标准解读
《GB/T 17626.3-2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》相比于《GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》,主要在以下几个方面进行了更新与调整:
-
范围和适用性:2016版标准在适用范围描述上更为明确,涵盖了信息技术设备、家用电器、照明设备等多种产品,同时对测试方法的通用性和特定应用的指导性进行了增强。
-
术语和定义:新增和修订了一些专业术语和定义,以更准确地反映当前电磁兼容领域的最新理解和要求,帮助用户更好地理解标准内容。
-
试验配置和方法:对试验场地、试验设备、以及测试布置的要求进行了细化和优化,如增加了对开阔试验场地和屏蔽室使用条件的具体说明,改进了天线与被测设备(EUT)之间的距离确定方法,确保测试结果的一致性和可重复性。
-
试验等级和严酷程度:调整了部分频率范围内的试验等级和严酷等级,使之更加符合当前电子设备面临的实际电磁环境,提高了测试的针对性和实用性。
-
测量和评估:更新了测量参数、评估指标和数据处理方法,引入了更先进的测量技术和数据分析要求,确保评估结果的准确性和科学性。
-
试验报告:对试验报告的内容和格式提出了更详细的要求,强调了需要记录的信息细节,便于结果的交流和追溯。
-
参考文献:更新了参考文献列表,纳入了更多近期的相关国际标准和研究成果,为用户提供最新的技术支持和理论依据。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
....
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文档简介
ICS3310020
L06..
中华人民共和国国家标准
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.代替:
GB/T17626.3—2006
电磁兼容试验和测量技术
射频电磁场辐射抗扰度试验
Electromagneticcompatibility—
Testingandmeasurementtechniques—
Radiatedradio-freuencelectromaneticfieldimmunittest
,qy,gy
[IEC61000-4-3:2010,Electromagneticcompatibility(EMC)—
Part4-3:Testingandmeasurementtechniques—
Radiated,radio-frequency,electromagnetic
fieldimmunitytest,IDT]
2016-12-13发布2017-07-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
目次
前言…………………………
Ⅰ
范围………………………
11
规范性引用文件…………………………
21
术语和定义………………
31
概述………………………
44
试验等级…………………
54
一般试验等级………………………
5.15
保护设备抵抗数字无线电话和其他射频发射装置的射频辐射的试验等级…
5.2()5
试验设备…………………
65
试验设施的描述……………………
6.16
场的校准……………
6.26
试验布置…………………
79
台式设备的布置……………………
7.110
落地式设备的布置…………………
7.210
布线…………………
7.310
人身携带设备的布置………………
7.410
试验程序…………………
810
确认实验室的有关条件……………
8.111
测试的实施…………………………
8.211
试验结果的评定…………………………
912
试验报告………………
1012
附录资料性附录保护设备抵抗数字无线电话射频辐射的试验调制方式的选择原理………
A()()19
附录资料性附录场发射天线………………………
B()23
附录资料性附录电波暗室的应用…………………
C()24
附录资料性附录放大器非线性和校准方法的示例…………
D()6.226
附录资料性附录产品标准化专业委员会试验等级选择指南……
E()30
附录资料性附录试验方法的选择…………………
F()32
附录资料性附录环境描述…………
G()33
附录规范性附录频率高于时的替代照射方法独立窗口法………
H()1GHz(“”)37
附录资料性附录电场探头的校准方法……………
I()40
附录资料性附录由试验仪器引起的测量不确定度………………
J()53
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
前言
电磁兼容试验和测量技术目前包括以下部分
GB/T17626《》:
电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论
———GB/T17626.1—2006;
电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
———GB/T17626.2—2006;
电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验
———GB/T17626.3—2016;
电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
———GB/T17626.4—2008;
电磁兼容试验和测量技术浪涌冲击抗扰度试验
———GB/T17626.5—2008();
电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度
———GB/T17626.6—2008;
电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波谐间波的测
———GB/T17626.7—2008、
量和测量仪器导则
;
电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验
———GB/T17626.8—2006;
电磁兼容试验和测量技术脉冲磁场抗扰度试验
———GB/T17626.9—2011;
电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验
———GB/T17626.10—1998;
电磁兼容试验和测量技术电压暂降短时中断和电压变化抗扰
———GB/T17626.11—2008、
度试验
;
电磁兼容试验和测量技术振铃波抗扰度试验
———GB/T17626.12—2013;
电磁兼容试验和测量技术交流电源端口谐波谐间波及电网信
———GB/T17626.13—2006、
号的低频抗扰度试验
;
电磁兼容试验和测量技术电压波动抗扰度试验
———GB/T17626.14—2005;
电磁兼容试验和测量技术闪烁仪功能和设计规范
———GB/T17626.15—2011;
电磁兼容试验和测量技术共模传导骚扰抗扰度
———GB/T17626.16—20070Hz~150kHz
试验
;
电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口纹波抗扰度试验
———GB/T17626.17—2005;
电磁兼容试验和测量技术横电磁波波导中的发射和抗
———GB/T17626.20—2014(TEM)
扰度试验
;
电磁兼容试验和测量技术混波室试验方法
———GB/T17626.21—2014;
电磁兼容试验和测量技术传导骚扰保护装置的试验
———GB/T17626.24—2012HEMP
方法
;
电磁兼容试验和测量技术三相电压不平衡抗扰度试验
———GB/T17626.27—2006;
电磁兼容试验和测量技术工频频率变化抗扰度试验
———GB/T17626.28—2006;
电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降短时中
———GB/T17626.29—2006、
断和电压变化的抗扰度试验
;
电磁兼容试验和测量技术电能质量测量方法
———GB/T17626.30—2012;
电磁兼容试验和测量技术主电源每相电流大于的设备的
———GB/T17626.34—201216A
电压暂降短时中断和电压变化抗扰度试验
、。
本部分为的第部分
GB/T176263。
本部分按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验
GB/T17626.3—2006《》。
与相比主要技术内容变化如下
GB/T17626.3—2006,:
Ⅰ
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
第章术语和定义中删除了原带状线和杂散辐射
———4,4.144.15;
第章合并原表和表为表与常规用途装置数字无线电话和其他射频发射装置有关的
———5121、
试验等级
;
保护设备抵抗数字无线电话和其他射频发射装置的射频辐射的测试高频范围由
———5.2()2GHz
扩展至
6GHz;
第章修改了对功率放大器的要求
———6;
场校准中增加了完全照射部分照射和独立窗口均匀场域的应用要求
———6.2、;
恒定场强校准法增加了步骤对测试系统的确认
———6.2.1j),;
恒定功率校准法增加了步骤对测试系统的确认
———6.2.2m),;
附录场发射天线删除了圆极化天线
———B;
删除了原附录中小室和带状线测试方法
———DTEM;
原附录改为附录并增加表
———IGG.3;
原附录改为附录
———HF;
原附录改为附录
———JH;
原附录改为附录
———KD;
原附录和附录合并为附录
———FGE;
增加了附录场强探头的校准
———I;
增加了附录试验仪器引起的测量不确定度
———J。
本部分使用翻译法等同采用电磁兼容第部分试验和测量技术
IEC61000-4-3:2010《(EMC)4-3:
射频电磁场辐射抗扰度试验
》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下
:
电工术语电磁兼容
———GB/T4365—2003[IEC60050(161):1990,IDT];
电磁兼容试验和测试技术射频场感应的传导骚扰抗扰
———GB/T17626.6—2008
度
(IEC61000-4-6:2006,IDT)。
本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会提出并归口
(SAC/TC246)。
本部分起草单位上海电器科学研究院上海市计量测试技术研究院上海工业自动化仪表研究院
:、、、
北京市医疗器械检验所东铄检测科技苏州有限公司上海三基电子工业有限公司
、()、。
本部分主要起草人郑军奇刘媛龚增王英孟志平潇潇苑明聪叶琼瑜寿建霞钱枫
:、、、、、、、、、。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为
:
———GB/T17626.3—1992、GB/T17626.3—1998、GB/T17626.3—2006。
Ⅱ
GB/T176263—2016/IEC61000-4-32010
.:
电磁兼容试验和测量技术
射频电磁场辐射抗扰度试验
1范围
的本部分适用于电气电子设备的电磁场辐射抗扰度要求规定了试验等级和必要的
GB/T17626、,
试验程序
。
本部分的目的是建立电气电子设备受到射频电磁场辐射时的抗扰度评定依据在本部分中给出
、。
的试验方法描述了评估设备或系统抵抗一定环境的抗扰度的符合性方法
。
注1如所述本部分是供有关专业标准化技术委员会使用的基础出版物同时在
:GB/Z18509,EMC。GB/Z18509
中规定有关专业标准化技术委员会负责确定此抗扰度测试标准是否适用如适用他们有责任确定适合的试
,,,
验等级及性能判据全国电磁兼容标准化技术委员会及其分会与有关专业标准化技术委员会
。(SAC/TC246)
合作以评估对其产品的特定抗扰度试验的试验等级及性能判据
,。
本部分适用于防止所有发射源的射频电磁场的抗扰度试验
。
特别关注对防止数字无线电话和其他射频发射装置的射频辐射
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