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文档简介
1、电子测量原理电子测量原理第1页电子测量原理电子测量原理第2页(1 1)固定型故障)固定型故障(S Stuck Faultstuck Faults ) (2 2)桥接故障)桥接故障(BridgeBridge Faults Faults )x1x2x3x3x2 x1 x1 x1x2x2 x3 x3电子测量原理电子测量原理第3页(2 2)桥接故障)桥接故障(BridgeBridge Faults Faults )F x1.xsxs+1.xnYp1ps x1xs.Y xnxs+1.(3 3)延迟故障)延迟故障(DelayDelay Faults Faults )电子测量原理电子测量原理第4页(4 4)
2、暂态故障)暂态故障(Temporary Temporary FaultsFaults ) :电子测量原理电子测量原理第5页电子测量原理电子测量原理第6页敏化通路法和敏化通路法和D D算法算法 通路通路(PathPath)和)和敏化通路敏化通路(Sensitized Path)(Sensitized Path)(1 1)敏化通路法)敏化通路法ABx1x2x3abcdefgyC a f y a f y 01 01 0101 01 01 10 10 10 10 10 10故障故障a a fg:fg:故障传播故障传播或或前向跟踪前向跟踪电路的敏化过程电路的敏化过程电子测量原理电子测量原理第7页敏化通路
3、法和敏化通路法和D D算法算法x1x2x3abcdefgyx2:s-a-0 x1x2x3abcdefgyx2:s-a-0 x1x2x3abcdefgyx2:s-a-0 有扇出电路的敏化过程有扇出电路的敏化过程电子测量原理电子测量原理第8页敏化通路法和敏化通路法和D D算法算法x1x2x3 单通路敏化成功,双通路敏化失败的例子单通路敏化成功,双通路敏化失败的例子 (111111)不是)不是x x2 2:s-a-0s-a-0的测试矢量的测试矢量 (110110)和()和(011011)是)是x x2 2:s-a-0s-a-0的测试矢量的测试矢量 电子测量原理电子测量原理第9页敏化通路法和敏化通路法
4、和D D算法算法扇出对敏化通路的影响,三种情况:扇出对敏化通路的影响,三种情况: 单通路和多通路都产生测试矢量单通路和多通路都产生测试矢量 仅单通路能产生测试矢量仅单通路能产生测试矢量 仅多通路能产生测试矢量仅多通路能产生测试矢量 小结小结 SchneiderSchneider反例说明一维敏化不是一种算法反例说明一维敏化不是一种算法 对一特定故障寻找敏化通路时,还应考虑同时敏对一特定故障寻找敏化通路时,还应考虑同时敏 化多个单通路的可能组合化多个单通路的可能组合-多维敏化多维敏化 对于多维敏化对于多维敏化 ,必须寻球一种真正的算法,必须寻球一种真正的算法 - - D D算法算法电子测量原理电子
5、测量原理第10页电子测量原理电子测量原理第11页引言引言时序逻辑电路的测试比组合电路困难时序逻辑电路的测试比组合电路困难 时序电路中存在反馈,对电路的模拟、故障的侦时序电路中存在反馈,对电路的模拟、故障的侦查和定位带来困难查和定位带来困难 时序电路中,时序电路中, t t时刻的输出响应,既取决于时刻的输出响应,既取决于t t时时刻的输入,又取决于在此以前的输入,甚至可能刻的输入,又取决于在此以前的输入,甚至可能与从初始状态一直到时刻与从初始状态一直到时刻t t的所有输入都有关系的所有输入都有关系 时序电路的存贮作用往往使电路中一个单故障时序电路的存贮作用往往使电路中一个单故障相当于组合电路中的
6、多故障,测试时序电路中相当于组合电路中的多故障,测试时序电路中一个故障不再是单个简单的测试矢量,而需要一个故障不再是单个简单的测试矢量,而需要一定长度的输入矢量序列一定长度的输入矢量序列 电子测量原理电子测量原理第12页引言引言时序时序电路的测试生成需特别考虑时序时序电路的测试生成需特别考虑 既要处理逻辑相关性又要处理时序相关性既要处理逻辑相关性又要处理时序相关性 需要特别处理诸如时钟线、反馈线、状态需要特别处理诸如时钟线、反馈线、状态变量线等连线变量线等连线 需要建立全电路正确的时序关系需要建立全电路正确的时序关系 采用可测试设计和内建自测试技术可显著提高时序采用可测试设计和内建自测试技术可
7、显著提高时序 电路测试效率电路测试效率 电子测量原理电子测量原理第13页迭接阵列迭接阵列 时序电路的一般模型时序电路的一般模型 组组合合逻逻辑辑C C( (t t) )X X( (t t) )Z Z( (t t) )Y Y( (t t) )y y( (t t) )存存储储器器件件S S时时钟钟C CP P电子测量原理电子测量原理第14页迭接阵列迭接阵列 阵列单元模型阵列单元模型 形成形成:把反馈线断开,把某时刻的电路展开成一个阵列:把反馈线断开,把某时刻的电路展开成一个阵列单元。阵列单元的输入是主输入单元。阵列单元的输入是主输入X(j)X(j)和现态和现态y(j)y(j),输,输出是主输出出是
8、主输出Z Z(j j)和次态)和次态y y(j+1j+1),把),把1 1,2 2,k k各各时刻的阵列单元串接起来,就组成一个时刻的阵列单元串接起来,就组成一个迭接阵列模型。迭接阵列模型。C(j)C(j)S SX(j)X(j)Z(j)Z(j)Y(j)Y(j)y(j+1)y(j+1)y(j)y(j)缺点缺点:对大型时序电路,计算量太大:对大型时序电路,计算量太大 电子测量原理电子测量原理第15页测试序列的产生测试序列的产生电子测量原理电子测量原理第16页测试序列的产生测试序列的产生(1 1)同步序列 电子测量原理电子测量原理第17页测试序列的产生测试序列的产生求同步序列举例求同步序列举例0 0
9、1 1A AB BB/0B/0A/1A/1C/1C/1D/0D/0B/1B/1A/0A/0输入输入输出输出C CC/0C/0A/1A/1D D树根开始到标记树根开始到标记“。”的输入序列为同步序列的输入序列为同步序列H Hs s 一个时序电路,可能不存在同步序列,也可能存在一个时序电路,可能不存在同步序列,也可能存在多个同步序列多个同步序列 ( (A A B B C C D D) )( (A A B B C C) )( (A AC CD D) ). .( (A AB B) )( (B B) )( (A AC C) )0 01 10 01 11 10 0( (A A C C D D) )( (A
10、 AB BC C) ). .( (A AD D) )( (B BC C) ) ( (A A) )1 11 10 00 0电子测量原理电子测量原理第18页测试序列的产生测试序列的产生(2 2)引导序列-将时序电路从一个未知状态将时序电路从一个未知状态“引导引导”到某些已知到某些已知末态(可根据不同的响应序列来判定末态)的输入序末态(可根据不同的响应序列来判定末态)的输入序列列 从状态转换图(表)出发,将所有状态作为树根,次从状态转换图(表)出发,将所有状态作为树根,次态集和响应输出记录在相应的树枝下态集和响应输出记录在相应的树枝下 按响应,将次态集分割成次态子集,输出相同的按响应,将次态集分割成
11、次态子集,输出相同的 次态在同一个子集中,标出各子集的输出值次态在同一个子集中,标出各子集的输出值 若每个次态子集中的元素均相同,则停止向下分支,若每个次态子集中的元素均相同,则停止向下分支,标记为标记为“* *”,(若每个次态子集中仅包含一个元素,(若每个次态子集中仅包含一个元素,则停止向下分支,并标记为则停止向下分支,并标记为“。”) 其它情况,即至少有一个子集中含有不同的元素,其它情况,即至少有一个子集中含有不同的元素,且该子集的集合以前没有出现过,则继续向下分支且该子集的集合以前没有出现过,则继续向下分支 电子测量原理电子测量原理第19页测试序列的产生测试序列的产生求引导序列举例求引导
12、序列举例A AB BC CD D0/00/01/01/00/10/10/00/01/11/11/11/11/01/00/00/0电子测量原理电子测量原理第20页测试序列的产生测试序列的产生引导树引导树(A A B B C C D D)(A AA AC C),(D D)(0 00 00 0),(1 1)(B BB B),(D D),(B B)(0 00 0),(1 1),(1 1)* *1 1(AAC),(D)(000),(1)0 0(B BC C),(D DB B)(0 00 0),(1 11 1)( (A AC C) ), ,( (D D) ), ,( (A A) )( (0 00 0) )
13、, ,( (1 1) ), ,( (0 0) )( (C C) ), ,( (D D) ), ,B B) ), ,( (C C) )( (0 0) ), ,( (1 1) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )( (A AC C) ), ,( (D D) ), ,( (A A) )( (0 00 0) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )( (B B) ), ,( (D D) ), ,B B) ), ,( (B B) ) ( (0 0) ), ,( (1 1) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )0 01 11 10 00 01 1. . .引导序列:引
14、导序列:0101,1111,101101电子测量原理电子测量原理第21页测试序列的产生测试序列的产生(3 3)区分序列-能够根据不同的响应序列来区分被测电路的初态和能够根据不同的响应序列来区分被测电路的初态和末态的输入序列末态的输入序列 电子测量原理电子测量原理第22页电子测量原理电子测量原理第23页随机测试技术随机测试技术(1)原理概述 电子测量原理电子测量原理第24页随机测试技术随机测试技术(1)原理概述 电子测量原理电子测量原理第25页穷举测试技术穷举测试技术穷举测试技术穷举测试技术电子测量原理电子测量原理第26页穷举测试技术穷举测试技术伪穷举测试技术伪穷举测试技术电子测量原理电子测量原
15、理第27页电子测量原理电子测量原理第28页 输入通道多输入通道多 数据捕获能力强数据捕获能力强, ,具有多种灵活的触发方式具有多种灵活的触发方式 具有较大的存储深度具有较大的存储深度, ,可以观察单次或非周期信号可以观察单次或非周期信号 显示方式丰富显示方式丰富 能够检测毛刺能够检测毛刺电子测量原理电子测量原理第29页电子测量原理电子测量原理第30页TLA 612电子测量原理电子测量原理第31页电子测量原理电子测量原理第32页电子测量原理电子测量原理第33页Agilent E9340A电子测量原理电子测量原理第34页信号信号输入输入信号信号外时钟外时钟采样采样数据数据存储存储时钟时钟选择选择内
16、时钟内时钟触发触发产生产生显示显示控制控制CRT数据捕获数据捕获数据显示数据显示逻辑分析仪原理结构逻辑分析仪原理结构门限电平设定门限电平设定电子测量原理电子测量原理第35页通道通道1通道通道8100.1100.1000.1000.0采样时钟采样时钟000.0000.0100.0100.1100.0100.0采样数据采样数据数据流数据流电子测量原理电子测量原理第36页触发字触发字 数据流数据流数据窗口数据窗口跟踪开始跟踪开始观察窗口宽度:观察窗口宽度:逻辑分析仪存储深度逻辑分析仪存储深度电子测量原理电子测量原理第37页电子测量原理电子测量原理第38页触发字触发字 数据流数据流数据窗口数据窗口跟踪
17、开始跟踪开始 触发起始跟踪触发起始跟踪触发字触发字 数据流数据流数据窗口数据窗口跟踪结束跟踪结束 触发终止跟踪触发终止跟踪电子测量原理电子测量原理第39页触发字触发字 数据流数据流数据窗口数据窗口跟踪开始跟踪开始延迟数延迟数跟踪结束跟踪结束 数据流数据流数据窗口数据窗口触发字触发字延迟数延迟数(a) (a) 触发开始跟踪加延迟触发开始跟踪加延迟(b) (b) 触发终止跟踪加延迟触发终止跟踪加延迟电子测量原理电子测量原理第40页导引条件导引条件使能使能第二级触发第二级触发第二级触发第二级触发字无效字无效第二级触发第二级触发字有效字有效第一级触发第一级触发B(B(导引条件导引条件) )子程序子程序
18、C(C(触发条件触发条件) )主程序主程序两级序列触发工作原理两级序列触发工作原理电子测量原理电子测量原理第41页与门与门限定条件限定条件触发触发识别识别数据流数据流触发信号触发信号限定条件触发产生原理限定条件触发产生原理电子测量原理电子测量原理第42页电子测量原理电子测量原理第43页电子测量原理电子测量原理第44页地址(HEX) 数据(HEX)操作码操作数2000200320052006.21422006049723.LDLDSUBINC.HL,2042B,04AHL.电子测量原理电子测量原理第45页(A) BCD数据序列的图解显示0510(B) 程序执行的图解显示2000H20FFH主程序
19、子程序循环程序图解显示电子测量原理电子测量原理第46页定时分析最大速率。定时分析最大速率。状态分析最大速率。状态分析最大速率。通道数。通道数。存储深度。存储深度。触发方式。触发方式。输入信号最小幅度。输入信号最小幅度。输入门限变化范围。输入门限变化范围。毛刺捕捉能力。毛刺捕捉能力。电子测量原理电子测量原理第47页电子测量原理电子测量原理第48页激励信号激励信号被测电路被测电路逻辑分析仪逻辑分析仪例:例:ROMROM的指标测试的指标测试 数据发生器数据发生器ROM逻辑分析仪逻辑分析仪频率计频率计地址地址数据数据外时钟外时钟ROM 指标参数测试指标参数测试电子测量原理电子测量原理第49页分频分频电
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