标准解读

《GB/T 17572-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范》这一标准详细规定了CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列的基本性能要求、测试方法以及质量评定准则，旨在为这些器件的制造商与用户提供统一的技术规范。然而，您提及的对比对象未明确给出，因此无法直接提供两者之间的具体变更内容。

若要一般性地讨论此类标准更新或变更加常规的视角，通常涉及以下几个方面：

  1. 电气参数优化：新标准可能对输入输出电压范围、电流消耗、速度性能（如 propagation delay）等电气特性进行了调整，以适应技术进步和应用需求的变化。

  2. 可靠性增强：随着材料科学和工艺技术的发展，新标准可能会提高对集成电路工作温度范围、寿命、抗电磁干扰能力等方面的要求。

  3. 封装形式更新：为了适应更小、更密集的电路板设计，新标准可能会引入新的封装类型或对原有封装规格进行修订。

  4. 测试方法和条件的改进：为了确保测试结果的准确性和可重复性，新标准可能会更新测试环境设定、测试信号特征或引入新的测试项目。

  5. 环境合规性要求：随着全球对环保的重视，新标准可能加入了关于限制有害物质使用的规定，如RoHS（限制在电子电气设备中使用某些有害物质的指令）合规性要求。

  6. 安全性增强：对于特定应用领域，新标准可能会增加关于静电防护、过电压保护等方面的安全要求。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1998-11-17 颁布
  • 1999-06-01 实施
©正版授权
GB/T 17572-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第四篇CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范_第1页
GB/T 17572-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第四篇CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范_第2页
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文档简介

TC8.31.200L56中华人民共和国国家标准GB/T17572—1998idtIEC748-2-4:1992QC790104半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第四篇CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范Semiconductordevices--IntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedJcircuitsSectionfourFamilyspecificatinforcomplementaryMOSdigitalintegratedcircuits.seriess4000Band14000UB1998-11-17发布1999-06-01实施国家质量技术监督局发布

GB/T17572-1998本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC748-2-4:1992《半导体器件集成电路第2部分数字集成电路第四篇一CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范》。本标准与《CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范》一起，可作为编制CMOS数字集成电路4000系列电路详细规范的依据。本标准引用的国家标准GB/T4937一1995和GB/T9424一1998分别等同采用IEC749：1984及修改单1(1991)和IEC748-2-5:1992.本标准第8章表1中的分组形式作了技术处理,以便与IC748-11(1990)相一致,10.3中的曲线也作了更正。本标准由中华人民共和国电子工业部提出本标准由全国集成电路标准化分技术委员会归口。本标准起草单位：电子工业部标准化研究所、西安徽电子技术研究所。本标准主要起草人：陈裕妮、陈学礼。

GB/T17572-1998IEC前言1）IEC(国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2）这些决议或协议，以推荐标准的形式供国际上使用,并在此意义上为各国家委员会所认可。3）为了促进国际上的统一,IEC希望各国家委员会在本国条件许可的情况下,采用IEC标准的文本作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差异，应尽可能在国家标准中指明.本标准是由SC47A(集成电路)和IECTC47(半导体器件)制定的。本标准系CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范。本标准文本以下列文件为依据：六个月法表决报告47A(CO)17447（C0)19447（C01050本标准表决批准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。本标准封面的QC编号是IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范号。本标准引用下列IEC标准：747-1:19833半导体器件分立器件第第1部分总则修改单1（1991)半导体器件分立器件747-10:1991丰第10部分、分立器件和集成电路总规范5半导体器件集成电路第2部分748-2:1985、数字集成电路修改单1（1991)748-11:1990半导体器件集成电路第11部分半导体集成电路(不包括混合电路)分规范749:1984半导体器件机械和气候试验方法修改单1(1991）

中华人民共和国国家标准半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路GB/T17572-1998第四篇CMOS数字集成电路idtIEC748-2-4:1992QC7901044000B和4000UB系列族规范Semiconductordevices-ntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectionfour-ramilyspeeificationforcomplementaryMOSdigitalintegratedcircuits.series4000Band4000UB引IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本族规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用。：分立器件第10部分747-10/QC700000半导体器件分立器件和集成电路总规范集成电路第11部分748-11/QC790100半导体器件华半导体集成电路(不包括混合电路)分观范要求的资料本页及下面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，这些资料应填入相应栏中。详细规范的识别【1授权发布详细规范的国家标准化机构名称。L2详细规范的IECQ编号。L37总规范、分规范的编号及版本号L4详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的任何资料，器件的识别【57主要功能和型号。【6]典型结构(材料、主要工艺)和封装资料如果器件具有若干种派生产品，则应指出其差异,例如，在对照表中列出特性差异。如果器件属静电敏感型，在详细规范中应附加预防说明。【7外形图、引出端识别、标志和/或与外形有关的参考文件

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