通用电子元件进料检验规范方案

..WORD文档下载可编辑专业资料整理分享通用电子元件进料检验规范〔一贴片元件检验规范<电容,电阻,电感>1.目的便于IQC人员检验贴片元件类物料。2.适用范围适用于本公司所有贴片元件〔电容,电阻,电感…之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准〔AQL严重缺点<CR>:0;主要缺点<MA>:0.4;次要缺点<MI>:1.5;5.参考文件《LCR数字电桥操作指引》《数字万用表操作指引》检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b.包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAMarking错或模糊不清难以辨认不可接受；来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受；本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受；元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受；目检10倍以上的放大镜检验时,必须佩带静电带。电性检验MA元件实际测量值超出偏差范围内.LCR测试仪数字万用表检验时,必须佩带静电带。二极管类型检测方法LED选择数字万用表的二极管档,正向测量,LED需发出与要求相符的颜色的光,而反向测量不发光；否则该二极管不合格。注：有标记的一端为负极。其它二极管选择数字万用表的二极管档,正向测量,读数需小于1,而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。注：有颜色标记的一端为负极。备注抽样计划说明：对于CHIP二极管,执行抽样计划时来料数量以盘为单位,样本数也以盘为单位；从抽检的每盘中取3~5pcs元件进行检测；AQL不变。检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂数字万用表操作指引＂。〔二插件用电解电容.1.目的作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准〔AQL严重缺点<CR>:0;主要缺点<MA>:0.4;次要缺点<MI>:1.5;5.参考文件《LCR数字电桥操作指引》、《数字电容表操作指引》。检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa.极性等标记符号印刷不清,难以辨认不可接受；b.电解电容之热缩套管破损、脱落,不可接受；c.本体变形,破损等不可接受；d.Pin生锈氧化,均不可接受。目检可焊性检验MAa.Pin上锡不良,或完全不上锡不可接受。<将PIN沾上现使用之合格的松香水,再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收>实际操作每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性尺寸规格检验MAa.外形尺寸不符合规格要求不可接受。卡尺若用于新的Model,需在PCB上对应的位置进行试插电性检验MA电容值超出规格要求则不可接受。用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测〔三晶体类检验规范1.目的作为IQC人员检验晶体类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所用晶体之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准〔AQL严重缺点<CR>:0;主要缺点<MA>:0.4;次要缺点<MI>:1.5;5.参考文件《数字频率计操作指引》检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa.字体模糊不清,难以辨认不可接受；b.有不同规格的晶体混装在一起,不可接受；元件变形,或受损露出本体等不可接受；Pin生锈氧化、上锡不良,或断Pin,均不可接受。目检每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性电性检验MAa.晶体不能起振不可接受；b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。测试工位和数字频率计电性检测方法晶体检测方法32.768KHz16.934MHz25.000MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体,再接通电源开机;在正常开机后,用调试好的数字频率计测量晶体,看测量的频率是否在规格范围内,若不能开机或测量值不在规格范围内,则该晶体不合格。24.576MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等,再接通电源开机,看能否正常开机显示；在正常开机显示后,用调试好的数字频率计测量晶体,看测量的频率是否在规格范围内,若不能开机显示或测量值不在规格范围内,则该晶体不合格。〔四三极管检验规范1.目的作为IQC人员检验三极管类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有三极管之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准〔AQL严重缺点<CR>:0;主要缺点<MA>:0.4;次要缺点<MI>:1.5;5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检数量检验MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受；c.本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；e.Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受。目检10倍以上的放大镜检验时,必须佩带静电带。1.目的作为IQC人员检验。2.适用范围适用于本公司所有之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准〔AQL严重缺点<CR>:0;主要缺点<MA>:0.4;次要缺点<MI>:1.5;5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAMarking错或模糊不能辩认；塑料与针脚不能紧固连接；c.塑料体破损,体脏,变形,明显色差,划伤,缩水；d.过锡炉后塑料体外观变色,变形,脱皮;e.针脚拧结,弯曲,偏位,缺损,断针或缺少；f.针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;g.针脚端部成蘑菇状影响安装.目检焊锡性检验MAPIN上锡不良,或完全不上锡,均不可接受；<将零件脚插入现使用之合格松香水内,全部浸润,再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收>实际操作每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性安装检验MAa.针脚不能与标准PCB顺利安装;b.针脚露出机板长度小于0.5mm或大于2.0卡尺针脚露出机板长度的标准为0.5mm~2.0mm1.目的作为C人员检验CABLE类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准〔AQL严重缺点<CR>:0;主要缺点<MA>:0.4;次要缺点<MI>:1.5;5参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAa.数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；b.料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa.五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良；b.塑料体变形、划伤、毛边、破〔断裂、异色等不良；c.排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不可接受；d.排线与支架等组装不牢,易松脱；e.标识CABLE接插方向的颜色不能明确分辩；f.排线接头的颜色不符合规格要求;g.排线表面的丝印错.1.目检2.按前后左右上下各轻摇3次排线接头处,看有无松脱现象参考MechanicalDrawingofCable尺寸检验MAa.长度不符合规格要求不可接受.卷尺尺寸参考/