使用双晶探头测量材料腐蚀区域的壁厚

1、使用双晶探头测量材料腐蚀区域的壁厚 奥林巴斯有几种小型手持式超声测厚仪专门用于腐蚀测量应用。一般来说，这些测厚仪需要与一组专用的双晶探头一起使用完成检测应用。这组探头涵盖了各种厚度范围和各种温度条件。在某些关键性的应用中，特别是在温度较高的情况下，用户可能会要求使用一种超声波形显示视图，以核查是否探测到了有效的回波。38DL PLUS 测厚仪的波形显示视图可满足用户的这种要求。要了解有关这款仪器的完整信息，请参阅仪器的数据表。另一款专用于这类检测的仪器是45MG测厚仪。在腐蚀检测应用中，双晶探头可有效地与探伤仪一起使用。数字式探伤仪，如：奥林巴斯的EPOCH系列（EPOCH 650和EPOCH

2、 6LT探伤仪），不仅可以进行厚度测量，还可以提供波形显示视图。 测厚仪和探伤仪 超声腐蚀测厚仪的目的是探测和测量来自被测样件内壁的回波。材料中的不连续性，如：缺陷、裂纹、空隙或分层，可能会产生波幅足以触发测厚仪报警的回波，从而会表明被测样件的某个部位存在着不同寻常的壁厚减薄情况。但是，腐蚀测厚仪的设计目的不是为了探测缺陷或裂纹，因此我们不能依靠测厚仪探测材料的不连续性。要正确评估材料的不连续性，则需要由受过正规培训的操作人员使用一款超声探伤仪，如：奥林巴斯的EPOCH 6LT或EPOCH 650仪器，对材料进行检测。一般来说，对于任何腐蚀测厚仪无法解释的读数，都需要完成进一步的检测。 操作步

3、骤 以下所述通用的检测原理对所有借助双晶探头完成的腐蚀测量应用都适用，无论使用的是便携式测厚仪还是探伤仪。需要牢记的是，在任何情况下，都要根据仪器操作手册中讲述的程序，以正确的方式校准仪器的声速和零位偏移。 1. 探头选择 任何超声测量系统（探头加测厚仪，或探头加探伤仪）都有一个最小可测厚度，低于这个限度，就不会完成有效的测量。通常，在生产商的说明文件中会明确标出这个最小可测厚度值。随着探头频率的增加，最小可测厚度会降低。在腐蚀应用中，最小剩余壁厚通常是要测量的参数，因此了解所用探头的可测厚度范围至关重要。如果使用双晶探头测量一个厚度低于可测最小厚度值的样件，则测厚仪可能会探测到无效回波，而屏

4、幕上可能会错误地显示极高的厚度读数。下面的表中列出了38DL PLUS和45MG测厚仪在使用标准探头测量钢材料时可测到的大约最小厚度。注意这些数字是约略值。具体应用中确切的最小可测厚度值取决于材料声速、表面条件，以及材料的几何形状，而且用户需通过实验确定这个厚度值。 探头 直径 频率 连接器 约略最小厚度值 约略最小半径值 温度范围* 英寸 毫米 MHz（兆赫兹 ） 英寸 毫米 英寸 毫米 华氏度（°F） 摄氏度（°C） D790、D790-SM 0.434 11 5 平直型 0.04 1 0.75 20 -5 932 -20 500 D791 0.434 11

5、 5 直角型 0.04 1 0.75 20 -5 932 -20 500 D791-RM 0.434 11 5 直角型 0.04 1 0.75 20 -5 752 -20 400 D7912 0.295 7.5 10 平直型 0.02 0.5 0.50 12.7 32 122 0 50 D7913 0.295 7.5 10 直角型 0.02 0.5 0.50 12.7 32 122 0 50 D794 0.283 7.2 5 平直型 0.03 0.75 0.50 12.7 32 122 0 50 D797-SM 0.900 22.9 平直型 0.15 3.8 4.00 100 -5 752 -

6、20 400 D797 0.900 22.9 2 直角型 0.15 3.8 4.00 100 -5 752 -20 400 D798 0.282 7.2 7.5 直角型 0.02 0.71 0.50 12.7 -5 300 -20 150 D799 0.434 11 5 直角型 0.04 1 0.75 20 -5 300 -20 150 D7226 0.350 8.9 7.5 直角型 0.02 0.71 0.50 12.7 -5 300 -20 150 D7906-SM 0.434 11 5 平直型 0.04 1 0.75 20 32 122 0 50 D7906-RM 0.434 11 5 平直型 0.04 1 0.75 20 32 122 0 50 D7908 0.283 2 7.5 平直型 0.04 1 0.50 12.7 32 122 0 50 D7910 0.500 7 5 直角型 0.04 1 1.00 25 32 122 0 50 MTD705 0.200 5.1 5 直角型