GB/T 14028-2018半导体集成电路模拟开关测试方法

ICS31200

L56.

中华人民共和国国家标准

GB/T14028—2018

代替

GB/T14028—1992

半导体集成电路

模拟开关测试方法

Semiconductorintegratedcircuits—

Measuringmethodofanalogueswitch

2018-03-15发布2018-08-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T14028—2018

目次

前言

…………………………Ⅰ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

总则

4………………………2

测试环境要求

4.1………………………2

测试注意事项

4.2………………………3

电参数符号

4.3…………………………3

参数测试

5…………………4

模拟电压工作范围V

5.1(A)……………4

导通电阻R

5.2(on)………………………5

导通电阻路差R

5.3(Δon)………………6

截止态漏极漏电流I

5.4[D(off)]…………6

截止态源极漏电流I

5.5[S(off)]…………7

导通态漏电流I

5.6[DS(on)]………………8

开启时间t

5.7(on)………………………9

关断时间t

5.8(off)………………………11

通道转换时间t

5.9(T)…………………12

最高控制频率f

5.10(CM)………………13

截止态隔离度K

5.11(OIRR)……………14

截止态馈通频率f

5.12(F)……………15

导通态串扰衰减α

5.13[x(on)]…………16

输入串扰衰减α

5.14[x(IN)]……………17

控制信号串扰V

5.15(CA)………………18

导通电阻路差率R

5.16(ON_Match)………………………18

导通电阻温度漂移率R

5.17(ON_Drift)…………………19

通道转换无效输出时间t

5.18(open)……………………19

电荷注入量Q

5.19(INJ)………………21

GB/T14028—2018

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准代替半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理与

GB/T14028—1992《》,GB/T14028—

相比主要技术变化如下

1992:

增加了导通电阻路差率导通电阻温度漂移率通道转换无效输出时间电荷注入量项测试

———、、、4

方法见

(5.16、5.17、5.18、5.19);

修改了第章中对测试规定的说明

———4;

修改了全文图表的表述形式

———、;

修改了通道转换时间测试方法中转换对象i为j

———“”“+1”“”;

增加了对截止态漏极漏电流测试方法中未定义的多路模拟开关测试说明

———“”;

修改了通道转换时间测试方法测试方法中存在图文歧义的含义

———“”10%。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本标准由全国半导体器件标准化技术委员会归口

(SAC/TC78)。

本标准起草单位中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所圣邦微电子北京股份有限

:、()

公司西北工业大学

、。

本标准主要起草人张冰李雷陈志培闫辉朱华黄德东

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T14028—2018

半导体集成电路

模拟开关测试方法

1范围

本标准规定了双极结型场效应半导体集成电路模拟开关以下称为器件参数测试方法

、MOS、()。

本标准适用于半导体集成电路模拟开关也适用于多路转换器参数的测试

,。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

半导体器件集成电路第部分模拟集成电路

GB/T17940—20003:

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

。

31

.

模拟电压工作范围analogswitchrange

在导通电流为额定值时模拟开关传送的电压范围

。

32

.

导通电阻onresistance

模拟开关导通时开关两端间的电阻

,。

33

.

导通电阻路差onresistancematchbetweenchannels

对于含多个模拟开关的器件或模拟多路转换器各路开关导通电阻间的最大差值

,