DR性能检测方法

DR性能检测方法性能检测所需设备与用具所需设备与用具包括：多功能X光机质量检测仪；高对比度分辨率测试卡；低对比度分辨率模体；准直度检测板；20mm铝板；1mm铜板；1.5mm铜板；铅板。性能检测方法X射线管电压指示的偏离确保设备完成X射线管预热。设置检测几何条件：SID选择100cm，设置光野范围为10cm×10cm，中心线束与探测器垂直。检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器。设置临床常用管电流时间积，分别在大小焦点条件下，对60kV、80kV、100kV、120kV各档或最接近档进行测量，每档测量3次。根据式(A.1)计算管电压测量的平均值与管电压预设值的相对偏差。 Ev=Vi式中：Ev——管电压测量相对偏差，Vi——管电压测量的平均值，单位为千伏（kVV0——管电压预设值，单位为千伏（kV辐射输出量重复性确保设备完成X射线管预热。几何条件与“X射管电压指示的偏离”条件保持一致。将检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器；设置管电压为80kV或最接近档，常用的曝光管电流时间积，无附加滤过。以相同条件曝光测量5次并记录，其中空气比释动能值在检测仪上读取，曝光管电流时间积在设备上读取，两者相除得到每次输出量的测量值。根据式(A.2)计算测量结果。 CV=1K(K式中：CV——变异系数，%；Ki——每次输出量的测量值，单位为毫戈瑞每毫安秒（mGy/mAsK——n次输出量测量值的平均值，单位为毫戈瑞每毫安秒（mGy/mAs）；n——输出量的测量总次数。输出量线性确保设备完成X射线管预热。几何条件与“X射管电压指示的偏离”条件保持一致。将检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器。设置管电压为80kV或最接近档，常用的曝光管电流时间积，无附加滤过，进行5次曝光，测量并记录每次曝光空气比释动能，计算平均值。以上一步曝光管电流为中间值，依次增加两档管电流，同时减少曝光时间，使得管电流时间积与上一步所选取的相同或相似；同样的，依次减少两档管电流，同时增加曝光时间，进行曝光并记录每次曝光空气比释动能（共计进行5档曝光），计算相同曝光条件下的平均空气比释动能。根据式(A.3)计算各相邻两档间的线性。 L12=K1式中：L12——相邻两档输出量线性度，%K1——1档空气比释动能平均值，单位为毫戈瑞（mGyI1——1档曝光管电流，单位为毫安（mAt1——1档曝光时间，单位为秒（K2——与1档相邻档的空气比释动能平均值，单位为毫戈瑞（mGyI2——与1档相邻档的曝光管电流，单位为毫安（mA

t2——与1档相邻档的曝光时间，单位为秒（s）有用线束的半值层确保设备完成X射线管预热。几何条件与“管电压指示的偏离”条件保持一致。将检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器。设置管电压为80kV或最接近档，常用的曝光管电流时间积，无附加滤过，进行曝光，在检测仪上直接读取半值层。曝光时间的偏离确保设备完成X射线管预热。几何条件与“管电压指示的偏离”条件保持一致。将检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器。设置管电压为80kV或最接近档，常用的曝光管电流档，无附加滤过，分别选择不同的曝光时间进行检测，曝光时间应覆盖＜100ms档和≥100ms档区间，重点检测临床常用时间档，曝光时间从检测仪直接读出。每档测量3次取平均值。根据式（A.4）计算曝光时间指示的偏离。 ET=Ti式中：ET——曝光时间偏离，%Ti——曝光时间测量平均值，单位为毫秒（T0——曝光时间设置值，单位为毫秒（AEC重复性确保设备完成X射线管预热。移除滤线栅，调节SID为100cm（床）/180cm（胸片架），设置照射野覆盖需要检测的电离室（或全部电离室）。将20mm铝板安装在束光器出口。选定需要测试的电离室（或全部电离室），在自动条件下曝光。若设备没有全自动曝光模式，设置管电压为80kV或最接近档，管电流时间积为默认值（或选择200mA管电流值），共进行5次AEC曝光。根据式（A.5）计算管电流时间积读数的重复性。 CV=1D式中：CV——变异系数，%；Di——每次曝光管电流时间积读数值，单位为毫安秒（mAQUOTEKK——n次曝光管电流时间积读数平均值，单位为毫安秒（mAs）；n——检测总次数。AEC响应确保设备完成X射线管预热。移除滤线栅，调节SID为100cm（床）/180cm（胸片架），设置照射野覆盖需要检测的电离室（或全部电离室）。将20mm铝板安装在束光器出口。检测仪的探头尽量接近探测器表面，探头不要遮挡电离室，保证电离室只对穿过模体的射线响应。设置管电压为80kV或最接近档，选定要测试的电离室（或全部电离室）。进行AEC曝光，曝光5次，记录对应的空气比释动能。在束光器出口加装1.5mm铜板，重复上一步骤。根据式（A.6）计算两次测量结果与平均值的相对偏差。 Ek=式中：EkK1——滤过条件为20mm铝板时空气比释动能平均值，单位为微戈瑞（μGy）K2——滤过条件为20mm铝板和1.5mm铜板时空气比释动能平均值，单位为微戈瑞（μGy）AEC电离室之间一致性确保设备完成X射线管预热。移除滤线栅，设置SID100cm（床）/180cm（胸片架）。将照射野完全覆盖住整个探测器，用1.0mm铜滤过板（或20mm铝板）安装在束光器出口。设置管电压70kV，选定其中1个电离室，进行AEC曝光。记录曝光后的管电流时间积，或在获取的预处理图像中央选取感兴趣区域（regionofinterest，ROI）为10cm×10cm的区域，测量影像平均像素值。再分别选取其它任一电离室，重复上一步骤。根据式（A.7）计算测量结果。 Ed=式中：EdDi——第i个电离室AEC曝光的管电流时间积，单位为毫安秒（mAs）D——每个电离室AEC曝光的管电流时间积的平均值，单位为毫安秒（mAs）。探测器剂量指示（DDI）确保设备完成X射线管预热。移除滤线栅，设置SID100cm（床）/180cm（胸片架）。将照射野完全覆盖住整个探测器，用1.0mm铜滤过板（或20mm铝板）安装在束光器出口。把检测仪探头放置在胸片架/床表面位于探测器中心区域，选择70kV手动模式进行曝光，选择合适的管电流时间积，使得胸片架/床面入射空气比释动能约为10μGy。去除检测仪探头，选择上一步确定的条件进行曝光，在上述相同的条件下重复曝光三次，如果该设备厂家提供了DDI与入射比释动能换算关系的计算公式，则通过公式验证。如果未提供计算公式，在获取的每一幅预处理图像中央选取ROI约为10cm×10cm的区域，用系统自带像素测量工具测量影像平均像素值。如果系统不具备测量工具，也可将图像导出通过第三方软件测量平均像素值。信号传递特性（STP）确保设备完成X射线管预热。移除滤线栅，设置SID100cm（床）/180cm（胸片架）。将照射野完全覆盖住整个探测器，用1.0mm铜滤过板（或20mm铝板）安装在束光器出口。把检测仪探头放置在胸片架/床表面位于探测器中心区域。选择70kV手动模式进行曝光，设置管电流时间积，使得胸片架/床面入射空气比释动能分别为1μGy、5μGy、10μGy、20μGy和30μGy。去除检测仪，以上一步确定的条件分别进行曝光，获取影像。在每一幅影像中央选取ROI为10cm×10cm面积，获取平均像素值。以平均像素值为纵坐标，入射空气比释动能为横坐标作图，进行曲线拟合，计算相关系数的平方。探测器响应均匀性选取“探测器剂量指示（DDI）”参数检测的预处理图像中任选一幅，分别从影像的中央区域和四象限中央区选取5个ROI为4cm×4cm区域，记录每个区域的平均像素值。根据“信号传递特性（STP）”计算的拟合曲线，以像素值为变量，计算对应的拟合剂量值。根据式(A.8)计算测量结果。 CV=1K15式中：CV——响应均匀性变异系数，%；K——5个ROI区域的平均拟合剂量值，单位为微戈瑞（μGy）；Ki——第i个ROI区域的拟合剂量值，单位为微戈瑞（μGy）高对比度分辨力确保设备完成X射线管预热。移除滤线栅，设置SID100cm（床）/180cm（胸片架）。将高对比度分辨率测试卡置于探测器表面中心，并呈45°放置。选择合适的曝光条件进行曝光。调整窗宽窗位，使分辨力最优化，从显示器上读出最大线对数。低对比度分辨力确保设备完成X射线管预热。移除滤线栅，根据选用低对比度分辨力模体使用说明书，选择管电压，适当的滤过和SID（通常选为100cm）。把检测仪探头放置在胸片架/床表面位于探测器中心区域，选择合适的管电流时间积，使得胸片架/床面入射空气比释动能约为5μGy。使用上一步确认的曝光条件进行曝光（或使用自动曝光模式）。根据