海思终端芯片ATE技术手册

1、本文参照业界通用做法，泄义了海思终端芯片类COT的推荐ATE测试策略，以及此类芯片在测试程序开发及量产时各版本的的测试规范及测试项目要求。因技术和芯片规格持续发展，各IP的测试规范不断添加和完善。对于成熟旧程序开发时需要遵守该规范，新IP测试规范建立时可参考对应的测试规范。二、文档目的：支撑终端芯片媒体类产品达成 芯片应用特点芯片用于机顶盒，视频监控，数字电视等产品系列，质量及可靠性要求高：发货量大，成本敏感；工作环境为各国正常生活环境。 测试流程CP1FT1SLT1温度25C25C25C电压VDDNVDDN/IVH覆盖率低全DVSYNsite数量14 补充说明（DCP测试：低覆盖率（开始为中

2、覆盖，后续根据量产数据进行删减测试项以达到降成本目的），DVS,VDDN,常温测试，14site（2）FT测试：全覆盖，VDDN+VDDH+VDDL,常温测试（高温待验证必要性），GB（根据CHAR结果）28siteso量产SLT：可选项，长期可根据ATE覆盖率更新情况进行抽检或取消。可靠性测试：建议Bywaferlot进行HTOL/uHAST抽检3.3 测试项目标准ate向量规格要求如下：aATE向量规格要求（CP_FT）.xlsxlestIPhr测iK目的及测CWrtiS要说朗AEE黑茨说明MIrHEIIIE之广osOS.PS俭测芯片电涯与地之间是否存在恿路情况需要辖盖全部的电OSXWFU

3、NC测试芯片所有数字IOS否与Tes陋连接彭“且各首脚之间;殳有升路和短陶咳，go-nogotest需氏覆去全部带有上也二极管的首创OS_DD_PPMU测试芯片所有数字10是否与Te如连接良好，旦各HP之间没有开路和您跑现象，gonogotest凭要覆釜全沁有上拉二檀管的管即OS-VSS-FUNC测试芯片所有数字105否与Tew连掾良悦且各鎏即之间没有开路和矩踣现孰gsnogoz弱更衣走全卸数芋及OS-VSSPPMU测试芯片刖有数字K展否与Test涯接良好，巨各首创与电踵地之何注有开短精现象，可测出具体参SL需要爰盖全斓宇及PORPOR测试上电复应癌块的复位.藤时间定杳龊规格TsensorTS

4、R_ADT7301ifADT73O1基淮一用于俭测环境；际作.为SOCTsensoiTiimmrmS八准TSR.JNTf*f测试Tsens遵否工作正常，能正斛15出岂前芯片温虔值并与基淮戏行比趣（可这：把TrmmingSfgA送至EFUSE中进行二戾写）WJTAG可配（M线可配DCJDDQDCJDDQ测试芯片在特瞪措戏态下删字电源言卅辟态电恁肖驻，模拟电源训试可根据蚩产测试数据做加严多考，要求各电湄管晰电农态可控sPEcm据最终址产测试数据,按4sigma原则制定DFTFC-DFTQDFTg叙曙申要求100%,支持1149.1FC-BSCANVDDN则试JTAG5盼电臆琵否工作正卓FCCHAI

5、N-VDDN测试Scan返通跄FC_STUCK_VDDN测试数字郅弁泉否存在由生产环节异致的Stuck.At用的盖率要挪?%FC/TRANS.CPU(Normal)FC_TRANS_CPU(Profile)ffiff测试数宇卸分定否存在由生产环节导致的时序上的缺陷。对于CPUGPU叮rans,在CP上测试Normal频点和电丘在FT上零要新外跑电压和频率的profile点（前期以5个频宜为宜，后明报据虽产数振和成本要求进行相应梧简）同时对CPUGPU向蚩要有电压和频率BApcofileFC_TRANS_GPU(Normal)FC.TRANS.GPU(Profile)c*/FC.TRANS.OT

6、HER.VDDN对干其他模块6Trans,按照CHAR结果在FT上进f亍低EE加严卷盖率茎求CPUGPU-95%,M1K70%FC.MBIST.CPU(Normal)ifif测试芯片内部的memory是否工fE正常。对干CPUGPU八MBIST.在CP上测试Normal频巨和要求盖率100%?CPUGPU相关MeTnorvSSA7高利氐压：高中低烦profileoFC.MBIST.CPU(ProfilejJFCXIEISTGPU(Normal)/a.f甩Jis,tEFT_rfa甩Hi相BAproSc1前期以34K点为亘.后期根据呈产数据和咸FCMB!STGPU(Profile)1f本豆求连行相

7、应活简FCAIE1ST_OTHERvBdn对于具他核块的MBIST,在FT上世行高低压加FC.IDDQ测试IDDQ向虽functional测试是否Pass&在DCDDQ_VDDN测试项，只会判断擀态电流是否超限。而对于向量的PassTailK况，为了避免分Bin泯渚，特设贸此项，以谨选。USB3.0USB3_BIST_BERT谓理1率BIST：刃试USB3_BISTNT_LPBK一cTx-toRx内环回测试USB2.0USB2_BIST_HSfUSBHS(highspeed)模式T的BIST测试USB2_BIST_FSUSBFS(Fullspeed)摆式下的BIST测试PCIEPCIEBlST

8、BERT误码率BIST测试PCIE_B1STJNT_LPBKrx-to-Rx内环回测试PCIEIOcPCIEREFCLK觞出场率测试VideoDACINLI测试VidnDAC静态萝数：积弁菲线性DNLc9测试VkkoDAC筛惠参数：逢弁菲线性OFFSETERRORc测试VidnDAC祎态萝数：巾房赛FSRc测试VidcoDAC宏琴数：满幅范围GAINERRORc测试VidcoDAC削J杰数：酱益误歪Kfcnoxonicc测试MdeoDAC甜杰数：里渭性Wfismatchc测试VkieoDAC甜杰澎数：一致性SNRcc测试VidcoDAC动杰数：信嗓比THD1测试VideoDAC动杰澎数：谐通失

9、宜SFDRc测试VidcoDAC动态签数：无会散幼态范宙SINADc测试VkhoDAC动态参数：倍号摩声失巨比AudioDACINLc测iitAudioDAC态券莎积分非线性DNLc测iitAudioDAC人态空断差分非线性SNRc测iitAudioDAC动态参数：佑哩比SFDR01测试AudioDAC动态多数匚无杂散动态范困THDc/测试AudioDAC动态券数：谐浪失直QAM_ADCINLcf测试ADC祁态参数：枳分非线性DNLc1测试ADC3目态狡逊：差分非线性SNRcr测试ADC动态参秋佶哩比SFDRcf测试ADC动态参逊：无杂做动态范田THDct测试ADC动宏参数：谐漱失且HDNDH

10、DMI.TXc测试HDbnTXPHY劝能足否正常需要局速扳卡captureHDMI.RXc测试HDJ41RXPHY功能是否正常需要外接TX潟遥人原贻1E号LVDSLVDSTXc测试LVDSTX功能是否正常需要高速班卡captureMIPIMIP1RXc测试HPIRX功能是否正常需要高速扳卡偷人相应码型VBOVBO_TXQcJ测试VBOTX功能罡舌正常需要高速扳卡captureEuqatarDACINL测试EuqatorDACgl态口念数:积分非线性DNLc1测iitEuqatarDACgl态口念如芒分非绚性SNRc测试EuqmtorDAC动态参数:比SFDRc测试EuqatorDAC动态口念救

11、：无全散动态范国GAINERRORc测ixtEuqatorDACgf态口念如启益误差OFFSETERRORc1测试LuqaEDAC醉态参如Mismatchc1测试EuqagrDACSI态参如一致性INLcf测试EuqatorADC显态参如枳分非线性DNLc测试EuqaEADC祁态参如差分非线性SNRc/测iitEuqatorADC动态参如伯咙比SFDRc*1测试EuqatorADC动杰涉数：无杂散动态范囤GAINERRORc测试Euqa(6)ADC静态多如增益渭整OFFSETERROR测试EuqaiorADC啼态萝数：偏蛊CBUSCBUS00CC测试CBUS禊块，用于支持MHL烦格ARCARC测试ARCITi夬，用于音频回传FEPHYFEPHYBIST0C测试TEPHY巾能定否正章DIE.IDDIEJDIRCc本道TcstFlow测之前扔贻读取完全Follow启动条件（需同时满足条件1和2,或满足条件3,投入产出比要合算）：1、发货总量超过XXK,且最新测试程序版本连续XXlot测试良率波动Xsigma2、 FDPPM连续XX月维持低水准（vXXXPPM）3、或基于供应策略，ATE主动发起降成本工作降成本策略：整体策略：RTP前期以快速质量达标为优先，逐步