标准解读

《GB/T 18904.2-2002 半导体器件 第12-2部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块 空白详细规范》这一标准文档,主要针对光纤光学系统或其子系统中使用的带尾纤的激光二极管模块设定了详细的规范要求。然而,您提供的信息中并未直接给出另一个对比的标准或版本,因此无法直接列举出与某个具体前版或后版标准之间的具体变更内容。

若要讨论此类标准的常见变更趋势或可能涉及的方面,一般包括但不限于以下几个维度:

  1. 性能指标调整:新标准可能会对激光二极管模块的输出功率、光谱特性、温度稳定性、使用寿命等关键性能参数提出更严格或更具体的指标要求。
  2. 测试方法更新:随着技术进步,对模块进行性能评估和质量控制的测试方法可能会有所改进,新标准会引入新的测试规程或修改原有测试条件。
  3. 安全规范增强:考虑到用户安全和设备可靠性,新标准可能会加强对激光安全等级、电磁兼容性(EMC)、防静电设计等方面的要求。
  4. 互操作性和兼容性:为了促进不同厂家产品的互换性和系统集成的便利性,标准可能会增加关于接口标准、信号编码、光纤连接器类型等方面的兼容性要求。
  5. 环境适应性:随着应用领域的扩展,新标准可能对激光二极管模块在极端温度、湿度、振动等恶劣环境下的工作能力提出更详细的规定。
  6. 标签与标识:为便于识别和追踪,标准可能会对产品标签、序列号、警告标识等信息的标注方式做出更细致的规定。


如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

查看全部

  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2002-12-04 颁布
  • 2003-05-01 实施
©正版授权
GB/T 18904.2-2002半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范_第1页
GB/T 18904.2-2002半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范_第2页
GB/T 18904.2-2002半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范_第3页
GB/T 18904.2-2002半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范_第4页
免费预览已结束,剩余16页可下载查看

下载本文档

免费下载试读页

文档简介

ICS31.260L51中华人民共和国国家标准GB/T18904.2-20020C720102半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范SemiconductordevicesPart12-2:0ptoelectronicdevicesBlankdetailspecificationforlaserdiodesmoduleswithpigtailforfiberopticsystemsorsub-systems(IEC60747-12-2:1995,MOD)2002-12-04发布2003-05-01实施中华民发布国家质量监督检验检疫总局

GB/T18904.2-2002前GB/T18904的本部分修改采用国际标准IEC60747-12-2:1995《半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范》英文版)本部分根据IEC60747-12-2:1995重新起草。本部分在采用国际标准时进行了修改·这些技术性差异用垂直单线标识在它们所涉及的条款的页边空白处。在附录A中给出了技术性差异及其原因的一览表以供参考。本部分和IEC60747-12-2在结构上的区别是:第第2页表中本部分增加了第9栏本部分和IEC60747-12-2在技术性上差异是:-5.11.A3、C2a分组中"C/N"本部分要求的极限值为“最小值”.IEC原文要求的极限值为“最大值”-5.16中"跟踪误差Ea”的“温度范围”本部分从T或To的最小值到25C.IEC原文从25C到T或T一t的最大值;2b分组中"跟踪误差Ea”的“温度范围"本部分从25C到T。.或T的最大值,IEC原文从25C到T。或Tot的最小值;-A、B、C组中所有要测试的"超闽值的正向电流”本部分为lr.IEC原文为le';A组中所有作为测试条件的"Ie"或"Ie"(除测试Ea和Ee外)本部分测试1re和V的为lr·.IEC原文为lr;其他的本部分为lr.IEC原文为le·。为便于使用,本部分还做了下列编辑性修改:用小数点"."代替作为小数点的迎号",”;删除国际标准的前言。本部分引用的国家标准及国际标准如下:GGB/T4589.1一1989半导体器件分立器件和集成电路总规范(idtIEC60747-10:1984)GB/T4937—1995半导体器件机械和气候试验方法(idtIEC60749:1984)GB/T12565-1990半导体器件光电子器件分规范(eqvIEC60747-12:1991)GGB/T15651-1995半导体器件分分立器件和集成电路第5部分:光电子器件(idtIEC60747-5:1992)-GB/T17573-1998半半导体器件:分立器件和集成电路第1部分:总则(idtIEC60747-1:1983)-IEC60191-2:1966半导体器件机械标准化第2部分:尺寸GB/T18904.2是有关纤维光学系统和子系统用光电子器件的国家标准的一部分。。下面列出了这些国家标准的预计结构-GB/T18904.1《半导体器件第12-1部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范》-GB/T18904.2《半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范》-GB/T18904.3《半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范》

GB/T18904.2-2002-GB/T18904.4《半导体器件第12-4部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范》-GB/T18904.5《半导体器件第12-5部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-光电二极管空白详细规范》本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所(CESI)归口。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所(CESI)本部分主要起草人:赵英

GB/T18904.2-2002半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范引言IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序.以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一.并应与下列国家标准一起使用GB/T4589.1—1989半导体器件分立器件和集成电路总规范(idtIEC6O747-10:1984)GB/T4937—1995半导体器件机械和气候试验方法(idtIEC60749:1984)GB/T12565-1990半导体器件光电子器件分规范(eqvIEC60747-12:1991)GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件(idtIEC60747-5:1992)GB/T17573—1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则(idtIEC60747-1:1983)要求的资料本页及下面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应,这些资料应填入相应栏中详细规范的识别【17授权发布详细规范的国家标准化机构(NAI)名称【2详细规范的IECQ编号【37总规范、分规范的编号及版本号「47详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的任何资料器件的识别【57主要功能和型号。「67典型结构(材料、主要工艺)和封装资料。如果一种器件有几种派生产品.则应指出其差异.例如,在对照表中列出特性差异。如果器件是静电敏感型,应在详细规范中给出注意事项。【7外形图、引线识别、标志和(或)引用有

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题。

评论

0/150

提交评论