《无损检测基础知识》ppt课件

1、电站锅炉无损检测天津市电力公司技术中心天津市电力公司技术中心 20212021年年6 6月上海月上海 北京北京目目 录录n无损检测概论n射线检测根底知识n超声波检测根底知识n磁粉检测根底知识n浸透检测根底知识n涡流检测根底知识n锅炉的无损检测要求第一章无损检测概论第一章无损检测概论一无损检测的定义及分类一无损检测的定义及分类定义：在不损坏试件的前提下，以物理或化学方法为手定义：在不损坏试件的前提下，以物理或化学方法为手段，借助先进的技术和设备器材，对试件的内部及外表段，借助先进的技术和设备器材，对试件的内部及外表的构造，性质，形状进展检查和测试的方法。的构造，性质，形状进展检查和测试的方法。分

2、类：射线检测分类：射线检测RT-Radiographic Testing 超声检测超声检测UT-Ultrasonic Testing 磁粉检测磁粉检测MT-Magnetic Testing 浸透检测浸透检测PT-Penetrant Testing 涡流检测涡流检测ET-Eddy Current Testing)RT和和UT主要用于探测试件内部缺陷主要用于探测试件内部缺陷MT、PT和和ET主要用于探测试件外表缺陷主要用于探测试件外表缺陷开展：以现代科学技术的开展为根底的。开展：以现代科学技术的开展为根底的。 RT是在德国物理学家伦琴发现是在德国物理学家伦琴发现X射线后开展起来的；射线后开展起来的

3、； UT是在声纳技术和雷达技术的根底上开发出来的；是在声纳技术和雷达技术的根底上开发出来的； MT、ET建立在电磁学实际的根底上；建立在电磁学实际的根底上； PT得益于物理化学的进展得益于物理化学的进展 无损探伤无损检测无损评价无损探伤无损检测无损评价 无损探伤是早期阶段的称号，其涵义是探测和发现缺陷； 无损检测是当前阶段的称号，其涵义不仅仅发现缺陷，还包括探测缺陷的一些信息，如位置、外形、尺寸、性质等； 无损评价那么是即将进入或正在进入的新的开展阶段，包涵更广泛，更深化的内容，它不仅要求发现缺陷，探测缺陷的详细数据，还要求获取更全面，更准确的，综合的信息，例如缺陷的取向、内含物、准确外形尺寸

4、、缺陷部位的组织、剩余应力等，结合成像技术、自动化技术、计算机数据分析和处置等技术，与资料力学、断裂力学等知识综合运用，对试件或产品的质量和性能给出全面，准确的评价。 二无损检测的目的二无损检测的目的1、保证产质量量、保证产质量量2、保证运用平安、保证运用平安3、改良制造工艺、改良制造工艺4、降低消费本钱、降低消费本钱三三 无损检测的运用特点无损检测的运用特点1、无损检测要与破坏性检测相配合、无损检测要与破坏性检测相配合2、正确选用实施无损检测的时机、正确选用实施无损检测的时机3、正确选用最适当的无损检测方法、正确选用最适当的无损检测方法4、综合运用各种无损检测方法、综合运用各种无损检测方法四

5、承压类特种设备无损检测规范四承压类特种设备无损检测规范2006年年3月月27日，国家质检总局质检办特函日，国家质检总局质检办特函2006144号关于锅炉压力容器平安监察任务有关问题的意号关于锅炉压力容器平安监察任务有关问题的意见中规定：承压设备无损检测执行见中规定：承压设备无损检测执行JB/T47302005，因此在承压设备领域，因此在承压设备领域，JB/T4730本质上是强迫性规本质上是强迫性规范。范。JB4730-2005 包括六部分包括六部分1、通用部分；、通用部分；2、射线检测；、射线检测；3、超声检测；、超声检测；4、磁粉检测；、磁粉检测；5、浸透检测；、浸透检测；6、涡流检测、涡流

6、检测JB4730-2005规范规定了射线检测、超声波检测、磁粉检测、浸透检测和涡流检测这五种无损检测方法及质量等级评定分类，适用于：1、金属资料制锅炉、压力容器固定式、挪动式及压力管道原资料、零部件和设备的制造安装检测。2、在用金属资料制锅炉、压力容器固定式、挪动式及压力管道的检测。3、锅炉、压力容器固定式、挪动式及压力管道有关的支承件和构造件，如有要求也可参照该规范进展检测。第二章射线检测根底知识第二章射线检测根底知识 射线检测最主要是探测试件内部的宏观几何缺陷。射线照相法是指用X射线或射线穿透试件，以胶片作为记录信息的器材的无损检测方法。2.1 射线照相法原理1、射线的产生(X射线、射线X

7、射线: 射线束中包括延续X射线和特征X射线延续X射线产活力理：动画演示根据电动力学实际，作加速运动包括负加速运动的带电粒子将产生电磁辐射。X射线是从X射线管中产生的，X射线管是一种两极电子管。将阴极灯丝通电，使之白炽，电子就在从阴极移向阳极的方向加速飞行，获得很大的动能，当这些电子撞击阳极时，与阳极金属原子的核外库仑场作用，发出轫致辐射而放出X射线。标识标识X X射线产活力理射线产活力理: :动画演示动画演示 能量较大的电子入射到靶资料的原子中，与壳层电子碰撞，能量较大的电子入射到靶资料的原子中，与壳层电子碰撞，击出内电子，使原子处于激发态吸收；激发态原子释放能击出内电子，使原子处于激发态吸收

8、；激发态原子释放能量发射光子辐射。即发射标识量发射光子辐射。即发射标识X X射线。射线。 产生标识产生标识X X射线的条件：管电压射线的条件：管电压 某一临界值时，才干产生标某一临界值时，才干产生标识识X X射线。射线。 射线产活力理射线产活力理原子核的重要性质原子核的重要性质-放射性放射性放射性同位素产生放射性同位素产生或或衰变之后，假设仍处于高能级的激发衰变之后，假设仍处于高能级的激发形状，必定要释放多余的能量回到低能级的稳定形状基态，形状，必定要释放多余的能量回到低能级的稳定形状基态，这时发射这时发射射线。射线。2、射线与物质的相互作用1)光电效应 动画演示入射到物体内的光子与原子中的轨

9、道电子发生碰撞，光子的全部能量传送给轨道电子使电子脱离轨道成为光电子，这一景象称为光电效应。2)康普顿效应散射 动画演示 入射光子与轨道电子碰撞，轨道电子脱离轨道成为反冲电子，入射光子能量降低波长变长并改动运动方向成为散射线，这一景象称为康普顿效应散射。3)电子对效应 动画演示 当入射光子的能量1.022Mev时，在原子核附近由于核库仑场的作用将产生一对正、负电子，这种景象称为电子对效应。电子质能 0.511Mev4)瑞利散射 动画演示光子与内层电子作用时，电子吸收光子能量从低能级跃迁到高能级，同时释放出一个散射光子，其能量与入射光子的能量一样。光电效应康普顿效应电子对效应瑞利散射产生条件hv

10、W0hvW0hv1.02 MeV特征光子被吸收产生电子hv=W0+(1/2)mv2 EehV -Ei光子部分能量的转移发生散射产生反冲电子光子被吸收生成一对正负电子对（高能X射线和射线）入射管子和束缚较牢固的内层轨道电子发生的弹性散射过程作用对象束缚电子最松的外层电子自由电子原子核库仑场内层电子产物光电子俄歇电子标识X射线反冲电子散射光子正电子负电子反冲整体是原子干涉散射线几率hv,Z 随光子能量增大而减小；随原子序数增大而增大hv,Z 与光子能量成反比；与原子序数成正比hv ,Z 随光子能量增大而减增大；随原子序数增大而增大hv,Z 随光子能量增大而急剧减小；与原子序数平方成正比衰减条件pc

11、eR对入射光子吸收散射吸收散射四大效应的比较3、射线与胶片的作用射线还有一个性质就是能使胶片感光，能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜象中心，经过显影和定影后就会黑化。为了表示底片的黑化程度，采用底片黑度D表示DlgL0/LD底片的黑度L0透过底片前的光强L-透过底片后的光强胶片的特征曲线:特征参数:感光度S、灰雾度D0、梯度G、宽容度L4、射线照相的原理2. 2 射线检测设备射线检测设备1 X射线检测机射线检测机2 高能射线探伤设备高能射线探伤设备3 射线探伤机射线探伤机 2.3 射线照相工艺特点射线照相工艺特点1 照相的操作步骤照相的操作步骤普通把被检的物体安放在离普通把被检的物体安放在离X射线

12、安装射线安装50厘米到一米厘米到一米的位置处的位置处,把胶片盒紧贴在试样的背后把胶片盒紧贴在试样的背后,让射线照射适当让射线照射适当长的时间进展曝光长的时间进展曝光.把曝光后的胶片在暗室中进展显影、把曝光后的胶片在暗室中进展显影、定影、水洗、枯燥，将枯燥的底片在观片灯的显示屏定影、水洗、枯燥，将枯燥的底片在观片灯的显示屏上察看，根据底片的黑度和图像来判别存在缺陷的种上察看，根据底片的黑度和图像来判别存在缺陷的种类，大小和数量，随后对缺陷按照通行的规范进展评类，大小和数量，随后对缺陷按照通行的规范进展评定和分级。定和分级。2 照相规范确定照相规范确定射线照相灵敏度是射线照相对比度小缺陷或细节与其

13、周围背射线照相灵敏度是射线照相对比度小缺陷或细节与其周围背景的黑度差、不明晰度影象轮廓边缘黑度过渡区的宽度景的黑度差、不明晰度影象轮廓边缘黑度过渡区的宽度和颗粒度影像黑度的不均匀程度三大要素的综合结果，而和颗粒度影像黑度的不均匀程度三大要素的综合结果，而三大要素又分别遭到不同工艺要素的影响。三大要素又分别遭到不同工艺要素的影响。透照规范的选择要留意以下几点：透照规范的选择要留意以下几点：1透照方式的选择透照方式的选择2透照厚度比值的控制透照厚度比值的控制3射线源的选择射线源的选择4透照间隔的选择透照间隔的选择5 曝光量的选择曝光量的选择6胶片、增感屏的选择与底片黑度控制胶片、增感屏的选择与底片

14、黑度控制3 象质计透度计的运用象质计透度计的运用目的：为了评定底片的灵敏度目的：为了评定底片的灵敏度4 底片评定底片评定 先评定底片本身质量能否合格。先评定底片本身质量能否合格。1底片的黑度应在规定范围内，影像明晰，反差适中，灵敏底片的黑度应在规定范围内，影像明晰，反差适中，灵敏度符合规范要求，即能识别规定的象质指数。度符合规范要求，即能识别规定的象质指数。2标志齐全，摆放正确标志齐全，摆放正确3在评定区无影响评定的伪缺陷在评定区无影响评定的伪缺陷 在底片合格的前提下，再对底片上的缺陷进展定性、定量和定在底片合格的前提下，再对底片上的缺陷进展定性、定量和定位。位。 对照规范评出工件质量等级，写

15、出探伤报告。对照规范评出工件质量等级，写出探伤报告。5 射线检测工艺要点射线检测工艺要点:1)X射线的运用特点射线的运用特点X射线主要优点：射线主要优点：X射线能量可改动，因此对各种厚度的试件均可射线能量可改动，因此对各种厚度的试件均可获得高灵敏度图像；获得高灵敏度图像；X射线机可用开关切断，故较易实施射线防射线机可用开关切断，故较易实施射线防护；曝光时间短，普通为几分钟；护；曝光时间短，普通为几分钟；X射线局限性：需电源，有些设备还需有水源冷却。体积较大，射线局限性：需电源，有些设备还需有水源冷却。体积较大，现场运用不便本钱和维修费用均较大。现场运用不便本钱和维修费用均较大。设备：便携式，设

16、备：便携式，160320KV，穿透钢，穿透钢45mm 挪动式，挪动式，200450KV，穿透钢，穿透钢100mm高能高能X射线加速器：射线加速器：432MeV,穿透钢穿透钢400mm5 射线检测工艺要点射线检测工艺要点:2)射线的运用特点射线的运用特点射线主要优点：射源尺寸小，可用于射线主要优点：射源尺寸小，可用于X射线机无法接近的现场；射线机无法接近的现场；不需电源水源；运转费用低；不需电源水源；运转费用低；射线局限性：探伤灵敏度低，尤其对薄钢试件如射线局限性：探伤灵敏度低，尤其对薄钢试件如5mm以下以下 ；曝光时间长。曝光时间长。射线的成像质量比射线的成像质量比X射线差得多。射线差得多。

17、影响射线照相的三大要素：对比度、明晰度、颗粒度，影响射线照相的三大要素：对比度、明晰度、颗粒度， 射线射线均不如均不如X射线。射线。对裂纹倾向大的资料焊缝检测应慎用对裂纹倾向大的资料焊缝检测应慎用射线射线5 射线检测工艺要点射线检测工艺要点:3)胶片运用特点胶片运用特点 胶片影响成像对比度和颗粒度进而影响灵敏度胶片影响成像对比度和颗粒度进而影响灵敏度 根据成像特性，胶片分成四类，根据成像特性，胶片分成四类，T1、T2、T3、T4。T1为最高为最高类别，类别，T4为最低类别。为最低类别。 规范规定：规范规定：A级和级和AB级射线检测技术应采用级射线检测技术应采用T3类或更高类别的类或更高类别的胶

18、片，胶片，B级射线检测技术应采用级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。 规范规定：采用规范规定：采用射线对裂纹敏感性大的资料进展射线检测时射线对裂纹敏感性大的资料进展射线检测时,应采用应采用T2类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。T2类胶片类胶片:AgfaD4、D5；天津；天津；上海；上海GX-A5。T3类胶片类胶片:AgfaD7、D8；天津；天津；上海；上海GX-A7 采用采用射线对裂纹敏感性大的资料进展射线检测时射线对裂纹敏感性大的资料进展射线检测时,应采用天津应采用天津胶片。胶片。5 射线检测工艺要点射线检测工艺要点:4)透照参数选择透照参数选择焦距焦距影响

19、几何不明晰度，选择焦距必需大于规范规定最小值；影响几何不明晰度，选择焦距必需大于规范规定最小值；K值值影响横向裂纹检出率，选择影响横向裂纹检出率，选择K值不得大于规范规定值；值不得大于规范规定值；射线能量射线能量影响底片对比度、固有不明晰度、颗粒度；选择射影响底片对比度、固有不明晰度、颗粒度；选择射线能量应在规范限定范围；线能量应在规范限定范围；曝光量曝光量影响底片黑度，选择曝光量应在规范限定范围；影响底片黑度，选择曝光量应在规范限定范围；5 射线检测工艺要点射线检测工艺要点:5)透照方式选择透照方式选择2. 4 射线的平安防护射线的平安防护1 射线的危害射线的危害2 辐射计量及单位：照射量辐

20、射计量及单位：照射量(C/kg)吸收剂量吸收剂量(Gy)剂量当量剂量当量(Sv)3 射线防护方法射线防护方法 屏蔽防护屏蔽防护 间隔防护间隔防护 时间防护时间防护2.5 射线照相法的特点射线照相法的特点1检测结果有直接记录检测结果有直接记录-底片底片2可以获得缺陷的投影图像，缺陷定性定量准确可以获得缺陷的投影图像，缺陷定性定量准确3对体积型缺陷检出率高，而面积型缺陷的检出率遭对体积型缺陷检出率高，而面积型缺陷的检出率遭到多种要素影响到多种要素影响4适于检测厚度较薄的工件而不适宜较厚的工件适于检测厚度较薄的工件而不适宜较厚的工件5适宜检测对接焊缝，检测角焊缝效果较差，不适宜适宜检测对接焊缝，检测

21、角焊缝效果较差，不适宜检测板材、棒材、锻件。检测板材、棒材、锻件。6有些试件构造和现场条件不适宜射线照相有些试件构造和现场条件不适宜射线照相7对缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸高度确对缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸高度确实定比较困难。实定比较困难。8检测本钱高检测本钱高9射线照相检测速度慢射线照相检测速度慢10射线对人体有害射线对人体有害第三章超声波检测根底知识第三章超声波检测根底知识 超声波检测主要用于检测试件的内部缺陷，它的运用非常广泛。用于探伤的超声波频率为0.425兆Hz，用得最多的超声波频率为5兆Hz。3.1 超声波的发生及其性质1 超声波的发生和接纳 压电效应2 超声波的种类超声

22、波的种类 纵波纵波 横波横波 外表波外表波 板波板波3 声速声速横波的声速大约是纵波声速的一半，而外表波声速大约是横波横波的声速大约是纵波声速的一半，而外表波声速大约是横波的的0.9倍。倍。4 波长波长波在一个周期内或者说质点完成一次振动所经过的路程称为波波在一个周期内或者说质点完成一次振动所经过的路程称为波长。长。C=f动摇方程动摇方程5 超声场及其特征量超声场及其特征量充溢超声波的空间叫做超声场，描画超声场的特征量有声压、充溢超声波的空间叫做超声场，描画超声场的特征量有声压、声强、声阻抗。声强、声阻抗。6 界面的反射和透射界面的反射和透射1垂直入射时的反射和透射垂直入射时的反射和透射 动画

23、演示动画演示当超声波垂直地传到界面上时，一部分超声波被反射，而剩余当超声波垂直地传到界面上时，一部分超声波被反射，而剩余的部分就穿透过去，这两部分的比率取决于两种介质的声阻抗。的部分就穿透过去，这两部分的比率取决于两种介质的声阻抗。2斜射时的反射和透射动画演示斜射时的反射和透射动画演示当超声波斜射到界面上时，在界面上会产生反射和折射。当超声波斜射到界面上时，在界面上会产生反射和折射。7 指向性圆盘源波束指向性矩形波源波束指向性指向性圆盘源波束指向性矩形波源波束指向性 声束集中向一个方向辐射的性质，叫做声波的指向性，探伤声束集中向一个方向辐射的性质，叫做声波的指向性，探伤采用高频超声波，其理由之

24、一就是希望它具有指向性，便于超采用高频超声波，其理由之一就是希望它具有指向性，便于超声波探伤发现缺陷，确定缺陷位置。声波探伤发现缺陷，确定缺陷位置。8 近场区和远场区近场区和远场区 在超声波探头的声场中，按声场变化的规律分为近场区和远在超声波探头的声场中，按声场变化的规律分为近场区和远场区。场区。 ND/4 9 小物体上的超声波反射小物体上的超声波反射 在超声波探伤中，缺陷尺寸的检出极限超声波波长的一半。在超声波探伤中，缺陷尺寸的检出极限超声波波长的一半。缺陷尺寸越大，越容易反射。缺陷尺寸越大，越容易反射。3.2 超声波检测原理超声波检测原理超声波检测可以分为超声探伤和超声波测厚，以及超超声波

25、检测可以分为超声探伤和超声波测厚，以及超声波测晶粒度、测应力等。声波测晶粒度、测应力等。脉冲反射法的纵波和横波探伤原理如下：仪器原理动脉冲反射法的纵波和横波探伤原理如下：仪器原理动画演示画演示1垂直探伤法动画演示垂直探伤法动画演示当把脉冲振荡器发生的电压加当把脉冲振荡器发生的电压加到晶片上时，晶片振动，产生到晶片上时，晶片振动，产生超声波脉冲。假设被检物是钢超声波脉冲。假设被检物是钢的话，超声波以的话，超声波以5900米米/秒的秒的固定速度在钢内传播，超声波固定速度在钢内传播，超声波碰到缺陷时，一部分从缺陷反碰到缺陷时，一部分从缺陷反射回到晶片，而另一部分未碰射回到晶片，而另一部分未碰到缺陷的

26、超声波继续前进，直到缺陷的超声波继续前进，直到被检底面才反射回来。到被检底面才反射回来。2 斜射探伤法动画演示斜射探伤法动画演示在斜射法探伤时，由于超声波在被检物中是斜向传播的，超声在斜射法探伤时，由于超声波在被检物中是斜向传播的，超声波是斜射向底面不会有底面回波。波是斜射向底面不会有底面回波。目前对扫描线的调整有三种方法：1按程度间隔调整2按深度调整3按声程调整3.3 试块试块1 试块的用途试块的用途1确定适宜的探伤方法确定适宜的探伤方法2确定探伤灵敏度和评价缺陷大小确定探伤灵敏度和评价缺陷大小3校验仪器和测试探头性能校验仪器和测试探头性能2 试块的种类试块的种类1调理仪器及测试探头的试块：

27、调理仪器及测试探头的试块：CSK-IA2纵波探伤用试块：人工缺陷为平底孔纵波探伤用试块：人工缺陷为平底孔3横波探伤用试块：人工缺陷为横孔横波探伤用试块：人工缺陷为横孔CSK-IIA CSK-IIIA3.4 超声波检测工艺要点超声波检测工艺要点1、探伤方法的分类、探伤方法的分类1按原理分类按原理分类2按显示方式分类按显示方式分类3按探伤波型分类按探伤波型分类4按探头数目分类按探头数目分类5按接触方式分类按接触方式分类2、根本操作、根本操作1探伤时机选择探伤时机选择2探伤方法的选择探伤方法的选择3探伤仪器的选择探伤仪器的选择4探伤方向和扫描面的选定探伤方向和扫描面的选定5频率的选择频率的选择6晶片

28、直径、折射角的选定晶片直径、折射角的选定7探伤面修整探伤面修整8耦合剂和耦合方法的选择耦合剂和耦合方法的选择9确定探伤灵敏度确定探伤灵敏度10进展粗探伤和精探伤进展粗探伤和精探伤11写出检验报告写出检验报告3.5 超声波检测的特点超声波检测的特点1面积型缺陷检出率高，体积型检测率低面积型缺陷检出率高，体积型检测率低2适宜检测厚度较大的工件适宜检测厚度较大的工件3适于检测各种试件适于检测各种试件4检验本钱低，速度块，仪器体积小检验本钱低，速度块，仪器体积小5无法得到缺陷的直观图像，定性困难，定量精无法得到缺陷的直观图像，定性困难，定量精度不高度不高6检测结果无直接见证记录检测结果无直接见证记录7

29、对缺陷在工件厚度方向上定位准确对缺陷在工件厚度方向上定位准确8材质、晶粒度对探伤有影响材质、晶粒度对探伤有影响9工件不规那么的外形和一些构造会影响检测工件不规那么的外形和一些构造会影响检测10不平或粗糙的外表会影响耦合和扫查，从而影不平或粗糙的外表会影响耦合和扫查，从而影响检测精度和可靠性响检测精度和可靠性第四章磁粉检测根底知识第四章磁粉检测根底知识4.1磁粉检测的原理磁粉检测的原理1磁场与磁力线磁场与磁力线磁力作用的空间磁力作用的空间 称为磁场称为磁场采用磁力线的概念采用磁力线的概念,为了笼统地描画磁场为了笼统地描画磁场2 通电导体产生的磁场通电导体产生的磁场3 描画磁场的几个物理量描画磁场

30、的几个物理量磁场强度磁场强度(H):表征磁化强度的物理量表征磁化强度的物理量,单位单位(A/m)磁感应强度磁感应强度(B):表征被磁化了的磁介质中磁场强度大小的物理表征被磁化了的磁介质中磁场强度大小的物理量量,单位单位(T)磁导率磁导率(u):表征磁介质磁特性的物理量表征磁介质磁特性的物理量 B=uH4 铁磁资料的磁化曲线铁磁资料的磁化曲线通用通用BH曲线来描画铁磁性资料的磁化过程。表示循环交变曲线来描画铁磁性资料的磁化过程。表示循环交变过程过程B与与H的关系曲线叫做磁滞曲线。的关系曲线叫做磁滞曲线。5 磁粉检测的原理磁粉检测的原理试件中的裂纹呵斥的不延续性使得磁力线畸变，由于裂纹中空试件中的

31、裂纹呵斥的不延续性使得磁力线畸变，由于裂纹中空气介质的磁导率远远低于试件的磁导率，使磁力线受阻，一部气介质的磁导率远远低于试件的磁导率，使磁力线受阻，一部分磁力线挤到缺陷的底部，一部分穿过裂纹，一部分排斥出工分磁力线挤到缺陷的底部，一部分穿过裂纹，一部分排斥出工件的外表后进入工件。假设这是在工件上撒上磁粉，漏磁场就件的外表后进入工件。假设这是在工件上撒上磁粉，漏磁场就会吸附磁粉，构成与缺陷外形相近的磁粉堆积，从而显示缺陷。会吸附磁粉，构成与缺陷外形相近的磁粉堆积，从而显示缺陷。6影响漏磁场的要素影响漏磁场的要素1外加磁场强度外加磁场强度2资料的磁导率资料的磁导率3缺陷的延伸方向与磁力线的夹角缺

32、陷的延伸方向与磁力线的夹角4缺陷的埋藏深度缺陷的埋藏深度4.2 磁粉检测设备器材磁粉检测设备器材1 磁力探伤机分类磁力探伤机分类按设备体积和分量，可分为固定式，挪动式，携带式按设备体积和分量，可分为固定式，挪动式，携带式2 灵敏度试片灵敏度试片 用于检查磁粉探伤设备、磁粉、用于检查磁粉探伤设备、磁粉、磁悬液的综合性能。磁悬液的综合性能。3 磁粉和磁悬液磁粉和磁悬液4.3 磁粉检测工艺特点磁粉检测工艺特点1 磁化方法磁化方法线圈法、磁轭法、轴向通电法、触头法、中心导体法、线圈法、磁轭法、轴向通电法、触头法、中心导体法、旋转磁场磁化法旋转磁场磁化法2 磁粉探伤方法分类磁粉探伤方法分类按检验时机分为

33、延续法和剩磁法按检验时机分为延续法和剩磁法按运用的电流种类可分为交流法、直流法按运用的电流种类可分为交流法、直流法按施加磁粉的方法分类可分为湿法和干法按施加磁粉的方法分类可分为湿法和干法3 磁粉探伤的普通程序磁粉探伤的普通程序预处置预处置磁化磁化施加磁粉施加磁粉磁痕的察看与判别磁痕的察看与判别记录记录后处置后处置4.4 磁粉检测的特点磁粉检测的特点1适宜铁磁资料探伤，不能用于非铁磁资料适宜铁磁资料探伤，不能用于非铁磁资料2可以检测出外表和近外表的缺陷，不能检测内部可以检测出外表和近外表的缺陷，不能检测内部缺陷缺陷3灵敏度高，可以发现细小的裂纹灵敏度高，可以发现细小的裂纹4检测本钱很低，速度快检

34、测本钱很低，速度快5工件的外形和尺寸有时对探伤有影响，难以磁化工件的外形和尺寸有时对探伤有影响，难以磁化而无法探伤而无法探伤第五章浸透检测根底知识第五章浸透检测根底知识5.1 浸透检测的根本原理浸透检测的根本原理 零件外表被施涂含有荧光染料或着色染料的浸透液后，在毛零件外表被施涂含有荧光染料或着色染料的浸透液后，在毛细管的作用下，经过一段时间，浸透液可浸透到外表开口的缺细管的作用下，经过一段时间，浸透液可浸透到外表开口的缺陷中，经去除零件外表多余的浸透液后；再在零件外表施涂显陷中，经去除零件外表多余的浸透液后；再在零件外表施涂显象剂，同样在毛细管的作用下，显象剂将吸引缺陷中保管的浸象剂，同样在

35、毛细管的作用下，显象剂将吸引缺陷中保管的浸透液，浸透液回渗到显象剂中；在一定光源下，缺陷处的浸透透液，浸透液回渗到显象剂中；在一定光源下，缺陷处的浸透液痕迹被显示，从而测出缺陷的形貌和分布形状。液痕迹被显示，从而测出缺陷的形貌和分布形状。 浸透操作的根本步骤有：浸透、清洗、显象、察看浸透操作的根本步骤有：浸透、清洗、显象、察看 浸透探伤根本操作过程：浸透、清洗、显象、察看5.2浸透检测的分类浸透检测的分类1 根据浸透液所含染料成分分类着色法、荧光法根据浸透液所含染料成分分类着色法、荧光法2 浸透液去除方法分类水洗型、后乳化型、溶剂去除浸透液去除方法分类水洗型、后乳化型、溶剂去除型型3 显象法的

36、种类显象法的种类1湿式显象法湿式显象法2快干式显象法快干式显象法3干式显象法干式显象法4无显象剂式显象法无显象剂式显象法5.3 浸透检测工艺要点浸透检测工艺要点1 不同浸透探伤方法的操作程序不同浸透探伤方法的操作程序2 各种浸透探伤方法的优缺陷和运用选择各种浸透探伤方法的优缺陷和运用选择1)着色法需在白光或日光下进展，在没有电源的场所下也能任务。着色法需在白光或日光下进展，在没有电源的场所下也能任务。荧光法需求配备黑光灯和暗室，无法在没有电源及暗室的场所荧光法需求配备黑光灯和暗室，无法在没有电源及暗室的场所下任务。下任务。2)水洗着色法适于检查外表较粗糙的零件，操作简便，本钱较低。水洗着色法适

37、于检查外表较粗糙的零件，操作简便，本钱较低。该法灵敏度较低，不易发现微细缺陷。该法灵敏度较低，不易发现微细缺陷。3)后乳化型着色法具有较高灵敏度，适宜检查较精细零件，但对后乳化型着色法具有较高灵敏度，适宜检查较精细零件，但对螺栓，有孔、槽零件，以及外表粗糙零件不适用。螺栓，有孔、槽零件，以及外表粗糙零件不适用。4)溶剂去除型着色法运用较广，特别是运用喷罐，可简化操作，溶剂去除型着色法运用较广，特别是运用喷罐，可简化操作，适宜于大型零件的部分检验。适宜于大型零件的部分检验。5)水洗型荧光法本钱较低，有亮堂的荧光，易于水洗，检查速度水洗型荧光法本钱较低，有亮堂的荧光，易于水洗，检查速度快，适用于外

38、表较粗糙零件，带有螺纹、键槽的零件及大批量快，适用于外表较粗糙零件，带有螺纹、键槽的零件及大批量小零件的检查。小零件的检查。6)后乳化型荧光法具有极亮堂的荧光，对细小缺陷检验灵敏度高，后乳化型荧光法具有极亮堂的荧光，对细小缺陷检验灵敏度高，能检出宽而浅的缺陷，反复检验效果好，但本钱较高，因清洗能检出宽而浅的缺陷，反复检验效果好，但本钱较高，因清洗困难，不适用有螺纹、键槽及盲孔零件的检查，也不适用于外困难，不适用有螺纹、键槽及盲孔零件的检查，也不适用于外表粗糙零件的检验。表粗糙零件的检验。7)溶剂去除型荧光法轻便，适用于部分检查，反复检查效果好，溶剂去除型荧光法轻便，适用于部分检查，反复检查效果

39、好，可用于无水源场所，灵敏度较高，本钱亦较高。可用于无水源场所，灵敏度较高，本钱亦较高。3 浸透探伤工艺要点浸透探伤工艺要点1预处置质量；预处置质量；2浸透时间；浸透时间；3浸透温度；浸透温度；4清洗方法；清洗方法；5显象时间。显象时间。4 浸透探伤本卷须知浸透探伤本卷须知1预处置时要在试件上呵斥充分润湿条件预处置时要在试件上呵斥充分润湿条件2确定适当的浸透时间确定适当的浸透时间3清洗时只需除去覆着在试件上的浸透液，不要过度清洗清洗时只需除去覆着在试件上的浸透液，不要过度清洗4干式显象前进展枯燥时，要有适宜的枯燥温度干式显象前进展枯燥时，要有适宜的枯燥温度.4 浸透检测的平安管理浸透检测的平安

40、管理5.5 浸透检测的特点浸透检测的特点1 除了疏松多孔资料外任何种类的资料都可以用除了疏松多孔资料外任何种类的资料都可以用2 外形复杂的部件也可以用浸透检测外形复杂的部件也可以用浸透检测3 同时存在几个方向的缺陷，用一次探伤操作就可以同时存在几个方向的缺陷，用一次探伤操作就可以完成检测完成检测4 不需求大型的设备不需求大型的设备5 试件外表光洁度影响大试件外表光洁度影响大6 可以检测外表张口的缺陷，但对埋藏缺陷或闭合型可以检测外表张口的缺陷，但对埋藏缺陷或闭合型的外表缺陷无法检测出的外表缺陷无法检测出7 检测程序多，速度慢检测程序多，速度慢8 检测灵敏度比磁粉探伤低检测灵敏度比磁粉探伤低9

41、资料较贵，本钱较高资料较贵，本钱较高10 有些资料易燃、有毒有些资料易燃、有毒第六章涡流检测根底知识第六章涡流检测根底知识6.1 涡流检测的原理涡流检测的原理 线圈产生交变磁场，交变磁场在试件中产生涡流。试件中的线圈产生交变磁场，交变磁场在试件中产生涡流。试件中的涡流方向与给定的试件施加交流磁场线圈的电流方向相反。由涡流方向与给定的试件施加交流磁场线圈的电流方向相反。由涡流所产生的交流磁场也产生磁力线，其磁力线也是随时间而涡流所产生的交流磁场也产生磁力线，其磁力线也是随时间而变化，它所穿过鼓励线圈内感生出交流电。由于这个电流方向变化，它所穿过鼓励线圈内感生出交流电。由于这个电流方向与涡流方向相

42、反结果就与鼓励线圈中原来的电流方向一样了，与涡流方向相反结果就与鼓励线圈中原来的电流方向一样了，这就是说线圈中的电流由于涡流的反作用而添加了。假设涡流这就是说线圈中的电流由于涡流的反作用而添加了。假设涡流变化的话，这个添加部分也变化。测定这个电流的变化，就可变化的话，这个添加部分也变化。测定这个电流的变化，就可以测得涡流的变化，从而得到试件的信息。以测得涡流的变化，从而得到试件的信息。6.2 涡流检测仪器、探头和对比试样涡流检测仪器、探头和对比试样1涡流探伤仪涡流探伤仪2 探头3 对比试样：用于调理涡流检测仪检测灵敏度、确定验收程度和保证检测结果准确性。6.3涡流检测的工艺特点涡流检测的工艺特点1 试件外表的清理试件外表的清理2 探伤仪器的稳定探伤仪器的稳定3 探伤规范的选择探伤规范的选择1探伤频率的选定；探伤频率的选定；2线圈的选择；线圈的选择；3探伤灵敏度的选定；探伤灵敏度的选定；4平衡调整；平衡调整；5相位角的选定；相位角的选定；6直流磁场的调整直流磁场的调整4 探伤实验探伤实验6.