标准解读

GB/T 14849.4-2008 是一项中国国家标准，专注于工业硅化学分析领域，特别是针对元素含量的测定。该标准的第四部分详细介绍了使用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）进行分析的具体方法和要求。下面是对该标准内容的展开说明：

标准范围

本部分标准规定了利用电感耦合等离子体原子发射光谱技术来测定工业硅中多种元素（如铝、钙、铁、镁、锰、磷、钾、钠、钛等）含量的方法。适用于评估工业硅原材料及成品中的元素杂质含量，确保材料质量符合相关标准或特定应用需求。

方法原理

电感耦合等离子体原子发射光谱法基于将样品经过适当处理后转化为气溶胶形式，引入高温等离子体中。在高温条件下，样品中的元素被激发至高能态，当它们返回到基态时会发射出具有特征波长的光。通过检测这些特征光谱线的强度，结合标准曲线或内部标样的比较，可以定量分析出各元素的含量。

试验条件与设备

  • 仪器要求：需要配备性能稳定的电感耦合等离子体发射光谱仪，包括采样系统、雾化器、等离子体光源、光谱仪及检测系统。
  • 试剂与材料：标准详细列出了用于制备标准溶液、样品处理及仪器校正的各种试剂和材料规格。
  • 样品处理：规定了样品的称量、溶解、稀释及必要时的消解步骤，确保样品适合于ICP-AES分析。

测定步骤

  1. 样品准备：根据规定的程序准确称取试样，采用适当的溶剂进行溶解和必要处理，以去除干扰物质并达到适宜的浓度范围。
  2. 仪器校准：使用已知浓度的标准溶液系列对仪器进行校准，建立元素浓度与光谱强度之间的关系。
  3. 样品分析：将处理后的样品溶液注入ICP-AES仪器，记录各元素的特征光谱线强度。
  4. 数据处理：依据校准曲线计算样品中各元素的实际含量。

精密度与准确度

标准提供了重复性和再现性限值，以及通过与认可参考方法比对验证的准确度要求，确保测试结果的可靠性和一致性。

试验报告

要求报告中应包含样品信息、试验条件、所用试剂、测量结果及必要的数据处理细节，确保试验过程的可追溯性。

注意事项

虽然未直接要求总结，但标准内隐含地强调了遵循操作规程的重要性，以及在执行分析过程中控制实验条件、减少误差来源的必要性，以保证分析结果的准确性与可靠性。


如需获取更多详尽信息，请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

查看全部

  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 14849.4-2014
  • 2008-06-09 颁布
  • 2008-12-01 实施
©正版授权
GB/T 14849.4-2008工业硅化学分析方法第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量_第1页
GB/T 14849.4-2008工业硅化学分析方法第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量_第2页
GB/T 14849.4-2008工业硅化学分析方法第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量_第3页
GB/T 14849.4-2008工业硅化学分析方法第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量_第4页
免费预览已结束，剩余4页可下载查看

下载本文档

免费下载试读页

文档简介

犐犆犛７７．１２０．１０

犎１７

中华人民共和国国家标准

犌犅／犜１４８４９．４—２００８

工业硅化学分析方法

第４部分：电感耦合等离子体原子

发射光谱法测定元素含量

犕犲狋犺狅犱狊犳狅狉犮犺犲犿犻犮犪犾犪狀犪犾狔狊犻狊狅犳狊犻犾犻犮狅狀犿犲狋犪犾—

犘犪狉狋４：犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳犲犾犲犿犲狀狋狊犮狅狀狋犲狀狋

犐狀犱狌犮狋犻狏犲犾狔犮狅狌狆犾犲犱狆犾犪狊犿犪犪狋狅犿犻犮犲犿犻狊狊犻狅狀狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉犻犮犿犲狋犺狅犱

２００８０６０９发布２００８１２０１实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

书

中华人民共和国

国家标准

工业硅化学分析方法

第４部分：电感耦合等离子体原子

发射光谱法测定元素含量

ＧＢ／Ｔ１４８４９．４—２００８

中国标准出版社出版发行

北京复兴门外三里河北街１６号

邮政编码：１０００４５

网址ｗｗｗ．ｓｐｃ．ｎｅｔ．ｃｎ

电话：６８５２３９４６６８５１７５４８

中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷

各地新华书店经销

开本８８０×１２３０１／１６印张０．５字数９千字

２００８年８月第一版２００８年８月第一次印刷

书号：１５５０６６·１３２５５４

如有印装差错由本社发行中心调换

版权专有侵权必究

举报电话：（０１０）６８５３３５３３

书

犌犅／犜１４８４９．４—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ１４８４９《工业硅化学分析方法》分为四部分：

———第１部分：铁含量的测定１，１０二氮杂菲分光光度法；

———第２部分：铝含量的测定铬天青Ｓ分光光度法；

———第３部分：钙含量的测定火焰原子吸收光谱法、偶氮氯膦Ⅰ分光光度法；

———第４部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量。

本部分为第４部分。

本部分附录Ａ为资料性附录。

本部分由中国有色金属工业协会提出。

本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。

本部分负责起草单位：中国铝业股份有限公司郑州研究院、中国有色金属工业标准计量质量研

究所。

本部分参加起草单位：东北轻合金有限责任公司、包头铝业股份有限公司、西南铝业（集团）有限责

任公司、山西晋能集团大同能源发展有限公司。

本部分主要起草人：李跃平、石磊、张树朝、张洁、吴豫强、周兵、姜伟、金建华、刘双庆、牟利娟、

张艾芬。

Ⅰ

书

犌犅／犜１４８４９．４—２００８

工业硅化学分析方法

第４部分：电感耦合等离子体原子

发射光谱法测定元素含量

１范围

本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍含量的测定方法。

本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍含量的测定，测定范围见表１。

表１

元素质量分数／％元素质量分数／％

铁０．０２０～１．００镍０．００５０～０．５０

铝０．０２０～０．５０锰０．００５０～０．５０

钙０．０２０～１．００

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。

最新文档

评论

0/150

提交评论