2023年射线检测二级题库

第一部分射线检测 共: 690题 其中: 是非题ﻩ213题ﻩ 选择题ﻩ283题 ﻩ 问答题ﻩ７9题ﻩ 计算题 115题ﻬ一、是非题1.1 原子序数Z等于原子核中的质子数量。ﻩ(）1．2 为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。 (）1.3ﻩ当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。 （)1.4 当一个原子增长一个质子时，仍可保持元素的种类不变。ﻩ()1.５ 原子序数相同而原子量不同的元素,我们称它为同位素。ﻩ（)1.6ﻩ不稳定同位素在衰变过程中,始终要辐射γ射线。ﻩ（）１.7 不同种类的同位素,放射性活度大的总是比放射性活度小的具有更高的辐射剂量。ﻩ (）1.8 放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为本来一半所需要的时间。ﻩﻩ（）1.9 各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。ﻩ（)1.10ﻩα射线和β射线虽然有很强的穿透能力,但由于对人体辐射伤害太大,所以一般不用于工业探伤。ﻩ()１.11 将元素放在核反映堆中受过量中子轰击,从而变成人造放射性同位素，这一过程称为“激活”。ﻩ()1.12 与其他放射性同位素不同,Cs1３７是原子裂变的产物,在常温下呈液态,使用前须防止泄漏污染。 ()1.13 与Ir１９2相比,Ｓe75放射性同位素的半衰期更短,因此其衰变常数λ也更小一些。ﻩ（)1.14ﻩ射线能量越高,传播速度越快,例如γ射线比X射线传播快。 （)１．1５ Ｘ射线或γ射线强度越高，其能量就越大。ﻩ（）1.16ﻩX射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。ﻩ（）１.17 当X射线通过2个半价层后,其能量仅仅剩下最初的１/4。ﻩ（)１．1８ﻩ假如母材的密度比缺陷的密度大一倍，而母材的原子序数比缺陷的原子序数小一半时，缺陷在底片上所成的象是白斑。ﻩ（）1.19 标记X射线具有高能量,那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。 （）1.20 连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。 (）1.21ﻩＸ射线的波长与管电压有关。ﻩ（）1.22ﻩX射线机产生X射线的效率比较高,大约有９5%的电能转化为X射线的能量。 ()1.2３ 一种同位素相称于多少千伏或兆伏能力的X射线机来做相同的工作，这种关系叫做同位素的当量能。 （）１.24 同能量的γ射线和Ｘ射线具有完全相同的性质。ﻩ（)１.２５ X射线的强度不仅取决于X射线机的管电流并且还取决于Ｘ射线机的管电压。ﻩﻩ（)１.26ﻩ与Cｏ60相对,Cs137发出的γ射线能量较低,半衰期较短。ﻩ()1.27ﻩ光电效应中光子被完全吸取,而康普顿效应中光子未被完全吸取。ﻩ（)1.28ﻩ一能量为30０ＫeV的光子与原子互相作用，使一轨道电子脱离50KeＶ结合能的轨道,且具有50KeV动能飞出，则新光子的能量是20０KeV。 (）1.２９ 光电效应的发生几率随原子序数的增大而增长。ﻩ（）１．３0ﻩ光电子又称为反冲电子。 (）1．3１ 随着入射光子能量的增大，光电吸取系数迅速减少,康普顿衰减系数逐渐增大。ﻩﻩ()１.32 当射线能量在1.02ＭeＶ至1０MeV区间,与物质互相作用的重要形式是电子对效应。ﻩ (）1.33ﻩ连续X射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。 （）1.34ﻩ射线通过材料后，其强度的９/1０被吸取,该厚度即称作1/10价层。 （）1.35ﻩ当射线穿过三个半价层后，其强度仅剩下最初的1/8。 （)1.36 连续X射线的有效能量是指穿透物质后,未被物质吸取的能量。所以穿透厚度越大,有效能量越小。ﻩ（)1．37 Co60和Ir192射线源是稳定的同位素在核反映堆中俘获中子而得到的,当射线源通过几个半衰期后,将其放在核反映堆中激活,可反复使用。 (）1.38ﻩX射线和γ射线都是电磁辐射,而中子射线不是电磁辐射。ﻩ()1.39ﻩ放射性同位素的当量能总是高于其平均能。 （）1．4０ X射线与可见光本质上的区别仅仅是振动频率不同。ﻩ（)１.41ﻩ高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线,这一过程称作韧致辐射。ﻩ ()１．42ﻩ连续X射线的能量与管电压有关,与管电流无关。ﻩ（)1．43ﻩ连续X射线的强度与管电流有关，与管电压无关。 （)1.4４ 标记X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。 (）1.４5 X射线与γ射线的基本区别是后者具有高能量,可以穿透较厚物质。 ()１.46ﻩ采用一定措施可以使射线照射范围限制在一个社区域,这样的射线称为窄束射线。 ()1.4７ 对钢、铝、铜等金属材料来说，射线的质量吸取系数值总是小于线吸取系数值。ﻩ （)1．48ﻩ原子核的稳定性与核内中子数有关,核内中子数越小，核就越稳定。ﻩ（)1.４9 通过一次衰变,元素的原子序数Z增长1，而通过一次α衰变,元素的原子序数Ｚ将减少2。 ()１.5０ﻩ放射性同位素衰变常数越小,意味着该同位素半衰期越长。１.5１ﻩ在管电压、管电流不变的前提下，将Ｘ射线管的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强度会增大。 （）1.５2 在工业射线探伤中，使胶片感光的重要是连续谱X射线，标记谱X射线不起什么作用。 (）1.53 Ir１９2射线与物质互相作用,肯定不会发生电子对效应。ﻩ(）1.54 高能X射线与物质互相作用的重要形式之一是瑞利散射。 （)1.５5ﻩ连续X射线穿透物质后，强度减弱,平均波长变短。ﻩ(）2.1ﻩX光管的有效焦点总是小于实际焦点。 ()2.2ﻩX射线机中的焦点尺寸，应尽也许大，这样发射的X射线能量大,同时也可防止靶过份受热。 ()２.３ X射线管中电子的速度越小，则所发生的射线能量也就越小。ﻩ（）2.4ﻩ由于X射线机的电压峰值(ＫVP）容易使人误解,所以X射线机所发出的射线能量用电压的平均值表达。ﻩ(）2.５ﻩ全波整流Ｘ射线机所产生射线的平均能比半波整流Ｘ射线机所产生射线的平均能高。ﻩ(）2.6 移动式X射线机只能室内小范围移动,不能到野外作业。 （)2.7 移动式X射线机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。 ()2.8 相同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积和尺寸小于后者。ﻩ（）2.9 “变频”是减小Ｘ射线机重量的有效措施之一。ﻩ（)2.１0 放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。 （）2.11 适宜探测厚度10０ｍm以上钢试件γ源的是Ｃo60，透宜探测厚度20mm以下钢试件的γ源是I2.12ﻩ黑度定义为阻光率的常用对数值。ﻩ()2．13ﻩ底片黑度D=1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。 ()2.14 ＩSＯ感光度１0０的胶片，达成净黑度２．0所需的曝光量为100戈瑞。ﻩ（）2.１5ﻩ能量较低的射线较更容易被胶片吸取，引起感光,因此,射线透照时防止散射线十分重要。ﻩ（)2．16 用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。 （）2.1７ﻩ胶片达成一定黑度所需的照射量(即伦琴数)与射线质无关。 ()2．18 同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光度。 （)2．１9 比活度越小，即意味着该放射性同位素源的尺寸可以做得更小。 （）2．2０ 胶片灰雾度涉及片基固有密度和化学灰雾密度两部分。 (）２.21ﻩ非增感型胶片反差系数随黑度的增长而增大，而增感型胶片反差系数随黑度增长的增大而减小。ﻩ(）2.22ﻩ在常用的100KV－４0０ＫVＸ射线能量范围内，铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。ﻩ(）２.23ﻩ对X射线,增感系数随射线能量的增高而增大。但对γ射线来说则不是这样,例如,钻6０的增感系数比铱１92低。ﻩ()2.24ﻩ对X射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。 （)2.２５ X和射线的本质是相同的,但射线来自同位素,而X射线来自于一个以高压加速电子的装置。ﻩ()２．26ﻩ在任何情况下，同位素都有优于Ｘ射线设备，这是由于使用它能得到更高的对比度和清楚度。 （)2.２7 对于某一同位素放射源，其活度越大，则所发出的射线强度也越大。ﻩ(）2．２8 将一张具有针孔的铅板放于X射线管和胶片之间的中间位置上,可以用来测量中心射线的强度。ﻩ（)2．29 相同标称千伏值和毫安值的X射线机所产生的射线强度和能量必然相同。 ﻩ（）２.3０ 所谓“管电流”就是流过X射线管灯丝的电流。 （)2.３１ﻩ放射源的比活度越大,其半衰期就越短。 (）２．32ﻩ胶片对比度与射线能量有关,射线能量越高，胶片对比度越小。 (）2.33 胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的对比度。 （)２．３４ﻩ从实际应用的角度来说,射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产生影响。ﻩ （)2.35ﻩ宽容度大的胶片其对比度必然低。 （）2.36ﻩ显影时间延长，将会使特性曲线变陡，且在座标上的位置向左移。ﻩ（）２.37 胶片特性曲线在座标上的位置向左移,意味着胶片感光速度减小。ﻩ（)2.３8 与一般胶片不同,X射线胶片双面涂布感光乳剂层,其目的是为了增长感光速度和黑度。 （）2.3９ “潜象”是指在没有强光灯的条件下不能看到的影像。 ()2．4０ 铅增感屏除有增感作用外，尚有减少散射线的作用，因此在射线能穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。ﻩ()2．４１ 透照不锈钢焊缝,可以使用碳素钢丝象质计2.42ﻩ透照钛焊缝,必须使用钛金属丝象质计。ﻩ（）2．４3 透照镍基合金焊缝时使用碳素钢丝象质计，假如底片上显示的线径编号刚刚达成标准规定值，则该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的规定。ﻩ()２.44 由于铅箔增感屏的增感系数高于荧光增感屏,所以得到广泛使用。 (）2．45 胶片卤化银粒度就是显影后底片的颗粒度。 (）2.46 梯噪比高的胶片成像质量好。ﻩ(）２.47ﻩ胶片系统分类的重要依据是胶片感光速度和梯噪比。 （）3.1ﻩ影象颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。ﻩ（)3．２ 象质计灵敏度1．５%,就意味着尺寸大于透照厚度１.５%的缺陷均可被检出。ﻩ （)3.３ﻩ使用较低能量的射线可得到较高的主因对比度。 （)3．４ﻩ射线照相时,若千伏值提高，将会使胶片对比度减少。 (）３．5ﻩ一般来说，对厚度差较大的工件,应使用较高能量射线透照,其目的是减少对比度，增大宽容度。ﻩ（)３.６ﻩ增大曝光量可提高主因对比度。ﻩ()3.7 当射线的有效量增长到大约250KV以上时,就会对底片颗粒度产生明显影响。ﻩﻩ（)3.8ﻩ增大最小可见对比度ΔDmin，有助于辨认小缺陷。ﻩ()３.9 射线照相主因对比度与入射线的能谱有关,与强度无关。 ()3.１0 用增大射源到胶片距离的办法可减少射线照相固有不清楚度。 ()3．1１ﻩ减小几何不清楚度的途径之一，就是使胶片尽也许地靠近工件。 (）3.12 运用阳极侧射线照相所得到的底片的几何不清楚度比阴极侧好。ﻩ(）3．１3ﻩ胶片的颗粒越粗，则引起的几何不清楚度就越大。ﻩ(）3．14ﻩ使用γ射线源可以消除几何不清楚度。 （）3．15ﻩ增长源到胶片的距离可以减小几何清楚度，但同时会引起固有不清楚度增大。ﻩ (）３.1６ 胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。ﻩ()3.１7ﻩ对比度、清楚度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个重要因素。ﻩ（）3.18ﻩ胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度差有关。 (）3.１9 使用较低能量的射线可提高主因对比度,但同时会减少胶片对比度。 （）3.20 胶片的粒度越大，固有不清楚度也就越大。ﻩ（）３.21 显影局限性或过度,会影响底片对比度,但不会影响颗粒度。ﻩ（）3．22 事实上由射线能量引起的不清楚度和颗粒度是同一效应的不同名称。ﻩ(）3．23 当缺陷尺寸大大小于几何不清楚度尺寸时，影象对比度会受照相几何条件的影响。ﻩ (）３.２4ﻩ可以采用增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清楚度与尺寸较小的源完全同样。 （）3.2５ 假如信噪比不够,即使增大胶片衬度，也不也许辨认更小的细节影像。ﻩ（）3.26 散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。ﻩ（)3.2７ﻩ底片黑度只影响胶片对比度,与主因对比度无关。 ()3.28ﻩ射线的能量同时影响照相的对比度、清楚度和颗粒度。 （）3.２9ﻩ透照有余高的焊缝时，所选择的“最佳黑度”就是指是能保证焊缝部位和母材部位得到相同角质计灵敏度显示的黑度值。ﻩ()3.３0 由于最小可见对比度ΔＤmin随黑度的增大而增大，所以底片黑度过大会对缺陷辨认产生不利的影响。 (）3.３1 底片黑度只影响对比度，不影响清楚度。ﻩ()3.32ﻩ实验证明,平板试件照相，底片最佳黑度值大约在2.5左右。 (）3.3３ﻩ固有不清楚度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而导致的。ﻩﻩ（)３．34ﻩ底片可以记录的影象细节的最小尺寸取决于颗粒度。 (）3．35 对有余高的焊缝照相，应尽量选择较低能量的射线，以保证焊缝区域有较高的对比度。 (）3.36ﻩ对比度修正系数σ值与缺陷的截面形状有关,例如裂纹的截面形状与象质计金属丝不同,两者的σ值也不同。 （)3．3７ 由于底片上影象信噪比随曝光量的增长而增大，所以增长曝光量有助于缺陷影象辨认。 （）3.38 射线照相的信噪比与胶片梯噪比具有不同含义。 （）4.１ﻩ按照“高灵敏度法”的规定,3０0KVX射线可透照钢的最大厚度大约是40mm。ﻩ (）4．2 γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。ﻩ（）4.3 选择较小的射源尺寸df,或者增大焦距值F,都可以使照相Ug值减小。 （）4．４ 欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。 （)4.5ﻩ环焊缝的各种透照方式中，以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。 ()4．６ 无论采用哪一种透照方式,一次透照长度都随着焦距的增大而增大。 ()4.7 所谓“最佳焦距”是指照相几何不清楚度Ug与固有不清楚度Ui相等时的焦距值。 ﻩ()４.8ﻩ已知铜的等效系数Ψ铜=1.5,则透照同样厚度的钢和铜时，后者的管电压应为前者的1.5倍。ﻩ（)4.9 对有余高的焊缝进行透照，热影响区部位的散射比要比焊缝中心部位大得多。 ﻩ（）4.10ﻩ源在内透照时,搭接标记必须放在射源侧。 （）４.11 背散射线的存在,会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字Ｂ来验证背散射线是否存在。 (）4.1２ 不管采用何种透照布置,为防止漏检,搭接标记均应放在射源侧。ﻩ（）4.１3ﻩ由于“互易定律失效”，采用荧光增感时,根据曝光因子公式选择透照参数也许会产生较大误差。 （)4．１4 当被透工件厚度差较大时,就会有“边蚀散射”发生。４.１５ﻩ在源和工件之间放置滤板来减小散射线的措施对γ射线并不合用。 ()4.16ﻩ使用“滤板”可增大照相宽容度,但滤板最佳是放在工件和胶片之间。ﻩ()4.17ﻩ在源和工件之间放置滤板减小散射线的措施对于平板工件照相并不合用。ﻩ(）4.18 在实际工作中正常使用的焦距范围内，可以认为焦距对散射比没有影响。ﻩ(）4.19ﻩ采用平靶周向X射线机对环缝作内透中心法周向曝光时,有助于检出横向裂纹,但不利于检出纵向裂纹。ﻩ()４.20 采用源在外单壁透照方式，如K值不变,则焦距越大,一次透照长度L3就越大。ﻩ （）4.21 采用双壁单影法透照时,如保持K值不变，则焦距越大,一次透照长度L3就越小。 （）4.22ﻩ用单壁法透照环焊缝时,所用搭接标记均应放在射源侧工件表面，以免端部缺陷漏检。 (）4.23 对某一曝光曲线，应使用同一类型的胶片，但可更换不同的X射线机。ﻩ()4.2４ﻩ使用γ射线曝光曲线时,一方面应知道射线源在给定期间的活度。ﻩ(）4.25ﻩ假如已知等效系数，用X射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线,也能求出曝光参数。ﻩ()4.26 小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有助于检出根部未熔合。ﻩ （）4.2７ﻩ增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。ﻩ（)4.2８ 对尺寸很小的缺陷,其影象的对比度不仅与射线能量有关,并且与焦距有关。 ﻩ()4.29 材料的种类影响散射比，例如给定能量的射线在钢中的散射比要比在铝中大得多。ﻩ （)4.30ﻩ在常规射线照相检查中,散射线是无法避免的。 （）4.31ﻩ环缝双壁单影照相,搭接标记应放胶片侧,底片的有效评估长度是底片上两搭接标记之间的长度。ﻩ（)4.32 纵焊缝双壁单影照相,搭接标记应放胶片侧，底片的有效评估长度就是两搭接标记之间的长。 （)４．33 小径管双壁透照的要点是选用较高管电压，较低曝光量,其目的是减小底片反差,扩大检出区域。 ()4.3４ 射线照相实际透照时很少采用标准允许的最小焦距值。 (）５.1ﻩ显影时胶片上的AgBr被还原成金属银，从而使胶片变黑。ﻩ（)5.２ﻩ对曝光局限性的底片,可采用增长显影时间或提高显影温度的方法来增长底片黑度,从而获得符合规定的底片。 （）5.3ﻩ胶片在显影液中显影时，假如不进行任何搅动,则胶片上每一部位都会影响紧靠在它们下方部位的显影。 (）5．4 定影液有两个作用,溶解未曝光的AｇＢr和坚膜作用。 （）5.5ﻩ所谓“通透时间”就是指胶片从放入定影液到乳剂层变为透明的这段时间。ﻩﻩ()5．6 减少底片上水迹的方法是温胶片快速干燥。ﻩ（)5．7 胶片表面起网状皱纹也许是胶片解决温度变化急剧而引起的。 (）5．8ﻩ冲洗胶片时,只要使用安全灯，胶片上就不会出现灰雾。 (）5.9 显影液中假如过量增长碳酸钠,在底片上会产生反差减少的不良后果。ﻩ（）5.１0 使用被划伤的铅箔增感屏照相，底片上会出现与划伤相应的清楚的黑线。ﻩﻩﻩ（)5.１1 胶片上静电花纹的产生是由于射线管两端的电压过高的因素。ﻩ()5.12 射线底片上产生亮的月牙形痕迹的因素也许是曝光前使胶片弯曲。 （)5.13ﻩ射线底片上产生黑的月牙形痕迹的因素也许是曝光后使胶片弯曲。 (）５.14ﻩ假如显影时间过长，有些未曝光的ＡｇBr也会被还原,从而增大了底片灰雾。 ﻩ(）５．15 显影液中氢离子浓度增大,则显影速度减慢，故借助于碱使显影液保持一定pH值。ﻩﻩ（)５.１6ﻩ定影液中的氢离子浓度越高,定影能力就越强。ﻩ(）５.１7ﻩ胶片未曝光部分变为透明时，即说明定影过程已经完毕。ﻩ()5.18ﻩ由于铁不耐腐蚀且容易生锈，所以不能用铁制容器盛放显影液。 （）5．19 溴化钾除了克制灰雾的作用外,尚有增大反差的作用。 （)５.20 显影时搅动不仅可以使显影速度加快,尚有提高反差的作用。 （)5.２１ 所谓“超加和性”是指米吐尔和菲尼酮配合使用,显影速度大大提高的现象。（)6．1 由于射线照相存在影象放大现象，所以底片评估时,缺陷定量应考虑放大的影响。 ﻩ（)6.２ 各种热裂纹只发生在焊缝上，不会发生在热影响区。ﻩ()6．3ﻩ形状缺陷不属于无损检测检出范畴,但对于目视检查无法进行的场合和部位,射线照相应对形状缺陷，例如内凹、烧穿、咬边等，评级。ﻩ（）7.1 暗室内的工作人员在冲洗胶片的过程中，会受到胶片上的衍生的射线照射,因而白血球也会减少。 ()7．２ﻩ一个射线工作者怀疑自己处在高辐射区域,验证的最有效方法是看剂量笔上的读数是否也增长。 (）7.3 热释光胶片剂量计和袖珍剂量笔的工作原理均基于电离效应。 （）7．4 照射量单位“伦琴”只合用X射线或γ射线，不能用于中子射线。ﻩ（)７.５ﻩ当Ｘ或γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件自身仍残留极低的辐射。 (）7.７ﻩ小剂量,低剂量率辐射不会发生随机性损害效应。 ()７.6 即使剂量相同,不同种类辐射对人体伤害是不同的。ﻩ(）7.８ 只要严格遵守辐射防护标准关于剂量当量限值的规定，就可以保证不发生辐射损伤。ﻩ（）7.9 从X射线机和γ射线的防护角度来说，可以认为1戈瑞＝１希沃特。 （)7.1０ 焦耳/公斤是剂量当量单位,库伦/公斤是照射量单位。 （)７.11ﻩ剂量当量的国际单位是希沃特，专用单位是雷姆，两者的换算关系是1希沃特=１00雷姆。ﻩ(）7．１2ﻩX射线比γ射线更容易被人体吸取,所以X射线对人体的伤害比γ射线大。ﻩ （）7.13ﻩ当照射量相同时，高能Ｘ射线比低能Ｘ射线对人体伤害力更大一些。ﻩ（）８．1 与电子回旋加速器相比,直线加速器能量更高,束流更大,焦点更小。 （)8.２ 宽容度大是高能X射线照相的优点之一。ﻩ（)８.3 加速器照相一般选择较大的焦距，其目的是减小几何不清楚度，提高灵敏度。ﻩ （）８.4 中子几乎不具有使胶片溴化银感光的能力。ﻩ(）8.５ 中子照相的应用之一是用来检查航空材料蜂窝结构的粘接质量。ﻩ()8．６ 中子对钢铁材料的穿透力很强，因此常用它来检测厚度超过100mm的对接焊缝的焊接缺陷。 ()8.7 高能X射线照相的不清楚度重要是固有不清楚度，几何不清楚度的影响几乎可以忽略。 （）8．8ﻩ射线实时成像检查系统的图像容易得到较高的对比度，但不容易得到较好的清楚度。ﻩ(）8.9 象素的多少决定了射线实时成像系统图像辨认细节的能力。ﻩ（）８.10ﻩ在高能射线照相中,增感屏的增感作用重要靠前屏。ﻩ(）10.1 按ASME规范规定，透照双面焊缝的使用孔型象质计，应在象质计下放垫板,垫板厚度应为上下焊缝余高之和。ﻩ（)10.2ﻩ在ASMＥ规范中,１00%照相和局部抽查的焊缝中允许的条件夹渣尺寸是不同样的。 (）

是非题答案1．1 ○ﻩ1.２ﻩ○ﻩ1．３ﻩ×ﻩ1.4 × 1．5 ○1.6 ×ﻩ1.7 ×ﻩ1.８ﻩ×ﻩ1.9 ×ﻩ１.10ﻩ×1．11ﻩ○ﻩ１.12ﻩ○ 1．１３ﻩ× １.14ﻩ× 1．1５ ×1.16ﻩ×ﻩ1．１7 ×ﻩ1．１8ﻩ× 1.19 ×ﻩ1.2０ ×1.21ﻩ○ 1．22 ×ﻩ1.２３ﻩ○ﻩ1.24 ○ﻩ1．２5 ○1.２６ ×ﻩ1.27ﻩ○ 1.2８ ○ﻩ１．29 ○ 1．30ﻩ×1.31 ×ﻩ１.32 ×ﻩ1.33 × １.34 ○ １.３5ﻩ○１.３6 × 1.３7 ×ﻩ1.3８ ○ﻩ1．3９ﻩ○ 1．40ﻩ○1．41 × 1．4２ﻩ○ﻩ1.43 × 1．44ﻩ○ １．45ﻩ×1.４６ﻩ× 1.47 ○ﻩ1．4８ × 1．49 ○ 1.50 ○1.51 ×ﻩ１．52ﻩ○ 1.53 ○ 1.５4 ×ﻩ１.55ﻩ○２．1ﻩ○ﻩ2.2ﻩ× ２.３ﻩ○ 2.4ﻩ× 2.５ ○２.6 ○ﻩ2.7ﻩ× 2.８ ○ ２．9 ○ ２．１０ﻩ×2.11ﻩ×ﻩ2.12 ○ﻩ2.1３ ○ﻩ2.14 × 2．15 ○２.16ﻩ×ﻩ２.17 ×ﻩ2.18ﻩ○ 2.１9ﻩ×ﻩ2.2０ﻩ○2.21 × 2．2２ﻩ○ ２.２３ ○ﻩ2.24 ×ﻩ２.25 ○2．26ﻩ× 2．27ﻩ○ 2．2８ × 2.２9 ×ﻩ2.3０ ×２.３1 ×ﻩ2．32ﻩ× 2.33ﻩ○ﻩ2．3４ﻩ○ 2．35 ○2.36 ○ﻩ２.３7ﻩ× 2.38ﻩ○ 2.39ﻩ×ﻩ2.40ﻩ×2.41ﻩ○ 2.42ﻩ○ 2.43 ×2.44ﻩ×ﻩ２.45ﻩ×２.4６ ○2.4７ ×3.1ﻩ× 3.2ﻩ×ﻩ3.3ﻩ○ﻩ３.4ﻩ×ﻩ3.5ﻩ○３.６ﻩ×ﻩ3.７ﻩ○ ３.8ﻩ×ﻩ3.９ ○ 3.1０ ×３．11 ○ 3．１2 ○ﻩ３.13 ×ﻩ３.14ﻩ× 3．1５ ×3.１6ﻩ○ﻩ3.17ﻩ○ﻩ3.18 × 3．１9 × 3.20ﻩ×3.21ﻩ× 3.２2ﻩ× 3.23 ○ﻩ3.24 ○ 3.２5 ○3.26 ○ﻩ3．27ﻩ○ﻩ3.２8 ○ﻩ3.2９ ○ﻩ3.３0 ○3．31ﻩ○ 3．32ﻩ○ﻩ3.33ﻩ○ﻩ３.34 ○ 3.３5ﻩ×３．36ﻩ○ﻩ3.３７ﻩ○ﻩ３．3８ﻩ○4.1 ○ ４.2ﻩ× 4.3ﻩ○ﻩ4.4ﻩ○ 4.5 ○4.6 ×ﻩ4.7 ○ﻩ４.８ﻩ× 4.9ﻩ×ﻩ4.１0ﻩ×4.11ﻩ×ﻩ４.１2ﻩ× ４.１3ﻩ○ 4.1４ﻩ○ﻩ4．1５ ○4.16ﻩ×ﻩ4.１7 ○ 4．１8ﻩ○ﻩ4．１9ﻩ○ ４.２0 ○4.21 ○ﻩ4.22 × 4.２3 × 4.2４ﻩ○ﻩ4.2５ ×4.2６ﻩ○ﻩ４.27 ○ﻩ４.28ﻩ○ﻩ4.29 ×ﻩ4.30ﻩ○４．3１ ○ 4.3２ﻩ× 4.33ﻩ○ﻩ4．34 ○5．１ﻩ○ 5.２ ×ﻩ5．３ﻩ○ﻩ5.４ ○ 5.5ﻩ○５.６ﻩ× ５.7ﻩ○ 5．８ﻩ× ５.9 ○ 5.１0 ○5.11 ×ﻩ５.１2 ○ﻩ5.１3ﻩ○ 5．14 ○ 5.15 ○5.１6ﻩ×ﻩ５.１７ﻩ×ﻩ５.18 ×ﻩ5.19ﻩ× 5．20ﻩ○5.21ﻩ×6．1 × 6．2ﻩ× 6.3 ○7．1 ×ﻩ7.２ﻩ×ﻩ7.３ﻩ×ﻩ7.4ﻩ○ 7.5ﻩ×７.６ ○ﻩ7.7ﻩ× ７.８ × 7.9 ○ﻩ7.1０ ○7.1１ﻩ○ﻩ7.1２ﻩ× ７.1３ﻩ○８.１ × 8．2ﻩ○ﻩ8.3 × 8.4 ○ 8.５ ○8．6 × 8．7 ○ﻩ8.8 ○ ８.9ﻩ○ﻩ8．10 ○10．1 ○ﻩ１0.２ ○ﻬ二、选择题1.１ﻩ原子的重要组成部分是（)。ﻩA.质子、电子、光子 B．质子、重子、电子 C.光子、电子、X射线 D.质子、中子、电子1．2 电磁波的频率(f)，速度(c)和波长(λ)之间的关系可用()表达。 Ａ.f=λ·cﻩB.c=f·λﻩC.λ=f·cﻩD．λ＝f/c1.3 原子核的质子数等于(）。 A．中子数ﻩB．原子序数ﻩC.光子数ﻩD.原子量1.4 质子和中子的区别是中子没有（）。 A.电荷ﻩＢ.质量ﻩC.自旋 D.半衰期1.5ﻩ当几种粒子和射线通过空气时，其电离效应最高的是(）。ﻩA.α粒子ﻩB.β粒子 C.中子ﻩＤ.X和γ射线1．6 在射线探伤中应用最多的三种射线是（）。 A.Ｘ射线，γ射线和中子射线ﻩB．α射线、β射线和γ射线ﻩC.X射线,γ射线和β射线 Ｄ.X射线，γ射线和α射线1.7ﻩ原子核外电子能级量高的是（）。 A.外壳层 B.中间壳层ﻩＣ.内壳层 D.以上均不是１.8ﻩ同位素是指()。 A.质量数相同而中子数不同的元素;ﻩＢ.质量数相同而质子数不同的元素；ﻩC.中子数相同而质子数不同的元素； D.质子数相同而质量数不同的元素。１．9ﻩX射线、γ射线和α粒子有一个共同点，即它们都是（)。ﻩA.均质粒子辐射ﻩB．电磁辐射 C.微波辐射 D.电离辐射1.10 在射线检查中采用的能量范围(约100KeVo-10MeＶ）射线穿过钢铁强度衰减的最重要因素是（）。 A．光电效应 Ｂ.汤姆逊效应ﻩC.康普顿效应 D.电子对效应1.11 光子能量的数学表达式是（）。ﻩA.Ｅ=h/vﻩB.E=λ／hｃ C.Ｅ=hv Ｄ.Ｅ=hv21.12 ΔI=μIΔX，此式表达下列哪种现象?(） A.光电效应ﻩB.康普顿散射ﻩＣ.吸取ﻩＤ.半价层厚度1．1３ﻩ通常所说的２00KVX射线指（）。ﻩA.最大能量为0.２ＭeV的“白色”Ｘ射线 Ｂ.平均能量为0．2ＭeV的连续射线 C.能量为0．２MｅV的连续射线 D.有效能量为0.２MeＶ的连续射线1.１4ﻩﻩ单色射线是指(）。 A.标记Ｘ射线 Ｂ.工业探伤γ源产生的射线 C.用来产生高对比度的窄束射线 D.由单一波长的电磁波组成的射线1.15在一般的工业探伤中，射线与物质互相作用时,重要产生的二个效应是(）。ﻩA.光电效应和电子对效应 B.光电效应和康普顿散射ﻩC.康普顿散射和电子对效应 D.康普顿散射和电离1.１6ﻩ当光子与物质互相作用时,光子将部分能量用于逐出轨道电子,且剩余的能量变为电子的动能，这就是（）。 A.康普顿散射ﻩB.光电效应. C.电子对效应 Ｄ.电离1．１7当光子与物质互相作用时，光子的波长增长，方向改变，这是由于（)的结果。 A.光电效应ﻩB．康普顿散射 C．汤姆逊散射ﻩD.电子对产生1.18 康普顿散射的特性是（)。ﻩA.产生光电子ﻩB.产生俄歇电子ﻩC．产生反冲电子 D.产生正负电子对1.19 光电效应的特性是（）。 A.产生光电子 B．发射标记X射线ﻩC.发射二次电子 D.以上都是1.2０ 已知某单能射线在钢中的半价层为3mｍ，则该射线在钢中的吸取系数为()。 A.0.2３1ｃm B.2．31cm－１ﻩC.2．0７9cm Ｄ.0.00231mm－１１．21ﻩ射线通过物质时的衰减取决于(）。 A．物质的原子序数、密度和厚度ﻩＢ.物质的杨氏模量 C．物质的泊松比ﻩＤ.物质的晶粒度１.22 窄束和宽束的区别是()。ﻩA．窄束是指散射和未散射的射线均到达检测器，而宽束是指只有未散射的射线到达检测器。 Ｂ.窄束是指只有未散射的射线到达检测器，而宽束是指散射和未散射的射线均到达检测器。ﻩC.窄束和宽束区别在于源尺寸大小不同。ﻩD.窄束和宽束区别在于照射场大小不同。1.23散射线的重要成份是低能电磁辐射，它是由光子在哪一过程中减弱而产生的(）。ﻩA.光电过程ﻩB．康普顿过程 C.电子对过程 Ｄ.电离过程１.２4 从X射线管中发射出的射线涉及(）。ﻩA.连续X射线 B.标记X射线ﻩＣ．射线ﻩD.Ａ和B1.25 连续Ｘ射线穿透厚工件时,有何特点？() A．第二半价层小于第一半价层； B.第二半价层等于第一半价层; C.第二半价层大于第一半价层；ﻩD.１．26 当射线波长一定期，下列哪种物质的最大?（) A.FeﻩB.AlﻩC.Tｉ D.Cu1．27ﻩ 产生Ｘ射线的一般方法是在高速电子的运动方向上设立一个障碍物,使高速电子在这个障碍物上忽然减速,这个障碍物被叫()。ﻩA.阳极ﻩB.阴极 C.靶 D．灯丝1.28ﻩＸ射线的穿透能力取决于(）。ﻩＡ.毫安ﻩB．千伏 C．曝光时间ﻩＤ.焦点尺寸1.２９ﻩγ射线的穿透能力取决于()。ﻩA.源的尺寸ﻩB．源的种类ﻩＣ.曝光时间 D.焦点尺寸1.30 当施加于Ｘ射线管两端的管电压不变，管电流增长时,则()。 Ａ．产生的X射线波长不变，强度不变；ﻩB．产生的X射线波长不变，强度增长； C．产生的X射线波长不变，强度减小; D.产生的X射线波长增长,强度不变。１.３1ﻩX射线机的管电流不变,管电压减小时，则X射线将会发生()。ﻩＡ．强度不变,波长减小 B．强度不变，波长增大 C.波长减小，强度减小ﻩＤ.波长增大,强度减小1．32ﻩX射线管所产生的连续Ｘ射线的强度与管电压的关系是()。 A.强度与管电压成正比； B．强度与管电压成反比； C．强度与管电压平方与正比； D.强度与管电压平方成反比。1.３3 活度为80Ci、平均能量为1.66ＭeV的同位素源，通过3个半衰期后，其平均能量为（)。 Ａ．0.008MeV Ｂ.0.２2ＭeVﻩC．０．３3MeVﻩD.1．66MｅV１.３４ 放射性同位素衰变时，原子核衰变方式通常是（）。 Ａ．粒子发射 B.K俘获 C.裂变ﻩD.A和B1.3５ 韧致辐射是指高速运动的电子同靶相碰撞时,与靶的什么互相作用而放也电子的能量，产生连续X射线的？（)ﻩA．自由电子 B.原子核的质子或中子 C.壳层电子 D.原子核外库仑场１.３6ﻩ放射性元素Ｃo６0转变为Ni60的过程是一次（） A.α衰变ﻩＢ.β衰变ﻩC.γ衰变ﻩＤ.K俘获１．3７ 以下关于光电效应的叙述,哪一条是错误的（) Ａ．光电效应发生几率随光子能量的增大而减小； B．光电效应发生几率材料的原子序数增大而增大;ﻩC.在光电效应过程中除产生光电子外,有时还会产生反冲电子； D．光电效应发射出的电子的能量肯定小于入射光子的能量。１.３8ﻩ以下关于康普顿效应的叙述,哪一条是错误的() A.散射光子的波长肯定小于入射光子； Ｂ.反光子与散射光子能冲电子的能量为入射量之差；ﻩC.散射角α越大，散射光子能量越小; D．康普顿效应发生几率随入射光子能量增大而减小。1.39ﻩ某放射性同位素的衰变常数为0.00５3７１天-1,则其半衰期为(） A.1８６天ﻩＢ.1２9天ﻩC.５3天 D.537天1.４0下列几种材料中，射线衰减系数较大的是(）ﻩＡ．铜ﻩB.铝 C.铁 D.碳1.41 以下关于瑞利散射的叙述,哪一条是错误的（) A.瑞利散射是相干散射的一种； B.瑞利散射不改变光子能量，只改变光子的运动方向； C.瑞利散射的发生几率随原子序数的增大而减小； D.瑞利散射的发生几率随光子能量的增大而急剧减小。1.42ﻩ射线照相难以检出的缺陷是(）ﻩA.未焊透和裂纹 B.气孔和未熔合 Ｃ.夹渣和咬边 D.分层和折叠１．43 射线照相法对哪一种焊接方法不合用。(） A.气焊、电渣焊 B.气体保护焊、埋弧自动焊ﻩC.手工电弧焊、系离子弧焊 D.摩擦焊、钎焊1.44 以下哪些材料的熔化焊对接焊缝适宜使用射线照相法检测（）ﻩA．钢和不锈钢 Ｂ.钛和钛合金 C．铝及铝合金ﻩＤ．以上都适宜1．4５ 以下关于射线照相特点的叙述,哪些是错误的（） A.鉴定缺陷性质、数量、尺寸比较准确 Ｂ.检测灵敏度受材料晶粒度的影响较大 C.成本较高,检测速度不快ﻩD．射线对人体有伤害２.1 管电压、管电流不变,将X射线管阳极由铜换成钨，产生Ｘ射线线质如何变化?(）ﻩA.变硬ﻩB．变软 Ｃ.不变 Ｄ.不一定2.2 X射线管的阳极靶最常用的材料是（) A.铜 Ｂ．钨ﻩC.铍ﻩＤ.银２.３ﻩ软射线X射线管的窗口材料一般是()。ﻩA.铜ﻩB.钨 C.铍 D.银2.4ﻩＸ射线机技术性能指标中，焦点尺寸是一项重要指标，焦点尺寸是指(）。 A．靶的几何尺寸 B.电子束的直径ﻩC.实际焦点尺寸 D.有效焦点尺寸2.5ﻩ在条件允许的情况下,焦点尺寸应尽也许的小，其目的是(）。 Ａ.减小设备体积 B.提高清楚度 C.增长能量密度 D．节省合金材料2.6ﻩX射线管中轰击靶产生X射线的高速电子的数量取决于(）。 A．阳极靶材料的原子序数; Ｂ.阴极靶材料的原子序数；ﻩC.灯丝材料的原子序数； Ｄ.灯丝的加热温度２．7 下列哪一特性，不是Ｘ射线管的靶材料所规定的(）。 A．高原子序数ﻩＢ.高熔点 Ｃ.高热传导率ﻩＤ.高质量吸取系数２.8ﻩ当两台相同型号的Ｘ射线机的千伏值和毫安值均相同时，则()。 A.产生的X射线的强度和波长一定相同; B.产生的X射线的波长相同，强度不同; Ｃ.产生的X射线的强度相同,波长不同；ﻩD.产生的Ｘ射线的强度和波长不一定相同。2.9 高压变压器直接与Ｘ射线管相连接的X射线机叫做（） A．全波整流X射线机 B．自整流X射线机 C.交流X射线机ﻩＤ.恒电压X射线机２．１０ﻩX射线管对真空度规定较高，其因素是（） A.防止电极材料氧化；ﻩB.使阴极与阳极之间绝缘； C．使电子束不电离气体而容易通过; D.以上三者均是。2.１1ﻩ决定X射线机工作时间长短的重要因素是() A.工作电太KV的大小； Ｂ.工作电流mA的大小； C．工件厚度的大小； Ｄ.阳极冷却速度的大小。2．１2 X射线机中循环油的作用是(） A.吸取散射线ﻩB.滤去一次射线中波长较长的射线; C.散热； Ｄ．增强一次射线2.1３ 大焦点Ｘ射线机与小焦点X射线机相比，其特点是() Ａ.射线的能量低穿透力小;ﻩB.射线不集中,强度小;ﻩC.照相黑度不易控制； D.照相清楚度差。２.１４ﻩ一般X射线机调节管电压的方法通常是() Ａ．调节灯丝的加热电压; Ｂ.调节阴极和阳极之间的电压; C．调节阴极和阳极之间的距离；ﻩＤ.调节灯丝与阴极之间的距离。２.15ﻩX射线管中的阴极最常见的是(） Ａ.冷阴极ﻩB.热阴极ﻩＣ.旋转阴极ﻩD．固定阴极２.16 提高灯丝温度的目的是使() A．发射电子的能量增大;ﻩB.发射电子的数量增多； C．发出X射线的波长较短; D.发出X射线的波长较长。2.17ﻩ大功率Ｘ射线管阳极冷却的常用方法是（） Ａ．辐射冷却ﻩＢ.对流冷却 Ｃ.传导冷却 Ｄ．液体逼迫循环冷却2.18 γ射线探伤机与Ｘ射线探伤机相比其优点是(）ﻩA．设备简朴 Ｂ.不需外部电源ﻩC．射源体积小ﻩＤ.以上三者都是2.19 探伤所用的放射性同位素，都是（) A.天然同位素 Ｂ.人造同位素ﻩC．稳定同位素 D.以上三者都是2.20 放射性同位素的辐射强度与时间的关系是()ﻩA．随时间增大ﻩB.与时间无关 Ｃ.随时间减小 D.三者都不对2.2１ﻩ运用γ射线探伤时，若要增长射线强度可以采用(）ﻩA.增长焦距 B.减小焦距 Ｃ.减小曝光时间ﻩＤ．三者均可2．２2ﻩ下列四种放射性元素中，半价层最厚的是（)ﻩA.Cｏ６0ﻩＢ.Cs137ﻩC.Iｒ19２ D．Tm１70２.２3 下列四种放射性元素中，半衰期最长的为(）ﻩA．Co60ﻩＢ.Cs137 C.Ｉr19２ﻩD.Ｔm１70２.24ﻩTm170γ源发出的射线能量为:(）ﻩA.０.084和0.０５２ＭeV B.0.11和0.15ＭｅV C.１.33和1.１7ＭeＶ D．0．３1和０．47MeV2．25ﻩ１80mm厚的钢试件射线照相，也许使用的γ A.钴60ﻩB.铥１70 C.铱192 D.２．26ﻩ可使用铱19２照相的钢试件厚度范围是() A.10０－2０0ｍm Ｂ.8-60mm Ｃ.4－１5mmﻩD.302.27 决定材料对X射线吸取量最重要的因素是（）ﻩＡ.材料厚度 B.材料密度 C．材料原子序数 D．材料晶粒度2.2８ 下面有关Ｘ射线管焦点的叙述,哪一条是错误的？(） A.有效焦点总是小于实际焦点; Ｂ．焦点越小,照相几何不清楚度越小; C.管电压、管电流增长，实际焦点会有一定限度的增大； D.焦点越大，散热越困难。2.29ﻩ放射性同位素源的比活度取决于(）ﻩＡ.核反映堆中照射的中子流； Ｂ.材料在反映堆中的停留时间； Ｃ.照射材料的特性(原子量、活化截面） Ｄ.以上全是２.30 下列四种放射性同位素中,可用来透照厚度为３-１2mm的薄壁管,辐射特性类似100-2５0KVX射线的是(） Ａ．Iｒ192ﻩB.Cｓ13７ﻩＣ.Ｃo60 D.Tｍ１７02.３1ﻩ一般放射性比活度高的源其自吸取(）ﻩA.较高ﻩＢ.较低 C.两者无关ﻩD.无自吸取２．32ﻩ决定X射线管靶材合用性的两个因素是（)ﻩＡ.拉伸强度和屈服强度ﻩB.硬度和磁导率ﻩＣ.电阻和抗氧化性能ﻩD.原子序数和熔点2.3３ﻩ以下关于便携式X射线机操作使用的叙述，哪条是错误的（)ﻩA.X射线机停用超过3天,才需要训机ﻩＢ.送高压前应预热灯丝ﻩC.机内ＳF6气机过低,将影响绝缘性能 D.应保持工作和间歇时间1:1２.34ﻩ以下哪一条不是射线探伤设备优点（) A．不需用电和水 B.可连续操作ﻩC．可进行周向曝光和全景曝光ﻩD.曝光时间短、效率高２.3５ X射线管中,电子轰击靶时能量转换的重要形式是产生（) A.连续X射线ﻩB．标记X射线ﻩC.短波长X射线 Ｄ.热2.36ﻩX射线管管电流大小重要取决于()ﻩA.靶材料 B.灯丝电流 Ｃ.阳极到阴极的距离ﻩD.以上都是2.37 X射线管中轰击靶的电子运动的速度取决于（） A.靶材的原子序数ﻩＢ.管电压ﻩC.管电流 D.灯丝电压2.３８ 在管电压、管电流相同的情况下，下列哪种线路产生的射线质较硬、照射剂量率较大?（） A.半波整流 B．全波整流 C.稳恒直流 Ｄ.线路种类与射线的质和剂量率无关2.３9ﻩ在管电压、管电流相同的情况下，焦点尺寸越小，其焦点的温度()ﻩA.越低 B．越高ﻩC．不变ﻩD.不一定2.4０ﻩ各种胶片成像的粒度(） A.随千伏值提高而增大ﻩB．随千伏值提高而减小 Ｃ.与千伏值无关ﻩD．变化服从朗伯定律２.４1ﻩ表达胶片受到一定量X射线照射,显影后的底片黑度是多少的曲线叫做 (） Ａ.曝光曲线 B.灵敏度曲线ﻩC.特性曲线ﻩＤ．吸取曲线2.４２ X胶片的片基常用的材料是() Ａ.聚氯乙烯薄膜ﻩＢ．聚氨脂薄膜ﻩC.涤纶薄膜ﻩD.聚乙烯薄膜2.4３ 保存射线胶片的环境相对湿度应为(） A．１0－25％ﻩB．50-65%ﻩC.7０－85%ﻩD.越干燥越好２.44 胶片特性曲线上,过两个特定黑度点的直线的斜率叫做（) A.胶片宽谷度 Ｂ.梯度 C.平均梯度ﻩD．感光度2.４５ 由胶片特性曲线可以得到胶片的技术参数是(） A.胶片的反差系数ﻩＢ.胶片的本底灰雾度 Ｃ.正常的曝光范围ﻩD．三者均是2．46ﻩ哪一因素变化，会使胶片特性曲线形状明显改变?（)ﻩA．改变管电压 B.改变管电流ﻩC.改变焦距ﻩＤ．改变显影条件2．47ﻩ实际使胶片卤化银颗粒感光的因素是(） A．X或γ光量子ﻩB.α粒子 C.电子ﻩD.中子２.4８ 下面有关胶片的四种叙述中，唯一对的的是（）ﻩA．胶片颗粒度大，感光速度就快，底片图象清楚； B.胶片颗粒度小,感光速度就快,底片图象模糊; C.胶片颗粒度大，感光速度快，底片图象模糊;ﻩD．胶片颗粒度小,感光速度快,底片图象清楚。2.4９ﻩ底片的黑度范围限制在胶片特性曲线的直线区域内，这是由于在此区域透照出的底片() Ａ.黑度大ﻩB.感光度高ﻩC.本底灰雾度小 D.对比度高2.50 已曝过光的X胶片，不能在高温高湿的环境内保持时间过长,否则会引起ﻩ（) Ａ.药膜自动脱落ﻩB.产生白色斑点ﻩＣ.产生静电感光ﻩD.潜象衰退、黑度下降2.５1ﻩ胶片分类的依据重要是() A.梯度和颗粒度 B.感光度和颗粒度ﻩC．感光度和梯度 D.灰雾度和宽容度２.5２ﻩX胶片乳剂中与射线作用产生光化学作用的成份是（) A.AｇBr B.AgO2 Ｃ.AgSﻩＤ.AgＢｒ22.５3ﻩ用含锑6％的铅合金代替铅作增感屏其因素是这种增感屏（) A.清楚度好ﻩB.斑点效应好ﻩＣ.比较耐用 D．增感系数高２.54ﻩ与非增感型胶片配合使用的增感屏是(）ﻩＡ.荧光增感屏 B．铅箔增感屏 C.荧光铅箔增感屏ﻩD．稀土荧光增感屏２.55ﻩ荧光增感屏与铅箔增感屏相比，荧光增感屏的重要优点() A.图象的清楚度高ﻩＢ.可提高灵敏度 C.可缩短曝光时间 D.能屏蔽散射线2.5６ﻩ铅箔增感屏的重要优点是()ﻩA．可加速胶片感光同时吸取部分散射线ﻩＢ．可提高照相清楚度 Ｃ．可减小照相颗粒度 Ｄ.以上都是2.57ﻩ使用铅箔增感屏可以缩短曝光时间，提高底片的黑度，其因素是铅箔受X射线或射线照射时（)ﻩA.能发出荧光从而加速胶片感光; B.能发出可见光从而使胶片感光；ﻩＣ．能发出红外线从而使胶片感光； D.能发出电子从而使胶片感光。2.5８ 射线照相中,使用象质计的重要目的是(）ﻩＡ.测量缺陷大小ﻩＢ.评价底片灵敏度 Ｃ.测定底片清楚度 D.以上都是２.59ﻩ什么是使用象质计的局限性?（)ﻩA.不能提供射线照相检查灵敏度的永久性证据；ﻩＢ.不能比较两种不同透照技术的质量高低； Ｃ.不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示； D.不能验证所用透照工艺的适当性。2.６0ﻩ平板孔型象质计的象质等级2-1T是指：（) Ａ.象质计厚度为透照厚度2％,孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1.４% B．象质计厚度为透照厚度１％,孔径为象质计厚度２倍，等效灵敏度为1．４%ﻩC．象质计厚度为透照厚度2%，孔径为象质计厚度1倍,等效灵敏度为1%ﻩD.以上都不对２.61 对母材厚度为1２毫米的双面焊接的焊缝进行射线探伤时，在底片上能发现直径为０．32毫米的钢丝质象质计,其象质计灵敏度为(） Ａ.１% B.１．５% Ｃ．２% Ｄ．2.5％２.6２ﻩ平板焊缝照相时，下面四种关于象质计摆放的叙述,唯一对的的摆放位置是（) A．近胶片一侧的工件表面,并应靠近胶片端头; B.近射源一侧工件表面,金属丝垂直焊缝，并位于工件中部; C.近胶片一侧的工件表面，并应处在有效照相范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外；ﻩD.近射源一侧有效照相范围一端的焊缝上,金属丝垂直于焊缝,细丝在外。2．63ﻩ钛对射线的吸取系数小于钢,在透照钛试件时采用了钢丝象质计,假如底片上显示的象质指数刚好达成标准规定,则该底片的灵敏度（) A.刚好符合标准规定ﻩB.达不到标准规定 C.远远超过标准规定 D．无法判断2．64ﻩ已知入射光强200cd/m2,则底片黑度为2.３的区域透过的光强为：（） A.5ｃd／m2 B.0.5６cd/m2ﻩC.1ｃｄ/m2 Ｄ.０．1cd/ｍ22.6５ﻩ一个电压调节器由铁芯变压器组成,变压器只有一个绕组,绕组上有许多抽头。这种变压器叫做:（） A．高压变压器; Ｂ.灯丝变压器; C.自耦变压器; D.脉冲变压器。２.６6ﻩ以下关于周向辐射X射线管阳极靶的叙述,哪一条是错误的：(）A.周向辐射X射线管的阳极靶有平面靶和锥形靶两种；B．平面靶多用于300KＶX射线管;C.平面靶散热效果比锥形靶好；D.使用平面靶X射线管的探伤机照相要注意横向裂纹漏检问题。2.6７ 在其他参数不变的情况下,若显影时间延长,胶片特性曲线会出现（)ﻩA.梯度增大，感光速度提高;ﻩB.梯度减小,感光速度提高 C.梯度减小，感光速度减少；ﻩD．梯度增大,感光速度减少2.68ﻩIｒ192所发出的重要γ射线能量为() Ａ．0．6６，0.84，０.91MeVﻩB.0.3１，０.47,0．6０MeV C.0.08,０.05,0.66MeV D．0．１5，1.1２,0.18MeＶ２.69ﻩ以下哪一条,不是金属陶瓷管Ｘ射线机的优点（）ﻩＡ.体积小 B.重量轻ﻩC.故障小 D．不需要训机2.70ﻩ以下哪一因素,对胶片对比度不产生影响（) A．射线能量 B．底片黑度ﻩＣ.胶片类型 D.显影条件2.7１ 使用“真空暗盒”的重要优点是()ﻩA.提高主因对比度 B．减小固有不清楚度ﻩC.减小底片颗粒度ﻩD.以上都是２.７2ﻩ胶片系统分类中所指的胶片系统涉及（) Ａ.胶片、增感屏、暗盒ﻩＢ.胶片、增感屏、暗盒、背防护铅板 C.胶片、增感屏、冲洗条件 D．源、胶片、增感屏、冲洗条件2.73ﻩ适宜检测厚度5-３0ｍmﻩA.Ir19２ﻩB.Tｍ１70 C.Yｂ169ﻩD．Ｓe3.1 从可检出最小缺陷的意义上说,射线照相灵敏度取决于(） Ａ.底片成象颗粒度； Ｂ.底片上缺陷图象不清楚度； C.底片上缺陷图象对比度; D.以上都是。3.２ 射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做（）ﻩA.主因反差；ﻩB．底片反差；ﻩC.清楚度; Ｄ.胶片反差。3.3ﻩ影响主因对比度的是() A．射线的波长ﻩB.散射线 C．工件的厚度差 D．以上都是3.4ﻩ下面哪个因素的变化使最小可见对比度增大（）ﻩA.粗粒胶片改用微粒胶片; Ｂ．底片黑度从1．5增大以２.5; C.影象宽度从0.2mm增大到0.4mm;ﻩD.透过底片光强从30cｄ/ｍ２增大到10０cｄ/m2。3.5ﻩ射线底片上缺陷轮廓鲜明的限度叫做(） A.主因对比度 B．颗粒度 C．清楚度ﻩD．胶片对比度3．6 几何不清楚度也可称为(） A．固有不清楚度ﻩB．几何放大 Ｃ.照相失真 D.半影３.7 射线透照的几何不清楚度（）ﻩA．与工件厚度成正比，与焦点尺寸成反比; B．与工件厚度成反比,与焦点尺寸成反比;ﻩC.与焦点尺寸成正比，与焦距成反比; Ｄ．与焦点尺寸成反比，与焦距成正比。3.8ﻩ决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是（)ﻩA.对比度 B.不清楚度 C．颗粒度ﻩD.以上都是３.９ 射线照相底片的颗粒性是由什么因素导致的?（)ﻩA.影象颗粒或颗粒团块的不均匀分布; Ｂ．底片单位面积上颗粒数的记录变化; C.颗粒团块的重重叠叠；ﻩD．以上都是。３.1０ﻩ下列四种因素中，不能减小几何不清楚度的因素是（）ﻩA.射源到胶片的距离；ﻩB.胶片到工件的距离; Ｃ.射源的强度；ﻩD.射源的尺寸。３.１1 减小几何不清楚度的方法是() Ａ．选用焦点较大射源； B.使用感光速度较快的胶片; C.增大射源到胶片的距离； D．增大工件到胶片的距离。3.12 固有不清楚度与下列哪一因素有关（)ﻩＡ．源尺寸; B.胶片感光度; C.胶片粒度； D.射线能量3.13 为了提高透照底片的清楚度,选择焦距时,应当考虑的因素是（)ﻩA.射源的尺寸,射源的强度,胶片类型； Ｂ.工件厚度,胶片类型,射源类型;ﻩC.射源强度,胶片类型，增感屏类型； Ｄ.射源尺寸，几何不清楚度,工件厚度。3.１４ﻩ下列四种因素中对底片的清楚度无任何影响的是（） Ａ.射源的焦点尺寸 Ｂ.增感屏的类型； C.射线的能量ﻩD．底片的黑度3.15 下列哪一种情况对胶片梯度和底片颗粒度同时产生影响？()ﻩＡ.改变KV值 B.改变焦距ﻩC．改变ｍA值 Ｄ.改变底片的黑度３.１6 在射线照相中，使缺陷影象发生畸变最重要的因素是（) A．射源尺寸 Ｂ．射源到缺陷的距离 C.缺陷到胶片的距离 D.３.17ﻩ下面关于几何修正系数σ的叙述,哪一条是错误的?（) Ａ.当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正； B.σ值越小，几何条件对底片对比度的影响越大； C.为提高σ而改变透照布置，常用的方法是增大焦距； D.为提高底片对比度,应尽量采用σ>1的透照布置。3．1８ﻩ当象质计金属丝影象宽度小于某一特定值时,其最小可见对比度ΔDmin值ﻩ()ﻩA.随影象宽度的减小而减小;ﻩＢ．随影象宽度的减小而增大；ﻩC.不随影象宽度而变化; D.在某一影象宽度处有一极大值。３.19ﻩ透照有余高的焊缝时，为使象质计金属丝在焊缝和母材部位得到相同显示，应（）ﻩA．根据焊缝的余高选择合适的射线能量;ﻩＢ.尽量选择较高能量射线； C.尽量选择较低能量射线； D.以上都不对。3.20 以下哪一个参数不被认为是影响裂纹检出的关键参数（) A.长度LﻩB.开口宽度W C.自身高度d D.裂纹与射线角度3.２1 透照板厚一定且有余高的焊缝,散射比随有效能量的提高而(）ﻩA.增大ﻩB.减小ﻩC.不变ﻩＤ.不一定3．2２ 用单壁外透法透照同一筒体时,如不考虑焦点投影尺寸的变化，纵缝Uｇ与环缝Ug的区别是:在一张底片的不同部位（) Ａ.纵缝Ug值各处都同样,而环缝Ug随部位而变化;ﻩＢ．环缝Uｇ值各处都同样，而纵缝Ｕg值随部位而变化；ﻩC.无论纵缝、环缝,Ug值在任何部位都相同，不发生变化;ﻩD．以上都不是。３.2３ﻩ用置于透照区中心附近的铂——钨双丝透度计可以从射线底片上测出一定管电压下的()ﻩA.吸取系数; B．散射因子； C．固有不清楚度； D．形状修正系数。3.2４ﻩ下列哪一因素的变化不会改变射线照相的主因对比度（) Ａ.试件的材质； B.射线的能谱; Ｃ．散射线的分布;ﻩD．毫安分或居里分。3.25 下列哪一因素对照相底片颗粒性无明显影响？() Ａ．显影限度；ﻩＢ.使用铅增感屏； C.射线穿透力；ﻩＤ.使用荧光增感屏。3.26 工件中靠近射源一侧的缺陷图像，在下列哪种情况下清楚度最差?(） A.焦距增大;ﻩB．焦点尺寸减小； C.工件厚度增大; Ｄ.胶片与工件距离减小。3.27 如何提高射线底片的信噪比?（) A.增长曝光量;ﻩB．提高管电压； C.增大焦距； D．胶片与工件距离减小。3.28 下列哪一参数不是影响小缺陷射线照相清楚度和对比度的共同因素?ﻩ()ﻩA.焦点或射源尺寸； B.黑度; Ｃ.焦距；ﻩＤ．射线线质。3.29ﻩ在什么条件下尺寸较大的源摄得的射线底片质量可与尺寸较小的源相称? （） A.增大源到胶片距离; B．采用较厚的铅增感屏；ﻩC.使用速度快的胶片; D.缩短曝光时间。3.３０ 决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因素是(） Ａ．对比度ﻩＢ．不清楚度ﻩB．颗粒度ﻩＤ.以上都是3.31ﻩ胶片与增感屏贴合不紧，会明显影响射线照相的（)ﻩA.对比度 B.不清楚度 Ｃ.颗粒度 Ｄ.以上都是3.32 以下有关d′的叙述,哪一条是错误的（)ﻩA.d′值与df成正比ﻩB.ｄ′值与L1、L2成反比ﻩC.d′小于缺陷宽度W时，底片上缺陷影象有本影，对比度根据缺陷形状进行修正ﻩＤ.d′大于缺陷宽度W时，底片上缺陷影象无本影，对比度急剧下降3．3３ 以下关于信息理论在射线照相方面的论述,哪一条是错误的（)ﻩA.所谓“噪声”即是底片的颗粒度 B.信噪比是指缺陷影象对比度ΔD与噪声σD之比ﻩC.只要信噪比大于１，缺陷就可以辨认 D.信噪比越大，缺陷辨认就越容易３.34 按某种透照几何条件计算出直径0.32mm的象质计金属丝影象对比度修正系数σ=0.５，这意味着（）ﻩＡ.金属丝影象黑度为0．5； Ｂ.金属丝影象对比度为0.5； C.ﻩD.以上都不对３.3５ 以下哪一种措施不能提高射线照相的信噪比（) Ａ.使用速度更慢的胶片 B.增长曝光量ﻩC.提高底片黑度ﻩD.提高射线能量3．36ﻩ计算的不清楚度最常用的计算公式是（）ﻩA.U＝Uｇ＋Ｕi B.ﻩC.ﻩD.4.１ 按照“高灵敏度法”的规定，Ｉr192射线适宜透照钢的厚度范围是(） A.20-80mｍ;ﻩB．30－100mm；ﻩＣ.6－1０0mm;ﻩD.2０-１20mm。4.2ﻩ大约在哪一厚度上,Ir192射线配合微粒胶片照相的灵敏度与Ｘ射线配合中粒胶片照相的灵敏度大体相称（) A．10-20mmﻩB.20－３0mｍﻩC.40-50mm D.80-９０ｍm4.３ 以下关于考虑总的不清楚度的焦距最小值Fmin的叙述，哪一条是错误的（） A.Fmin值随射源尺寸df的增大而增大； B.Fmin值随固有不清楚度Uｉ的增大而增大；ﻩＣ.Fmin值随工件厚度Ｔ的增大而增大;ﻩD.应用Fｍin的同时应考虑限制射线能量不能过高。４.4ﻩGB3323标准中，AＢ级照相的Ｕg值的计算式是（)ﻩA.ﻩＢ.ﻩＣ. D．4．5ﻩ双壁双影直透法一般用于多大直径管子的环焊缝透照() Ａ.Φ89mm以下;ﻩB．Φ７6ﻩC．Φ20mm以下;ﻩD．Φ1０4.6 以相同的条件透照一工件，若焦距缩短20%，曝光时间可减小多少?(） A．64%; B.3６%;ﻩC.20％； Ｄ.８0%4．７ﻩ用半衰期为７5天的Ｉr192源在某时间对某工件透照时的曝光时间为４0分钟;５个月后,用该源对同一工件透照，为得到同样黑度的射线底片,曝光时间应为:()ﻩA.４0分钟； B.2小时；ﻩC.2小时40分；ﻩ D.４小时。4．８ﻩ若散射线忽略不计，当透照厚度的增长量相称于1/２半价层时，则胶片接受的照射量将减少多少？(） Ａ.２5%;ﻩB.７0％；ﻩC.41%； D.30％。4.9 射线能量200KV时，铜相对钢的等效系数为1.4，对14mm Ａ.10mｍ；ﻩB.２0mm；ﻩＣ.14ｍm; Ｄ.4.10ﻩ对于厚度差较大的工件进行透照时，为了得到黑度和层次比较均匀的底片,一般做法是(）ﻩA．提高管电流；ﻩB.提高管电压;ﻩC.增长曝光时间； D.缩短焦距。4.11 在同一个暗盒中装两张不同感光速度的胶片进行曝光的重要目的是（） A.为了防止暗室解决不妥而重新拍片；ﻩB.为了防止探伤工艺选择不妥而重新拍片;ﻩC.为了防止胶片上的伪缺陷而重新拍片；ﻩＤ.4.12 用双胶片进行射线照相，要装两张不同感光速度的胶片，其选片原则是：两种胶片的特性曲线：(） A.应在黑度轴上有些重合；ﻩB．在黑度轴上无需重合； Ｃ.应在lgE轴上有些重合;ﻩD.在lgE轴上无需重合。4．13ﻩ铅箔增感屏上的深度划伤会在射线底片上产生黑线,这是由于：（）ﻩＡ.铅箔划伤部位厚度减薄，对射线吸取减小,从而使该处透射线时增多; B．划伤使铅箔表面增大,因而发射电子的面积增大,增感作用加强;ﻩＣ.深度划伤与胶片之间的间隙增大，散射线增长; D.以上都对。4.14 透照有余高的焊缝,下面哪一条件的变化不会导致散射比显著增大？() Ａ.射线能量从200ＫeV减少到１00KeＶ； Ｂ.照射场范围从Φ3０0mm增大到Φ５０0ﻩC.试件厚度从2０mm增长到４０mmﻩD.焊缝余高从２ｍm增长到44.15ﻩ比较大的散射源通常是（)ﻩA.铅箔增感屏； B.暗盒背面铅板;ﻩC．地板和墙壁； D．被检工件。4.１6ﻩ由被检工件引起的散射线是()ﻩA.背散射; Ｂ.侧向散射; C.正向散射; D.全都是。4．17ﻩ射线探伤中屏蔽散射线的方法是（）ﻩA.铅箔增感屏和铅罩; B.滤板和光阑；ﻩＣ.暗盒底部铅板；ﻩD.以上全是。4.18 射线探伤时,在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的Ｂ字铅符号,假如通过解决的底片上出现Ｂ的亮图象，则认为(）ﻩA.这一张底片对比度高,象质好； Ｂ．这一张底片清楚度高，灵敏度高； C.这一张底片受正向散射影响严重,象质不符合规定; Ｄ.这一张底片受背向散射影响严重,象质不符合规定。4.１9ﻩ在射线机窗口加滤板,在工件上加补偿块减小厚度差,以及采用多胶片法,都是为了()ﻩA.校正不清楚度；ﻩB.校正低密度; C.校正低对比度; D.校正低宽容度。4．２０ 置于工件和射源之间的滤板可以减少从工件边沿进入的散射线,其因素是滤板（）ﻩＡ.吸取一次射线束中波长较长的成份;ﻩB．吸取一次射线束中波长较短的成份； C.吸取背散射线; D.减少一次射线束的强度。4.２1 滤板的作用相称于（)ﻩA.增长毫安；ﻩB.减少毫安;ﻩC.增长千伏；ﻩＤ．减少千伏。4.22 已知Ｃo6０源的半衰期为5.3年,用一个新源进行射线照相得到满意的射线底片,两年后用该源对同一工件按同样条件进行射线照相,为得到同样的底片，曝光时间（)ﻩＡ.不变； B.约延长10%ﻩＣ.约延长３0%ﻩD.约延长６0%4.23ﻩ用铅箔增感,焦距1２00mm曝光时间８分钟,得底片黑度１.５,现焦距为600ﻩA．１.6分钟ﻩB.2分钟ﻩC.1.25分钟 D.４分钟4.２4ﻩ曝光因子中的管电流、曝光时间和焦距三者的关系是（)ﻩA.管电流不变，时间与焦距的平方成反比； Ｂ.管电流不变,时间与焦距的平方成正比; Ｃ.焦距不变，管电流与曝光时间成正比； D.曝光时间不变,管电流与焦距成正比。4.２5 控制透照厚度比K值的重要目的是（)ﻩA.提高横向裂纹检出率； B.减小几何不清楚度; C.增大厚度宽容度; D.提高底片对比度。4.２6ﻩ对能量为1０0KV的射线，铝的透照等效系数为０．０8,则对于厚度2５ｍm的铝试件,应选择多少厚度钢的曝光量（)ﻩA.2５mm;ﻩB.２ｍｍ; Ｃ.20mm； Ｄ.3ｍm。4.27ﻩ采用双片曝光和双片观测的技术,可以(）ﻩA.增大对比度；ﻩB.减小不清楚度; Ｃ.增大宽容度； D.减小颗粒度。4.２8ﻩ小径管环焊缝双壁双影透照时，适合的曝光参数是（） A.较高电压、较短时间； B．较高电压、较长时间; C.较低电压、较短时间；ﻩＤ.较低电压、较长时间。4.２9 小径管椭圆透照的有效透照范围长度（)ﻩＡ.与焦距的平方成反比；ﻩＢ.与焦距的平方成正比； Ｃ.与焦距成正比； D.与焦距无关。4．30ﻩ对钢工件,大体在哪一透照厚度值上，使用CO60的照相效果比Ir１92更好一些:（) ﻩA.40ｍm ＢﻩＣ.80mｍ４．3１ﻩ曝光因子表达了哪几个参数的互相关系(）ﻩA.管电压、管电流、曝光时间 B.管电压、曝光量、焦距 C.管电流、曝光时间、焦距 D.底片黑度、曝光量、焦距4.３２ﻩ穿过试件较薄截面的射线会在相邻厚截面下产生散射，从而对厚截面的影象产生影响，这种影响称为() A.康普顿散射ﻩB.瑞利散射 C.边蚀散射ﻩD．固有不清楚度4.33ﻩ以下关于双壁双影直透法的叙述，哪一条是错误的（)ﻩＡ.直透法一般只合用于直径小于20mｍ的管子环焊缝照相； B.直透法比斜透法更易于探伤操作； C.直透法比斜透法更有助于检出根部未熔合和未焊透;ﻩD.直透法比斜透法更有助于判断缺陷在焊缝中的位置。4.34 透照厚度为1５0mｍ Ａ.300ＫV携带式X射线机 B．4２０KV移动式X射线机ﻩC.Ir19２γ射线源 D.Ｃo60γ射线源4.35 对厚度为15mm,直径１０00 A．Iｒ1９2γ源,中心透照法 Ｂ.锥靶周向X射线机,中心透照法 C.单向X射线机，外照法 D.平靶周向Ｘ射线机，中心透照法４.36 在哪一种情况下，底片的有效评估范围会超过搭接标记以外（） A.环缝双壁单影透照，搭接标记放在胶片侧; Ｂ．环缝单壁外透法，搭接标记放在胶片侧； Ｃ．纵缝单壁外透法，搭接标记放在射源侧；ﻩD.环缝中心透照法搭接标记放在胶片侧。4．37ﻩ小径管环焊缝照相的参数经验有效厚度比Kｅ的用途是（)ﻩA.为焦距选择提供参考依据; B．为偏移距离选择提供参考依据；ﻩC.为管电压选择提供参考依据； D.为曝光量选择提供参考依据。４．３8 锻件法兰对接焊缝射线照相，提高照相质量最重要的措施是()ﻩA.提高管电压增大宽容度 B.使用梯噪比高的胶片ﻩC．使用屏蔽板减少“边蚀” D．增大焦距提高小裂纹检出率5.1ﻩ显影的目的是(）ﻩA.使曝光的金属银转变为溴化银; B.使曝光的溴化银转变为金属银；ﻩC.去除未曝光的溴化银; D.去除已曝光的溴化银。５.２ 显影液的重要成份是() A．还原剂和促进剂； B.保护剂；ﻩC.克制剂；ﻩD.以上全是。５.３ 还原剂通常采用（）ﻩA.亚硫酸钠；ﻩＢ.溴化钾；ﻩC．米吐尔和对苯二酚; Ｄ.碳酸钠。5．４ 显影液中的促进剂通常采用（)ﻩA.亚硫酸钠; B.溴化钾； C.菲尼铜; D.碳酸钠。５.５ 显影液中的保护剂通常采用(） A.亚硫酸钠;ﻩB.溴化钾；1 C.菲尼铜；ﻩD.碳酸钠。5.6ﻩ显影液中的克制剂通常采用() A.亚硫酸钠; B.溴化钾;ﻩC.菲尼铜； D．氢氧化钠。5.７ 显影操作时，不断搅动底片的目的是（)ﻩA．使未曝光的溴化银粒子脱落；ﻩB.驱除附在底片表面的气孔,使显影均匀，加快显影; C.使曝过光的溴化银加速溶解; D.以上全是。５．8ﻩ在显影过程中应翻动胶片或搅动显影液,其目的是(） A.保护胶片，使其免受过大压力； B．使胶片表面的显影液更新; Ｃ.使胶片表面上未曝光的银粒子散开；ﻩＤ.防止产生网状皱纹。5．９ 显影时,哪一条件的变化会导致影象颗粒粗大？（）ﻩＡ.显影液活力减少；ﻩＢ.显影液搅动过度；ﻩC