RoHS测试流程及XRF使用手册

1、塑料部品测定样品测定样品后出现的波形测定顺序用XRF测定样品：检测出Pb,再使用ICP进行分析定量结果测定兀素荧光X射线的测定值ICP的测定值Pb524ppm结论:均质材料测试结果较准确测定事例2 塑料+金属复合品1乙稀测定样品测定样品整体后出现的波形只测定被包材料后出现的波形测定顺序:测定样品整体，检测出 Pb只测定被包材料：以下是 Pb的定量结果定量结果结论对测定兀素荧光X射线的测定荧光X射线的测定值于复合样品的测量，值只测定被包材料要得到准确的测量样品整体值，有必要将样品按Pb材质拆分后分析测定事例3 塑料+金属复合品2金属插头测定试料测定样品整体后出现的波形只测定被包材料后出现的波形测

2、定顺序测定样品整体：检测出"Pb只测定被包材料：检测出 Pb使用ICP进行分析测定兀荧光X射线的测值：荧光X射线的测定ICP测定值：素测定样品整体值：只测定样品的只测定样品的被包被包局部局部Pb249ppm测定事例4金属部品无外表处理金属部品无外表处理中含有 Pb的事例测定样品样品就那样测定后的波峰测定顺序 样品就那样测定：检测出 Pb使用ICP分析定量结果-荧光X射线测定ICP测定测定兀素值:值：Pb30320ppm29870ppm测定事例5金属部品无外表处理金属部品无外表处理中含有 Cd的事例测定样品样品的波形:测定顺序样品就那样测定：检测出Cd使用ICP分析测定兀素荧光X射线测

3、定值：ICP测定值Cd95ppm88ppm测定事例6 被镀金属部品1金属部品镀品：铁Fe-素材中含有Pb的事例测定样品样品就那样测定后的测定样品、除去镀除去镀层测定后的波形层波形测定顺序:样品就那样测定:检测出Pb除去镀层的样品检测出Pb使用ICP分析疋量结果:测定兀素荧光X射线的测定荧光X射线的测定ICP测定值：值:测定样品整体值：除去镀的样品测定样品整体测定Pb1371ppm2224ppm1927ppm结论:镀品有必要将镀除去后再测定该样品的铅存在于钢基材，镀层不含有铅，而 Rohs 对钢的含铅最大允许值为3500ppm 故该样品符合 Rohs 要求测定事例7 被镀金属部品2金属部品镀品：

4、镀有含有 Cd的事例测定样品样品就那样测定后的 测定样品除去镀除去镀测定后的波波形:测定顺序样品就那样测定：检测出 Cd除去镀的样品：检测出 Cd:测定结果测定元荧光X射线的测定荧光X射线的测定值：参考：ICP测定素值：除去镀的样品测定值：测定样品整体测定样品整体Cd5879ppm无法检测出来441ppmICP测定因为在有镀的状态下测定 ,所以浓度降低。因为X射线测定从镀品中射出来 的X射线较强, 所以测定值升高。测定事例8 被镀金属部品3金属部品镀品：铁Fe-素材中含有Pb的事例测定样品样品就那样测定后的波形除去镀测定后的波形测定顺序样品就那样测定：检测出Pb*除去镀的样品：检测出 Pb使用

5、ICP分析测定兀素荧光X射线的测定荧光X射线的测定ICP测定值：测值:测定样品整体值：除去镀的样品定样品整体测定Pb1349ppm2783ppm2498ppm结论:该样品的铅存在于钢基材，镀层不含有铅，而Rohs对钢的含铅最大允许值为3500ppm故该样品符合 Rohs要求测定事例9 被镀金属部品4金属部品镀品：黄铜素材中含有的 Pb的事例除去镀测定后的波测定样品样品就那样测定后的波形形:测定顺序结论:该样品的铅存在于铜基材，镀层不含有铅，而样品直接测定：检测出 Pb除去镀的样品：检测出"Pb使用ICP分析荧光X射线的测荧光X射线的测定ICP测定测定兀素定值:测定样品整值：除去镀的样

6、品测值：体疋测定样品整体Pb4431ppm29496ppm30398ppmRohs对桶的含铅最大允许值为40000ppm 故该样品符合 Rohs要求测定事例10 被镀金属部品5金属部品镀品黄铜素材中含有的 Cd的事例测定样品样品就那样测定后的波形形:测定顺序样品直接测定：检测出 Cd除去镀的样品：检测出 果测定兀素荧光X射线的测荧光X射线的测定ICP测定定值:测定样品整体值：除去镀的样品测疋值：测定样品整体Cd76ppm113ppm结论:该样品的铬存在于铜基材，由于直接测量时，基材中的Cd的X荧光受到 镀层的吸收，使Cd的测量结果偏低，而去镀测量后，可较准确的测量出基材Cd含 量。该样品不符合

7、 Rohs要求XRF与其它检测仪器对电镀材料的分析差异:XRF分析电镀层的材质，由于电镀层的局部只占样品基材的千分之一或是万分之一X射线对金属的穿透力约只有 100mm左右，检测器收集的荧光 X射线与其穿透的深 度有关系。 所以，如果待测样品上有电镀层，而XRF作为外表分析主要反映的是镀层的信息电镀层的厚度将会引响不同检测仪器之间的差异处理方式将镀层局部磨除后再测试，可分清电镀层或基材超出ROHS标准，从而减少与其它检测仪器的差异。:ICP分析ICP处理方式：需破坏，现将样品裁剪、称重、强酸消化溶解，使得待测样品达到均一状态，待测样品含有电镀层，会因为ICP处理的方式，将电镀层和基材溶解到达均

8、一状态，造成无法分辨电镀层或是基材超出ROHS标准，造成检测 上与XRF的差异。处理方式：镀层局部与基材局部单独测试SEA1000A仪器介绍仪器外观仪器校正及参考物质说明分析方法与材料种类对照XRF 分析要素关于保险丝 消耗品的更换方法 故障检修 特征 X 射线能量表仪器前面仪器外观产生X射线和高电压，样品室幵启手柄请不要打幵外壳。X射线开启指示器样品室幵启按钮MMAC接头IIOIOI接头QX-rayON 接头S样品台般样品台NVEDIO接头OPower接头RBreaker 开关T样品台专用样品台仪器校正板说明项目止面反面校正板颜色校正顺序校正说明实施时间考前须知1厶/日冃匕量粉红色1Ti、F

9、e、Zn、SnPeak在正确位置7天1字面朝上放置样品台上2Ti、Fe、Zn、SnPeak 明显3放置防潮箱内2强度白色2模拟光官最初值强度7天1字面朝上放置样品台上215Kv,50Kv3放置防潮箱内3分辨率黑色3/分辨每个元素能谱7天1字面朝上放置样品台上2MnPeak 明显3放置防潮箱内4孔隙钢质/确定x射线通过快门3个月1 字面朝上放置样品台上路径与样品作用有无阻碍物21mm,5mm3放置防潮箱内5荧光光轴准直白色确定x射线与CCD是否同轴位置是否正确偏移测试1字面朝上放置样品台上21mm,5mm3放置防潮箱内塑胶参考物质说明项目图示材质颜色校正顺序校正说明实施时间考前须知1白色1含量接

10、近于零超出塑胶标准检量线建立方式：NoPVC 材质品证明书规格1 按下块体分析检量线法 5%校正22依照塑胶标准品数Cd，2按顺序1,2,3,4放入塑胶标准品RMA,RM，据NoPVC材质PbCr15%.RMC RMD 或PEBLK,PE100,PVCBLK,PVC10C33含量接近于零Hg,Br30%3存档PVC材质44依照塑胶标准品数据PVC材质储存注意：放置洁净的防潮箱内，注意防止污染分析方法与材料种类对照表疋量分析材料种类对象材料材料部品实例遥控器外壳PP,PE,PS,PVC 等高分子按键塑料塑料、橡胶和纸类.PCB基板等包装材料.等铝合金PC Notebook 外壳轻金属块体分析镁合

11、金散热片等检量线法塑料及金属的复合材料电线电缆连接器玻璃材料MLCC其他材料陶瓷材料IC圭寸装晶体、晶片油墨LCD面板布料.等吊带等铜材幵关金属部件块体分析金属铜合金连接器Pin脚局部FP法锡膏，锡球solder 螺丝钛合金.等金属外设.等采用XRF测量的要素待测样品的均质化-拆解或直接测试了解样品的组成金属或非金属选择正确的分析条件 复杂的材质，利用 时间延长到达分析数据稳定测试样品选择最能接近样品台的位置，如样品无法平贴可将零件拆解分幵测试选择正确的测试方法 注意共存元素的干扰如 As 对 Pb 的干扰， Sn 对 Cd 的干扰关于保险丝本系统使用 2 个无熔丝断路器。因此没有必要更换保险

12、丝。如果电流过大，断路器 切断。复位时将断 路器 ON 。断路器在测定头反面盘的插座附近和泵用电源装置的反面盘的插座附近。将断路器打到 Ob 复位后，请用正规电源投入方法起动。 参照装置的起动方法 样品杯的组成介绍考前须知1液体需添加至样品杯的 八分满2假设不知液体是否为腐蚀性，参加后，需放置旁边没有益处状况，确保在测量过程中液体无溢出状况。3液体测试方法为块体分析检量线底部风扇过滤器的清洁更换目的SEA1000底部有冷却风扇引入口 .此部位如果有污物堆积,内部热量会聚集导致故障 所以要定期进行过滤器的清洁更换操作顺序1?将装置电源切断 请参照“电源的切断方法2?将下列图画圆圈的部位堵住,将风

13、扇过滤器底座向外拉出,将起取出.3.重时,用水轻轻清洗后凉干使用吸尘器将里面堆积的灰尘去除掉.污染比拟严4.过滤器清洁完毕后,将风扇过滤器安装到底座上风扇过滤器考前须知:1请在一个星期取出滤网检查是否沾染过多灰尘，假设灰尘太多需1周清消耗品的更换方法1聚酯外壳的更换方法?进行维护修理作业时，要将所有电源切断。否那么有触电危险。更换目的聚酯外壳用来防止细小样品的落入以及由此引起的装置零部件故障。聚酯外壳一旦污损样品画面便不易看清楚，对分析数据产生不良影响，所以一旦有污损要进行更换。准备物品?聚酯外壳？十字螺丝刀？粘接胶带更换顺序如下1. 切断装置电源。参照电源切断方法2. 打幵样品室盖。3?将样

14、品台取下。4. 使用螺丝刀将固定板金的 4个螺丝卸下。5. 将板金取下6. 使用螺丝刀将固定聚酯外壳的 4个螺丝卸下样品台托盘聚酯外壳底座7?将粘接聚酯外壳的胶带撕掉，将聚酯外壳取下，然后用胶带 粘贴上新的聚酯外壳？聚酯外壳请使用标准产品？聚酯外壳粘接胶带丨育使用注意使用粘接胶带粘接聚酯外壳时,要尽量平整,不要产生折皱？否那么会对分析数据产生不良影响，使样品画面不易看清楚？8?将聚酯外壳如原来的样子使用四个螺丝固定9.在其上边放上板金，如原来的样子使用四个螺丝固定.至此,聚酯外壳更换作业完成？排除故障在使用中，感觉装置的情况有些奇怪，是不是故障呢在有这样的想法的时候，首先要参考如下表格进行确认

15、。这里没有写到故障内容时，或采取对策以后也没有改善时，请于篇末的效劳窗口联系。现象原因和处理1、按电源幵关一即使打到一 ?电源线没有正确接线。ON不动作，并且灯类也不？电源线断了。亮。T用万用表测定两端是否导电。如果是断线了，请与效劳窗口联系。插座没有电。请用万用表确认电压。?插头没电T使用万用表检测电压。?断路器跳闸T请参照的内容。? X射线or显示用LED断幵。2、将X射线的键幵关打到°N t请参照请与效劳窗口联系也没有X射线产生。3、X射线从ON犬态突然变为？发生瞬间停电。OFFt在频繁瞬间停电环境中，请设置为无停电电源。?在幵闭器打幵的状态下，样品门被打幵t关闭样品门?X射线

16、发生系统的硬件故障T请与效劳窗口联系。? X射线系统硬件故障。T请与效劳窗口联系4、投入电源后，测定头内发 常声音。出异?冷却风机被脏东西堵住。T用吸尘器吸净。?准直器的驱动马达失调。T请与效劳窗口联系。5、程序不起动。?硬盘的内容或硬件损坏。T请与效劳窗口联系。6、不显示观察样品图像SEA1000 系列?图像信号的配线脱落。T确认配线?观察样品的照明设置不正确T在观察样品画面正确设置照度？因电源紊乱引起摄像头失控。t将测定头的电源关闭后再打幵。并且如果X-ray工作站一旦退出，请再次启动。?摄像头或CCD目机故障一丄圭匕 口 口 gir TlV 方7、鼠标指针不动作?鼠标配线脱线-请确认配线

17、?电源干扰等造成的程序失控。参照计算机手册，执行 CPU勺复位。8、键盘输入信号不被接受?键盘配线脱线请确认配线。?电源干扰等造成的程序失控。参照计算机使用手册，执行 CPU勺复位。9、样品台不动作选项?电源干扰等造成的程序失控。参照计算机使用手册，执行 CPU勺复位。10、显示器没有任何显示。?显示器电源未接通。接通显示器电源?电源线脱线。?没有和主体正确联接。参照显示器使用手册，进行各项调整。?亮度设置不适宜11、看不清显示器上显示的文字?亮度或对示度使用设置不进适各项调参照显示器手册进行调整。?显示器附近有 AV仪器等高磁仪器。 切断咼磁电子仪器的电源， 或者拉幵距离。12、即使按测定幵

18、始也 不幵始。? X射线电源关闭。?显示X射线OFF勺错误信息。 将X射线幵关打幵。?样品门幵着。关闭样品门13、完成测定，但得不到x射线光谱。?在低能量侧，载有很大的异常信号干扰o 切断产生高磁的电子仪器的电源，或者拉幵距离。？信号线脱线。确认配线。14、X射线强度不稳定?室内温度变化剧烈。请改变放置地点或者增设空调设备。或者再讨论校正频度。?电源电压变动剧烈。请利用不间断电源。特征X射线能量表原子编号儿素符号日语名称能量KeVKaKBL aLBLyMaMB1H氢-2He氦-3锂-4Be铍-亍B硼-6C炭-7N氮-8O氧-9F氟-10Ne氖-11Na钠-12Mg镁-13Al铝-14Si硅15p磷16S硫17Cl氯18Ar氩19K钾-20Ca钙-21Sc钪-22Ti钛-23V钒-24Cr铬-25Mn锰-26ze铁-27Co钻-28Ni镍-29Cu铜-30Zn锌-31Ga镓-32Ge锗-33As神-34Se硒-35Br溴-36Kr氟-37Rb铷-38Sr锶-39Y钇-40Zr镐-41Nb铌-原子序号元素符号日语名称能量(KeV)KaKbL aLBLyMaMB42Mo钼- -43Tc锝- -44Ru钉- -45Rh铑-