STS-8200测试程序开发及DUT设计规则大全

STS-8200测试程序开发及DUT设计规则

王华

1整理课件目录1.STS8200的硬件结构2.STS8200的开关机3.STS8200资源简介 3.1PVI硬件简介 3.2DVI硬件简介 3.3OVI硬件简介 3.4QTMU硬件简介 3.5ACSM硬件简介 3.6DIO硬件简介4.STS8200软件简介5.STS8200上开发新程序

5.1DUT制作 5.2程序编写6.STS8200校验

6.1硬件连接 6.2万用表的设置2整理课件1.STS8200的硬件结构通风口主机机柜测试头主机电脑电缆线3整理课件1.STS8200的硬件结构STS8200内部分上下两层共26个slot,资源板卡可以插在任意位置。4整理课件2.STS8200的开关机

开机:插上电源按下绿色的按钮,绿灯亮启动主机电脑关机：关闭主机电脑按下红色的按钮,绿灯熄灭拔出电源注意：某些主机箱上电源灯可能有损坏，开机的状态下绿灯不亮，最好通过检查机柜顶部的出风口有无风，来确认机柜电源有无打开。

5整理课件3.STS8200资源简介板卡资源通道数/板卡性能简介PVI2最大电压40V，最大电流10A（1A以上为脉冲形式）DVI2最大电压40V，最大电流400MAOVI8最大电压20V，最大电流40MAQTMU4/2模块数量可选；每个模块有A、B两个通道ACSM44个ACS，为波形发生器；4对ACM差分测量。使用的时候硬件分配为4组ACSM，即ACS[n]与ACM[n]为一组（n=0~3）DIO88通道数字板，可产生pattern和进行高低电平比较。STS8200常用板卡简介如下：其中PVI、DVI、OVI为直流源，工作模式有FVMI/FVMV/FIMV/FIMI4中可选QTMU用于测试时间、频率、占空比等ACSM用于产生和测试交流信号6整理课件3.1PVI硬件简介

模式量程精度FV±50V，±20V，±10V，±5V，±2V，±1V±0.05%FI±1A，±100MA，±10MA，±1MA，±100UA±0.1%FI±10A±1%每块PVI提供双路V/I源，都是从CH0-1（STA）连接的一根电缆输出CH0-1（STB）是备用接口，不用连接7整理课件3.2DVI硬件简介每块DVI提供双路V/I源，都是从CH0-1（STA）连接的一根电缆输出CH0-1（STB）是备用接口，不用连接模式量程精度FV±50V，±20V，±10V，±5V，±2V，±1V±0.05%FI±400MA，±40MA，±4MA，±400UA，±40UA，±4UA±0.1%8整理课件3.3OVI硬件简介模式量程精度FV±20V，±10V，±5V，±2V±0.05%FI±40MA，±4MA，±400UA，±40UA，±4UA±0.1%每块OVI提供八路V/I源，分别是从CH0-3（STA）和CH4-7（STA）引出。使用的时候，CH0-3必须分配到统一工位上，CH4-7也是一样。STB是备用接口，不用连接9整理课件3.4QTMU硬件简介输入电压范围±25V，±5V时间测量范围10nS~40S频率测量范围0.1Hz~10MHz可选滤波器ALLPASS/100KHz/1MHz/10MHz输入电压范围±25V，±5V输入极性POS/NEG模块化电路，数量可选每个模块有A、B两个通道，可以直接测试时间差、频率、占空比。10整理课件3.5ACSM硬件简介板卡可以分为4路ACSM通道，每路ACSM通道包含一对ACM和一个ACS。ACM用于差分测量ACS用于产生交流信号11整理课件3.5ACSM硬件简介12整理课件3.6DIO硬件简介8通道数字板卡13整理课件4.STS8200软件简介开机后，双击桌面图标启动测试软件，在弹窗中输入用户名和密码，进入control界面。UserManage:用户管理。用于增加或者修改用户名和密码，以及各用户的权限。Check：点击后进入测试机配置界面，并可对板卡进行自检。Calibration:校验板卡。需要外接校准盒与万用表Debug:启动软件示波器。在其中可以查看各V/Isource的采样结果和CBIT等的状态StationA:进入测试界面StationB:暂无功能ChangeUser：用户切换DataAnalyse:用于转换数据格式以及简单数据统计Tips:如果输入密码后弹出左侧窗口，请检查机柜电源有无开启；或者机柜与电脑之间的通讯线有无松动。14整理课件4.STS8200软件简介如果开机正常，进入control界面，我们可以先查看测试机的配置情况，即进入CHECK界面，按左下角的Start对勾选的板卡进行自检，自检通过显示OK，不通过显示fail.并可以OpenSelfCheckfile查看自检的数据。15整理课件4.STS8200软件简介在Control界面按下StationA进入测试软件界面：加载测试程序；卸载测试程序输入新的批号后，测试数据会清零；输入的内容会显示在测试数据内。单次测试；自动测试；停止自动测试。数据显示模式（当前数据/多行滚动显示数据/各工位的summary情况）独立窗口显示测试summary情况数据转换格式/数据分析软件编辑程序，后续建立新程序时详细介绍16整理课件4.STS8200软件简介选项界面。如下所示：主要有TestControl和Save两个界面需要注意。在TestControl界面可以控制stoponfail以及选择工位的开启和关闭。以左侧的截图来说，当前是双工位程序，可以选择开启/关闭任意工位。勾选状态为开启。17整理课件4.STS8200软件简介Save界面为数据保存界面，注意两点：1、数据名称

按我司要求数据名应该为：

测试批号+FT1/RT1/WT12、数据保存路径：C：\STS8200\Datalog18整理课件5.编写新程序在编写新的测试程序之前，我们需要根据测试规范的要求确定测试电路和用到的资源。以开短路程序为例，下面这个产品需要用到DVI0、DVI1两个源。右侧所示为STS8200通用母板的接口定义，在制作DUT的时候按照实际情况对应连接。19整理课件5.编写新程序打开测试软件，点击进入测试程序编辑界面。依次选择filenew/newprojectfromTemplate

一般我们会选择后者，以别的程序为模板，新建立的程序将会将源程序的内容全部复制过来。现在我们选择New,在右侧的空白区域建立测试函数和测试项目点击菜单栏的code，在弹出的窗口输入新程序的名称：openshort20整理课件5.编写新程序点击OK后，新程序的框架会自动生成，如下：#include“stdafx.h“ //加入需要用的头文件

//此处可以定义用到的各变量DUT_APIvoidHardWareCfg() //多工位程序的资源分配，若为单工位程序可以不填写{/*StsSetModuleToSite(MD_DVI400,SITE_1,0,1,-1);StsSetModuleToSite(MD_DVI400,SITE_2,2,3,-1);*/}DUT_APIvoidInitBeforeTestFlow() //测试前初始化，此处可以加入一些源的复位{}DUT_APIvoidInitAfterTestFlow() //测试后初始化{ }DUT_APIvoidSetupFailSite(constunsignedchar*byFailSite) //测试失效后的设置{ }DUT_APIintopenshort_test(shortfuncindex,LPCTSTRfunclabel)//测试函数主体{//{{AFX_STS_PARAM_PROTOTYPESCParam*PIN1=StsGetParam(funcindex,"PIN1");CParam*PIN2=StsGetParam(funcindex,"PIN2");//}}AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES//TODO:Addyourfunctioncodeherereturn0;}21整理课件5.编写新程序根据实际情况编写程序后如下：#include"stdafx.h"DVI400pin4(0); //根据之前原理图，pin4连接到DVI0，pin3连接到DVI1DVI400pin3(1);inti; //定义变量和常量intNum_Site=2;doubleadresult[16];DUT_APIvoidHardWareCfg(){}DUT_APIvoidInitBeforeTestFlow() //测试前将资源初始化{pin3.Init();pin4.Init();}DUT_APIvoidInitAfterTestFlow(){ }DUT_APIvoidSetupFailSite(constunsignedchar*byFailSite){pin3.Init();pin4.Init();}22整理课件5.编写新程序DUT_APIintopenshort_test(shortfuncindex,LPCTSTRfunclabel){//{{AFX_STS_PARAM_PROTOTYPESCParam*PIN1=StsGetParam(funcindex,"PIN1");CParam*PIN2=StsGetParam(funcindex,"PIN2");//}}AFX_STS_PARAM_PROTOTYPES pin3.Set(FV,0,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON); //将所有管脚置零，可以避免管脚之间互相短路的情况 pin4.Set(FV,0,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON); //DVI0加0V电压，电压量程2V，电流量程4MA，板卡输出继电器闭合 delay_ms(2); pin3.Set(FI,-100e-6f,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON);//DVI1加-100uA电流 delay_ms(2); pin3.MeasureVI(MV,10,20); //DVI1测量电压（MV），采样10个点

取平均值，每个采样点时间间隔20uS for(i=0;i<Num_Site;i++) //多个工位依次输出 { adresult[i]=pin3.GetMeasResult(i);//将平均值赋值给变量 PIN1->SetTestResult(i,0,adresult[i]);//输出测试结果 } pin3.Set(FV,0,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON);//DVI1置零 pin4.Set(FI,-100e-6f,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON); delay_ms(2); pin4.MeasureVI(MV,10,20); for(i=0;i<Num_Site;i++) { adresult[i]=pin4.GetMeasResult(i); /*编写完成后F7编译程序，生产.dll文件，程序即可测试*/ PIN2->SetTestResult(i,0,adresult[i]); } pin4.Set(FV,0,DVI400_2V,DVI400_4MA,RELAY_ON); pin3.Init(); pin4.Init();//TODO:Addyourfunctioncodeherereturn0;}23整理课件5.编写新程序程序编好后还要给程序添加分BIN，才能更好地将失效产品归类。方法如下：在Edit界面，点击，在下面的窗口中，选择Addallfailbin,修改失效参数的硬件BIN。如有需要良品分档或者在线抽测，也是在此界面设置这样测试程序就大体编写完成。后续即是要取产品进行调试，根据情况调整。24整理课件5.编写新程序在调试的过程中，经常需要debug使产品处于固定的状态，去判断异常出现的原因，具体方法如下：在测试程序界面，按下F5，在弹窗中选择STS8200目录下的testui,点击OK25整理课件5.编写新程序加载程序，在程序代码中需要的状态出设置断点（光标停在某一行，按下F9），再去测试产品的时候，代码执行到断点处就会停下。这个时候就可以用万用表或者示波器去检查电路，排查原因。26整理课件6.主机校准6.1校准盒连接将校准盒扣在测试盒头上，4根电缆线对应标识一一连接。27整理课件6.STS8200校验6