度，并在数据区域（图7-5）报告分析结果，更新工作区域（图7-6）。图7-5图7-6依次运行表格中的每一个标准，当所有标准运行结束点击Done.7．4校准数据视图7.4.1校准曲线通过点击Elements条目下的元素并选择Fit键，来观察给定元素的校准曲线（图7-7）。如您想对曲线的某一部分进行放大，在按住左键的同时，拖动鼠标选择放大区域，再点击该区域即可。图7-7标准曲线7.4.2Details详细资料面板包含浓度校准曲线所用的参数，当仅仅使用两个标准或需要线性拟合时，A2为零。式中：A0是补偿系数A1是增益系数A2是曲率系数n是使曲线拟合最佳化所需的指数。CorrelationCoefficient（相关系数）是描述浓度和标准强度比之间可信度的一种指标。理想的相关系数为1。StandardErrorofEstimation（标准偏差）是用于估量数据点趋近计算出的工作曲线的程度。标准偏差等于SUM(Xi-X平均)2/(n-1)的平方根。理想的标准偏差为0。MDL（方法检出限）：分析信号高于背景噪声水平时的最低浓度。MDL=3σ(σ表示连续测定11次空白溶液所得到的标准偏差)MQL（方法定量下限）：具有足够可信度的最低浓度。一般为方法检出限的5倍。Status表示工作曲线的状况。诸如，数据是否可用，有无错误产生等。Re-slope和Y-intercept：当前仪器响应同原始校准相比较所得参数。当Re-slope数值趋近于1，Y-intercept数值趋近于0时，标准化即可忽略。当选择LineSwitch检查框后，将出现在工作曲线显示区域下方，分别代表交替使用不同谱线来测定低、高浓度信号。谱线转换必须是在方法中进行定义，并规定谱线所使用的浓度范围。当选择High(Low)打印极限检查框后，将出现在工作曲线显示区域上方。该标记表示测量的浓度是否低于（或高于）极限检查表规定的范围，若超出极限将给予警告。Low打印极限可用MDL或MQL来定义。当打印极限选择MDL、MQL和Low其中两个或三个时，报告将采用最低的作为打印极限。当指针停留在绘制的工作曲线上时，将显示指针所在位置的SIR和浓度值。StandardsTable用于显示分析谱线所用标准名称。Concentration列用于显示键入的绝对浓度和从校准曲线上查得的浓度。Difference列用于显示找到浓度和规定浓度之间的差别，包括绝对浓度和相对浓度。Signal列用于显示仪器针对每个标准的响应（SIR），以及用于衡量精密度所需的标准偏差。Emphasis（重要性）列所显示数字，代表该数据点在工作曲线进行拟合时使用的次数，用以提高该数据点的重要程度。若Emphasis=0，则忽略该点。校准曲线被打开，所有点都是可用的。线性最小二乘法拟和为缺省设置，曲线上的所有点都是加权的。若愿意，您可以：手动添加/删除曲线上的点。改变曲线拟和的类型。改变各点的权重。7.4.3校准曲线图命令通过在曲线图上点击鼠标右键，打开如图7-8所示命令菜单，即可对标准曲线的常规格式进行修改。图7-8ZoomUp–后退。FullScale–返回到原始尺寸。SetScale–打开对话框用于选择曲线图X轴和Y轴的最大值和最小值。Grid–放置/删除曲线图上的栅格。TickMarks–放置/删除X轴和Y轴上的刻度标志。LogScale–ShowPrintLimits–打开对话框用于设置打印极限，只有在Low或High极限检查框被选择后，该命令才被激活。ShowLineSwitch–打开对话框用于设置使用谱线的上、下限。（诸如：lowlimit=0,highlimit=10或lowlimit=10,highlimit=22）该命令只有在LineSwitch检查框被选择后，才被激活。AddUserStandard–在当前指针的位置为工作曲线添加数据点。数据将从新计算，包括新的数据点。Print–打开对话框用于选择纸张尺寸和各项参数。当您所期望的参数选定后，即可打印工作曲线。若您把指针指向校准曲线上的数据点，这时AddUserStandard命令被重新定义为DeleteStandard，如果删除该点，数据将重新计算。7.4.4优化校准曲线执行下列每一项动作，校准图表上的详细信息都会发生改变。这样，您就可以确定，条件的改变会对相关系数和/或标准偏差产生怎样的影响。注：在此部分描述了每个动作的用途，以便使工作曲线获得最佳的相关系数和最小的标准偏差。相关系数相对来说更重要。添加或删除数据点Userstandards是用户为修改校准曲线而添加的任意点。添加用户标准：移动指针到期望的标准位置。点击鼠标右键打开下拉式菜单。点击AddUserStandard插入标准。新标准以及通过指针定位的SIR和浓度将被添加到标准表中，并且校准曲线重新计算。删除数据点：移动指针到校准曲线上要删除的数据点。AddUserStandards命令将被重新定义为DeleteStandard。点击DeleteStandard。如果您删除数据点，那么数据点将从工作曲线和标准表中移走，并采用现有的数据点进行重新计算选择拟合类型Linear–基于线性最小二乘法进行拟合，公式如7-2所示，数据被强迫拟合成最佳直线。线性拟合至少需要两个标准。SIR=A0+(A1×Cn)7-2A0是补偿系数A1是增益系数n是使曲线拟合最佳化所需的指数C是元素浓度指数范围是操作人员通过AdvancedCurvefitOptions对话框（图7-9）来设定的。缺省范围为0.6-1.2，在没有很好地理解基本原理的情况下，建议不要随便改变。Curvilinear–数据最佳拟合，公式如7-3所示，曲线拟合至少需要三个标准。SIR=A0+(A1×Cn)+(A2×C2n)A0是补偿系数A1是增益系数A2是曲率系数n是使曲线拟合最佳化所需的指数C是元素浓度加权线性回归是按上述假设（假设在测量范围以外标准偏差是一常数）来计算的。用户应该注意到，对于由CID作为检测器的ICP光谱仪采集的数据来说，这种假设是不正确的。标准偏差是近似与强度平方根成正比的。标准偏差修正的只是计算中简单的偏离，因而对于高浓度拟合效果比较好，而在低浓度处会引起错误。这种偏离可以在计算中通过加权因子来克服。基于浓度倒数或方差倒数的加权因子将抵消简单偏离在图表上Weighting区域用于选择加权类型：None–所有点都采用相同的加权因子。1/Conc–浓度倒数，强加一个加权因子使工作曲线向低浓度标准倾斜，对于空白需设定加权参数。1/Var–方差倒数，在ICP分析中很少采用此类型。通过点击Advanced按键，打开AdvancedCurvefitOptions对话框（图7-9），它是用于选择加权极限和类型。图7-9FullFitExponentRange区域是用于设置公式7-1中指数n的极限。通常这些参数无需改变。1/C和1/V因子的范围是1-10000。增大1/C的数值会使低浓度样品和空白的偏差增大，除非强迫其它点偏离工作曲线。1/V参数无需改变。重要性在某些情况下，可以通过给定一个重要系数，来优化单一数据点（通常，这种回归在高浓度标准处比低浓度标准更重要）。SetEmphasis命令（当鼠标在数据点上点击时，即会弹出命令菜单）是为数据点设置重要性参数（通常用于低浓度标准）。选择该命令，即打开Emphasis对话框（图7-10），通过选择参数来增加被选择点的重要性。图7-107．5重新标准化校准是利用高标和低标定期进行检查，根据当前强度和标准化时的强度关系重置工作曲线的斜率和截距。这样做是为纠正仪器微小的变化。在您进行标准化后，点击Element对话框中的Standards键，打开如图7-11所示对话框，确定用于重新标准化的两个标准。图7-11通过点击标准前面的数字，选择用于重新标准化的标准，按〉〉键，标准将被添加到右面的ReslopeStandards框中，并附有标准化时的强度（图7-12）。图7-12在此方式可以选择两个标准。当您想进行重新标准化时，选择Run菜单上的Standardization命令并分析您所选择的两个标准。在您完成对这两个标准的分析后，工作曲线表（图7-7）中的斜率和截距将发生细微的变化。第八章检查协议及自动顺序分析8．1概述TEVA软件可以把检查协议添加到方法或顺序分析中，用于校验仪器在用户指定的极限范围内运行状况。当自动顺序分析的分析结果不符合用户指定的极限时，系统将自动执行用户所选定的分析步骤。TEVA包括五种不同类型的检查协议：QualityControl(8.3)–通过分析指定的样品，用于确定其元素浓度是否在用户所规定的极限内，从而决定如何实施校准。该样品是事先定义好的，它可以是用于标准化的标准，亦可以是一个已知浓度的标准样品。Recover(8.4)–质量控制检查的一种类型，通过向未知样品中添加已知浓度的标准溶液，进行分析，来确定该方法的回收率。任何光谱干扰和化学干扰都将导致回收率偏离100%。LimitChecks(8.5)–用于未知样品分析。极限检查表包括每个元素可接受范围的列表，其结果若高于上限或低于下限将告失败。对于高于上限的结果，决定是否对样品进行稀释。Duplicate(8.6)–用于确定对给定样品进行两次或多次分析，其结果是否满足用户所指定的偏差。SerialDilution(8.7)–用于确定样品连续稀释所提供的分析结果与稀释系数在用户指定的偏差范围内是否一致。另外，用户可以对自动进样器操作参数进行设置，将在8.10部分进行描述。8．2建立检查类型及参数对于不同检查类型其输入参数的格式都是相似的。Checks对话框（如图8-1）是用于选择检查类型并打开输入参数对话框。该对话框可通过选择方法条中的checks项来打开。图8-1点击New，即可打开如图8-2所示对话框，缺省类型为QC。图8-2通过点击CheckType区域的向下箭头，即可打开包含有五种类型的菜单。选择所需的类型，并对参数进行设置。具体描述如下所述。8．3QC检查8.3.1输入检查极限当选择QCCheck后，您可以通过对话框对失败极限、警告极限和期望参数进行设定。其范围可以是相对值或绝对值，还可选择校准类型Slope、Offset或None（通过校准程序来改变标准曲线的斜率或偏移量）。如图8-2所示，所有元素的期望值为10.00，若报告数值<9.90或>10.10则给予警告，若报告数值<9.80或>10.20则宣告失败。因为我们选择了Absolute选项，警告的浓度范围为10.00ppm+/-0.10，失败的浓度范围为10.00ppm+/-0.20。当您选择并键入不同的参数后，点击OK，呈现出如下图8-3所示对话框。该对话框是用于设定不同元素的特定数值或从测试中删除某元素。若删除某元素，可通过点击最左边的复选框来完成。若改变各项参数的数值，可直接点击该区域并输入所期望的数值。若想改变校准的类型，可通过点击Norm项，从菜单中进行选择。8.3.2运行QC检查QC检查通常是在自动顺序分析前、分析中或分析后进行，如果QC检查失败，操作者可指示系统如何操作。对于QC检查的详细描述将放在8.8部分。8．4回收率检查8.4.1建立回收率检查表当您在NewCheckTable对话框中，选择了Recovery，在DefaultCheckRange区域为LowFailure,LowWarning,Spike,HighWarning和HighFailure。其范围单位与QC检查（8.2.3部分）一样，参数选项和检查框亦相同。Spike数值为添加到样品中元素的量。8.4.2运行回收率检查运行回收率检查：正常分析样品。在Results菜单下选择RunRecovery，则呈现出如图8-4所示RunRecovery对话框。图8-4输入/修改适当的参数。样品ID为XXXXXX_RQ，XXXXXX为先前运行样品的名称，但可以修改成您所希望的名称。若回收率检查表有多个，可以通过对话框中Table区域进行选择。点击Run，分析该样品并给出如图8-5所示报告。每个元素的回收率信息呈现在报告的底部。图8-58．5极限检查8.5.1建立极限检查表当在NewCheckTable对话框中选择了LimitCheck，在DefaultCheckRange区域为LowFailure,LowWarning,HighWarning和HighFailure.其范围单位与QC检查（8.2.3部分）一样，参数选项和检查框亦相同。8.5.2运行极限检查在RunUnknown对话框（如图8-6）中，选择PerformLimitCheck及其所需的检查表，点击运行即可。极限检查可在所有样品类型（如Blanks,Standards,Unknowns）中运行。图8-6当样品分析结束后，其报告如图8-7所示。在元素的平均值处用F标记出极限检查失败，在报告的底部包括极限检查说明。图8-78．6重现性检查8.6.1建立重现性检查表当您在NewCheckTable对话框中，选择了Duplicate，其DefaultCheckRange区域为LowFailure,LowWarning,HighWarning和HighFailure.其范围单位与QC检查（8.2.3部分）一样，参数选项和检查框亦相同。8.6.2运行重现性检查运行重现性检查：正常分析样品。在Results菜单下选择RunDuplicate，则呈现出如图8-8所示对话框。图8-8输入/修改适当的参数。样品ID为XXXXXX_DUP，XXXXXX为先前运行样品的名称，但可以修改成您所希望的名称。若重现性检查表有多个，可以通过对话框中Table区域进行选择。点击Run，分析该样品并给出如图8-9所示报告。每个元素的重现性信息呈现在报告的底部。图8-98．7自动顺序分析自动顺序分析的特点是，通过在自动分析期间执行检查，根据检查结果来决定您所要执行的动作。该检查的执行可以是在顺序分析执行前、执行中和执行后。当您在方法菜单条中选择了SequenceAutomation，SequenceAutomation对话框（如图8-10所示）将呈现眼前。图8-10为InitialActions,ContinuingActions和EndActions添加协议。8.7.1初始动作建立初始动作：a)点击AddAction初始动作区域提供如下图8-11所示被激活的工作框。图8-10b)点