荧光光谱测量系统主要技术要求

1、荧光光谱测量系统主要技术要求1.稳态荧光测试部分 （1）光学系统结构：L形状（2）*工作原理：单光子计数（3）*灵敏度/纯水喇曼信号：峰值计数>1,000,000；保证信噪比>6000:1（4）激发光源：450W氙灯，光谱范围200nm-2600nm（5）UV-NIR波段稳态与瞬态光谱探测器Red-PMTl 型号：R928P，侧窗，TE制冷(-20 oC)l 光谱范围：200-870nml 响应时间：600psl 暗噪声：50 cps -20 oC （6）*完成激发谱、发射谱、3D谱、同步扫描谱功能 （7）稳态光谱可测范围：200nm-870nm （8）Filter一套：

2、滤除二级衍射，波长分别是：345nm, 395nm, 455nm, 495nm, 550nm, 590nm, and 645nm。尺寸：50*50mm2.瞬态荧光测试部分 （1）光学系统结构：L形状（2）*工作原理：时间相关的单光子计数（TCSPC）及Multichannel Scaling（3）*测量寿命范围：小于100ps-10s（4）瞬态光谱范围：200nm-870nm（5）*纳秒闪光灯：脉冲宽度: 1ns；重复频率: 40kHz光谱范围: 110-850nm (依赖于冲入的气体)（6）*微秒闪光灯：脉冲宽度：1.5-3us；重复频率：大于100Hz；平均功率：大于60W；（7

3、）*数据采集l 最大计数率：9MHz (periodic), 3MHz (random)l 计数通道数：大于4096个通道l 最小时间分辨率：610fsl 时间抖动：25ps （8）*完成时间分辨激发光谱、时间分辨发射光谱 （9）*可以同时测量得出多组分样品中各个组分的荧光寿命 （10）单色仪l 类型：Czerny-Turnerl 数值孔径：F/4.2l *焦距长度：300mml *杂散光抑制比：: 105:1l *光谱分辨率：0.05nml 波长精度：±0.2nml 波长重复性：±0.1nml 色散：1.8nm/mml 狭缝从小于10um-10mm连续软件可调 3.前表面

4、样品架（1）配置前表面样品架，可以进行薄膜、粉末、固体和液体等各种形态样品测试；（2）两种入射光路可选：既有反射镜耦合光路，又有透镜耦合光路4.水浴加热器：用于不同温度下的稳态和瞬态荧光测试（1）温度范围：-10oC to +100oC（2）温度连续可调（3）闭循环5. Stopped Flow Cell：用于快速的动态测试6.微量样品室 （1）光谱范围:1702700nm （2）可以用螺丝旋转 （3）最小容量0.1ml （4）四边抛光7.瞬态和稳态测试系统的灯源可以自动切换，无须拆装和校准8. 系统包含标准计算机工作站、hp打印机及软件一套9.软件主要功能（1）激发谱、发射谱和同步扫描谱的测试（2）偏振光谱测试（3）激发、发射3D光谱（4）光谱校正（5）TRES：时间分辨发射光谱（6）动态光谱测试（7）软件控制狭缝、衰减器，信号强度、样品选择等（8）荧光寿命的解卷积（9）数据归一化、基线提取、平滑和微积分等10.仪器主要功能（1）200-870nm稳态光谱测量（2）200-870nm荧光寿命/瞬态荧光光谱测量(100ps-10s)（3）200-870nm时间分辨发射光谱测量（4）200-870nm 同步光谱测量（5）200-870nm稳态化学发光光谱测量（6）200-870nm激发谱测量