抗电磁辐射织物屏蔽效能的测试方法

1、纺织品抗电磁屏蔽性能测试姓名：周章范学号：2013020554鉴于我国纺织行业的实际条件, 本着经济、实用的原则。我们参照原苏联所采用的“开窗法” 和美军所采用的“大样法” 的测量原理, 研究并提出如下测量方法作为我国现阶段屏蔽织物屏蔽效能的测量方法, 定义为” 大样开窗法” 同时, 在1000MHz以上又设计了” 小同轴测量法”。 大样开窗测量法 作为屏蔽织物屏蔽效能的主要测量方法, 可以对所有屏蔽织物进行衰减性能鉴定。大样开窗法实际上也是在不同频段的几个选定的点频处进行测量. 测量原理 大样开窗法的必要条件是建立一座按设计要求的屏蔽室, 在屏蔽室的中间位置设计安装一面屏蔽墙, 该墙的四边要

2、与屏蔽室的四壁接触良好, 无缝隙, 构成电气一体化结构。在屏蔽墙的中央部位开有一定尺寸的测试专用窗口。为防止电波信号的被反射与折射而干扰测量结果, 在屏蔽室内的所有壁面的表面 粘敷平板型吸波材料。测试窗尺寸为600mm600mm。 大样开窗法的测量原理是将信号源与发射天线置于屏蔽墙的一侧（屏蔽室内）, 而将接收机与接收天线置于屏蔽墙的对应另外一侧, 发射天线与接收天线正对测试专用窗口的中心范围, 各距屏蔽墙1m, 所以又称1m测量法。（测量装置与测试系统图示于图8）。或各距屏蔽窗口0.3m。将屏蔽材料固定在窗口上, 测量材料前后的场强比值, 就是屏蔽效能值。当然, 针对上述大样开窗法系统装置的

3、特点, 也可以进行简化设计, 即在屏蔽室的一侧屏蔽墙上, 开一个600mm600mm的测试窗口, 将收发两副天线等距离布置在测试窗口的对应两侧, 测量固定屏蔽织物前后的场强值。该装置示意如图9所示。 操作程序 按正常仪器操作规程开启信号发生器（或发射机）, 按测试需要调整好工作频率与发射功率, 那么发射系统通过发射天线的信号通过测试专用窗口而被接收天线所接收, 此时接收机显示的数据即为空白场强, 记作E0或P0；然后关机将待测屏蔽织物样品裁剪成适当尺寸后固定在专用测试窗框上, 并保持与屏蔽墙接触良好，然后按上述参数不变, 开启信号源系统此时, 接收系统就会接收到经过屏蔽织物衰减后的场强, 记作

4、E1, 或P1 按下列公式即可求出屏蔽织物的屏蔽效能 式中: AE, AP一屏蔽效能衰减值,dB E0一一未加入屏蔽织物时所测试得的空白场强,V/m; E1一加入屏蔽织物后所测试得的场强,V/m; P0一未加入屏蔽织物时所测得的空白场强, w/cm2 P1一加入屏蔽织物后所得的场强, w/cm2 主要设备与仪器 或不同频段的发射机系统, 比如1000Hz,13.5MHz,19.5MHz,1800MHz 频段发射设备频谱分析仪或适宜的综合场强测试仪. 小同轴测量法 测量原理 在实验室内，将信号源的工作频率与输出功率调整到所要测试的参数上，当工作状态稳定后，将信号源的功率输出通过同轴波导传输到信号

5、接收机或者频谱仪上，此时接收机或者频谱仪的显示部分所显示的数据，即为该频率下接收机所接受到的输入场强值(一般以dB表示)，记作P0；然后将按照规定的尺寸要求裁剪好的待测样品放入同轴波导之间的法兰盘内加固好，再按照上述参数不变的工作下开机，那么这时接受系统显示部分所显示的数据就是经过电磁抑制材料衰减后的材料屏蔽的场强值，记作P 。两者测量结果，可以通过下公式计算求出材料的屏蔽效能： 当测量值用dB表示时，P-P0即为屏蔽效能的衰减值； 当测量值用功率表示时，则有：A=10log P0P， 式中：A-材料衰减值，dB P0-初始空白场强值 P-衰减后场强值 小同轴测量法 在高频率段, 配合“大样开

6、窗法” 对屏蔽织物作复核测量， 测试系统示意图见图10所示。 小同轴测量法也可用于测量1000MHz以上屏蔽织物屏效的测量, 而大样开窗法专门用于1000MHz以下屏蔽织物之屏蔽效能的测量, 也可以作全频屏效试验。 测量误差分析及防止措施 (一)测量系统误差 由测试仪器及其配套系统所产生的测试误差，总的控制在2dB左右。这在仪器设计、元器件选择与计量校验等环节中已采取了相关措施，进行了有效控制。 (二)环境影响误差 由于环境因素，比如温、湿度；环境背景电磁场等的干扰也会产生测量误差。为此，要求测量工作应在专门设计的标准屏蔽室或微波暗室中进行。 (三)待测样品置入误差 由待测物样的放入状况不一致，待测物样与屏蔽室的相对位置不同以及其他原因也会带来在测量结果上的误差。因此，在测试时，一定要确保收、发系统的相对位置不变；同时，每一个数据要测3次，取其平均值。 (四)电源系