标准解读

GB/T 17554.7-2010是一项中国国家标准,专注于识别卡的测试方法,具体针对的是邻近式卡(Proximity Cards)。这份标准为评估和确保邻近卡性能提供了一套统一的测试流程与要求,旨在促进不同制造商生产的邻近卡之间具有互操作性和兼容性。以下是该标准主要内容的概述:

标准适用范围

本标准规定了邻近式卡的一系列测试项目、测试环境、测试设备以及具体的测试方法。这些测试用于验证卡的功能性、耐用性、数据传输的准确性和安全性等关键性能指标,适用于所有遵循ISO/IEC 14443系列标准的邻近式智能卡。

测试内容概览

  1. 物理特性测试:包括卡片尺寸、厚度、弯曲度、抗扭曲能力等,确保卡片的物理强度及用户友好性。
  2. 电气特性测试:检验卡片在不同频率下的通信性能,如调制深度、载波频率、信号强度等,确保数据传输的可靠性。
  3. 操作功能测试:验证卡片在读写操作中的响应时间、数据传输速率、错误检测及纠正能力等,确保信息交互的准确性与效率。
  4. 互操作性测试:测试卡片与读卡器之间的兼容性,确保不同厂家的产品能够顺利交互。
  5. 安全性能测试:评估卡片的数据保护机制,如加密算法的有效性、防篡改能力等,确保数据的安全传输。
  6. 耐用性与环境适应性测试:通过模拟各种环境条件(如温度、湿度、静电放电)来测试卡片的稳定性和寿命。

测试方法与要求

每个测试项目都详细描述了测试的具体步骤、所需设备、合格判定标准等。例如,对于电气特性测试,会规定测试仪器的精度要求、测试信号的生成方式、数据采集与分析方法等;而在耐用性测试中,则会设定特定的循环次数或持续时间来模拟长期使用情况。

结论

此标准为邻近式卡的制造商、测试实验室及应用开发者提供了一套标准化的测试框架,有助于提升产品质量、促进技术进步,并保障最终用户的使用体验。它强调了产品性能验证的重要性,是保证智能卡行业健康发展的一个基础规范。


如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

查看全部

  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2010-12-01 颁布
  • 2011-04-01 实施
©正版授权
GB/T 17554.7-2010识别卡测试方法第7部分:邻近式卡_第1页
GB/T 17554.7-2010识别卡测试方法第7部分:邻近式卡_第2页
GB/T 17554.7-2010识别卡测试方法第7部分:邻近式卡_第3页
GB/T 17554.7-2010识别卡测试方法第7部分:邻近式卡_第4页
免费预览已结束,剩余24页可下载查看

下载本文档

免费下载试读页

文档简介

ICS3524015

L64..

中华人民共和国国家标准

GB/T175547—2010

.

识别卡测试方法

第7部分邻近式卡

:

Identificationcards—Testmethods—

Part7Vicinitcards

:y

(ISO/IEC10373-7:2008,MOD)

2010-12-01发布2011-04-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T175547—2010

.

目次

前言…………………………

范围………………………

11

规范性引用文件…………………………

21

术语和定义缩略语和符号………………

3、1

适用于测试方法的默认条款……………

42

静电测试…………………

52

测试装置和测试电路……………………

63

的功能测试………………………

7VICC6

的功能测试…………………………

8VCD7

的工作场强测试…………………

9VICC8

附录规范性附录测试天线……………………

A()VCD9

附录资料性附录测试天线调谐……………

B()VCD11

附录规范性附录传感线圈…………

C()13

附录规范性附录用于功率测试的参考……………

D()VCDVICC15

附录资料性附录用于负载调制测试的参考………………

E()VICC17

附录资料性附录频谱计算程序……………………

F()18

GB/T175547—2010

.

前言

在识别卡测试方法总标题下目前分为如下个部分

GB/T17554《》,7:

第部分一般特性测试

———1:;

第部分磁条卡

———2:;

第部分带触点的集成电路卡及其相关接口设备

———3:;

第部分无触点集成电路卡

———4:;

第部分光记忆卡

———5:;

第部分接近式卡

———6:;

第部分邻近式卡

———7:。

本部分为的第部分本部分使用重新起草法修改采用国际标准

GB/T175547。,ISO/IEC10373-

识别卡测试方法第部分邻近式卡英文版

7:2008《7:》()。

本部分与相比增加和修改了下列内容并在相应条款的外侧页边空白处

ISO/IEC10373-7:2008,,

用单垂线标示

:

为了使标准更加清晰易懂增加了缩略语

a),PCB;

为了便于引用做了编辑性修改

b),8.1.2;

为了避免实际应用中可能出现在规定的工作区域内不能正常工作的情况增加第章

c)VICC,9

工作场强测试

本部分的附录附录和附录是规范性附录

A、CD。

本部分的附录附录和附录是资料性附录

B、EF。

本部分由全国信息技术标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC28)。

本部分起草单位中国电子技术标准化研究所东信和平智能卡股份有限公司

:、。

本部分主要起草人冯敬高林袁理金倩黄小鹏耿力赵子渊

:、、、、、、。

GB/T175547—2010

.

识别卡测试方法

第7部分邻近式卡

:

1范围

规定了符合识别卡特性的测试方法每一测试方法交叉引用一个或多

GB/T17554GB/T14916。

个基础标准这些基础标准可以是或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术

,GB/T14916

的补充标准

注接收准则不包含在本部分中而是在以上提及的国家标准中

1:,。

注描述的若干测试方法可单独实施规定的卡不要求顺序地通过所有测试

2:GB/T17554。。

的本部分规定了无触点集成电路卡技术邻近式卡的测试方法第部分规定了为

GB/T17554()。1

一种或多种卡技术所共用的测试方法其他部分则规定了各个专项技术的测试方法

;。

除非另有规定本部分中的测试仅适用于和中定义的邻近式卡

,GB/T22351.1GB/T22351.2。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过的本部分的引用而成为本部分的条款凡是注日期的引用文

GB/T17554。

件其随后所有的修改单不包括勘误的内容或修订版均不适用于本部分然而鼓励根据本部分达成协

,(),,

议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本适用于本部分

。,。

识别卡物理特性

GB/T14916(GB/T14916—2006,ISO/IEC7810:2003,IDT)

电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验

GB/T17626.2(GB/T17626.2—2006,

IEC61000-4-2:2001,IDT)

识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第部分物理特性

GB/T22351.11:(GB/T22351.1—

2008,ISO/IEC15693-1:2000,IDT)

识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第部分空中接口和初始化

GB/T22351.2—20102:

(ISO/IEC15693-2:2000,IDT)

识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第部分防冲突和传输协议

GB/T22351.33:

(GB/T22351.3—2008,ISO/IEC15693-3:2001,IDT)

对度量不确定性表达的指南版

ISBN92-67-10188-9,ISO,1993

3术语和定义缩略语和符号

31术语和定

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题。

评论

0/150

提交评论