标准解读

《GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》这一标准文件，详细规定了对半导体集成电路中模拟开关性能进行评估和测试的具体方法与基本理论。该标准旨在为行业内提供统一的测试标准和程序，确保模拟开关产品的质量和可靠性，便于生产商、用户及检测机构之间有共同的语言和评判基准。

标准内容概览：

  1. 范围：明确了本标准适用的对象，即各种类型的半导体集成电路模拟开关，包括单刀单掷（SPST）、单刀双掷（SPDT）等多种开关配置。

  2. 引用标准：列出了执行本标准时需要参考的其他相关国家标准或国际标准，这些标准通常涉及基本术语定义、测试环境条件、电气参数测量方法等。

  3. 术语和定义：对模拟开关及其测试中涉及的关键术语给出了明确的定义，确保所有使用者对专业词汇有统一的理解。

  4. 测试环境：描述了进行模拟开关测试时所需的环境条件，如温度、湿度、电源稳定性等，以确保测试结果的准确性和可重复性。

  5. 测试项目与方法：

    • 直流特性测试：包括导通电阻、截止隔离度、漏电流等参数的测量方法。
    • 交流特性测试：涵盖开关的切换速度、带宽、信号完整性等指标的评估。
    • 可靠性测试：如使用寿命测试、温度循环测试等，以验证模拟开关在长期使用或极端条件下的性能稳定性和耐用性。

  6. 测试设备与仪器：介绍了进行上述测试所需的各种仪器仪表及其校准要求，确保测试设备的准确性和可靠性。

  7. 测试步骤与程序：详细说明了每个测试项目的具体操作流程，包括测试前的准备工作、测试过程中的注意事项、数据记录与分析方法等。

  8. 数据处理与报告：规定了测试数据的处理规则、异常数据的处理方法以及测试报告的格式和内容要求，以便于测试结果的标准化呈现和交流。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 14028-2018
  • 1992-12-18 颁布
  • 1993-08-01 实施
©正版授权
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文档简介

UDC621.382L55中华人民共和国国家标准GB/T14028一92半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理Generalprinciplesofmeasuringmethodsofanalogueswitchesforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18发布1993-08-01实施国家技术监督局发布

中华人民共和国国家标准半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理GB/T14028-92Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofanalogueswitchesforsemiconductorintegratedcircuits本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下简称器件或模拟开关)电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》总的要求1.1若无特殊说明,测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。1.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。1.3测试期间，施于被测器件的电参量的精度应符合器件详细规范的规定、1.4被测器件与测试杀统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。1.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。1.6若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时,这些测试的时间间隔应尽可能短。参数测试2.1模拟电压工作范围VA2.1.1目的在导通电流为额定值时,测试模拟开关传送的模拟电压范围。2.1.2测试原理图V入测试原

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