DINEN444金属材料的X射线和γ射线照相检测基本规则Word版

1、DIN EN 444金属材料的X射线和射线照相检测 基本规则DIN EN 444 英文版欧洲标准EN 444:1994 对DIN标准拥有同等地位。逗号为十进制标记。国家性前言该标准由CEN/TC 138制定。参与本标准编写的德国团体为材料测试标准委员会。需要注意的是此标准并不能代替DIN 54111第一部分：关于铸件和熔焊焊缝的射线探伤和DIN 54111第二部分：关于铸件和熔焊焊缝的射线探伤。相应的欧洲标准正在准备中。涉及到的标准请看参考资料1 / 13关键词：冶金产品，无损探伤，射线照相分析，X射线，射线，缺陷，射线照相底片。英文版本金属材料的X射线和射线照相检测 基本规则 该欧洲标准由C

2、EN于1994年2月7日批准。 CEN完全遵守CEN/CENELEC内部条例，没有做任何修改和调整，这些条例规定了使该欧洲标准成为国家标准的所需条件。 通过向管理中心或者任何CEN成员进行申请，可以获得与此类欧洲标准相关的最新清单和文献资料。 欧洲标准有英语、法语和德语三种官方版本。如果CEN成员负责将其翻译成其本国语言，并通知管理中心，该译本与官方版本拥有同样地位。 CEN成员为各国标准团体，包括澳大利亚，比利时，捷克共和国，丹麦，芬兰，法国，德国，希腊，匈牙利，冰岛，爱尔兰，意大利，卢森堡，马耳他，荷兰，挪威，葡萄牙，斯洛伐克，西班牙，瑞典，瑞士和英国。目录前言3介绍31. 范围32. 参

3、考标准43. 定义44. 射线照相技术分级45. 概述56. 推荐的射线照相技术57. 检测报告11前言该欧洲标准由CEN/TC 138“无损探伤”欧洲铸造技术标准化委员会编写，该委员会的秘书处由AFNOR控制并管理。 需要经过正式投票，并得到肯定的结果。此欧洲标准是CEN在欧洲交流委员会和欧洲自由贸易组织的授权之下起草的，遵守EC指示的基本要求。通过出版同样的文章或者是进行批准，赋予该欧洲标准以国家标准的地位，最迟在1994年8月之前完成，同时要此时间之前收回与其有冲突的国家标准。 根据CEN/CENELEC国际惯例，以下国家将执行此欧洲标准：澳大利亚，比利时，捷克共和国，丹麦，芬兰，法国，

4、德国，希腊，匈牙利，冰岛，爱尔兰，意大利，卢森堡，马耳他，荷兰，挪威，葡萄牙，斯洛伐克，西班牙，瑞典，瑞士和英国。介绍此标准指定射线的基本技术，能够满足并获得可重复操作的结果。此技术是根据一般可接受的训练及基本理论而来的。1. 范围本标准规定了使用胶片技术、对金属材料和制品实施以探伤为目的的工业X射线和射线照相的基本原则。这项检测必须要有具有资格的和符合EN 473标准的证书的人员进行。这里没有制定对缺陷的可接受的标准。2. 参考标准该欧洲标准参考了其它出版物中的相关内容和条款，有的注明了日期，有的没有注明日期。我们在文中恰当位置引用了这些规范性文件，并且在下面列举出这些出版物。凡是注明日期的

5、引用文件，其随后所有的修改或修订均不适用于该欧洲标准，除非这些文件通过修改或修订后编入该标准。凡是未注明日期的引用文件，其最新版本（包括修订内容）适用于本标准。EN 462-1 无损探伤-射线胶片质量-第一部分：胶片质量指标（线性），胶片质量值的测定EN 462-2 无损探伤-射线胶片质量-第二部分：胶片质量指标（阶梯/孔），胶片质量值的测定EN 462-3无损探伤-射线胶片质量-第三部分：含铁金属的胶片质量等级EN 462-4无损探伤-射线胶片质量-第四部分：胶片质量值的试验性评估及胶片质量表。EN 473 个人无损探伤资格及证书-一般准则EN 584-1 无损探伤-工业射线照相胶片-第一部

6、分：工业射线照相胶片系统的分类EN 25 580 无损探伤-工业射线照相观片灯-最低要求（ISO 5580:1985）3. 定义本标准将使用到的术语定义如下：3.1 标称壁厚 t被检范围内材料的标称厚度。注：不必考虑铸造公差3.2 透照厚度 w 以标称厚度为基础算出来的射线束方向上材料的厚度。 对于多壁技术，透照厚度也是根据标称壁厚计算出来的。3.3工件至胶片距离，b 沿射线中心线测出的被检工件射线源一侧至胶片表面之间的距离。3.4源尺寸 d 射线源尺寸。3.5源至胶片距离 SFD 射线束方向上测出的射线源至胶片之间的距离。3.6源至工件距离 f射线束方向上测出的射线源至工件之间的距离。4.

7、射线照相技术分级 射线照相技术分为两个级别： A级：基本技术； B级：优化技术。当A级技术的敏感度不够时应使用B级技术。可征得签约各方同意，通过改进合适测试参数，使采用的技术规范比B级技术更优。如果由于技术原因而不可能满足B级技术规定的某项条件，如射线源种类或源至工件距离f，经签约各方同意也可选用A级技术规定的条件。此时灵敏度的损失应通过将最小密度提高到3.0，或选用对比度更高的胶片系统来加以补偿。由于该灵敏度优于A级，检测部位可视为按B级检测。5. 概述5.1电离辐射防护 警告：人身体的任何一个部位受到X射线或射线的照射，都会对健康造成很大的损害。无论哪里使用X射线或射线源，均应遵循相应的法

8、规要求。注意：在使用电离辐射时，必须严格遵循地方、国家或国际的安全防护措施。5.2 表面处理和生产阶段 一般的，表面不需要处理。但是如果表面存在缺陷的或涂层会影响缺陷探测的，表面需要打磨光滑，涂层需要被去除。如果没有特殊说明，射线探伤要在生产的最后阶段执行，比如，在打磨或热处理之后。5.3 射线照相底片标识 工件的每一部在进行射线照相时应放置标志符号。只要可能，这些标志符号的图像应出现在射线照相底片的评定范围之外，并应确保被检部位的标识准确无误。5.4 标记 为使每张底片准确定位，被检工件上应打上永久性标记。 若材料的特性和（或）其使用条件不允许打上永久性标记，可将位置准确记录在草图上。5.5

9、 胶片的搭接 一个区域使用两张或以上胶片射线照相时，为确保射线照相到整个被检范围，胶片间应充分重叠。为此，应在工件表面上放置用于验证的高密度材料的标记，标记应显示在每张底片上。5.6 像质计（IQI） 应按规定的应用标准EN 462-1，EN 462-2，EN 462-3，EN 462-4使用像质计验证像质。 6. 推荐的射线照相技术6.1 检测准备 检测准备要按照特殊申请标准来决定。6.2 X射线管电压及射线源6.2.1 X射线装备 为了获得良好的探伤灵敏度，应尽可能选用较低的X射线管电压。不同厚度的最高管电压值见图1。图1：X射线的装置在最大电压500Kv以上，是透照厚度和材料的性质决定。

10、6.2.2 其他射线源 射线源及X射线装置的允许透照厚度值请参看表格1。 一件薄的钢件试样，射线Ir 192 Co 60就具有跟X射线一样的好的缺陷测试灵敏度。由于射线源具有操作方便及获取方便，所以在X射线不可用的情况下可以参照表1中射线源与厚度范围。如果能够保证图片的质量，可以申请更加宽的壁厚范围。万一是用射线拍摄的照片，到目标位置的源头的时间不可以查过总的曝光时间的10%。表格1：针对钢，铜基及镍基合金的射线源和能量在大于等于1MeV的X射线设备透照厚度范围。射线源 透照厚度w，mm等级A 等级BTm 170 w5 w5 Yb 169 1) 1w15 2w12Ir 192 20w100 2

11、0w90Co 60 40w200 60w150X射线装置,能量1 Mev到4 Mev 30w200 50w180X射线装置,能量4 Mev以上到12Mev w50 w80X射线装置,能量12Mev以上w80 w1001） 对于铝和钛，等级A材料壁厚为10<w<70，等级B为25<w<55。 6.3 胶片系统和增感屏射线照相检测时，所用的胶片系统类别应符合EN 584-1。对于不同的射线源，最底的胶片系统类别见表2及表3。使用增感屏时，要求胶片与增感屏紧密贴合。这个可以通过真空包装胶片或加压达到。对于不同的射线源，表格2和3中展示了推荐的屏幕材料和厚度。只要满足签约各方所

12、要求的像质，可选用其他厚度的增感屏。表格2 钢、铜基和镍基合金射线照相的胶片系统类别及金属增感屏射线源照透厚度w胶片系统类别1）金属增感屏类型和厚度A级 B级A级 B级X射线100kvC 5C 3无屏，或前后铅屏0.03mm100kvX射线150kv前后铅屏0.15mm(最大)150kvX射线250kvC 4前后铅屏0.02-0.15mmYb 169Tm 170W5mmC 5C 3无屏，或前后铅屏0.03mmW5mmC 4前后铅屏0.02-0.15mm250kvX射线500kvW50mC 5C 4前后铅屏0.02-0.2mm w50mmC 5前铅屏0.1-0.2mm 2）Ir 192C 5C

13、4前铅屏0.02-0.2mm前铅屏0.1-0.2mm 2）后铅屏0.02-0.2mmCo 60W100mmC 5C 4前后钢屏或铜屏0.25-0.7mm 3）w100mmC 5能量为1-4Mev的X射线设备W100mmC 5C 3前后钢屏或铜屏0.25-0.7mm 3）w100mmC 5能量为4-12 Mev的X射线设备W100mmC 4C 4前铜屏、钢屏或钽屏1mm 4）100mmW300mmC 5C 4后铜屏或钢屏1mm，后钽屏0.5mm 4）w300mmC 5能量12Mev的X射线设备W100mmC 4-前钽屏1mm 5），无后屏100mmW300mmC 5C 4w300mmC 5前钽屏

14、1mm 5），后钽屏0.5mm1） 也可用更优的胶片系统类别。2）如果在物体和胶片间放了一个额外的0.1mm铅屏,那要使用到达0.03mm前屏的包好的胶片。3）在A级，铅屏0.1到0.5mm也可以使用4）在A级，要通过合同双方协商来确定是否可以使用0.5-1mm的铅屏5）可以协商是否可以使用钨屏6.4 射线束的对准 射线束应该指向被检区域的中心，并垂直于工件表面，除非用其他的射线束方向能更好的显示。在这种情况下，允许采用合适的射线束方向。经签约各方同意，也可选用其他射线照相法。表格3：铝和钛的胶片系统类别和金属增感屏射线源胶片系统类别1）金属增感屏类型和厚度A级 B级150kV的X射线C 5C

15、 3无屏，或前铅屏0.03，后铅屏0.15（最大）150kVX射线250kV前后铅屏0.02-0.15250kVX射线500kV前后铅屏0.1-0.2Yb 169前后铅屏0.02-0.151）也可用更优的胶片系统类别。6.5 散辐射的减少6.5.1 滤光器和瞄准仪 为了减少散射辐射的影响，射线要尽可能的对准被测区域。 Ir 192 和Co 60射线源或边缘散射，可以使用一张铅，作为一个物体和暗盒之间的过滤器，以减少散摄辐射。根据透照厚度，厚度需要0.5mm0.2mm.6.5.2 阻止背散射线 如果可以，胶片要用至少1mm厚的石墨来防止背散射线，或者用至少1.5mm的锡纸，放置在屏片组合后面。

16、对每一个新的测试安排都要检验背散射线，用首字母B表示（高度最小是10mm，最小厚度1.5mm），标记在每个暗盒后面。如果在射线照片上这个标记很明显，就是不合格。如果标记比较暗的或者不可见，则为可接受的，证明对背散射有很好的防护。6.6 射线源至工件距离 源至工件的最小距离fmin取决于源尺寸d和工件至胶片距离b。 只要可行，距离f应选取使该距离与源尺寸d之比，即f/d不小于以下式中的值： 等级A： f/d7.5(b/mm)2/3 (1) 等级B： f/d15 (b/mm)2/3 (2)b要包含单位毫米（mm）。如果距离b1.2t，则式（1）和（2）及表2中的尺寸b应以标称厚度替代。源至工件距离

17、的测量，fmin，可以用表格2中的诺模图。 这个诺模图是根据式（1）和（2）来的。 用A级技术时，如果须检出平面状缺陷，则最小距离fmin应与B级相同，以减小2个因子的几何不清楚度。 对裂纹敏感材料的关键技术应用，应该选用灵敏度比B级更高的射线照相技术表格2：确定与工件至胶片距离和源尺寸相关的最小源至工件距离fmin的诺模图。6.7一次曝光最大区域壁厚均匀的检测区域直径与中心射线束的穿透厚度之比，B级不应超过1.1，B级不应超过1.2。不同穿透厚度所产生的密度不宜低于6.8的规定，且不高于所用观片灯的允许值，也可进行适当的遮蔽。6.8 射线照相底片密度曝光条件宜使被检区域射线照相底片上的总密度

18、（包括片基与灰雾度）都要高或者等于以下表4中的要求。表格4： 射线照相底片密度级别密度1）A2.0B2.3 1）A检测公差为±0.1。 根据6.10，当观片灯很亮时，可以采用高密度，这样更好。为避免胶片由于老化、显影或温度引起的不正常灰雾度，应在所使用胶片的未曝光样品上定期检验灰雾度，并按实际洗片的同样条件进行操作和处理。灰雾度不应大于0.3.这里所定义的灰雾度是指未曝光胶片经处理后所得的总密度（包括乳剂和基片）。当评定采用多胶片技术的单张底片时，每张底片的密度均应符合表4规定。如果要求双片叠合观察时，单张底片的密度都不可以低于1.3。 6.9 胶片处理胶片处理要根据推荐的胶片及化学品生产商的要求，用指定的胶片系统类别。尤其要注意控制温度，显影时间及水洗时间。射线照相底片要没有在处理过程中的损伤或其他原因造成的损伤。6.10 胶片观看条件射线照相底片要在一个暗室里，根据EN 25 580要求，通过可调节亮度的屏幕来看。评片区域以外的观察屏需要遮蔽起来。7. 检测报告应对每张底片或成组底片编写检测报告，并在报告中给出所使用的射线照相技术以及其他有助于较好理解结果的特殊情况等信息。关于报告格式及内容可以按特定的应用标准中规定或由签约各方商定。如果检测仅按本标准执行，则检测报告应至少包括下列内容，即：a)