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文档简介

材料与器件 -MOCVD薄膜生长法实例 但是以O2作为氧源进行外延生长时存在如下问题:DEZn与O2在室温下即可发生剧烈反应,温度升高后反应更为剧烈,这种剧烈的气相反应容易生长ZnO颗粒,破坏薄膜的质量。但是用H20作为氧源,其可能的反应过程至今仍不太清楚。H20与DEZn的反应较O2与DEZn的反应更为平缓,这可以更加有效的减少预反应,对ZnO薄膜质量的提高更有利。因此我们选用了DEZn和H20作为生长ZnO薄膜的源材料。表4-1-1为ZnO和Si衬底及A1203衬底间的适配关系,从表中可以看出,硅衬底上直接生长ZnO时,热失配和晶格失配都使得ZnO外延层受到张应力(而在蓝宝石衬底上外延ZnO都为压应力),从而会使得外延层容易开裂,难以得到高结晶质量的ZnO外延薄膜。为了解决以上问题,在衬底和ZnO外延层之间引入缓冲层是被广泛采用的方法,阻止衬底的氧化,并缓解晶格失配和若失配导致的张应力。采用合适的中间层(缓冲层)和恰当的生长方法及工艺,外延生长裂纹少、晶质量好、光学特性好的ZnO膜,是科研工作者探求的目标。

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