ZYGO干涉仪使用说明书

1、精品文档作业文件文件编号ZYGOF涉仪使用说明版本/修订贝码1/81目的为了使员工正确熟悉的使用ZYGOF涉仪。本文详细说明了如何使用ZYGOT 涉仪来测试晶体的平行度、波前、平面度等指标。2范围本文件涉及用ZYGOF涉仪检测平面元件的一般方法。3录取数据在检验过程中将会生成以下记录：3.1 干涉图（保存文件名为*Tif ）,在实时窗口上点击 FILE-SAVE保存。3.2 测试数据（保存文件名为*.Dat ）,测试完成后点击SAVE DAT睬存。4 Zygo干涉仪的定义4.1 应用（application ）应用是ZYGOF涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“ *.app ”的文 件。不

2、同的应用用于不同项目的测量。比较常用的是 GIP.app用于一般的平面 和球面的测量，GPI-Cylinde.app 用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角 度的测试。4.2 猫眼像（cateye ）又称为标准镜的像。标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。4.3 镜片像从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生 干涉产生的干涉图形。包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息 来源。4.4 升降台可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。4.5 Align/View 模式按下控制盒

3、上的align/view 切换的2个模式之一。align模式可以看到一 个黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较大。View模式是按下控制盒上的align/view 切换的2个模式之一，可以看到 干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。一般在align界面对准后在view 界面观察条纹。作业文件文件编号ZYGOF涉仪使用说明版本/修订贝码2/84.6标准镜干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准4.7 长度基准设定图像的长度基准，因为放大率不同或者屈光度不同，同样大小的干涉图 所代表的零件大小可能有很大的差异。设定长度基准的目的就是告诉干

4、涉仪图形 中的一段长度相当于镜片中长度的多少，方便控制测量区域和设定掩膜。4.8 掩膜（mask）表明干涉图中有效区域的工具。可以根据需要设定有效区域的形状、大小、 位置，也可以从有效区域中挖去一部分不需要的。5职责主要包括以下几个方面：5.1 zygo干涉仪使用和维护部门为品管部。品管部经理负责保证过程实施 所需的培训及资源。5.2 按照校准计划对设备定期检定。5.3 指定的仪器使用者需保证使用过程按按照操作规程操作仪器。5.4 定期对设备进行保养。6操作主要内容.6.1 开机依次开启ZYGO示器电源，机箱控制面板上电源按钮：MASTERMONITORAUX1 AUX2以及干涉仪主机箱右侧下

5、方 POWER6.2 运行程序进入 Windows后，双击桌面上的Metropro.exe （如图一）操作软件，运行 程序，进入ZYGOW试操作桌面。启动完成后会自动进入 GPI.app,如果没有， 关闭当前的窗口，待其缩小为按钮后，在应用选择窗口中点击相应的应用。图一6.3 平行度测试作业文件文件编号ZYGOF涉仪使用说明版本/修订贝码3/8主要测试步骤如下：6.3.1 按监视器遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIEW/,使监视器处于排列 状态。扭动参考反射镜上方的调节旋钮， 调整镜面方向，使得反射镜反射回的最 亮光斑与十字分划线交点重合。完成后,按遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIE

6、W, 使监视器处于浏览状态。双击 ZYGCRJ试操作桌面中angle.app按钮进入平行测 试操作界面。6.3.2 调整好后将待测晶体放置到样品支架上，通过观察监视器调整晶体， 使晶体垂直于测试光（监视器中晶体边缘清晰可见。）6.3.3 点击操作界面左下角Measure Controls 对话框中的Refractiveindex,录入待测晶体的折射率（选择 632.8nm时对应晶体的折射率，如图二） 按回车键确定。图6.3.4 点击测试界面左上角的Calibrate 按钮，在弹出的对话界面中点击Fringe按钮，对话框中图像显示会进行更新，锁定并显示监视器中画面。使用鼠标标记 晶体通光面宽度，

7、在弹出的对话框中，录入晶体通光面宽度，按回车键确定。6.3.5 点击测试界面中左上角 Mask Data按钮（如图三、四所示），在弹出的有 动态图像的对话框中，首先从下部选项中选择晶体外形标定（例如正方形则选择 square）。在动态图像中，使用鼠标准确标定待测晶体，要求标定范围不能超出 晶体。并在动态图像上方无晶体的空间内， 选择与待测晶体规格相近的区域， 此 区域将作为参考区域。作业文件文件编号ZYGOF涉仪使用说明版本/修订贝码4/8图三然后，点击下部选项中的BG Inc使该按钮变为BG EXC锁定选择区，点击Define ,定义Acq。之后点击Test,选择Unfill ,去除最后标定

8、的参考区域,9欢在下载图四点击De巾ne ,定义Test （晶体测试区域）。再点击Ref,选择Fill ,添加最intensity MapWedge Mag16.0 secWedge Ang48, UllllllllllllllseaTria: 0后标定的参考区域，点击Pick，然后用鼠标点击待测晶体区域边框，选才¥ Unfill 去除晶体待测区域，点击 Define ,定义Ref （参考区域）。6.3.6 点击测试界面中左上角 Measure按钮，系统进行自动测算。当监视器 中左下角出现 Wedge X.X sec （表示被测量器件两表面的夹角为 X.X秒）时，记 录下此时X.X即

9、为晶体的平行度。测试完毕后关闭平行度测试操作界面，点击 左上角X符号，退回到ZYGOE测试操作桌面。作业文件文件编号ZYGOF涉仪使用说明版本/修订 贝码5/86.4平面度测试6.4.1 调整监视器遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIEW/,使监视器处于排 列状态。移除标准参考反射镜面，将晶体放置到样品支架上，调整晶体方向，使 其反射回的光斑与十字分划线交点重合。完成后，按监视器遥控器上的显示切换 键，使监视器处于浏览状态。点击 ZYGOM试操作桌面中GPI.app按钮进入平面 度测试操作界面。6.4.2 点击测试界面左上角的 Calibrate按钮（如图五所示），在弹出的对 话界面中点击F

10、ringe按钮，对话框中图像显示会进行更新，锁定并显示监视器中 画面。使用鼠标标记晶体通光面宽度，在弹出的对话框中，录入晶体通光面宽度， 按回车键确定。6.4.3 点击测试界面中左上角 Mask Data按钮（如图五所示），在弹出的有 动态图像的对话框中，首先从下部选项中选择晶体外形标定（例如正方形则选择 square）。在动态图像中，使用鼠标准确标定待测晶体，要求标定范围不能超出 晶体。点击Define ,定义待测区域。6.4.4 点击测试界面中左上角 Measure按钮，系统进行自动测算。当监视器 中左上角出现 PV X.XXX Wave （表示被测样品最高点与最低点之间的距离为 X.XX

11、X入）时（如图六所示），记录此时X.XXX即为晶体的平面度值。测试完毕后 关闭测试操作界面，点击左上角 X符号，退回到ZYGOE测试操作桌面。图五图六6.5波前畸变测试主要测试步骤如下：6.5.1 调整监视器遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIEW,使监视器处于排 列状态。扭动参考反射镜上方的调节旋钮，调整镜面方向，使得反射镜反射回的作业文件文件编号ZYGOF涉仪使用说明版本/修订贝码6/8最亮光斑与十字分划线交点重合。完成后，按监视器遥控器上的显示切换键（ALIGN/VIEW/,使监视器处于浏览状态。点击 ZYGOM试操作桌面中 GPI.app 按钮进入波面测试操作界面。6.5.2 将待测

12、晶体放置到样品支架上，通过观察监视器调整晶体，使晶体垂 直于测试光（监视器中晶体边缘清晰可见）。6.5.3 点击测试界面左上角的 Calibrate 按钮，在弹出的对话界面中点击 Fringe按钮，对话框中图像显示会进行更新，锁定并显示监视器中画面。使用鼠标 标记晶体通光面宽度，在弹出的对话框中，录入晶体通光面宽度，按回车键确定。6.5.4 点击测试界面中左上角MaskData按钮，在弹出的有动态图像的对话 框中，首先从下部选项中选择晶体外形标定（例如正方形则选择square）。在动态图像中，使用鼠标准确标定待测晶体，要求标定范围不能超出晶体。点击 Define ,定义待测区域。6.5.5 点

13、击测试界面中左上角 Measure按钮，系统进行自动测算。当监视器 中左上角出现 PV X.XXX Wave （表示被测样品最高点与最低点之间的距离为 X.XXX入）时，记录此时X.XXX即为晶体的波面数值（如图五所示）。测试完毕后 关闭波面测试操作界面，点击左上角 X符号，退回到ZYGQfc测试操作桌面。7细节说明和结语7.1 安全要求7.1.1 测量过程中，注意对透镜的防护，尤其是表面和边角容易损坏的部位。7.1.2 标准镜使用时要插入到位，螺丝拧紧。不用时要摆放到盒子中避免意 外损坏。7.1.3 使用干涉仪测量面形主要包括以下步骤：开机，选择、安装标准镜， 找到待测零件表面干涉条纹，输入

14、零件号等相关信息，设定长度基准，取掩膜， 测量，结果保存和打印。不同的零件在找干涉条纹和一些设定方面有所区别，但是基本步骤差不多。7.2 选择、安装标准镜选择：平面和柱面选择平面标准镜 TF,球面选择球面标准镜。球面标准镜 在选择的时候要考虑镜片的曲率半径和口径，参照JEMizar的标准镜选择。安装：将标准镜的两个插销对准标准镜安装支架上的卡口插入，旋转，安装到 位，旋转锁死螺钉固定好。按下控制盒上align/view 切换到align模式，将光 点作业文件文件编号ZYGOF涉仪使用说明版本/修订贝码7/8调到十字线的中心。7.3 寻找干涉条纹平面：将待测面正对干涉仪主机放置到升降台上， 如果

15、是楔角较小的平片或 者直角棱镜之类的可能需要把背面事先涂上凡士林来消除杂光影响。按下控制盒上的align/view 按钮切换到align模式，调整待测零件的俯仰和水平旋转在动 态窗口中找到零件表面反射回来的光点，并将其调整到十字线中心。再次按下 align/view 按钮切换到view模式，微调零件或者标准镜的俯仰和水平旋转， 将条纹调到3根左右。球面：将镜片夹到六位调整架上，彳f测面正对干涉仪主机。切换到 view界 面，沿导轨前后移动调整架至干涉仪的出射光聚焦到零件表面（可用一张小纸条贴于零件表面观察）。此时干涉仪中出现的条纹称为猫眼像 （cateye）,也常称作 标准镜的像。调整六位调整

16、架，使零件上下移动把条纹调到充满整个视场，微调标准镜的位置，使得条纹对称。凸面靠近，凹面远离干涉仪主机寻找表面像，紧 盯刚才找到的猫眼条纹，它会渐渐变小然后又慢慢变大，再次变大的条纹就是零 件的表面像，微调六维调整架将条纹调到3根。在整个寻找过程中，光点可能会移动，通过调整来保持光点始终在屏幕中心。如果仅仅要测量面形，找到像之后进入步骤9.4即可；如果还要测量曲率半径，则在找到镜片表面像之后按下 光栅尺面板上的“ X”按钮让示数归零，再次回到猫眼像位置，此时光栅尺的示数 即为待测零件的曲率半径。注意：整个回归猫眼的过程中不可触碰任何调整旋钮。 柱面：柱面的情况比平面和球面要复杂一些，除了要使用

17、平面标准镜以外还需要使用一块柱面辅助镜CGH使用时，切换到align模式，将CGH的平面对准干 涉仪，调整左右旋转，把第3个光点调到十字线中心。切换到 view模式，微 调标准镜位置，把CGH周围的圆环调到无条纹，然后再切换到 align模式。将 待测柱面母线按与CGH平行的方向放置到调整架上，移动调整架至CGH焦点处， 微调待测柱面的左右偏转，在电脑屏幕中看到有一个现状亮斑， 微微旋转柱面的 母线方向，使得母线方向与 CGH的母线方向完全一致，此时屏幕中看到一 条细亮的竖线。调整前后将细线缩小成点，并调整到十字线中间。切换到view模 式，再次微调柱面的旋转和角度将条纹调正，微调前后将条纹在

18、弧面方向调直。7.4 输入零件信息,点击 measurement control 按钮，在 part number 栏中输入货号， serial number栏中输入零件编号。作业文件文件编号ZYGOF涉仪使用说明版本/修订贝码8/8如果测量的是球面还需要在ISO10110窗口中输入曲率半径标称值、 实测值、 测试波长、零件有效口径。7.5 设定长度基准点击calibrate 按钮，在弹出的窗口中划一条已知长度的线，并在弹出的 窗口中输入长度。一般平面可以以零件边缘或者标准镜边缘为基准，球面可以以干涉图形的边缘作为基准。如果测量不到整个面面形的球面按照 R/ (F/#)计算实际测量的口径，作为长度基准。7.6 取掩膜自动掩膜：测量圆形(球形)零件的时候，可以使用自动掩膜功能，按一定 的百分比选取有效测量区域。点击 analysis control按