标准解读

《GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法》这一标准详细规定了使用扫描电子显微镜(SEM)来测定金镀层或涂覆层厚度的方法原理、实验设备、样品制备、测量步骤及数据处理等要求。然而,您提供的对比信息不完整,没有明确指出要与哪个具体的标准进行比较。因此,直接对比变更内容无法完成。但可以概述该标准本身的关键内容和可能的一般性更新方向,假设与早期或后续同类标准相比较。

该标准的核心内容可能包括:

  1. 方法原理:介绍了利用扫描电镜中的能量散射谱(EDS)或背散射电子图像(BSE)技术来分析金覆盖层的厚度,这两种方法都是基于测量金层与基材之间原子序数差异导致的信号变化。
  2. 实验设备:明确了执行测量所需的SEM设备应具备的性能指标,包括分辨率、真空度要求等,以及辅助附件如能谱仪的配置。
  3. 样品制备:规定了样品切割、镶嵌、磨抛及最终表面处理的具体步骤,确保测量面平整且无污染。
  4. 测量步骤:详细说明了如何设置SEM参数,选择合适的测量点,进行数据采集。
  5. 数据处理:提供了计算金覆盖层厚度的公式和校正方法,考虑到了仪器误差和测量条件的影响。

若与旧版或其他类似标准比较,可能的变更方向包括但不限于:

  • 技术进步:更新了对SEM及辅助检测技术的要求,反映了技术进步带来的更高精度或更快速的测量能力。
  • 标准化流程:优化了样品制备流程,可能引入了更高效的清洁或表面处理方法,以减少人为误差。
  • 数据准确性:改进了数据处理算法,增加了校准程序,以提高测量结果的准确性和重复性。
  • 适用范围:扩大或细化了标准的适用范围,可能涵盖了更多类型的基材或不同厚度范围的金覆盖层。
  • 环境与安全:加入了环境保护和操作安全的相关指导,符合更严格的实验室管理规范。

由于缺乏具体的对比对象,上述内容仅为基于一般标准更新趋势的推测,并非针对某特定标准的直接变更解读。


如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1999-04-11 颁布
  • 1999-12-01 实施
©正版授权
GB/T 17722-1999金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法_第1页
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文档简介

TcS.37.020133中华人民共和国国家标准GB/T17722-1999金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法Gold-platedthicknessmeasurementbySEM1999-04-11发布1999-12-01实施国家质量技术监督局发布

中华人民共和国国家标准金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法GB/T17722-1999中中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045电话:63787337、637874471999年7月第一版2004年11月电子版制作书号:155066·1-15975版权专有侵权必究举报电话:01068533533

GB/T17722-1999目前市场出售的黄金制品名目繁多,常见的有镀金、包金、锻压金以及各种表层镀有黄金与白银的混合镀层的金制品·此外,一些K金饰品也在外面镀覆纯金或K金,一些白金饰品的表面覆盖有各种贵金属的镀层,而且用上述方法制成的饰品或工艺品种类十分繁多,面对如此繁多的饰品和工艺品的质量监测是一个极大的问题。本方法提出的对金覆盖层厚度的直接测量方法,用扫描电镜从金饰品的断面上直接测定其覆盖层的成分、覆盖层的层数和各层的厚度等,对于评价上述各类金制品的质量将具有十分重要的意义。本标准的附录A是提示的附录,本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位:中国科学院北京科仪研制中心、地矿部矿床地质研究所、北京科技大学材料物理系、上海市测试技术研究院、中船总725所。本标准主要起草人:陆亚伟、周剑雄、柳得槽、张训彪、徐国照

中华人民共和国国家标准金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法GB/T17722-1999Gold-platedthicknessmeasurementbySEM1范围本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子深针仪测量金覆盖层厚度·适用的厚度测量范围为0.2~10m.其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行2引用标准下列标准所包含的条文·通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时.所示版本均为有效。所有标准都会被修订.使用本标准的各方应探讨、使用下列标准最新版本的可能性。GB/T12334—1990金属及其他无机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则GB/T13298-1991金属显微组织检测方法GB/T15616-1991金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法GB/T16594-1996微米级长度的扫描电镜测量方法GB/T17362—1998黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法GB/T17363-1998黄金制品的电子探针测定方法术语局部厚度在基本测量面内对某一部位测定的厚度值平均厚度在基本测量面内不同部位选择规定数量的局部厚度测量值的算术平均值注:基本测量面定义见GB/T12334—1990.4原理本标准方法是先将被测金覆盖层样品的外面加金属保护层后,在垂直覆盖层方向切成薄片,经过镶嵌、研磨、抛光后制成试样.利用扫描电镜观察二次电子像和背散射电子像直接测定覆盖层层数和金覆盖层的平均厚度。5标准器和仪器设备5.1扫描电镜:二次电子像分辨力优于10nm.背散射电子像分费力优于20nm.5.2微米级长度标准器:经法定计量机构标定,最小刻度标称值应小于2m。533比长仪:量程不小于60mm.误差不

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