标准解读

《GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则》作为中国国家标准,为半导体器件的分类、命名、型号编制以及标识方法等提供了统一规范。然而,您提供的对比信息不完整,没有明确指出要与哪个具体的标准或版本进行比较。因此,我无法直接列出与某个特定标准相比的具体变更内容。

如果您的意图是了解《GB/T 17573-1998》相比于其前一版或是其他相关国际标准(如IEC标准)的主要差异,通常这类更新会涉及以下几个方面:

  • 技术内容更新:随着半导体技术的发展,新标准可能会纳入新的器件类型、性能指标或测试方法,以适应行业进步。
  • 命名规则调整:为了更准确地描述不断涌现的新器件特性,标准可能会修订器件的命名规则或型号编码系统。
  • 测试和评估方法优化:改进测试条件、评估流程,确保测试结果的准确性和可比性。
  • 标准化术语统一:更新和统一专业术语,提高国内外交流的一致性和便利性。
  • 增强兼容性与互换性:提升不同厂家产品间的兼容性和互换性要求,促进市场流通。

若需要关于该标准与某一具体标准版本差异的详细解析,请提供完整标准名称或版本号以便进行准确对比分析。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1998-11-17 颁布
  • 1999-06-01 实施
©正版授权
GB/T 17573-1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则_第1页
GB/T 17573-1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则_第2页
GB/T 17573-1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则_第3页
GB/T 17573-1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则_第4页
GB/T 17573-1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则_第5页
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文档简介

ICs31.080.01L40中华人民共和国国家标准GB/T.17573-1998idtIEC747-1:1983半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则SemiconductordevicesDiscretedevicesandintegratedcircuitsPart1:General1998-11-17发布1999-06-01实施国家质量技术监督局发布

GB/T17573-1998次前育eoooooooooooooooooooooIEC前言第I篇IEC747和IEC748标准的范围和说明11EC747标准IEC748标准第I篇IEC747-1标准的目的和说明百的1。····12说明······第工篇IEC747-2、IEC747-3等标准的目的、说明和要求每个标准的目的对每个标准的说明2···。·。2对每个标准各篇的要求第W篇名词术语(通用部分1·32物理学术语34器件类型有关额定值和特性的术语……小5脉冲术语和定义……·翰人至输出脉冲开关时间,通用术语19第V篇文字符号(通用部分电流、电压和功辜的文字符号221电参数的文字符号….3小其他量的文字符号·以对数标度单位dB表示的信号比的文字符号27第篇基本颊定值和特性(通用部分)引膏····28介绍发布资料的标准格式……·228定义…·3

GB/T17573-1998冷却条件的定义…·.295推荐的温度一览表……推荐的电压、电流一览表………·630机械额定值、特性和其他资料32半导体器件管座上引出端位置的标准化………….3.3半导体器件引出端的色码……………349910用于具有公用封装的复合半导体器件的通用资料3511产品的离散性和一致性3612印制导线和印制电路36第篇一般测试方法和基准测试方法(通用部分)第1节一般测试方法36。oooooooo。-般注意事项………·236第2节基准测试方法基准测试方法导则·1_38电基准测试方法的热条件……….2_38第亚篇分立器件的接收和可靠性第1节述·…·第2节一般原理40电耐久性试验第3节40日的和注意事项…………40一般要求…侍珠要求(通用部分)…343第区篇静电敏感器件44标志和符号…244对短电压脉冲敏感的电子器件的试验方法……….46

GB/T17573-1998三本标准等同采用国际标准IEC747-1:1983《半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则》1991年9月,IEC747-1作了第一次修订;1993年10月,IEC747-1作了第二次修订。本标准包括了这两次修订的内容。由于IEC747-1作了两次修订,使图号的顾序打乱,本标准根据图出现的先后顺序重新编排了图本标准的第I篇至第篇是对IEC747和IEC748这两套标准的范围、说明和要求,不涉及具体内容,为便于和IEC标准等同,仍保留这三篇。但因我国标准给号与IEC不同,不便于叙述,故仍直接使用IEC标准号叙述。IEC标准与国家标准对应如下:IEC747-1GB/T17573-1998IEC747-2GB/T4023-1997IEC747-3GB/T6571-1995IEC748-1GB/T16464-1996IEC748-2GB/T17574-1998本标准由中华人民共和国电子工业部提出:本标准由全国半导体器件标准化技术委员会归口本标准由电子工业部标准化研究所负责起草。本标准主要起草人:王长福、顾振球、吴连、干丽芬

GB/T17573-1998IEC前育1)IEC(国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议,是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的,对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2)这些决议或协议,以推荐标准的形式供国际上使用,并在此意义上为各国家委员会所认可。3)为了促进国际间的统一,IEC希塑各国家委员会在木国条件许可的情况下,采用IEC标准的文本作为其国家标准,IEC标准与相应国家标准之间的差异,应尽可能在国家标准中指明。本标准是国际电工委员会第47技术委员会(半导体器件和集成电路)制定的。1EC747-1标准构成半导体器件通用标准的第一部分,它给出的是通用条文。IEC747-2、1EC747-3等标准中的每一个标准,是给某一种类型的器件提出补充条文。1982年9月在伦敦举行的第47技术委员会会议上批准了将IEC147和IEC148标准改编成现行的按器件编排的建议。由于所有的组成部分都已预先按“六个月法"或"二个月程序"表决批准,因而无需重新表决。1EC147和IEC148标准中有关集成电路的内容已包括在JEC747-1和IEC748标准中。IEC147-5和IEC147-5A标准中有关机械和气候试验方法的内容,已包括在IEC749标准中

中华人民共和国国家标准半导体器件分立器件和集成电路GB/T17573-1998idtIEc747-1:1983第1部分:总则SemiconductordevicesDiscretedevicesandintegratedcircuitsPart1:General第I篇IEC747和IEC748标准的范围和说明1IEC747标准1.1范围IEC747标准包括如下内容:分立器件和集成电路的通用标准;-为完善分立器件标准用的补充标准1.2说明IEC747标准由单行本IEC747-1、IEC747-2等几个标准组成。通过发布补充件,例如IEC747-1A,来跟上时代的发展。2IEC748标准2.1范围IEC748标准应与IEC747-1标准一起使用。IEC748标准给出了有关集成电路的标准,2.2!说明IEC748标准由单行本IEC748-1.IEC748-2等几个标准组成,通过发布补充件,例如IEC748-1A来限上时代的发展。第工篇IEC747-1标准的目的和说明1目的-提供有关IEC747和IEC748标准(见第篇)的范围和说明的通用内容:提

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