阵列感应资料处理培训 课件

MIT5530阵列感应测井仪培训技术中心2009.5.24MIT5530阵列感应测井仪培训技术中心1一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制阵列感应资料处理培训课件212345阵列感应（MIT5530）仪器67①－电源③－带通滤波④－前置放大⑤－线圈系⑥－压力平衡⑦－发射驱动②－数据采集处理与控制阵列感应（MIT5530）配套100KBPS遥测处理软件刻度装置1.1MIT5530阵列感应仪器总体组成12345阵列感应（MIT5530）仪器67①－电源③－带通3MIT5530线圈系由八个双侧布置的线圈子阵列组成，共用一个发射线圈；对每一子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈组成，两个接收线圈由主接收和屏蔽线圈组成。8个子阵列共测量28个原始测量信号，28个信号经过井眼校正、真分辨率聚焦和分辨率匹配后得到5种探测深度、3种组分辨率共15条曲线。MIT5530阵列感应仪器线圈系结构1.2MIT5530阵列感应线圈系结构MIT5530阵列感应仪器线圈系结构1.2MIT5530阵4MIT5530子阵列：每一子MIT5530子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈组成，两个接收线圈分别为主接收线圈和屏蔽线圈。1.2MIT5530阵列感应线圈系结构MIT5530子阵列：1.2MIT5530阵列感应线圈系结5线圈名称25.256KHz（L）52.512KHz（M）105.024KHz（H）R1（6）√R2（9）√R3（12）√√R4（15）√√R5（21）√√R6（27）√√R7（39）√√R8（72）√√MIT5530原始测量信号1.3MIT5530阵列感应测量信号线圈名称25.256KHz52.512KHz105.024K6

在感应测井中，仪器的响应特性用几何因子来描述，包括一维特性和二维特性。一维特性用纵向微分几何因子、径向微分几何因子、径向积分几何因子描述；二维特性用二维几何因子描述。传统双感应测井中主要使用一维特性，阵列感应测井是二维信号合成处理。1.3MIT阵列感应响应特性在感应测井中，仪器的响应特性用几何因子来7MIT一维径向微分响应特性

径向微分响应函数（径向微分几何因子），随子阵列线圈间距增加，最大峰值沿径向方向移动，短阵列具有浅的探测深度，井眼影响大；长阵列具有深的探测深度，井眼影响小。MIT一维径向微分响应特性8MIT一维径向积分响应特性

径向积分响应函数（径向积分几何因子），不同子阵列具有不同的探测深度，具有不同的井眼影响。MIT一维径向积分响应特性9一维纵向微分响应特性

纵向微分响应函数（纵向几何因子），8个纵向几何因子最大峰值关于发射点左右分布，左边是5个，右边是3个。短阵列具有较高的分辨率信息，随着线圈距的增加纵向高分辨率逐渐降低。一维纵向微分响应特性10二维响应特性二维响应特性反映空间各点对测量信号的贡献大小井眼附近有正负峰值，不同程度受到井眼影响；不同径向深度，响应函数具有不同的纵向分辨率，随着径向深度增加，纵向分辨率下降，即高分辨率信息来自井眼附近；不同的纵向位置，响应函数变化很大，在主接收线圈位置，函数具有最大的正值，在屏蔽线圈位置，函数具有最大的负值；短线圈间距子阵列具有高的分辨率，长线圈间距子阵列具有低的分辨率。二维响应特性11MIT子线圈几何因子（6、9、12、15）MIT子线圈几何因子（6、9、12、15）12MIT子线圈几何因子（21、27、39、72）MIT子线圈几何因子（21、27、39、72）131.4MIT5530阵列感应技术指标指标名称指标数据最高温度：155℃ 最大压力：100MPa数据传输：100kbps仪器外径：95mm（电子仪：90mm）仪器长度：9.8m测井速度：1000m/h井眼范围：150～250mm测量范围：0.1～1000m测量精度：±0.75ms/m或<2%纵向分辨率：30cm、60cm、120cm探测深度：25cm、50cm、75cm、150cm、225cm1.4MIT5530阵列感应技术指标指标名称指标数据最高141.5MIT5530阵列感应仪器适应范围MIT55305530短阵列测量误差较大MIT55305530最佳工作范围：Rt在0.2-100Ω·m，Rt/Rm应在白色区域内。MIT5530阵列感应仪器适用最佳井眼条件：钻头直径在6”（150cm）-12”(300cm)，当井眼尺寸大于12”时，合成的误差可能较大。MIT55305530所有阵列测量误差较大1.5MIT5530阵列感应仪器适应范围MIT5530515阵列感应与双感应相比,具有以下优点：测量信息多纵向分辨率高（阵列感应能够提供0.3m,0.6m和1.2m3种纵向分辨率曲线；常规双感应：中感应:0.8m深感应:1.2m）分辨率统一径向探测深度大（中感应:0.75m深感应:1.6m）测量精度高，能够详细描述侵入剖面准确确定地层真电阻率1.6MIT5530阵列感应仪器优点阵列感应与双感应相比,具有以下优点：1.6MIT55316一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制阵列感应资料处理培训课件17监控曲线QC判定测井曲线合理性判定

QC曲线判定：MIT5530仪器质量监控曲线QC数值变化范围应小于10％。且QC曲线无突变。否则需重新加电测井。原始曲线合理性判定：MIT5530原始曲线在典型地层情况下应符合理论响应。其典型地层主要有：均质地层响应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低侵厚层情况下理论响应。在判断原始曲线关系时，应选择典型厚层进行曲线关系分析，如果与理论图版相符，即仪器工作状态正常。监控曲线QC判定QC曲线判定：MIT5530仪器质量监控曲线18对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；对相同的地层电导率，线圈距越长受趋肤效应影响越大；mspfLMIT5530均质地层响应对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；m19阵列感应资料处理培训课件20阵列感应资料处理培训课件21阵列感应资料处理培训课件22一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制阵列感应资料处理培训课件23MIT5530常见问题：原始曲线缺失字符未安装间隔器仪器预热不足刻度文件加载错误测井遇卡硬件故障MIT5530常见问题：24名称说明名称说明A6HR6号线圈测量高频实部信号A6HX6号线圈测量高频虚部信号A9HR9号线圈测量高频实部信号A9HX9号线圈测量高频虚部信号A12HR12号线圈测量高频实部信号A12HX12号线圈测量高频虚部信号A12MR12号线圈测量中频实部信号A12MX12号线圈测量中频虚部信号A15HR15号线圈测量高频实部信号A15HX15号线圈测量高频虚部信号A15MR15号线圈测量中频实部信号A15MX15号线圈测量中频虚部信号A21MR21号线圈测量中频实部信号A21MX21号线圈测量中频虚部信号A21LR21号线圈测量低频实部信号A21LX21号线圈测量低频虚部信号A27MR27号线圈测量中频实部信号A27MX27号线圈测量中频虚部信号A27LR27号线圈测量低频实部信号A27LX27号线圈测量低频虚部信号A39MR39号线圈测量中频实部信号A39MX39号线圈测量中频虚部信号A39LR39号线圈测量低频实部信号A39LX39号线圈测量低频虚部信号A72MR72号线圈测量中频实部信号A72MX72号线圈测量中频虚部信号A72LR72号线圈测量低频实部信号A72LX72号线圈测量低频虚部信号3.1MIT5530阵列感应曲线命名规范名称说明名称说明A6HR6号线圈测量高频实部信号A6HX6号253.2MIT5530阵列感应不同扶正器方案测试3.2MIT5530阵列感应不同扶正器方案测试263.2MIT5530阵列感应不同扶正器对短阵列影响3.2MIT5530阵列感应不同扶正器对短阵列影响27阵列感应资料处理培训课件28一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制阵列感应资料处理培训课件29

MIT5530测井影响因素:温度影响井眼影响趋肤效应围岩影响MIT5530测井影响因素:30原因:温度的变化会导致三线圈系的距离发生微变，产生直耦（无用信号）变化。解决措施：获取线圈系温度变化图版，进行温度校正。4.1温度影响原因:温度的变化会导致三线圈系的距离发生微变，产生直耦（无314.2趋肤效应影响对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；对相同的地层电导率，线圈距越长受趋肤效应影响越大；mspfL4.2趋肤效应影响对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高32井眼信号是下面因素的函数:泥浆电导率Rm井眼大小和形状井中偏心距地层电导率解决措施：井眼校正偏心度dh—井眼直径RFMudRM4.3井眼影响井眼信号是下面因素的函数:偏心度dh—井眼直径RFMudRM33MIT5530测量信号会收到上下围岩的影响。解决措施：真分辨率聚焦及分辨率匹配4.4围岩影响深度=0.25m,分辨率=0.3m深度=0.50m,分辨率=0.6m深度=0.75m,分辨率=1.2m深度=1.5m,分辨率=1.5m深度=2.25,分辨率=1.8mMIT5530测量信号会收到上下围岩的影响。4.4围岩影响34MIT5530资料处理流程MIT5530资料处理流程35预处理：对阵列感应原始数据进行数据单位和采样间隔转换等操作，保证输入数据统一规范。4.5MIT5530预处理4.5MIT5530预处理36井眼校正阵列感应成像测井的测量会不同程度的受到环境井眼的影响，而且近接收子阵列与远接收子阵列受井眼影响程度不同，在描述径向地层电阻率时，近接收子阵列受到的影响较大，所以在合成处理之前，应当对各接收子阵列的测量值进行适当校正，消除井眼环境的影响，反映出地层的真实情况.校正方法：利用正演方法，模拟计算在不同泥浆电阻率，不同井眼半径和地层电阻率情况下的地层响应库以及对应的无井眼情况的地层响应库。将实际测量地层信号与计算的地层响应库进行匹配，获得相应的无井眼情况地层响应4.6MIT5530井眼校正井眼校正4.6MIT5530井眼校正37合成处理阵列感应测井仪器的测井信号经过井眼校正得到八组线圈系的28条虚实信号，合成处理的目的就是将这些信号合成为测井分析家所需的信号。MIT5530的阵列感应合成处理分两步来完成信号合成工作。首先是满足物理条件的真分辨率合成，不同探测深度合成出相应分辨率的曲线。其次是分辨率匹配，实现不同探测深度具有同样的分辨率的测井曲线。测量信号的探测深度与分辨率之间是矛盾的，探测深度深必定分辨率低，探测深度浅则分辨率高。4.7MIT5530合成处理合成处理4.7MIT5530合成处理38真分辨率聚焦按照理论上原始信号的贡献大小，计算合适的合成滤波库。用合成滤波库来约束、提取实测信号，进行加权组合，形成5条不同探测深度不同分辨率曲线输入数据：A6HR_EC、A9HR_EC…输出数据：T10、T20、T30、T60、T90真分辨率聚焦39分辨率匹配在原始信号和真分辨率处理结果的基础上，针对不同纵向分辨率需求，从对应的测量信号中提取分辨率信息，对真分辨率曲线进行分辨率信息补偿和消除，得到需要的纵向分辨率曲线输入数据：T10、T20、T30、T60、T90输出数据：一英尺匹配AO10、AO20、AO30、AO60、AO90二英尺匹配AT10、AT20、AT30、AT60、AT90四英尺匹配AF10、AF20、AF30、AF60、AF90分辨率匹配40反演利用阵列感应提供的丰富数据，用二维几何因子理论方法和数值模式匹配法对阵列感应测井数据进行了反演计算，迭代求出地层真电阻率等参数输入数据：真分辨率计算结果或者分辨率匹配结果输出数据：ZRT、ZRXO、ZID1、ZID2、ZID34.8MIT5530反演反演4.8MIT5530反演41一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制阵列感应资料处理培训课件42处理环节质量控制处理环节质量控制主要是判定处理过程中参数选取是否合适，井段的选择应以井眼相对规则的大段泥岩段作为判断点，结合渗透层曲线进行综合判断；处理效果可以通过井眼校正曲线和真分辨率聚焦曲线来综合判定。处理环节质量控制43图20（正演模拟无侵地层）合格的处理效果

图20（正演模拟无侵地层）合格的处理效果44图21（正演模拟无侵地层）过校正效果图图21（正演模拟无侵地层）过校正效果图45（正演模拟无侵地层）欠校正效果图

（正演模拟无侵地层）欠校正效果图46（吉林红＃井）合格的处理效果（吉林红＃井）合格的处理效果47（吉林红＃井）过欠校正处理效果

（吉林红＃井）过欠校正处理效果48

在井眼相对规则的大段泥岩段，合格的井眼校正曲线经过真分辨率聚焦，其聚焦曲线关系应与其分辨率关系相一致。即合成浅探测曲线分辨率高，合成深探测分辨率低。在非渗透层即出现短阵列在长阵列左右摆动的现象。这是由于其分辨率差异导致。井眼相对规则的大段泥岩段，井眼校正过校正或欠校正则在其合成曲线中会出现短阵列在长阵列左侧或右侧的现象。此现象为校正不当，需要适当调整处理参数。

在井眼相对规则的大段泥岩段，合格的井眼校正曲线经过49MIT5530匹配曲线关系：MIT5530匹配曲线在在典型渗透层（低阻环带除外）情况下应满足：当Rmf<Rw时：AX10<=AX20<=AX30<=AX60<=AX90当Rmf>Rw时：AX10>=AX20>=AX30>=AX60>=AX90在非渗透层MIT5530匹配曲线应相对重合

MIT5530匹配曲线关系：501-ft分辨率用于下列情况:较好的井眼或较低的Rt/Rm对比度(<100)地层间无大角度无井洞2-ft分辨率对一般状况缺省值4-ft分辨率井况差盐水泥浆纵向分辨率适用情况1-ft分辨率用于下列情况:纵向分辨率适用情况51END!!END!!52MIT5530阵列感应模拟井处理地层：5欧姆米围岩：20欧姆米泥浆：1.5欧姆米井径：8inMIT5530阵列感应模拟井处理地层：5欧姆米53阵列感应新杨井综合解释图阵列感应新杨井综合解释图54阵列感应资料处理培训课件55阵列感应资料处理培训课件56阵列感应资料处理培训课件57阵列感应资料处理培训课件58演讲完毕，谢谢观看！演讲完毕，谢谢观看！59MIT5530阵列感应测井仪培训技术中心2009.5.24MIT5530阵列感应测井仪培训技术中心60一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制阵列感应资料处理培训课件6112345阵列感应（MIT5530）仪器67①－电源③－带通滤波④－前置放大⑤－线圈系⑥－压力平衡⑦－发射驱动②－数据采集处理与控制阵列感应（MIT5530）配套100KBPS遥测处理软件刻度装置1.1MIT5530阵列感应仪器总体组成12345阵列感应（MIT5530）仪器67①－电源③－带通62MIT5530线圈系由八个双侧布置的线圈子阵列组成，共用一个发射线圈；对每一子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈组成，两个接收线圈由主接收和屏蔽线圈组成。8个子阵列共测量28个原始测量信号，28个信号经过井眼校正、真分辨率聚焦和分辨率匹配后得到5种探测深度、3种组分辨率共15条曲线。MIT5530阵列感应仪器线圈系结构1.2MIT5530阵列感应线圈系结构MIT5530阵列感应仪器线圈系结构1.2MIT5530阵63MIT5530子阵列：每一子MIT5530子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈组成，两个接收线圈分别为主接收线圈和屏蔽线圈。1.2MIT5530阵列感应线圈系结构MIT5530子阵列：1.2MIT5530阵列感应线圈系结64线圈名称25.256KHz（L）52.512KHz（M）105.024KHz（H）R1（6）√R2（9）√R3（12）√√R4（15）√√R5（21）√√R6（27）√√R7（39）√√R8（72）√√MIT5530原始测量信号1.3MIT5530阵列感应测量信号线圈名称25.256KHz52.512KHz105.024K65

在感应测井中，仪器的响应特性用几何因子来描述，包括一维特性和二维特性。一维特性用纵向微分几何因子、径向微分几何因子、径向积分几何因子描述；二维特性用二维几何因子描述。传统双感应测井中主要使用一维特性，阵列感应测井是二维信号合成处理。1.3MIT阵列感应响应特性在感应测井中，仪器的响应特性用几何因子来66MIT一维径向微分响应特性

径向微分响应函数（径向微分几何因子），随子阵列线圈间距增加，最大峰值沿径向方向移动，短阵列具有浅的探测深度，井眼影响大；长阵列具有深的探测深度，井眼影响小。MIT一维径向微分响应特性67MIT一维径向积分响应特性

径向积分响应函数（径向积分几何因子），不同子阵列具有不同的探测深度，具有不同的井眼影响。MIT一维径向积分响应特性68一维纵向微分响应特性

纵向微分响应函数（纵向几何因子），8个纵向几何因子最大峰值关于发射点左右分布，左边是5个，右边是3个。短阵列具有较高的分辨率信息，随着线圈距的增加纵向高分辨率逐渐降低。一维纵向微分响应特性69二维响应特性二维响应特性反映空间各点对测量信号的贡献大小井眼附近有正负峰值，不同程度受到井眼影响；不同径向深度，响应函数具有不同的纵向分辨率，随着径向深度增加，纵向分辨率下降，即高分辨率信息来自井眼附近；不同的纵向位置，响应函数变化很大，在主接收线圈位置，函数具有最大的正值，在屏蔽线圈位置，函数具有最大的负值；短线圈间距子阵列具有高的分辨率，长线圈间距子阵列具有低的分辨率。二维响应特性70MIT子线圈几何因子（6、9、12、15）MIT子线圈几何因子（6、9、12、15）71MIT子线圈几何因子（21、27、39、72）MIT子线圈几何因子（21、27、39、72）721.4MIT5530阵列感应技术指标指标名称指标数据最高温度：155℃ 最大压力：100MPa数据传输：100kbps仪器外径：95mm（电子仪：90mm）仪器长度：9.8m测井速度：1000m/h井眼范围：150～250mm测量范围：0.1～1000m测量精度：±0.75ms/m或<2%纵向分辨率：30cm、60cm、120cm探测深度：25cm、50cm、75cm、150cm、225cm1.4MIT5530阵列感应技术指标指标名称指标数据最高731.5MIT5530阵列感应仪器适应范围MIT55305530短阵列测量误差较大MIT55305530最佳工作范围：Rt在0.2-100Ω·m，Rt/Rm应在白色区域内。MIT5530阵列感应仪器适用最佳井眼条件：钻头直径在6”（150cm）-12”(300cm)，当井眼尺寸大于12”时，合成的误差可能较大。MIT55305530所有阵列测量误差较大1.5MIT5530阵列感应仪器适应范围MIT5530574阵列感应与双感应相比,具有以下优点：测量信息多纵向分辨率高（阵列感应能够提供0.3m,0.6m和1.2m3种纵向分辨率曲线；常规双感应：中感应:0.8m深感应:1.2m）分辨率统一径向探测深度大（中感应:0.75m深感应:1.6m）测量精度高，能够详细描述侵入剖面准确确定地层真电阻率1.6MIT5530阵列感应仪器优点阵列感应与双感应相比,具有以下优点：1.6MIT55375一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制阵列感应资料处理培训课件76监控曲线QC判定测井曲线合理性判定

QC曲线判定：MIT5530仪器质量监控曲线QC数值变化范围应小于10％。且QC曲线无突变。否则需重新加电测井。原始曲线合理性判定：MIT5530原始曲线在典型地层情况下应符合理论响应。其典型地层主要有：均质地层响应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低侵厚层情况下理论响应。在判断原始曲线关系时，应选择典型厚层进行曲线关系分析，如果与理论图版相符，即仪器工作状态正常。监控曲线QC判定QC曲线判定：MIT5530仪器质量监控曲线77对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；对相同的地层电导率，线圈距越长受趋肤效应影响越大；mspfLMIT5530均质地层响应对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；m78阵列感应资料处理培训课件79阵列感应资料处理培训课件80阵列感应资料处理培训课件81一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制阵列感应资料处理培训课件82MIT5530常见问题：原始曲线缺失字符未安装间隔器仪器预热不足刻度文件加载错误测井遇卡硬件故障MIT5530常见问题：83名称说明名称说明A6HR6号线圈测量高频实部信号A6HX6号线圈测量高频虚部信号A9HR9号线圈测量高频实部信号A9HX9号线圈测量高频虚部信号A12HR12号线圈测量高频实部信号A12HX12号线圈测量高频虚部信号A12MR12号线圈测量中频实部信号A12MX12号线圈测量中频虚部信号A15HR15号线圈测量高频实部信号A15HX15号线圈测量高频虚部信号A15MR15号线圈测量中频实部信号A15MX15号线圈测量中频虚部信号A21MR21号线圈测量中频实部信号A21MX21号线圈测量中频虚部信号A21LR21号线圈测量低频实部信号A21LX21号线圈测量低频虚部信号A27MR27号线圈测量中频实部信号A27MX27号线圈测量中频虚部信号A27LR27号线圈测量低频实部信号A27LX27号线圈测量低频虚部信号A39MR39号线圈测量中频实部信号A39MX39号线圈测量中频虚部信号A39LR39号线圈测量低频实部信号A39LX39号线圈测量低频虚部信号A72MR72号线圈测量中频实部信号A72MX72号线圈测量中频虚部信号A72LR72号线圈测量低频实部信号A72LX72号线圈测量低频虚部信号3.1MIT5530阵列感应曲线命名规范名称说明名称说明A6HR6号线圈测量高频实部信号A6HX6号843.2MIT5530阵列感应不同扶正器方案测试3.2MIT5530阵列感应不同扶正器方案测试853.2MIT5530阵列感应不同扶正器对短阵列影响3.2MIT5530阵列感应不同扶正器对短阵列影响86阵列感应资料处理培训课件87一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制阵列感应资料处理培训课件88

MIT5530测井影响因素:温度影响井眼影响趋肤效应围岩影响MIT5530测井影响因素:89原因:温度的变化会导致三线圈系的距离发生微变，产生直耦（无用信号）变化。解决措施：获取线圈系温度变化图版，进行温度校正。4.1温度影响原因:温度的变化会导致三线圈系的距离发生微变，产生直耦（无904.2趋肤效应影响对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；对相同的地层电导率，线圈距越长受趋肤效应影响越大；mspfL4.2趋肤效应影响对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高91井眼信号是下面因素的函数:泥浆电导率Rm井眼大小和形状井中偏心距地层电导率解决措施：井眼校正偏心度dh—井眼直径RFMudRM4.3井眼影响井眼信号是下面因素的函数:偏心度dh—井眼直径RFMudRM92MIT5530测量信号会收到上下围岩的影响。解决措施：真分辨率聚焦及分辨率匹配4.4围岩影响深度=0.25m,分辨率=0.3m深度=0.50m,分辨率=0.6m深度=0.75m,分辨率=1.2m深度=1.5m,分辨率=1.5m深度=2.25,分辨率=1.8mMIT5530测量信号会收到上下围岩的影响。4.4围岩影响93MIT5530资料处理流程MIT5530资料处理流程94预处理：对阵列感应原始数据进行数据单位和采样间隔转换等操作，保证输入数据统一规范。4.5MIT5530预处理4.5MIT5530预处理95井眼校正阵列感应成像测井的测量会不同程度的受到环境井眼的影响，而且近接收子阵列与远接收子阵列受井眼影响程度不同，在描述径向地层电阻率时，近接收子阵列受到的影响较大，所以在合成处理之前，应当对各接收子阵列的测量值进行适当校正，消除井眼环境的影响，反映出地层的真实情况.校正方法：利用正演方法，模拟计算在不同泥浆电阻率，不同井眼半径和地层电阻率情况下的地层响应库以及对应的无井眼情况的地层响应库。将实际测量地层信号与计算的地层响应库进行匹配，获得相应的无井眼情况地层响应4.6MIT5530井眼校正井眼校正4.6MIT5530井眼校正96合成处理阵列感应测井仪器的测井信号经过井眼校正得到八组线圈系的28条虚实信号，合成处理的目的就是将这些信号合成为测井分析家所需的信号。MIT5530的阵列感应合成处理分两步来完成信号合成工作。首先是满足物理条件的真分辨率合成，不同探测深度合成出相应分辨率的曲线。其次是分辨率匹配，实现不同探测深度具有同样的分辨率的测井曲线。测量信号的探测深度与分辨率之间是矛盾的，探测深度深必定分辨率低，探测深度浅则分辨率高。4.7MIT5530合成处理合成处理4.7MIT5530合成处理97真分辨率聚焦按照理论上原始信号的贡献大小，计算合适的合成滤波库。用合成滤波库来约束、提取实测信号，进行加权组合，形成5条不同探测深度不同分辨率曲线输入数据：A6HR_EC、A9HR_EC…输出数据：T10、T20、T30、T60、T90真分辨率聚焦98分辨率匹配在原始信号和真分辨率处理结果的基础上，针对不同纵向分辨率需求，从对应的测量信号中提取分辨率信息，对真分辨率曲线进行分辨率信息补偿和消除，得到需要的纵向分辨率曲线输入数据：T10、T20、T30、T60、T90输出数据：一英尺匹配AO10、AO20、AO30、AO60、AO90二英尺匹配AT10、AT20、AT30、AT60、AT90四英尺匹配AF10、AF20、AF30、AF60、A