标准解读
《GB/T 5080.6-1996 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验》与《GB 5080.6-1985》相比,在内容和结构上进行了调整。主要变化包括:
- 标准编号从GB变更为GB/T,表明该标准性质由强制性国家标准转变为推荐性国家标准。
- 对于术语定义部分进行了更新和完善,增加了对一些关键概念的解释说明,使得文档更加易于理解。
- 在方法论方面,《GB/T 5080.6-1996》细化了恒定失效率假设有效性检验的具体步骤和技术要求,提供了更详细的指导原则,增强了其实用性和操作性。
- 引入了新的统计分析工具和技术,比如使用不同的置信水平来评估设备或系统的性能指标,提高了测试结果的准确度和可靠性。
- 增加了案例研究或示例章节,通过具体实例展示如何应用本标准进行实际操作,有助于读者更好地理解和掌握相关知识。
- 针对试验报告的内容及格式提出了明确的要求,确保了不同机构之间试验结果的一致性和可比性。
这些改变反映了技术进步以及行业需求的变化,旨在提高设备可靠性试验的标准性和科学性。
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- 现行
- 正在执行有效
- 1996-09-09 颁布
- 1997-05-01 实施
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文档简介
ICS21.020元05中华人民共和国国家标准GB/T5080.6-1996idtIEC605-6:1989设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验EquipmentreliabilitytestingTestsforthevalidityofaconstantfailurerateassumption1996-09-09发布1997-05-01实施国家技术监督局发布
GB/T5080.6-1996前GB5080.6—85是等同采用国际标准IEC605-6:1989《设备可靠性试验第6部分:恒定失效率假设的有效性检验》编制而成的。经原国家标准局批准于1986年1月1日发布实施。几年来此标准未作过修改。1989年7月,IEC/TC56发布了对IEC605-6标准的第一次修订本,该出版物仅对IEC605-6:1989的表1%分布数值表中的部分数据作了修改。本次GB5080.6—85的修订就是以此为依据,对标准提供的表1元(")数值表部分数据作了同样的修改,并对个别文字叙述也作了一些修订,以使其内容更趋准确及便于理解。本标准自实施之日起代替GB5080.6—85。本标准由全国电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会提出本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位:电子工业部五所、本标准主要起草人:李新祥,廖小雄,庄文青。
GB/T5080.6-1996IEC前言1)在技术问题上IC的正式决定或认可是由各技术委员会作出的,它将代表各国家委员会的意见,对于所涉及到的问题尽可能达成一个一致的国际性意见。2)委员会提供本、推荐文本适用于国际应用,并已被各国家委员会所接受。3)为了促进国际的统一,IEC希望所有国家委员会应就本国条件的许可,尽量采用IC推荐的文本为本国标准。在IC推荐文本与相应的本国标准之间存在的任何差异,应尽可能地给子清楚的说明。本标准修订由IECTC56:可靠性与维修性技术委员会负责制定本修订文本基于如下文件:2个月程序表决报告56(C014156(C0)147详细信息可参见上述表决报告
中华人民共和国国家标准设备可靠性试验GB/T5080.6--1996恒定失效率假设的有效性检验idtrec605-6.1989代替GB5080.6-85Equipmentreliabilitytesting-Testsforthevalidityofaconstantfailurerateassumption范围本标准规定了对恒定失效率假设(即寿命服从指数分布假设)作统计有效性检验的方法,并推荐了在假设被拒绝后所采取的措施2引言通常,在以恒定失效率假设为前提作出可常性验证试验或测定试验的结论之前,应先用本标准规定的检验法对恒定失效率假设作出检验。有效性检验应在可靠性试验结束时,利用试验中所有观察到的关联失效数据来实施必须认识到有效性检验是具有统计性质的,并且给出的结果是与拒绝真实假设的某个小的风险值相联系的。本标准中检验法的显著性水平设计在10%,即当假设为真时,拒绝假设的风险值为10%。本标准给出了适用于不同失效数的两种检验法,每种检验法随着观察的失效数愈多就愈灵敏.在观察的关联失效数不满三个就终止可靠性试验的场合,例如允许失效数为0、1或2的验证试验·并且由于经济、时间或其他原因不允许继续试验时,则接受恒定失效率假设,不必作有效性检验。如如果为了进一步得到信息延长试验超出可靠性验证试验的判定点,利用所有数据所作的有效性检验的结果只能用于获取信息的目的,附加的数据不应影响已作出的判定3符号与定义本标准所用的符号如下::与关联失效数有关的参数。当有效性检验实施时刻与第,次失效出现的时刻相同时,-—1:否则=7;:每个区间中的关联失效的期望数;M:受试产品的总数;·,:第个区间中观察的关联失效数;→:关联失效总数;了:直至第次失效时的累积关联试验时间;T:直至最后一次失效时的累积关联试验时间;T
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