海思终端芯片ATE技术手册

1、本文参照业界通用做法，泄义了海思终端芯片类COT的推荐ATE测试策略，以及此类芯 片在测试程序开发及量产时各版本的的测试规范及测试项目要求。因技术和芯片规格持续发 展，各IP的测试规范不断添加和完善。对于成熟IP,程序开发时需要遵守该规范，新IP测试规 范建立时可参考对应的测试规范。二、文档目的：支撑终端芯片媒体类产品达成000 FDPPM的质量目标。三、使用规范：1）本文档针对IP的测试项仅进行简单说明，详细说明及指导手册请严格遵守IP测试规 范及IP测试CBBo2）芯片测试策略必须不松于该规范，如有测试条件的删减，需经过PDT经理/项目经理 /PE/PL的联合会签，如有特殊需求，可酌情增加

2、测试条件。3.1程序版本说明FT/CP泄义常温测试（若只有此一道testflow,也泄义为FTA；若因向量深度或其他问题导致 flow增加的，记为FTB.FTC-）。3.2 ATE量产测试流程芯片应用特点芯片用于机顶盒，视频监控，数字电视等产品系列，质量及可靠性要求髙：发货量大，成 本敏感；工作环境为各国正常生活环境。测试流程CP1FT1SLT1温度25C25C25C电压VDDNVDDN/IVH覆盖率低全DVSYNsite数量14补充说明CP测试:低覆盖率（开始为中覆盖，后续根据量产数据进行删减测试项以达到降成本目的），DVS, VDDN,常温测试，1 4 siteFT测试：全覆盖，VDDN+

3、VDDH+VDDL,常温测试（髙温待验证必要性），GB （根据CHAR结果）2 8siteso量产SLT :可选项，长期可根据ATE覆盖率更新情况进行抽检或取消。可靠性测试：建议 By wafer lot 进行 HTOL/uHAST 抽检33测试项目标准ate向量规格要求如下：aATE向量规格要求（CP_FT）.xlsxlest IPhrmlIII n測iK目的及测CWrtiS要说朗AEE黑茨说明osOS.PS俭测芯片电涯与地之间是否存在恿路情况需要轄盖全部的电OSXWFUNC测试芯片所有数字IOS否与Tes陋连接彭“且各 首脚之间沒有开路和短臨赅? go-nogotest需氏覆去全部带有上

4、拉二极管的首创OS_DD_PPMU测试芯片所有数字10是否与Te如连接良好，旦各 tV HP之间没有开路和您蹌现象，go nogo test凭要覆釜全沁有上 拉二櫃管的管即OS-VSS-FUNC测试芯片所有数字105否与Tew连摻良俛且各瓷 即之间没有开路和矩踣现孰gsnogoz弱更衣走全卸数芋 及OS-VSSPPMU测试芯片刖有数字K展否与Test涯接良好，巨各 首创与电憑地之何注有开短牆现象，可测出貝休参 刼需要爰盖全斓宇及PORPOR测试上电复应協块的复位藤时间定杳龊规格TsensorTSR_ADT7301ifADT73O1基淮一用于俭测环境，傢作为SOCTsensoi TiimmrmS

5、八准TSR.JNT1f测试Tsens遵否工作正當，能正繃15出岂前芯片 温虔值并与基淮戏行比極（可这：把 TrmmingSfgA送到EFUSE中讲行戾写）要求JTAG 可配（M线可配DCJDDQDCJDDQ测试芯片在特證掛戏态下删字电源言卅辟态电 慫肖莊，模拟电源训试可根据蚩产测试数据做加严 多考，要求各电湄管晰电农态可控sPEcm据最终址产测 试数据，按4sigma原 则制定DFTFC-DFTQDFTg叙曙申要求100%,支持1149FC-BSCAN VDDN则试JTAG5盼电臆琵否工作正卓FC CHAIN-VDDN测试Scan返通跄FC STUCK VDDN测试数字郅弁泉否存在由生产环节异

6、致的Stuck. At协陥護盖率要挪? FC/TRANS.CPU(Normal)ffif洱IIi瓷数宇卸定否存在虫牛产坏节耳致的时序卜同时对CPUGPU冋 蚩要有电压和频率 BApcofileFC_TRANS_CPU (Profile)f/ J ALL O 1 J 口1 口工JaAU J FT 1的缺陷。对于CPUGPWTrans,在CP上测试 Normal频点和电丘 在FT上零要新外跑电压和 频率的profile点（前期以5个频宜为宜，后明报FC_TRANS_GPU(Normal)/FC.TRANS.GPU(Profile)I据 虫产数振和成本要求进仃相应梧简）FC.TRANS.OTHER.

7、VDDN对干其他模块倉Tnms,按照CHAR结果在FT上 逬f亍低圧加严卷盖率茎求CPUGPU-95%, M1K 70%FC.MBIST.CPU(Normal)ifif测试芯片內部的memory是否工fE正常。对干CPUGPUAMBIST在CP上测试Normal频巨和要求護盖率100% ?CPUGPU相矢MeTnorvSSA 7 高 利氐压：高中低烦 profile oFC.MBIST.CPU(Profile j/FCXIEISTGPU(Normal)-/甩 J is, tEFT rfa 甩 Hi 相 BAproSc1前期以3不頑点为百.后期根据呈产数据和咸FC MB! ST GPU(Prof

8、ile)1f本豆求逹行相应活简FCAIE1ST_OTHERvBdn对于具他核块的MBIST,在FT上世行高低压加FC.IDDQ測试IDDQ向虽functional测试是否Pass &在 DC_1DDQ_VDDN测试项，只会判断辭态电流是 杏超限。而对于向量的PassTailK况，为了避免 分Bin泯渚，特设贸此项,以谨选。USB3.0USB3 BIST BER T.谓理1率BIST：刃试USB3 BIST INT LPBK cTx-to Rx內环回测试USB2.0USB2_BIST_HSfUSBHS (highspeed)模式 T的 BIST 测试USB2_BIST_FSUSBFS (Full

9、 speed)撲式下的 BIST 测试PCIEPCIE Bl ST BERT误码率BIST测试PCIE_B1ST_INT_LPBK:rx-to-Rx內环回测试PCIE IOcPCIE REF CLK觞出场率测试Video DACINL/测试VidnDAC静态夢数：积弁罪线性DNLc:9测试VkkoDAC筛恵参数：逢弁罪线性OFFSET ERRORc-测试VidnDAC祎态夢数：帳费FSRc测试VideoDAC諦宏琴数：满幅范围GAIN ERRORc测试VideoDAC帥杰数:酱益误歪Kfcnoxonicc测试MdeoDAC甜杰数:里谓性Wfismatchc测试VkicoDAC甜杰澎数：一致性S

10、NRcc测试VideoDAC动杰数：信嗓比THD1测试VideoDAC动杰澎数：谐逓失宜SFDRc测试VideoDAC动态签数：无会散幼态范宙SINADc测试VkhoDAC动态參数：倍号摩声失巨比Audio DACINLc测iitAudioDAC态券莎积分非线性DNLc测iitAudioDAC态空斷 差分非线性SNRc测iitAudioDAC动态參数：佑哩比SFDR01测试AudioDAC动态多数匸无杂散动态范困THDc/测试AudioDAC动态券数：谐浪失貢QAM.ADCINLcf 测试ADC祁态參数：枳分非线性DNLc1测试ADC關态狡逊：差分非线性SNRcr 测试ADC动态參埶佶哩比SF

11、DRcf 测试ADC动态參逊：无杂做动态范田THDc测试ADC动宏参数：谐漱失且HDNDHDMI.TXc测试HDbn TX PHY劝能足否正常需要咼速扳卡captureHDMI.RXc测试HDJ41RXPHY功能是否正常需要外接TX潟遥入 原贻1E号LVDSLVDSTXc测试LVDSTX功能是否正當需要高連粧卡captureMIPIMIP1RXc测iHPIRX功能是否正常需要高速扳卡偸入 相应码型VBOVBO_TXQcJ测试VB OTX功能罡舌正常需要高速扳卡captureEuqatar DACINL测试EuqatorDACgl态唸数：积分非线性DNLc1测iitEuqatarDACgl态唸如

12、芒分非绚性SNRc测试Euqmtor DAC动态參数:比SFDRc测试EuqatorDAC动态唸救:无全散动态范国GAIN ERRORc测ixtEuqatorDACgf态唸如 启益误差OFFSET ERRORc1测试LuqaEDAC醉态参如Mismatchc1测试EuqagrDACSI态参如一致性INLcf 测试Euqator AD C显态参如 枳分非线性DNLc测试EuqaEADC祁态参如差分非线性SNRc/测iitEuqatorADC动态参如 伯咙比SFDRc1测试Euqator ADC动杰涉数：无杂散动态范囤GAIN ERRORc:测试Euqa(6)ADC静态多如増益谓整OFFSET ERROR测试Euqaior ADC谛态夢数：偏蛊CBUSCBUS:00CC测试CBUS複块，用于支持MHL烦格ARCARC测试ARC複诀，用于音频回传FEPHYFEPHY BIST0C测试TEPHY|J能定否正竜DIE.IDDIEJDIRCc本逍TcstFlow测試之前扔贻读取完全 Follow 启动条件（需同时满足条件1和2,或满足条件3,投入产出比要合算）：1、发货总量超过XX K,且最新测试程序版本连续XX lot测试良率波动 降成本策略：整体策略：RTP前期以