标准解读
GB/T 20870.1-2007是一项中国国家标准,专注于半导体器件领域,特别是微波集成电路中的放大器部分。该标准为半导体行业提供了关于微波集成电路放大器的技术规范和要求,旨在保证此类产品的性能、可靠性和互换性。
标准适用范围
本标准适用于设计、制造及应用层面,详细规定了微波集成电路(MIC)中放大器的定义、分类、技术要求、测试方法以及质量评定准则。它覆盖了不同频率范围、功率水平及应用场景下的微波集成电路放大器。
主要内容概览
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术语和定义:首先明确了与微波集成电路放大器相关的专业术语和定义,确保行业内沟通的一致性。
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分类:根据工作频率、输出功率、增益特性等因素,将微波集成电路放大器进行分类,便于用户根据具体需求选择合适的产品类型。
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技术要求:
- 电气性能:规定了放大器的关键电气参数,如增益、噪声系数、输出功率、线性度、稳定性等的具体指标。
- 机械与环境适应性:包括封装尺寸、引脚排列、工作温度范围、湿度耐受性等要求,确保放大器在不同环境下能稳定工作。
- 可靠性要求:设定了一系列测试项目来评估放大器的长期工作稳定性和寿命。
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测试方法:详细说明了如何对放大器的各项性能指标进行测量和验证,包括测试环境、测试设备、测试步骤等,以确保测试结果的准确性和可重复性。
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质量评定:基于测试结果,制定了质量等级划分的标准,以及不符合要求时的处理办法,帮助生产商和用户进行质量控制和验收。
实施意义
该标准的实施有助于提升微波集成电路放大器的产品质量和市场竞争力,促进产业链上下游企业的技术交流与合作,同时为监管部门提供检验和监督的依据,保障消费者权益。通过统一标准,可以减少因产品规格不一带来的兼容性问题,加速技术创新和产业升级。
注意事项
尽管未直接要求总结,但使用者应注意,在实际应用中需严格遵循该标准的各项要求,进行产品设计、生产、检测和质量控制,以确保微波集成电路放大器满足行业标准和市场需求。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2007-02-09 颁布
- 2007-09-01 实施
文档简介
CS31.080.01L40中华人民共和国国家标准GB/T20870.1-2007/IEC60747-16-1:2001半导体器件第16-1部分:微波集成电路放大器Semiconductordevices-Part16-1:Microwaveintegratedcircuits-s一Amplifiers(IEC60747-16-1:2001,IDT)2007-02-09发布2007-09-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会
GB/T20870.1-2007/IEC60747-16-1:2001三前言L范围2规范性引用文件3术语和定义基本额定值和特性4.1总则4.2应用说明4.3功能规定4.4极限值(绝对最大额定值体系)4.5工作条件(在规定工作温度范围内)4.6电特性4.7机械和环境额定值、特性和数据4.8附加资料5测试方法5.2浅性(功率)增益(Gi)…5.3线性(功率)增益平坦度(ACm)5.4功率增益(Ce)5.5(功率)增益平坦度(ACp)…二5.6(最大可用)增益控制范围(AGa)125.7限幅输出功率(Pare)、限幅输出功率平坦度(AParo)5.8输出功率(P).91dB增益压缩输出功率(P.o)5.10噪声系数(F)·...….….…..….….…..…..…..·.145.11交调失真(P,/P)双频)16截距点功率(对于交调产物)P。r,)……5.12偷入反射系数的模(输入回波损耗)lsul)5.13输出反射系数的模(输出回波损耗)|s|)…5.145.15反向传输系数的模(隔离度)|s。|)55.16幅度调制对相位调制的转换系数(axvrwn)·5.175.18功率附加效率(刀)……5.19n阶谐波失真比(Pa/P)5.20输出噪声功率(P、)………………265.21在规定负载电压驻波比下的杂散度(Ps/P.)线性增益测试电路………图1.9图2噪声系数的基本测试电路图3双频交调失真的基本测试电路16
GB/T20870.1-2007/IEC60747-16-1:2001图“输入/输出反射系数的模(输入/输出回波拟耗)的测试电路18围5输出反射系数的测试电路图6S隔离度的测试电路……………21图7aAwuru的基本测试电路图8功率附加效率测试电路24图9”阶谐波失真比的测试电路图10输出噪声功率的测试电路27图11杂散度的测试电路
GB/T20870.1-2007/IEC60747-16-1:2001本部分等同采用国际标准IEC60747-16-1.2001《半导体器件第16-1部分:微波集成电路放大器》第1版(英文版)。本部分等同翻译IEC60747-16-1:2001由于IEC60747-16-1存在印刷错误和疏漏,本部分在采用该国际标准时进行了编辑性修改,修改的内容如下:删除IEC前言。ab)第1章“本部分规定了微波集成电路功率放大器…"中删除“功率"。因为本部分名称为“微波集成电路放大器”.标准涉及低噪声等多种放大器。C33.8中"(单位为dB)”改为"(单位为dBm)”。输入功率与输出功率的单位应为dBm。_3.9~3.11为,参数中su、se和s的模(即|sul、·a和lsia)的定义,其内容引用IEC6O747-7:2000中3.5.2.1.3.5.2.2和3.5.2.4.而IEC60747-7给出的是、和的定义,不是sul、ls|和|se|的定义,两者不等同,不能直接引用。本部分按5.13~5.15中上sil、s|和|sr|测试方法中的测试原理,在3.9~3.11给出其定义。P)4.6.2表中"参数"栏补充"(注1)"。IEC60747-16-1在表中给出了注1的内容,未给出出处图1中与功率计1相连的定向帮合器的帮合方向改为由信号源(E点)至功率计1(A点)。_5.14.2.6"由公式(19)计算输出反射系数的模se|.”改为“由公式(19)计算输出回波损耗lse|."_5.14.2.7k)中删除"——输入功率”。测试时调节输入功率使器件输出功率达到规定值即可,不需要固定输入功率。D图6中定向帮合器的鹅合方向改为由被测器件输出端(B点)至功率计公式(31)~(34)中的"-"改为"十",其测试原理同5.2.3和5.11.3一样,公式的符号也应一技k)5.21.3“杂散度Ps/P。(dBm)由下式得出”中"(dBm)”改为“(dBc)"本部分引用的国际标准中除IEC60748-4外,其他标准已有相应的国家标准,但因现行国家标准等同采用的是较早版本的国际标准,所以不能被本部分引用,只能直接引用IEC标准。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由全国半导体器件标准化技术委员会归口本部分起草单位:中国电子科技集团公司第五十五研究所本部分主要起草人:黄玉英、林妹红
GB/T20870.1-2007/IEC60747-16-1:2001半导体器件第16-1部分:微波集成电路放大器范围本部分规定了微波集成电路放大器的术语、基本额定值、特性以及测试方法2规范性引用文件下列文件中的有关条款通过GB/T20870的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件.其随后所有的修改单(不包括勤误的内容)或修订版均不适用于本部分。然而.鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分GB/T4728.13—1996电气简图用图形符号第13部分:模拟元件(idtIEC60617-13:1993)GB/T17573—1998半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则(idtIEC60747-1:1983)GB/T17940—2000半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路(idtIEC60748-3:1986)1EC60617-12:1997简图用图形符号第12部分:二进制逻辑元件IEC60747-7:2000半导体器件分立器件和集成电路第7部分:双极型品体管IEC60748-2:1997半半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路IEC60748-4:1997半导体器件集成电路第4部分:接口集成电路术语和定义下列术语和定义适用于本部分37线性(功率)增益Iinear(power)gain功率传输曲线P。dBm)=(P,)中线性工作区的功率增益柱:在这个区域P.(dBm)=P(dBm).3.2线性(功
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