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文档简介

1、X电光调制器特性的测试实验原理物理基础：电光效应，晶体的折射率因为外加电场而发生变化的现象XX双折射：一束光射入各向异性的晶体中分成两束光，其中一束遵循折射XX轴传播时不发生折射率椭球（光定律，称为0光，另一束不遵循折射定律，称为e光，当光线沿晶体的某双折射现象，这个方向叫做光轴。:（非主轴坐标系）nn；/斤/?jn：iqXXA负光性单轴晶体线性电光系数:E是外加电场，Y是线性光电系数可以写为一般通用形式:(1=1,2,3,4,5,6,j=l,2,3)锯酸锂晶体LiNbO3特性:负单轴晶体no二2.286电光系数0000丫220/51/5I0儿3、713%3300旋转椭球方程：+1!-H=I2

2、2%ne横向光电效应:电场垂直于光轴方向锯酸锂晶体的横向电光效应：E工0北2=已3=0D是外电场E1方向晶体的厚度，Lt晶体光轴方向的长no0二厶（1_2）AV（D-71V71-TJX：+（g+诂）Xj二1n：一光线通过晶箱后产生的相位差为_2?rj_2ttL対，=pr=争2丄=竽V=-”2必22L匕代表使两个光波产生半个波长的光程差所需要的电压与晶体的电光系数和外形尺寸有关tfa电光晶金S1横向电光调制器结构悄按朮严）弓皿亍）v的值可以为直流电和交流电的组合VDC+#4C实验装置电光调制器，He-Ne激光器，直流激光器，直流电源，交流电源，双踪示波器，光探测器，检流器，起偏镜，检偏镜，减売镜

3、，波片等2/4激光器波长632.8nm电光调制晶体的L=23mm,D=2.5mm实验内容1调整光路：用检验光阑验证激光束与光具座中心线是否平行，使激光进入光探测器，在光探测器上加上遮光筒。2.PJIP，测人（无晶体）3.鬥丄人，使光轴平行于激光束，测Anin4加be，测V，在两偏振片垂直的情况下，直=111:7T一.y流偏压为O时得到光强最小值，直流偏压为V时有71光强最大值，计算动态消光比M和电光系数5绘制/z0-K）c曲线6在电光调制器上加上We观察调制光强的变化实验内容7加入四分之一波片，使直流偏压为零，改变交流电压观察调制光强的变化情形8利用电光调制器，进行激光通信实验预期结果:%=。，改变KicI1V一=1C0S(7T

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