• 现行
  • 正在执行有效
  • 2010-05-11 颁布
  • 2010-11-11 实施
©正版授权
JJF 1254-2010数显测高仪校准规范_第1页
JJF 1254-2010数显测高仪校准规范_第2页
JJF 1254-2010数显测高仪校准规范_第3页
JJF 1254-2010数显测高仪校准规范_第4页
JJF 1254-2010数显测高仪校准规范_第5页
免费预览已结束，剩余11页可下载查看

下载本文档

免费下载试读页

文档简介

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF1254—2010

数显测高仪校准规范

CalibrationSpecificationforHeightMeasuringInstrument

withDigitalDisplay

2010-05-11发布2010-11-11实施

国家质量监督检验检疫总局发布

JJF1254—2010

数显测高仪校准规范

췍췍

췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍

CalibrationSpecificationfor췍JJF1254—2010췍

췍췍

췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍

췍代替JJG929—1998췍

HeightMeasuringInstrument췍췍

withDigitalDisplay

本规范经国家质量监督检验检疫总局于年月日批准并自

2010511,

年月日起施行

20101111。

归口单位全国几何量工程参量计量技术委员会

:

主要起草单位中国科学院光电技术研究所

:

参加起草单位中国测试技术研究院

:

本规范由全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释

JJF1254—2010

本规范主要起草人

:

匡龙中国科学院光电技术研究所

()

耿丽红中国科学院光电技术研究所

()

曹学东中国科学院光电技术研究所

()

参加起草人

:

冉庆中国测试技术研究院

()

JJF1254—2010

目录

范围……………………

1(1)

引用文献………………

2(1)

概述……………………

3(1)

计量特性………………

4(2)

测量力………………

4.1(2)

垂直度………………

4.2(2)

示值变动性…………

4.3(2)

示值误差……………

4.4(2)

校准条件………………

5(2)

环境条件……………

5.1(2)

测量标准器及其他设备……………

5.2(3)

校准项目和校准方法…………………

6(3)

测量力………………

6.1(3)

垂直度………………

6.2(3)

示值变动性…………

6.3(4)

示值误差……………

6.4(4)

校准结果表达…………

7(4)

复校时间间隔…………

8(4)

附录数显测高仪示值误差测量结果不确定度评定………………

A(5)

附录校准证书内容…………………

B(8)

JJF1254—2010

数显测高仪校准规范

1范围

本规范适用于分辨力为和量程至

0.1μm、0.2μm、0.5μm1μm,0mm1000mm

的数显测高仪的校准

。

2引用文献

本规范引用下列文献

:

通用计量术语及定义

JJF1001—1998

测量仪器特性评定

JJF1094—2002

几何量测量设备校准中的不确定度评定指南

JJF1130—2005

电子数显测高仪

GB/T22094—2008

使用本规范时应注意使用上述引用文献的现行有效版本

,。

3概述

数显测高仪是基于精密机械现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量

、

测量仪器用来测量平行平面之间距离孔和轴直径中心距以及相关形位误差等其

,、、。

外形结构见图

1。

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。

最新文档

评论

0/150

提交评论