GB/T 14849.5-2014工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定X射线荧光光谱法

ICS7712010

H12..

中华人民共和国国家标准

GB/T148495—2014

代替.

GB/T14849.5—2010

工业硅化学分析方法

第5部分杂质元素含量的测定

:

X射线荧光光谱法

Methodsforchemicalanalysisofsiliconmetal—

Part5Determinationofimuritcontents—

:py

X-rayfluorescencemethod

2014-12-05发布2015-05-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T148495—2014

.

前言

工业硅化学分析方法分为个部分

GB/T14849《》9:

第部分铁含量的测定二氮杂菲分光光度法

———1:1,10-;

第部分铝含量的测定铬天青分光光度法

———2:-S;

第部分钙含量的测定火焰原子吸收光谱法偶氮氯膦分光光度法

———3:、Ⅰ;

第部分杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱

———4:;

第部分杂质元素含量的测定射线荧光光谱法

———5:X;

第部分碳含量的测定红外吸收法

———6:;

第部分磷含量的测定钼蓝分光光度法

———7:;

第部分铜含量的测定分光光度法

———8:PADAP;

第部分钛含量的测定二安替比林甲烷分光光度法

———9:。

本部分为的第部分

GB/T148495。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替工业硅化学分析方法第部分元素含量的测定射线荧

GB/T14849.5—2010《5:X

光光谱法

》。

本部分与相比主要有如下变动

GB/T14849.5—2010,:

增加了规范性引用文件

———;

增加了锰镍钛铜磷镁铬钒钴的检测

———、、、、、、、、;

样品应破碎通过筛改为应能通过标准筛

———0.074mm,0.149mm;

将粘结剂硼酸改为淀粉或硼酸

———;

将试料中压片压力保压时间改为压力下保压

———20kN,20s,30t30s;

补充了重复性限及再现性限增加了试验报告

———,。

本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口

(SAC/TC243)。

本部分负责起草单位昆明冶金研究院中国铝业股份有限公司山东分公司云南永昌硅业股份有

:、、

限公司

。

本部分参加起草单位中国铝业股份有限公司郑州研究院通标标准技术服务有限公司包头铝业

:、、

有限公司蓝星硅材料有限公司昆明冶研新材料股份有限公司云南出入境检验检疫局

、、、。

本部分主要起草人刘英波赵德平杨海岸周杰杨毅张爱玲胡智弢张晓平刘汉士刘维理

:、、、、、、、、、、

马启坤唐飞白万里王宏磊常智杰聂恒声金波王云舟

、、、、、、、。

本部分所代替标准的历次版本发布情况为

:

———GB/T14849.5—2010。

Ⅰ

GB/T148495—2014

.

工业硅化学分析方法

第5部分杂质元素含量的测定

:

X射线荧光光谱法

1范围

的本部分规定了工业硅中铁铝钙锰镍钛铜磷镁铬钒钴含量的测定方法

GB/T14849、、、、、、、、、、、。

本部分适用于工业硅中铁铝钙锰镍钛铜磷镁铬钒钴含量的测定测定范围见表

、、、、、、、、、、、,1。

表1

元素质量分数元素质量分数

/%/%

铁铜

0.020~1.5000.001~0.050

铝磷

0.050~1.0000.001~0.050

钙镁

0.010~1.0000.001~0.050

锰铬

0.0050~0.10000.001~0.050

镍钒

0.0010~0.10000.0005~0.0500

钛钴

0.0050~0.10000.0005~0.0500

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

数字修约规则与极限数值的表示和判定

GB/T8170

3方法提要

射线荧光光谱法是通过化学元素二次激发所发射的射线谱线的波长和强度测量来进行定性

XX

和定量分析由光管发生的初级射线束照射在试样上试样内各化学元素被激发出各自的二次特征

。X,

辐射这种二次射线通过准直器到达分光晶体只有满足衍射条件的某个特定波长的辐射在出射晶体

,。

时得到加强而其他波长的辐射被削弱

,。

该方法根据定