第六章原子光谱法

1、第六章第六章 原子光谱法原子光谱法基于电磁辐射能量与待测物质相互作用后，由所产生的辐射基于电磁辐射能量与待测物质相互作用后，由所产生的辐射信号来确定物质组成和结构的分析方法。信号来确定物质组成和结构的分析方法。辐射能与待测物质间的相互作用仅涉及原子能电子的能及跃辐射能与待测物质间的相互作用仅涉及原子能电子的能及跃迁，并通过光谱信号来确定物质组成的分析方法。迁，并通过光谱信号来确定物质组成的分析方法。基于原子外层电子的跃迁，原子光谱法科分为原子吸收光谱基于原子外层电子的跃迁，原子光谱法科分为原子吸收光谱法、原子发射光谱法、原子荧光光谱法。法、原子发射光谱法、原子荧光光谱法。6.1 原子发射光谱法

2、原子发射光谱法Atomic Emission Spectrometry, AES定义：根据待测物质的气态原子或离子在热激发或电激发时所定义：根据待测物质的气态原子或离子在热激发或电激发时所 发射的特征线状光谱而进行定性、定量分析的方法。发射的特征线状光谱而进行定性、定量分析的方法。基态元素基态元素M激发态激发态M热能、电能热能、电能E2. 外层电子（低能态外层电子（低能态E1 高能态高能态E2）1. 能量（电或热、光）能量（电或热、光） 基态原子基态原子4. 发出特征频率或波长的光子特征谱线！发出特征频率或波长的光子特征谱线！3. 外层电子（高能态外层电子（高能态E2 低能态低能态E1 ）ch

3、hEEE12电子在两个能级之间跃迁的选定原则：原子的能级通常用光谱项符号nMLJ来表示。(1) 主量子数的变化：n为整数，包括零；(2) 主角量子数的变化：L=1；(3) 内量子数的变化：J=0, 1；但是当J=0时， J=0的跃迁被禁阻。(4) 总自旋量子数的变化：S=0，即不同多重性状态之间的跃迁被禁阻。几个概念几个概念原子线原子线：原子外层电子的跃迁所发射的谱线，如：原子外层电子的跃迁所发射的谱线，如Na(I)激发电位激发电位：原子外层电子由低能态跃迁到高能态所：原子外层电子由低能态跃迁到高能态所 需要的能量。需要的能量。共振线共振线：原子外层电子由激发态到基态跃迁所产生的谱线：原子外层

4、电子由激发态到基态跃迁所产生的谱线电离电位电离电位：原子受激后得到足够能量而失去电子，使原子：原子受激后得到足够能量而失去电子，使原子 电离所需要的最小能量电离所需要的最小能量离子线离子线：离子的外层电子跃迁产生的谱线，以：离子的外层电子跃迁产生的谱线，以、等表示等表示6.1.1.2 谱线强度谱线强度样品样品光源光源基态原子基态原子(N0)激发态态原子激发态态原子(Ni)样品蒸发样品蒸发样品激发样品激发等离子体等离子体(原子原子+离子离子+电子电子)整体处于热力学整体处于热力学平衡状态平衡状态谱线强度与激发态原子数谱线强度与激发态原子数Ni 成正比。成正比。kTEiiieggNN00g：统计权

5、重；Ei：激发电位； k：波尔兹曼常数电子在i、j两个能级之间跃迁产生谱线强度Iij为： ijijiijhvANI Aij：跃迁概率；h：普朗克常量；vij：发射谱线的频率热力学平衡状态:N0 与Ni 之间遵守BoltzmannBoltzmann分布：kTEijijiijieNhvAggI00由于Ni0.1、正负电荷相等的电离气体等离子体光源：外观上类似火焰的放电光源 原理： 高频感应涡流加热分析性能：分析性能：(1) 蒸发、激发温度高；(2) 检出限低，重现性好；(3) 基体效应、自吸或自蚀效应小；(4) 光谱背景小。3. 高压电容火花高压电容火花分析性能：分析性能：(1) 激发温度高，适于

6、难激发元素分析；(2) 电极温度低，检出限低，适于易熔金属、合金及高含 量元素的分析；(3) 放电稳定，重现性好。光源的选择：光源的选择：3) 含量高低; 1) 试样的性质：如挥发性、电离电位等; 2) 试样形状：如块状、粉末、溶液;4) 光源特性：蒸发特性、激发特性、放电稳定性。6.1.2.2 分光系统分光系统 1. 棱镜分光系统：光的折射现象分类：棱镜分光系统、光栅分光系统棱镜分光系统的光学特性：色散率、分辨率和集光本领 棱镜分光系统光路 光栅材料：光栅材料：玻璃、金属（铝）特点：特点：光栅结构光栅结构：平行、等宽、等间隔的多个狭缝。 2. 光栅分光系统光栅分光系统1) 更高的分辨率和色散

7、率2) 工作波长范围宽（紫外、可见、红外）3) 匀排光谱分类：平面反射光栅；凹面反射光栅、中阶梯光栅分类：平面反射光栅；凹面反射光栅、中阶梯光栅电弧、火花为光源的电弧、火花为光源的AES仪器：固体样品放在电极上；仪器：固体样品放在电极上；等离子为光源的等离子为光源的AES仪器：液体进样。仪器：液体进样。光电倍增管和阵列检测器。光电倍增管和阵列检测器。(1) 光电直读等离子体原子发射光谱仪光电直读等离子体原子发射光谱仪(2) 全谱直读等离子体光谱仪全谱直读等离子体光谱仪6.1.3 原子发射光谱分析法与应用原子发射光谱分析法与应用1. 分析原理：分析原理：每种元素都有其特征结构灵敏线灵敏线：激发电

8、位低，跃迁几率大的谱线6.1.3.1 光谱定性分析光谱定性分析共振线共振线：由激发态直接跃迁至基态所辐射的谱线。 由最低能级的激发态到基态的跃迁称为第一共振线。最后线最后线：当待测物含量逐渐减小时，谱线数目亦相应减少， 当c接近0时所观察到的谱线。特征线组特征线组：强度相近、同时出现，具有一定特征容易辨认 的一组谱线。特征谱线。如Na 分析线分析线：在进行元素的定性或定量分析时，根据测定的 含量范围的实验条件，对每一元素可选一条或 几条最后线作为测量的分析线 自吸线自吸线：当辐射能通过发光层周围的蒸汽原子时，将为 其自身原子所吸收，而使谱线强度中心强度减 弱的现象 自蚀线自蚀线：自吸最强的谱线

9、的称为自蚀线 (1) 标准试样光谱比较法利用哈特曼光栏将试样与纯物质同时摄谱元素光谱图元素光谱图：波长标尺；铁光谱；元素灵敏线；元素符号。在一张放大20倍后的不同波段的铁光谱上，将各元素的灵敏线按波长位置标插在铁光谱图的相应位置而制成。分析过程：分析过程：(1) 谱线丰富、且有容易记忆的特征谱线；(2) 谱线均匀：间距“均匀”、强度“均匀”像一把标尺！ (3) 定位准确：每条铁谱线波长已准确测得。试样与纯铁利用哈特曼光栏并列摄谱于同一感光板，采用映谱仪将谱片放大20倍，与元素光谱图比较。bacI cbaIlglglg试样的蒸发、激发条件，以及试样的组成、形态等的任何变化，均会使参数a发生变化，

10、直接影响谱线强度。这种变化，特别是激发温度的变化是很难控制的。 1. 绝对强度法绝对强度法定义：利用待测元素的分析线和内标元素的内标 线的强度比与元素含量的关系进行光谱定 量分析的方法。2. 内标法内标法设被测元素的含量为c1，谱线强度为I1；内标元素含量为c2，谱线强度为I2。分析线与内标线的强度比R为：21221121bbcacaIIR当内标元素的含量一定且又无自吸时当内标元素的含量一定且又无自吸时bacR cbaRlglglg内标元素和内标线的选择原则：内标元素和内标线的选择原则：1) 内标元素在试样和标样中的含量必须固定、相同;2) 内标元素与分析元素具有相近的蒸发特性;3) 分析线和

11、内标线具有相近的激发或电离电位;4) 分析线和内标线具有相近的波长;5) 分析线和内标线没有自吸收或很小，且不受其它谱线的干扰。 S0 C(加入加入)-Cx应用：复杂基体的少量样品的测定3 标准加入法标准加入法Cx+0，Cx+C1，Cx+C2，Cx+C3， S S1 S2 S3 Alan Walsh (1916-1998)和他的原子吸收光谱仪在一起6.2 原子吸收光谱法（原子吸收光谱法（AAS）6.2.1.1 AAS的产生的产生气态基态原子吸收其共振辐射，外层电子由基态跃迁至激发态而产生原子吸收光谱。E0E1E2E3En基态能级基态能级第一激发态第一激发态更高激发态更高激发态吸收吸收主共振线主

12、共振线发射发射共振吸收线共振吸收线气态基态原子对于同种原子发射出来的特征光谱辐射具有吸收能力的现象称为原子吸收。AAS与与AES之比较之比较相同点：相同点：均为原子产生的线状光谱。不同点：不同点：AAS：基于“基态原子”选择性吸收光辐射能并使 该光辐射强度降低而产生的光谱；AES：基态原子受热、电作用，从基态跃迁至激 发态，然后再返回到基态时所产生的光谱AAS 共振吸收线共振吸收线AES 共振发射线共振发射线AAS与与UV-VIS之比较之比较相同点：相同点：均为核外层电子吸收辐射产生的吸收光谱不同点：不同点：吸收机制不同AAS：原子产生的吸收，原子光谱，线状光谱， 谱线宽度很窄；UV-VIS：

13、分子产生的吸收，分子光谱，带状光谱， 谱带很宽。AAS特点和应用特点和应用(1) 灵敏度高，检出限低(2) 测量精度好(3) 选择性好(4) 分析速度快，适用范围广(5) 仪器简单，自动化程度高，操作简便(6) 不能进行多元素同时测定各种元素的原子结构和外层电子的排布不同各种元素的原子结构和外层电子的排布不同6.2.1.2 原子吸收光谱与原子结构原子吸收光谱与原子结构从基态跃迁至第一激发态时吸收的能量不同从基态跃迁至第一激发态时吸收的能量不同各元素的各元素的 共振线共振线 不同不同最灵敏谱最灵敏谱线线chhEEE01原子吸收光谱的性质：原子吸收光谱的性质：线状光谱，吸收光谱，紫外可见光谱，原子

14、光谱kTEiiieggNN006.2.1.3 基态原子数与激发态原子数的关系基态原子数与激发态原子数的关系一定温度下，处于热力学平衡时，激发态原子数与基态原子数之比服从波尔兹曼分布定律：激发激发能能(1) T 愈高，Ni / N0值愈大；(2) T 一定，Ei 越小，吸收波长越长， Ni / N0值愈大；(3) 通常条件下，激发态和基态原子数之比小于1， 基态原子数近似地等于总原子数。与N0有关，N0受温度影响很小，准确度较高， N0占99%，灵敏度较高。与Ni 有关，受温度影响大，准确度较差；Ni 占比例很小，灵敏度较低。原子吸收光谱法原子吸收光谱法原子发射光谱法原子发射光谱法6.2.1.4

15、 AAS的轮廊的轮廊原子吸收光谱线很窄，占据着有限的、相当窄的频率或波长范围，具有一定的宽度和轮廓。中心频率中心频率中心吸收系中心吸收系数数半宽度半宽度中心频率中心频率原子能级原子能级光子观测光子观测光子观测光子观测谱线变宽的原因谱线变宽的原因1. 自然宽度自然宽度无外界条件影响时的谱线宽度nmN5-61010: 2. 多普勒变宽多普勒变宽 原子在空间作无规则热运动所引起的变宽nmD33105101:影响因素：影响因素：温度谱线中心波长原子量3. 碰撞变宽碰撞变宽吸收原子或分子相互碰撞而引起的谱线变宽共振变宽共振变宽被测元素激发态原子与基态原子相互碰撞引起的变宽，又称赫鲁兹马克变宽洛伦茨变宽洛

16、伦茨变宽被测元素原子与其它元素的原子相互碰撞引起的变宽4. 其它变宽其它变宽斯塔克效应、塞曼效应6.2.1.5 AAS的测量的测量1. 积分吸收测量积分吸收测量法法积分吸收系数：在吸收线轮廓内，吸收系数的积分含义：含义：基态原子蒸汽所吸收的全部能量根据经典色散理论，基态原子数N0与吸收曲线下面所包括的整个面积的定量关系为：fNmcedvKv02基态原子数基态原子数振子强度振子强度因为Ni N0，所以待测元素原子总数待测元素原子总数 kNdvKv测量积分吸收的困难测量积分吸收的困难:谱线宽度10-3nm 。若=500nm，要求单色器分辩率为：R=500/10-3 = 500000。目前无法实现。

17、 2. 峰值吸收测量法峰值吸收测量法原理：原理：在温度不太高的稳定火焰条件下，峰值吸收 系数K0与火焰中待测元素的基态原子浓度N0 之间存在简单的线性关系。条件：条件：通过吸收介质的发射线的中心频率与吸收线 的中心频率严格一直。(2) 发射线的半宽度远远小于吸收线的半宽度。ae,0,0ae根据吸光度的定义：IIA0lgve 频率范围内的入射光强频率范围内的入射光强ve 频率范围内的透射光强频率范围内的透射光强evvdvII0, 00evevLKvvvdveIdvII0, 00evevLKvvvdveIdvIA0, 00, 0lg0,KKaeLKeedvIedvIALKLKvvLKvvee00,

18、 00, 043. 0lg1lglg000若吸收线轮廓主要取决于多普勒变宽，则fNmcevKD0202ln2fLNmcevAD022ln243. 0cN所以在给定的实验条件下，cfLmcevAD22ln243. 0kcA 比例常数比例常数被测元素含量被测元素含量原子吸收测量的基本关系式原子吸收测量的基本关系式与实验有与实验有关的常数关的常数6.2.2 AAS 的仪器类型与结构流程的仪器类型与结构流程锐线光源原子化器分光系统检测系统试液(1) 锐线光源锐线光源：发射待测元素的共振辐射；(2) 原子化器原子化器：提供能量，使试样干燥，蒸发和原子化； (3) 分光系统分光系统：分离锐线辐射和背景辐射

19、(4) 检测器：检测器：接受欲测量的光信号并将其转换为电信号， 经放大和运算处理给出分析结果6.2.2.1 光源光源作用作用：发射被测元素特征共振辐射。：发射被测元素特征共振辐射。要求要求: (1) 发射线半宽度明显小于吸收线宽度；(2) 辐射强度大、背景低；(3) 稳定性好，30min内漂移小于1%、噪声小于0.1%；(4) 使用寿命长于5安培小时。空心阴极灯空心阴极灯优缺点：(1) 辐射光强度大，激发效率高；(2) 谱线窄，半宽度小。(3) 稳定（需预热）(4) 每测一种元素需更换相应的灯。光源调制光源调制目的：消除原子化器直流辐射的干扰。方法：电调制、机械调制原子吸收中的原子发射现象原子

20、吸收中的原子发射现象:(2) 原子发射释放出的能量可能有多种形式，辐射也 不在一个方向上，但对测量仍将产生一定干扰。(1) 原子受到辐射跃迁到激发态后，将再跃迁至基态。6.2.2.2 原子化系统原子化系统原子化方法：原子化方法：火焰法、电热高温石墨管。1. 火焰原子化器火焰原子化器作用：作用：提供能量，使试液干燥、蒸发、原子化结构和功能：结构和功能：(1) 雾化器：雾化器：吸入试样并雾化，形成微米级的气溶胶。(2) 雾化室：雾化室：1) 雾滴进一步细化和均匀化，大滴降落； 2) 使燃料气、助燃气、气溶胶混合均匀。(3) 燃烧室：燃烧室：使混合气喷出并燃烧。雾化器雾化器雾化室雾化室火焰火焰试样溶

21、液试样溶液试样雾滴试样雾滴湿气溶胶湿气溶胶干气溶胶干气溶胶气态分子气态分子基态原子基态原子转移过程转移过程混合过程混合过程原子化过程原子化过程蒸发过程蒸发过程火焰原子化过程火焰原子化过程(4) 火焰火焰对火焰的基本要求：对火焰的基本要求：燃烧速度；火焰温度；火焰的燃气与助燃气比例。火焰的氧化还原性火焰的氧化还原性：(2) 富燃火焰：温度较低、还原性较强(3) 贫燃火焰：氧化性较强、温度较低(1) 化学计量火焰：温度高、干扰小、背景低、稳定性好火焰的透射性火焰的透射性选择火焰时，应考虑火焰本身对光的吸收。乙炔-空气、乙炔- N2O：适用于长波长的元素；H2-空气：适用于短波长元素如As、Se等。

22、2. 非火焰原子化器非火焰原子化器石墨炉原子化器石墨炉原子化器作用：利用电热、阴极溅射、等离子体、激光或冷作用：利用电热、阴极溅射、等离子体、激光或冷 原子发生器等方法使试样中待测元素形成基原子发生器等方法使试样中待测元素形成基 态自由原子态自由原子工作原理工作原理(1) 干燥：干燥：除去溶剂和水分除去溶剂和水分(100 左右左右)(2) 灰化：灰化：除去基体或其它干扰元素除去基体或其它干扰元素 (100-1800)(3) 原子化：原子化：使待测样品转化成基态原子使待测样品转化成基态原子(2000-3000)(4) 清洗除残：清洗除残：高温空烧，除去遗留待测元素高温空烧，除去遗留待测元素(30

23、00 )3. 低温原子化法低温原子化法(1) 汞低温原子化法汞低温原子化法 gHgSnHg22(2) 氢化物发生法氢化物发生法AsHHNaBHAs34323HAsAsH适用范围：易形成氢化物的元素适用范围：易形成氢化物的元素6.2.2.3 检测器检测器作用：作用：将光信号转换、放大为电信号将光信号转换、放大为电信号原理：使用光电倍增管放大光电流方法原理：使用光电倍增管放大光电流方法6.2.2.4 仪器类型仪器类型1. 单道单光束型单道单光束型特点：结构简单，灵敏度高，但光源波动影响大，特点：结构简单，灵敏度高，但光源波动影响大， 导致基线漂移导致基线漂移2. 单道双光束型单道双光束型特点：特点

24、：可消除光源波动的影响可消除光源波动的影响1 光谱干扰光谱干扰(1) 谱线干扰谱线干扰消除方法消除方法：缩小通带宽度；另选分析线；缩小通带宽度；另选分析线；调制光源。调制光源。 指待测元素的共振线与干扰物质的谱线分离不完全及指待测元素的共振线与干扰物质的谱线分离不完全及背景吸收所造成的影响背景吸收所造成的影响产生：存在非吸收临近线；产生：存在非吸收临近线；与干扰元素吸收线重叠；与干扰元素吸收线重叠； 原子化器的直流发射原子化器的直流发射。6.2.3 干扰及抑制干扰及抑制原子化过程中生成的气态分子或氧化物及盐类分原子化过程中生成的气态分子或氧化物及盐类分子对光源共振辐射的吸收引起的干扰。子对光源

25、共振辐射的吸收引起的干扰。A. 分子吸收：分子吸收：B. 光散射：光散射：原子化过程中产生的固体微粒对光的散射，原子化过程中产生的固体微粒对光的散射，使被散使被散射的光偏离光路而不为检测器所检测，导致吸光度射的光偏离光路而不为检测器所检测，导致吸光度值偏高值偏高(2) 背景干扰背景干扰产生：原子化过程中所产生的光谱干扰产生：原子化过程中所产生的光谱干扰NaINaClNaF200250300350400波长 nmA碱金属卤化物碱金属卤化物背景校正的方法背景校正的方法AABAT = A + ABA = AT - ABa. 邻近非共振线校正法邻近非共振线校正法分分析析线线非非共共振振线线A原子原子=

26、A总总- A背景背景注意：共振线与非共振线波长差应小于注意：共振线与非共振线波长差应小于10nm测原子吸收和背景吸收测原子吸收和背景吸收测背景吸收测背景吸收b. 氘灯扣除背景法氘灯扣除背景法氘灯氘灯：AD = AB2 nm需匹配光源强度，易受光源波动的影响，在时间、空间需匹配光源强度，易受光源波动的影响，在时间、空间上不重合，易带来误差且仅能用于上不重合，易带来误差且仅能用于190-350nm的波段。的波段。空心阴极灯：空心阴极灯：AT = A + ABA = AT - AD特点：特点：空心阴极灯空心阴极灯原子化器原子化器棱镜光电管光电管氘灯氘灯扣除背景光路图c. Zeeman 效应扣除背景法

27、效应扣除背景法-+平平行行磁磁场场垂垂直直磁磁场场垂垂直直磁磁场场原理：根据原子谱线的磁效应和偏振特性使原子吸收原理：根据原子谱线的磁效应和偏振特性使原子吸收 和背景吸收分离和背景吸收分离磁场起偏器空心阴极灯原子化器检测 S N特点：无需匹配光源强度，且不受光源波动的影响，特点：无需匹配光源强度，且不受光源波动的影响， 在时间、空间上完全重合在时间、空间上完全重合。原子吸收谱线的原子吸收谱线的塞曼分裂塞曼分裂平行光束平行光束垂直光束垂直光束A A平行平行A A原子原子+A+A背景背景A A垂直垂直A A背景背景2. 化学干扰化学干扰定义：被测元素的原子与干扰组分发生了化学反应，定义：被测元素的

28、原子与干扰组分发生了化学反应， 形成了难离解化合物而引起的干扰。形成了难离解化合物而引起的干扰。例：例：Al, Si, B, Ti, Be, 易生成难离解氧化物。易生成难离解氧化物。消除方法消除方法：(1) 化学分离；化学分离；(2) 用高温火焰；用高温火焰；(3) 加入释放剂、保护剂和缓冲剂；加入释放剂、保护剂和缓冲剂；(4) 使用基体改进剂。使用基体改进剂。特点：非选择性，对各元素都相同。特点：非选择性，对各元素都相同。3. 物理干扰物理干扰定义：试样在转移、蒸发和原子化过程中由于试样定义：试样在转移、蒸发和原子化过程中由于试样 物理性质物理性质的变化所造成的干扰。的变化所造成的干扰。消除

29、方法消除方法：尽可能保持试样、标准液物理性质一样。：尽可能保持试样、标准液物理性质一样。消除方法消除方法：低温火焰；加入消电离剂。：低温火焰；加入消电离剂。4. 电离干扰电离干扰定义：因电离而使基态原子数减少的现象。定义：因电离而使基态原子数减少的现象。6.2.4 分析方法与应用分析方法与应用(2) 特征浓度：特征浓度：产生产生1%吸收或能产生吸收或能产生0.0044吸光度时，吸光度时， 待测物质的相应浓度待测物质的相应浓度dcdAScdmdASm%)1/(0044. 010mLgAcc(1) 灵敏度：灵敏度：被测元素浓度变化一个单位时，吸光度的被测元素浓度变化一个单位时，吸光度的 变化量变化

30、量1. 特征参数特征参数(4) 检出限：检出限：产生一个能够确证在试样中存在某种元素的产生一个能够确证在试样中存在某种元素的 分析信号所需该元素的最小量或最小浓度。分析信号所需该元素的最小量或最小浓度。ccSD3mmSD3(3) 特征质量：特征质量：产生产生1%吸收时所对应的待测元素的质量吸收时所对应的待测元素的质量%)1/(0044. 00gAcVm 2. 狭缝宽度：不引起吸光度减小的最大狭缝宽度狭缝宽度：不引起吸光度减小的最大狭缝宽度 2. 测定条件的选择测定条件的选择1. 分析线：分析线：通常选择共振线，灵敏度较高通常选择共振线，灵敏度较高例外例外A：测定高含量元素，避免过度稀释，导致误

31、差。：测定高含量元素，避免过度稀释，导致误差。例外例外B：As、Se、Hg共振线小于共振线小于200nm，火焰有严重吸收。，火焰有严重吸收。3. 空心阴极灯工作电流：标称最大电流的空心阴极灯工作电流：标称最大电流的1/2-2/3。火焰原子化：燃气、助燃气类型、比例；燃烧头高度火焰原子化：燃气、助燃气类型、比例；燃烧头高度4. 原子化条件原子化条件石墨炉原子化：石墨管类型、升温程序石墨炉原子化：石墨管类型、升温程序5. 进样量：灵敏度、冷却效应、记忆效应进样量：灵敏度、冷却效应、记忆效应3. 定量分析方法定量分析方法(1) 标准曲线法标准曲线法标准溶液浓度应在标准溶液浓度应在A-c直线范围内，直

32、线范围内，A：0.15-0.7之间。之间。标准系列与未知样品组成尽可能一致；标准系列与未知样品组成尽可能一致；操作条件在整个分析过程中保持一致；操作条件在整个分析过程中保持一致；每批样品测定前都要绘制标准曲线每批样品测定前都要绘制标准曲线特点：简便、快速；适合于组成简单的试样特点：简便、快速；适合于组成简单的试样(2) 标准加入法标准加入法 适用条件适用条件:相应的标准曲线为过原点的直线，试样浓度在相应的标准曲线为过原点的直线，试样浓度在线性范围内至少应有线性范围内至少应有4个点，加入标准液适量个点，加入标准液适量优缺点：优缺点：可以消除基体效应，不能消除背景吸收的影响可以消除基体效应，不能消

33、除背景吸收的影响6.3 原子荧光光谱原子荧光光谱6.3.1 概述概述通过测定原子在光辐射能作用下发射的荧光强通过测定原子在光辐射能作用下发射的荧光强度进行定量分析的一种发射光谱分析方法。度进行定量分析的一种发射光谱分析方法。定义：定义：特点特点:1) 灵敏度高，谱线干扰少，校正曲线范围宽；灵敏度高，谱线干扰少，校正曲线范围宽；2) 易制成多道仪器易制成多道仪器-多元素同时测定；多元素同时测定；3) 荧光猝灭效应、复杂基体效应等降低测定灵敏度；荧光猝灭效应、复杂基体效应等降低测定灵敏度；4) 散射光干扰；散射光干扰；5) 可测量的元素不多，应用不广泛。可测量的元素不多，应用不广泛。6.3.2基本原理基本原理1. 荧光的产生荧光的产生2. 荧光类型荧光类型气态原子气态原子吸收特征波长的辐射后被激发到较高能吸收特征波长的辐射后被激发到较高能态，接着又以辐射形式去活化，产生态，接着又以辐射形式去活化，产生与原激发波与原激发波长相同或不同的辐射即为原子荧光。长相同或不同的辐射即为原子荧光。hvhv共振荧光共振荧光非共振荧光非共振荧光(1) 共振荧光：发射的荧光波长等于激发波长的荧光。共振荧光：发射的荧光波长等于激发波长的荧光。 (2) 非共振荧光：发射的荧光波长