SPC培训教材-完整版

SPC应用技术课程大纲纲第一部分分：SPC技术术概述第二部分分：SPC相关关统计学学原理与与概念第三部分分：管制制图的原原理、制制作及图图形分析析第四部分分：制程程能力分分析第五部分分：SPC应用用实务第六部分分：测量量系统分分析第一部分分：SPC技术术概述1.1品品质观念念的发展展史程：：◆操作员员的品质质管制◆领班的的品质管管制◆检验员员的品质质管制◆统计品品质管制制◆全面品品管1.2有有关品质质的几个个重要观观念

可能出问问题的地地方一定会出出问题不可能出出问题的的地方也可可能出问问题1.2有关品质质的几个个重要观观念品质是““习惯””出来的的1.2有关品质质的几个个重要观观念不要认为为一个小小小的缺缺点没关关系，反反正不会会影响使使用1.2有关品质质的几个个重要观观念不要认为为最便宜宜的原材材料就会会给企业业带来最最低的成成本1.2有关品质质的几个个重要观观念不要认为为百分百百全检，，品质就就一定很很好了1.2有关品质质的几个个重要观观念1.3SPC的定义及及历程

SPC：StatisticalProcessControl统计制程程控制/统计过程程管制

利用统计计学的原原理对制制造业制制程中的的品质进进行管制制，以达达到第一一次就把把品质做做好。（（在有大大量数据据产生的的地方都都可利用用）QC统计计方法的的工作程程序整理观观察察判判断组织协调调归纳分分析析专业技术术收集数据数、表图形特征值统计规律主要问题提高质量2.变变异的特特殊原因因与一般般原因◆变异:没有两件件产品/特性是完完全相同同的，任任何过程程都存在在许多引引起变因因的原因因，产品品间的差差异及产产品与标标准间的的差距总总是存在在的，这这种差异异叫变变异。◆变异产生的原原因：普通原原因和特特殊原因因普通原因因：（共同原原因/非机遇性性原因CommonCause))制程中变变异因素素是在统统计的管管制状态态下，其其产品特特性有固固定的分分布。特殊原因因：（机遇性性原因SpecialCause)制程中变变异因素素不在统统计的管管制状态态下，其其产品特特性没有有固定的分布。。普通原因因变异的的曲线图图：预测范围时间目标值线线特殊原因因变异的的曲线图图：预测范围时间目标值线◆过程控控制的概概念:a.首先当出出现变差差的特殊殊原因时时提供统统计信号，，从而对对这些特特殊原因因采取适适当的措施施(或是消除除或是保保留)；b.通过对系系统采取取措施从从而减少少变差的的普通原因因；提高高过程能能力，使使产品符符合规范。。3.SPC的作用与与实质：：就是利用用统计的的工具，，识别企企业生产产过程中中的变差差，从而而消除机机遇性变变差（特特殊原因因引起）），采取取系统的的管理措措施消除除变差的的普通原原因来改改进过程程的能力力。第二部分分：SPC相关统计计学原理理与概念念1.数据的种种类：a.计量值型型数据：：尺寸、重重量、化化学成份份、电压压等以物理单位位表示，，具有连连续性的的数据。。连续型型随机变变量b.计数值型型数据：以特性性分类、、计算具具有相同同特性的的个数，是是为间断断性数据据。离散散型随机机变量是是以计产产品的件数或点点数的表表示方法法。2.分布及正正态分布布：a.分布：各事件件所产生生的频次次会趋近近于一个个客观机机率，只只要有足足够多的的测量值值，则测测量值会会趋向于于一个可可预测的的状态，，这种状状态就叫叫分布。。b.正态分布布:以数学公公式订定定，其分分布与平平均值呈呈绝对的的对称且且具有常常见的钟钟型，是是实践中中最常见见的一种种分布，，如产品品的长度度、宽度度、重量量、高度度、测量量的误差差等都近近似服从从正态分分布。2.14%0.13%2.14%0.13%13.6%13.6%34.13%34.13%2σ1σX3σ1σ3σ2σ正态分布布图c.中央极限限定理：不论母群群体是否否正态分分布，但但在其中中抽取n个样品的的平均数数而组成成的群体体，则此此群体非非常接近近正态分分布。d.正态分布布的判定定：如果某一一个量的的变化受受到许多多随机因因素的影影响，这这种影响响的总后后果是各各个因素素的叠加加，而且且这些因因素中没没有任何何一个起起主导作作用，那那么这个个量就是是一个服服从正态态分布的的随机变变量。2.分布及正正态分布布：3.SPC的基本概概念：1).均值（数数学期望望）：平均值值离散型变变量均值值：连续型变变量均值值：2).方差:3).标准差：：4).全距：5).中位数:M6).众数：M07).不良率：：P8).不良数：：NP9).缺点数：：C10)..单位缺点点(缺点率)：U11)..百万分之之不良：PPM3.SPC的基本概概念：12)..管制上限限(控制上限限):UCL13)..管制中心心线(控制中心心线)：CL14)..管制下线线(控制下限限)：LCL15)..规格上限限：USL16)..规格中心心线：SL17)..规格下限限：LSL18)..偏移度：Ca3.SPC的基本概概念：19)..制程能力力指数:Cp表示制程程特性的的一致性性程度。。越大越越集中，，越小越越分散。。20)制程能力力指数（Cpk）：直接反映映制程能能力，值值越大越越好。通通常客户户都要求求Cpk在1.33以上。

3.SPC的基本概概念：4.SPC列管对象象：1）品质特特性：影影响产品品规格的的因素（（生产条条件）、、产品属属性分类类、产品品规格。。2）制程角角度：不不合格率率最高、、成本最最高、安安规问题题。3）检验角角度：破破坏性产产品、无无法于后后工程检检验、检检验成本本很高。。第三部分分：管制制图的原原理、制制作及图图形分析析X-R平均数全全距不不良率率管制图图P-chart计量：X-б平均值标标准差计计数值：：不不良数数管制图图NP-chartX-Rm个别值移移动全距距缺缺点数C-chartMo-R中位值、、全距管管制图单单位缺缺点数U-chart(一）Xbar-R平均数全全距管制制图1.简介：是SPC计量值部部份最重重要、最最常用的的管制图图之一。。可以使使我们很很好地了了解制程程品质的进进展状态态（发展展趋势））。分为为：1）解析管管制图：：根据实际际量测出出来的数数据，经经过计算算出管制制图上下下限之后后画出。。用途：主要用来来对产品品初期品品质进行行测定和和监控，，以了解解在现有有环境中中品质的的制程能能力。2）制程管管制图：：根据之前前的历史史数据，，也可以以根据经经验或相相似的各各项标准准，并以以此为依依据作为为今后管管制图的的管制界界限。以之前较较好或标标准的管管制界限限来衡量量近期的的品质状状况。2.图形制作作：1）数据收收集：确定子组组大小、、频率、、小组数数的大小小a.子组大小小：选择子组组应使得得一个子子组内各各样本之之间的出出现变差差的机会小。。b.应注意：：子组样本本的容量量应稳定定。c.频率：子组间的的时间间间隔。d.子组数的的大小：包含100个或更多多单值读读数的25个或更多多子组的的数据2）将数据列表，并计算各组数据的平均数及全距 Xi= Ri=每组中最大-每组中最小值

3）计算出平均数和全距的中心线与管制上下线： XCL= RCL=每组量测数值总和每组样本数X1+X2+…+XKR1+R2+…+RtK2.图形制作作：管制上下下限有两两种算法法:第一种:计算法:(严格按照照管制图图的原理理来做)a计算出标标准差:b.计算管制制上、下下限Xб=XUCL=XCL+3XбXLCL=XCL-3XбRб=RUCL==RCL+3RбRLCL=RCL-3Rб第二种:查表法:XUCL=XLCL=RUCL=RLCL=<案例1><案例1>4）制作图图形：图形分四四个部分分：一一个品质质记录说说明区；；一个品质质指标说说明区；；一个平均均数管制制图区；；一个全距距管制图图区。<案例1图>X-R图制作步步骤及注注意事项项总结：：1、确定控控制对象象。2、取预备备数据。。3、计算Xbar、Ri。4、计算中心心线。5、计算R图控制线线并作图图。6、将预备备数据并并绘在R图中，并并对状态态进行判判断。7、计算X图控制线并并作图。。8、计算过过程能力力指数并并检验其其是否满满足技术术要求。。9、进行日日常管理理。课堂实兵兵演练3.图形分析析：※1）注意规规格界限限与管制制界限之之间的比比较。可分三种种状态：：包含关系系交叉关系系不相干2）超出管管制界限限3）连续几几点上升升或下降降可认定是是有某种种趋势，，表明是是一种系系统原因因在推动动这种趋趋势，4）连续几几点在管管制线上上方或下下方一般设定定3点或5点以上，，但有时时候由于于产品的的特性可可能有周周期性，，可设定定更多点点。

3.图形分析析：5）连续几几点一升升一降一般为5点或7点，但有有时候由由于产品品的特性性可能有有周期性性，可设设定更多多点。此此种状态态分两种种：一是是越变越越大；二二是越变变越少。。6）连续几几点在3倍的标准准差以外外一般为3点，但有有时候也也要注意意当品质质非常好好而考虑虑成本放放松的变变化，建建议点数数不要设设定更大大。3.图形分析析：7）连续几几点中有有几点在在2倍标准差差以外一般初始始为连续续7点中有3点在2倍标准差差以外，，但有时时候也可可根据产产品特性性可能有有周性而而设更多多点，如如连续9点中有4点在2倍标准差差以外。。此种状况况反应出出制程能能力开始始下降，，一般属属于系统统问题，，但暂时时还不算算严重，，要多多多注意监监控，3.图形分析析：8）连续几几点中有有几点在在1倍标准差差以内一般为连连5点中有3点在1倍标准差差以内，，但有时时候也可可根据产产品特性性可能有有周期性性而设更更多点。。此种状况况反应品品质朝较较好方向向发展，，所以只只要注意意监控，，并把相相关重要要参数记记录下来来，以利利于做标标准化。。9）连续几几点在中中心线两两侧，但但未在1倍标准差差之内一般为连连续5点在中心心线两侧侧，但未未在1倍标准差差之内，，但有时时候也可可根据产产品特性性可能有有周性而而设更多多点。此种状况况反应品品质可能能虽然稳稳定，但但能力不不够或整整体向上上或下移移动少许许，多属属系统原原因，应应加强系系统改善善。3.图形分析析：图形分析析还应注注意：1）平均数数管制图图看是否否偏离方方向，全全距管制制图看稳稳定程度度。所以以平均数数管制图图是波动动越小越越好，全全距管制制图是越越往下越越好，表表示每组组数据中中变异越越少。2）当平均均数管制制图有连连续3点上升或或下降，，而R图没有较较大波动动时，则则表示制制程中有有某个因因素正在在慢慢朝朝某个方方向发生生变化。。3）当平均均数管制制图没有有较大幅幅度变化化，而全全距管制制图有出出现连续续3点上升，，则表示示机台有有较大松松动。4)所有图形形分析，，都需要要同以前前在相同同条件下下做比较较分析，，并尽可可能寻找找可能的的周期性性变化趋趋势，同同时去验验证一到到两次。。统计过程程诊断（（SPD）StatisticalProcessDiagnosisSPD诊断案例例（二）Xbar-σ平均数、、标准差差管制图图1.意义：当每组样样本数较较大(n>10)时，全距距R容易受个个别值影影响较大大，而标标准差相相对较小小，所以以σ成为过程程变异性性更有效效的指标标，此时时一般用用Xbar-S(σσ)代替Xbar-R.。2.制图的区区别之处处：①计算每每组数据据的Xbar及σ（s）：②计算管制制中心线线：③计算管管制上、、下限管管制图图标准差差：a.计算法：：SUCL=SLCL=b.查表法：：SUCL=SLCL=3.图形分析析:与Xbar-R基本相同同Xbar—S管制图检验站别：PQC-1

页次：1/1页产品名称：陶瓷电容产品编号：B4022-33管制特性：脚宽时间：2001/10/1~2001/10/16样本数:5规格上限：10.5规格下限：9.5规格水准：3

USLSLLSLXUCLXBARXLCLSUCLSBARSLCLCaCpCpkPPM

10.5109.510.119.9989.8910.1580.0490-0.0042.5392.5290组数123456789101112131415平均值10.00610.0089.9869.99210.00610.0789.99410.0449.929.94109.9810.0129.99610.002全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02标准差0.0340.0190.0330.040.0420.0390.0710.0290.0840.0550.10.1480.0130.0210.008（三）中中位数全全距管制制图（M-R）1意义：优点：可产生与与Xbar-R图相同的的作用（（结论）），中位位数易于于使用，，并不要要求很多多计算，，使车间间工人易易于接受受控制图图方法。。缺点：中位数在在统计意意义上没没有均值值理想。。2图形制作作：①中位数数的算法法：先将将数据按按大小顺顺序排列列，再取取中间的的一个数数据。②计算管管制中心心线及管管制上、、下限中心线：：直按取取各组中中位数的的平均值值Xm=Xmcl=中位数管管制图标标准差：：Xmσ=XmUCL=XmCL+3XmσσXmLCL=XmCL-3Xmσσ3图形分析析：同Xbar-R案例Xm-R中位数全距管制图检验站别：PQC-1

页次：1/1页产品名称：陶瓷电容产品编号：B40211-33管制特性：脚宽时间：2001/10/1~2001/10/16样本数:5规格上限：10.5规格下限：9.5规格水准：3

USLSLLSLXmUCLXmBARXmLCLSUCLSBARSLCLCaCpCpkPPM

10.5109.510.0739.9939.9130.4010.1190-0.0042.5392.5290组数123456789101112131415是位数1010.019.98101010.061010.049.99.9101010.011010全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02标准差0.0340.0190.0330.040.0420.0390.0710.0290.0840.0550.10.1480.0130.0210.008（四）X-Rm（个别值与与移动全全距管制制图）1.意义：以不分组组的方式式描点作作管制图图，要求求每次或或每组的的样本数数为1。在计量量值中，，当每次次取样数数为1时，不能能用以上上三种管管制图。。使用场合合：①一次只只能收集集到一个个样本数数据，如如损耗率率；②制程的的品质极极为均匀匀，不需需要多取取样本，，如液体体浓度、、PH值等；③取得测测定值既既费时成成本又高高，如复复杂的化化学分析析及破坏坏性试验验等。2.应注意：：①X-Rm在检查过过程变化化时不如如Xbar-R图敏感②X-Rm图不能区区分过程程的零件件间重复复性，因因此在很很多情况况下最好好还是使使用常规的了了组样本本容量较较小（2-4）的Xbar-R图。3.图形制作作：①移动全全距的计计算：Ri=|Xi-X（I-m）|；当I-m〈〈1时，Ri=|SL-Xi|移动位置置值m：指组距Ri要用当前前一个数数据减去去前面第第n个位置的的数据。。通常是是由产品品的相关关性来定定的。如果是前前后点有有相关性性，则则m=1；如果是前前后两点点间有相相关性，，则m=2。

②计算各中中心线及及管制上上、下限限X=个别值管管制图：：XUCL=XCL==Rm=XLCL=移动全距距管制图图：RmUCL=RmCL=RmLCL=〈例5〉4.图形分析析：同Xbar-R分析方法法。案例X-Rm管制图检验站别：PQC-1

页次：1/1页产品名称：211芯片产品编号：B34223-221管制特性：厚度分析时间：2001/11/1~2001/11/15样本数:1规格上限：3.1规格下限：2.9规格水准：3

USLSLLSLXUCLXBARXLCLRmUCLRmBARRmLCLCaCpCpkPPM

3.132.93.1413.0122.8830.1230.04500.120.6380.62123054组数123456789101112131415X值2.953.043.012.973.073.053.093.083.013.063.022.982.962.972.92全距0.080.050.070.10.110.10.1980.070.20.10.20.40.030.050.02标准差0.050.090.030.040.100.020.040.010.070.050.040.060.020.010.05计数值型型控制图图（五）P-chart不良率管管制图1.意义：利用管制制图的原原理对产产品不良良率进行行管制，，是SPC计数值型型最常用用最主要要的分析析图之一一。特点：①可以掌掌握某产产品或类类别或生生产线等等取样母母体的不不良率状状况，了了解本系系统在正正常情况况下的不不良状况况，有助助于做成成本分析析；②对于突突发事件件（特殊殊原因））影响程程度及时时了解；；③便于预预测下一一阶段的的不良率率。一般应用用在如下下场合：：单个产品品在某一一工序的的不良率率单个产品品在某几几工序的的不良率率多个产品品在某同同一工序序的不良良率多个产品品在某同同几工序序的不良良率单个客户户某一产产品的不不良率单个客户户部分产产品的不不良率单个客户户全部产产品的不不良率多个客户户同一产产品的不不良率关键原料料各供货货商所供供产品的的不良率率关键原料料部分供供货商所所供产品品的不良良率同一产品品在不同同部门或或生产线线的不良良率同一部门门或生产产线生产产不同产产品的不不良率不同班次次所生产产产品不不良率某些班次次所生产产产品不不良率不同检验验人员所所检验的的不良率率某些检验验人员所所检验的的不良率率不同时期期限的不不良率不同机台台的生产产的不良良率等等一般应用用在如下下场合：：2.图形制作作：①计算管管制中心心线CL=Pbar=不良数之之和/检验数之之和②计算管管制上、、下线a.各组检验验数相同同，有两两种算法法：第一种（（原理法法）：UCL==LCL==第二种（（经验法法）：注：当LCL计算出来来曾负数数时，应应改为0。P-chart各组检验数相同各组检验数相差较大各组检验数相差不大各组检验数不同b.各组检验验数不同同：第一种：：各组检检验数相相差较大大,最大检验验数与最最小检验验数之间间超过20%CL==UCLi=LCLi=其中：UCLi、LCLi:表示对应应第I组数据的的管制上上、下限限。注：各点点管制界界限不一一定相同同。第二种：：各组检检验数相相差较小小，低于于20%时UCL==LCL==注：各点点管制界界限默认认近似相相等。〈例6〉2.图形制作作：说明：当检验数数认为相相同时说明：当检验数数认为不不同时P管制图检验站别：贴片产品编号：B4022-33

组数：9产品名称：陶瓷电容时间：2001/5/1~2001/5/10样本数:5规格上限：10.5规格下限：9.5组数123456789

批量15000100001100010010001200010001000010000

检验数315200315100100031580200200

不良数847047155

不良数％2.5422.2200.42.221.252.52.5

3.图形分析析：1)当点已跑跑出管制制界限除了后面面7种状况，，如点已已跑出管管制界限限，一般般是指有有特殊原原因导致致不良出出现较大大的变化化。2）连续几几点在中中心线上上方或下下方这表明制制程有偏偏移发生生，如往往上偏移移，则表表明不良良率升高高，如往往下偏移移则表明明不良率率下降。。3）连续几几点上升升或下降降这表明制制程有一一种趋势势发生，，分向上上和向下下两种。。向上则则表明不不良率升升高，向向下则表表明不良良率下降降。4）连续几几点互着着一升一一降也表明是是一种趋趋势，分分为变化化幅度变变大、变变小、不不变。幅幅度变大大，则表表明制程程越来越越不稳定定；幅度度变小，，则表明明制程越越来越稳稳定；不不变则表表明制程程已经是是稳定的的，但要要注意是是否较大大、是否否全体都都在可接接受范围围内，如如否，则则请采用用系统问问题的处处理方式式尽快处处理。3.图形分析析：5）连续几几点在3倍标准差差以外出现此状状况的原原因一般般为：a.刚刚采取取过措施施；b.制程某个个参数发发生突变变；c.发生特殊殊问题，，而未采采取措施施或没有有监控；；此状况分分为三种种形式：：①连续3点在管制制界限上上方。②连续3点在管制制界限下下方。③连续3点在管制制界限外外，但不不在同一一侧。3.图形分析析：6）连续几几点中有有几点在在2倍标准差差以外此状况一一般是用用来表明明一个状状态，一一般表明明制程不不是很好好，如有有此状况况，则表表明制程程本身不不是很好好，要注注意监控控，一般般为系统统原因。。7）连续几几点中有有几点在在中心线线两侧之之1倍标准差差以内此状况也也是用来来表明一一个状态态，出现现此状况况是一件件好事，，表明制制程相对对较稳定定，如成成本不是是很高或或不能接接受，可可以继续续保持。8）连续几几点在中中心线两两侧，但但未在一一倍标准准差以内内此状况也也是用来来表明一一状态，，表明制制程不算算很好，，有一一定的差差异。3.图形分析析：（六）NP-chart不良数管管制图1.意义：表示不合合格品的的实际数数量而不不是与样样本的比比率。是是对不良良率管制制图的一一个补充充。应用要求求为检验验数相同同。一般应应用在以以下几种种状况下下：①在自动动化程度度较高，，人为因因素相对对较少，，对不良良分析是是以计数数为主主；②当不良良率相对对较低时时，用PPM不良率分分析又较较难时；；③各批检检验数相相同，也也可用不不良数管管制图。。2.图形制作作：①计算平平均不良良数（管管制中心心线）np=CL=②计算控制制限UCL==LCL==注:用管制图图原理计计算也可可以3.图形分析析：完全类似似P-chart，可以直接接参照。。〈例7〉各组不良数之和组数（七）U-chart单位缺点点数管制制图1.意义：是对P-chart的一种补补充，是是制造部部门考核核的一个个较好工工具。注：同P-chart一样，不不需要检检验数相相同。2.图形制作作：①将收集集的缺点点数换算算成单位位缺点数数：Ui=Ci/Ni其中:Ui表示第i组数据单单位缺点点数Ci表示第I组数据缺缺点数Ni表示第I组数据检检验数②计算管管制中心心线和上上下限:Ubar=CL==UCL==LCL==3.图形分析析：同P-chart〈例8〉（八）缺缺点数管管制图(C-chart)1.意义：用来管制制相对缺缺点数的的变化状状况,是对U-chart的一种补补充,它们的关关系如同同P-chart和NP-chart注意:C-chart同不良数数管制图图一样,也要求检检验数相相同才有有意义。。2.图形制作作：CL==Cbar=UCL==LCL==3.图形分析析：参照P图，只不不过分析析的内容容是缺点点数，而而不是不不良率。。〈例9〉（九）柏柏拉图：：1.意义：是SPC中非常重重要的一一种图形形，主要要用来分分析各种种不良原原因或缺缺点项目目的重点点部份，，以便抓抓住在品品质方面面要注意意和改善善的重点点。2.使用场合合：①全厂所所有缺点点；②某个或或某几个个部门、、生产线线、机台台、人员员等的所所有缺点点；③某个或或某几个个产品的的所有缺缺点；④某个或或某几个个客户所所要之产产品的所所有缺点点。3.用途：1）作为降低低不良之之依据；；2）决定改善善品质的的工作目目标3）确认改善善效果（（改善前前后之比比较）4）应用发掘掘现场的的重要问问题点5）确认或调调整特性性要因图图6）用于整理理报告或或记录4.图形制作作：①将数据据进行分分类；②把分类类好的数数据进行行汇总，，由多到到少进行行排序，，并计算算出类别别所占百百分比；；③计算出出各类之之总和；；④以总数数和为左左纵轴，，以总数数的十分分之一为为一单位位格，各各个类别别为横轴轴，以每每一类别别为一单单位格，，以100%%的比例来来做右边边的纵轴轴，之间间幅度为为10%为一单位位格，在在80%处画一条条横虚线线；⑤在横轴轴上，按按多到少少的顺序序进行每每一单位位格填写写，再根根据每一一类别的的数量在在画出相相应高度度的方格格，最后后从左边边第一方方格右上上角描第第一点，，第二方方格右边边上面的的第一点点高度加加本方格格高度处处描第二二点，第第三方格格右边上上面的第第二点高高度加本本方格高高度处描描第三点点，以此此类推，，描到最最后一点点的100%%处。〈例10〉某电子厂厂在来料料检验中中有如下下数据第三步：以总数数和为左左纵轴，，以总数数的十分分之一为为一单位位格，各各个类别别为横轴轴，以每每一类别别为一单单位格，，以100%的的比例来来做右边边的纵轴轴，之间间幅度为为10%%一单位位格，在在80%%之处画画一条横横虚线。。第四步：在横轴轴上，按按多到少少的顺序序进行每每一单位位进行填填写，再再根据每每一类别别的数量量在画出出相应高高度的方方格，最最后从左左边第一一方格右右上角描描第一点点，第二二方格右右边上面面的第一一点高度度加本方方格高度度处描第第二点，，第三方方格右边边上面的的第二高高点高度度加本方方格高度度处描第第三点，，以此类类推，描描到最后后一点的的100%处。。c.因因果图图又叫鱼鱼刺图，，用来罗罗列问题题的原因因，并将众多多的原因因分类、、分层的的图形XXXXY=f((x)Y案例：某某车间生生产效率率一直偏偏低，连连续三个个月均在在定额指指标65%—75%之之间。步骤一：：特性为为“生产产效率低低落”步骤二：：找出大大方向原原因从5M1E方向着着手。生产效率率低环境管理人员方法材料机器生产效率率低步骤三：：找出形成成大原因因之小原原因。环境管理人员温度湿度薪资制度度污染考核制度度管理人员员缺乏训练练不足生手多变换多士士气气不良高维修多场所乱没有标准准经常中断断工具不良多厂家多不足故障高方法材料机器品质生产效率率低开机率低低步骤四：：找出主要要原因，，并把它它圈起来来。环境管理人员温度湿度薪资制度度污染考核制度度管理人员员缺乏训练练不足生手多变换多士士气气不良高维修多场所乱没有标准准经常中断断工具不良多厂家多不足故障高方法材料机器品质生产效率率低开机率低低步骤五：：主要原因因进行再再分析。。步骤六：：依据提出出之原因因拟订改改善计划划，逐项项进行，，直至取得得成果。。d.帕帕累托图图与脑力力风暴与与鱼刺图图之并联联缺乏训练练计划缺乏教导导人员缺乏时间间缺乏场所所缺乏教材材缺乏训练练互动教学学方案ⅠⅠ针对车间间存在的的各类质质量问题题运用帕累托图图+脑力力风暴++鱼刺图图对车间间存在的主主要质量量问题进进行分析析找主要原因并并订出改改善计划划。第四部分分：制程程能力分分析（一）、、制程能能力指数数（CPK）分析：主要就是是利用CPK推移图来来了解某某项产品品的某一一重要管管制特性性在一段段时间内内的宏观观品质变变化状态态。CPK推移图需需要设定定一CPK目标值。。1.CPK目标值的的设定:一般设定定为1.33或1.54(6..9PPM)。也可根据据实际情情况，比比如现品品质比较较差在0.7左右。希希望达到到1.0((2700PPM)，就可设立立目标值值为1.0。2.计算CPK值:双边规格格：CPK==（1-Ca）*Cp值越大表表示制程程能力越越强单边规格格：CPK==Cp补充：①Ca：准确度，表示制制程特性性中心位位置的偏偏移程度度，值等等于零表表示不偏偏移，值值越大表表示偏移移越大。。Ca==②Cp：精密度，表示制制程特性性的一致致性程度度，越大大越集中中。Cp==3.CPK推移图的的描点制制作4.〈例11〉把上例的的数据以以每天为为一点做做出如下下的图形形：如以每周周为一点点，就只只有3点点，如下下图5.图形分析析:主要是看看每一个个点与目目标值的的比较状状况，和和在这段段时间内内品质变变化幅度度的大小小，以利利于做品品质工作作的总结结。如某产品品在连续续生产的的情况下下，某项项管制特特性在连连续2-3个月时间间内都达达到或超超过目标标值，建建议则提提升品质质目标值值；如在在连续2-3个月内CPK值达到2.0以上，可可联合品品管、制制造、工工程开会会讨论是是否可减减少该项项管制特特性的检检验。（二）、、制程能能力指数数与不良良率的对对应关系系第五部分分：SPC之应用一、如何何选择SPC控制图：：

确定要制制定控制制图的特特性使用单值值图X--MR是计量型数据吗？性质上是否是均匀或不能按子组取样一例如：化学槽液批量油漆等？关心的是不合格品率—即“坏”零件的百分比吗？关心的是不合格数即单位零件不合格数吗？样本容量是否恒定？样本容量是否恒定？使用p图图使用u图图使用np或p图使用c或u图子组均值是否能很方便地计算？是不能方便地计算每个子组的S值？子组容量是否大于或等于9？使用中位位数图使用X-R图使用X-R图使用X-S图是是是是是是是是是否否否否否否否否注：本图图假设测测量系统统已经过过评价并并且是适适用的二.SPC运作流流程继续生产描点绘图该批生产完成入库QE、生产主管、工程师分析QC抽样检验产品，并记录数据QE分析品质状态图及指标继续严密监控并提醒生产部门管制图异常该批第一组否连续5~10组否状态图异常否该批完成否是否超出要求检看原始数据问题严重否通知产品工程师和生产部停止生产调整或整顿紧急研究对策及方案如有可能，填写制程标准参数记录表是是是是是是否否否否否否否是三、SPC运作相关关人员权权责：四、SPC通常失败败的原因因分析：：1.分工不合合理，没没有专门门人员负负责此事事，或负负责人员员身兼多多职，对对此事意意识不强，，时间一一长便逐逐步放弃弃。2.对此重视视不够，，多半只只是为了了应付客客户或应应付报表表。3.导入时未未让工程程和生产产一起参参与，得得不到相相关人员员配合，，达不到到效果。。4.抽样计划划未制定定好，导导致抽样样出来的的数据不不能反映映真实状状况。5.相关人员员不会分分析，做做出的图图形只是是一种摆摆设。6.相关人员员对SPC误解，得得不到配配合。五、SPC运作成功功需注意意的事项项：1.高层管理理者的大大力支持持①在SPC推行初期期。②在SPC运作运程程中。③SPC正常运作作后。2.中层干部部有能力力分析各各种SPC图形，要要有良好好地品质质观念，，并且应及时分分析。SPC展现品质质，这样样会使高高层支持持SPC，使其功能能发挥出来来。3.做一份详详尽、全全面、系系统的SPC规划，内内容包括括：使用用内容、、人员权权责、运运作流程程、问题题处置流流程。4．数据收集集要真实实、适时时。5．针对不不同人员员做相应应完整的的培训，，增强有有关人员员对SPC的认识和和图形分分析能力力。6．应用SPC定期检讨讨品质问问题。7．客人参观观或考察察，要尽尽量让SPC展现品质质，这样样会使高高层支持持SPC，使其功能能发挥出出来。8．QE人员一定定要及时时认真分分析各种种图形。。五、SPC运作成功功需注意意的事项项：六．SPC系统运作作之重点点：1．相关人员员的教育育训练；；2．全面的一一个系统统规划；；3．适时收集集数据和和监控图图形；4．问题改善善和形成成标准。。第六部分分：测量量系统分分析1．测量系系统的组组成：1.1概念：以以确定实实体或系系统的量量值大小小为目标标的一整整套作业业。1.2组成：操作者设备软件被测事物物操作程序序测量环境境赋值数据（测量结结果）2、表征数数据质量量的指标标1.1、偏倚（（bias）:基准值偏倚1.2..变差（Variation）:用标准差差σ或过程偏偏