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文档简介

数字集成电路测试

与可测试设计思考题测试的对象是什么？测试的目的是什么？测试的内容是什么？测试的方法是什么？测试的工具是什么？测试的平台是什么？测试的未来是什么？第一章引言1.1测试哲学1.2测试的作用1.3数字与模拟VLSI测试1.4VLSI发展趋势对测试的影响1.1测试哲学验证、测试和诊断

验证（verification）：验证系统级或寄存器传输级功能是否正确

测试（testing）：测试裸片（die）或芯片（chip）功能是否满足设计要求

诊断(diagnose)：诊断裸片或芯片失效的原因1.1测试哲学测试的风险合格产品PQ不合格产品FQ通过测试的产品P未通过测试的产品FProb（P|PQ）Prob（F|PQ）Prob（P|FQ）Prob（F|FQ）1.2测试的作用作用：检验产品是否存在问题。好的测试过程可以将所有不合格的产品挡在到达用户手中之前。测试失败的可能原因：1.测试本身存在错误；2.加工过程存在问题；3.设计不正确；4.产品规范有问题。1.4VLSI发展趋势对测试的影响提升芯片的时钟频率即时测试ATE的成本EMI1.4VLSI发展趋势对测试的

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