SPC工具培ppt课件

1、PIN SHINE蘇州品翔电通SuZhou PinShine Technology CO,.LTD.SPC控制圖原理及原則講師：林 芝Evening , May.10 ，2007.PIN SHINE 2. 兩種類型的變異 1. SPC控制圖的根本原理 3. SPC控制圖的3原理 4. SPC過程控制的四種狀態 5. 兩類錯誤及其發生概率 6. SPC控制圖判讀原則 7. 控制圖的制造步驟Contents.SPC控制圖的根本原理 在一切制造過程中所呈現出的變異有兩個分量。第一個分量是過程內部引起的穩定分量，即正常變異；第二個分量是可查明缘由的間斷變異，即異常變異。 那些可查明缘由的變異可用有效方

2、法加以發現，並可被踢去，但正常變異不會消逝，除非改變根本過程。 基於3限的SPC控制圖可以把正常變異與異常變異區分開來。PIN SHINE.PIN SHINE 运用SPC控制圖應考慮的問題： 控制圖用在何處？ 如何選擇控制對象？ 怎樣選擇控制圖？ 如何分析控制圖？ 點出界或違反其他准則的處理。 控制圖的重新制定。 控制圖的保管問題。.反饋系統功能反饋系統三項功能： 搜集信息，對資源組合進行觀察並對中間產品測量其質量特性。 統計加工，對搜集的信息用各種統計工具結合工程經驗進行加工。判斷過程能否正常，從中發現問題。 採取行動，對過程中的一些不正常現象採取糾正措施。PIN SHINE過程+反饋系統搜

3、集信息統計加工採取行動= 過程控制系統.制程控制系统 有反响的过程控制系统模型 过程的呼声 人 设备 资料 方法 产品或 环境 效力 输入 过程/系统 输出 顾客的呼声我们任务的方式/资源的交融统计方法顾客识别不断变化的需求量和期望.变差的普通缘由和特殊缘由 普通缘由：是指过程在受控的形状下，出现的具有稳定的且可重 复的分布过程的变差的缘由。普通缘由表现为一个稳 系统的偶尔缘由。只需过程变差的普通缘由存在且不 改动时，过程的输出才可以预测。 特殊缘由：通常也叫可查明缘由是指呵斥不是一直作用于过 程的变差的缘由，即当它们出现时将呵斥整个 过程的分布改动。只用特殊缘由被查出且采取措 施,否那么它们

4、将继续不可预测的影响过程的输出。. 每件产品的尺寸与别的都不同 范围 范围 范围 范围但它们构成一个模型，假设稳定，可以描画为一个分布 范围 范围 范围分布可以经过以下要素来加以区分 位置 分布宽度 外形 或这些要素的组合.假设仅存在变差的普通缘由， 目的值线随着时间的推移，过程的输出构成一个稳定的分布并可预测。 预测 时间 范围 目的值线假设存在变差的特殊缘由，随着时间的推 预测移，过程的输出不稳定。 时间 范围. 过程才干 受控且有才干符合规范 普通缘由呵斥的变差已减少 规范下限 规范上限 时间 范围 受控但没有才干符合规范 普通缘由呵斥的变差太大.兩種類型的變異 正常變異：以下特征 過程

5、內有許多變異源。 每個變異源的出現是隨機的。 每個變異源對質量特性過程的輸出的影響都是很微小的，不易識別，但其總和是可度量的，呈正態分布。 異常變異：以下特征 過程內有許多變異源。 每個變異源的出現是隨機的。 有一個或幾個變異源對質量特性過程的輸出的影響較強，其他均很小。其總和所呈現的分布是隨時間而變的。PIN SHINE.SPC控制圖的3原理PIN SHINE界限界限內的概率界限外的概率0.6750.0050.00168.2631.741.9695.005.00295.454.552.5899.001.00399.730.27499.99370.0063 當過程僅含正常變異時，過程輸出的質量

6、特性X呈正態分布N，)，其中為正態均值， 為標準差。2表一： 正態分布N ，)的概率特性213 原理簡介.PIN SHINE表二： 正態分布N ，)的概率特性295.4599.73+2+3-2-3休哈特建議： 用界限3作為控制界限來管理過程。這意味者：在1000個產品中假设有不超過2.7個不合格品出現，就認為該過程的變異屬正常變異；假设有更多個不合格品出現，就認為該過程的變異屬異常變異。.PIN SHINE90UCLLCLCL休哈特建議： 把正態分布圖及其控制限3同時轉90並以橫為時間或編號，以縱為過程參數均值標準差，並在處引出兩條程度線用虛線表示，這樣就构成一張SPC控制圖。+3-3-3+3

7、.中心極限定律2 設X1、X2、Xn為某總體抽取的樣本，其總體分布未知，但其均值和方差都存在，則有如下結論：定理：當總體為正態分布時，樣本均值X精確服從正態分布N，當總體為非正態分布時，樣本均值X近似服從正態分布N，且樣本量n愈大，近似程度愈好。PIN SHINE 這個定理阐明：無論總體是什麼分布離散分布或連續分布，正態分布或非正態分布，X總是呈現正態分布或近似呈現正態分布。這說明平均值運算可從非正態分布獲得正態分布。.例：我們選了三個不同的總體分布圖：均勻分布無峰、雙峰分布、指數分布高度偏斜。 n=2時 x=(x1+X2)/2的分布已改變形狀，矩形改為三角形，雙峰改為有一個主峰，高度偏斜減少

8、了偏斜程度1 n=5時x=(X1+X2+X5)/5的分布已初顯正態分布形狀，看不出它的原始分布是什麼。2 n=30時x=(X1+X2+X30)/30的分布與正態分布已無什麼差別。31123.SPC過程控制的四種狀態PIN SHINESPC過程控制的四種狀態是SPC分析的基礎。主要分為統計狀態和技術狀態兩種形態，它們組合起來有四種狀態，如表：統計狀態技術狀態四種組合技術滿足(In Spec)（符合規格）技術不滿足(Out Spec)（不符合規格）過程受控(IN Control)（穩定）過程不受控(Out Control)（不穩定）.PIN SHINE1、統計狀態的形態統計狀態的形態過程受控過程不

9、受控只需共同缘由引起的變異，不存在特殊缘由的影響，過程處於受控狀態即過程處於穩定狀態過程存在特殊缘由的影響，過程波動較大，過程不受控制即過程處於不穩定狀態過程受控穩定t1t2t3LCLCLUCL過程不受控不穩定t1t2t3LCLCLUCL.PIN SHINE2、技術狀態的形態技術狀態的形態技術滿足規格要求技術不滿足規格要求過程符合規定要求超出技術規格要求技術滿足符合規格LSLTUSL技術不滿足超規格LSLTUSL.PIN SHINE3、四種組合的狀態 根據上面的過程狀態和技術狀態，可組成四種狀態：狀態：過程和技術都同時滿足要求，最理想的狀態。狀態：過程受控但技術不滿足要求。狀態：過程不受控但技

10、術狀態滿足要求。狀態：過程和技術狀態都同時不滿足要求，最不理想的狀態。作SPC控制圖，就是設法將、狀態進行改善和控制，使之達到狀態。 SPC由狀態達到狀態，要收緊控制規格，減少超差。 SPC由狀態達到狀態，要使特殊缘由引起的變異盡量減少，也就是減少特殊缘由引起的變異，使過程受控。 SPC由狀態達到狀態，既要減少超差，又要漸少由特殊缘由引起的變異，使過程處於穩定狀態。.PIN SHINE我們選取3作為SPC控制圖界限是合理的嗎？控制限3是用來判斷正常變異和異常變異所用的一個臨界值，但要考慮到，確立任何一個臨界值都有能够使判斷發生錯誤。這類錯誤可分為兩類：第一類錯誤：當所涉及的過程處於受控狀態時，

11、但某點由於偶尔缘由落在控制限之外，這時按規則判斷過程受控。這個判斷是錯誤的，這種錯誤稱為第一類，其發生概率記為，見圖：兩類錯誤及其發生概率見圖示請點擊.PIN SHINE第二類錯誤：當所涉及的過程失控時，其產生的點由於偶尔缘由會落在控制限內，這時按規則判斷過程受控。這個判斷是錯誤的，這種錯誤稱為第二類，其發生概率記為，見圖：見圖示請點擊注：第一類錯誤又稱虛發警報，虛發警報會引起白費功夫去尋找根本不存在的異常變異而呵斥損失。第二類錯誤又稱漏發警報，這時由於未檢測出不合格品而呵斥損失。.PIN SHINEUCLLCLCL1 + 2 前往第一類錯誤頁請點擊前往第二類錯誤頁請點擊圖：兩類錯誤及其發生概

12、率表示圖12.PIN SHINE方法論：要使與同時減少只需不斷添加樣本量n，這在實際中又很難實現。另外， 的計算與失控狀態時的總體分布有關，此時總體分布多種多樣，很難對作出確切的估計。為此常規SPC控制圖僅考慮第一類錯誤的概率。在控制限定為3場合和過程受控場合時，可以算得0.27%。即在1000個產品中有近3個布合格品。.SPC控制圖判讀原則SPC控制圖判讀原則： 三條判穩原則 八條判異原則PIN SHINE.PIN SHINE三條判穩原則假设SPC滿足以下情形之一，則過程是穩定的： 1、連續25個點，界外點數D=0。連續25個點中，沒有一個點超出控制規格，則該過程是穩定的。 2、連續35個點

13、，界外點數D1.在SPC控制圖中，連續35個點中，隻有一個超出控制規格，則該過程是穩定的。 3、連續100個點，界外點數d 2。在SPC控制圖中，連續100個點中，假设只需2個超出控制規格，則該過程是穩定的。.PIN SHINE八條判異原則原則一： 一點落在A區以外。只需有一點超出控制界限，就判SPC過程處於異常狀態，如圖：XLCLUCLABCCBAXX說明： 點超出UCL，說明均值增大； 點超出LCL，說明均值減小了。 點落入A區外的概率為0.0027，0.0027，原則一可對過程的單點超控作出反應，如計算錯誤、測量誤差、原资料部合格、設備缺点等作出反應。.PIN SHINE原則二： 連續9

14、點落在中心線同一側。在控制圖中心一側連續出現的點稱為鏈。 如圖：XLCLUCLABCCBA說明： 落在中心線上側，說明均值增大； 落在中心線上側，說明均值減小了。1 3 5 7 92 4 6 8 X.PIN SHINE原則三： 連續6點遞增或遞減趨勢。 如圖：XLCLUCLABCCBA說明： 落在中心線上側，說明均值增大； 落在中心線上側，說明均值減小了。備注：控制圖上點子陈列呈現遞增或遞減的狀態稱為趨勢或傾向，它可断定平均值的較小趨勢變化情況，產生趨勢的缘由能够是工具逐漸磨損、維修程度逐漸降低、操作人員技艺逐漸提高等，從而使得參數隨著時間而變化。.PIN SHINE原則四： 連續14個點中相

15、鄰點上下交替。 如圖：XLCLUCLABCCBA說明： 存在兩個總體。備注：出現這種情況是存在兩個總體。如輪流运用兩台設備或由兩位操作人員輪流進行操作而引起的系統效應。實際上，這就是一個數據分層不夠的問題。.PIN SHINE原則五： 連續3點中有2點落在中心線同一側的B區外。 如圖：XLCLUCLABCCBA說明： 落在中心線上的B區之外，說明均值增大； 落在中心線下的B區之外，說明均值減小了。.PIN SHINE原則六： 連續5點中有4點落在中心線同一側的C區外。 出現這種情況是因為平均值發生變化。如圖：XLCLUCLABCCBA說明： 落在中心線上的C區之外，說明均值增大； 落在中心線下

16、的C區之外，說明均值減小了。.PIN SHINE原則七： 連續15點落在中心線兩側的C區之內。出現這種情況實際上是點子過多地集中在中心線附近。 如圖：XLCLUCLABCCBA說明： 數據分層不夠。.PIN SHINE原則八： 連續8點落在中心線兩側且無一點在C區內。這種情況說明過程的標准差太大，造本钱現象的主要缘由是數據分層不夠。如圖：XLCLUCLABCCBA說明： 標准差太大。.控制圖的制造步驟 1、搜集數據 選定工序，搜集質量特性值，工序應較穩定，數據普通在100個以上。 2、數據分組 以4個或5個為一組，分成25組或以上。 3、將各組數據納入規定欄目內。 4、計算各組數據的平均值 x

17、 x= 精確到比觀測測量值多一位小數PIN SHINEX1+X2+X3+Xnn. 5、計算總平均值或中心值 X= 精確到比原始數據多二位小數 6、計算各組極差 R=Xmax - Xmin 7、計算極差的平均值。 8、計算上下控制界限和中心線X1+X2+X3+Xnnn2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31注： *為樣本容量小於7時，沒有控制下限。x圖的中心線上下控制限的計算公式： CL=X, UCL=X+A2R , LCL=X -A2RR圖的中心線上下控制限的計算公式： CL=R, U