2022年完整版,材料分析题库含答案

1、精选学习资料 - - - 欢迎下载材料分析试题库挑选题：一.1. m 层电子回迁到k 层后,余外的能量放出的特点x 射线称（b）a.k； b. k； c. k； d. l；2. 当 x 射线发生装置为cu 靶,滤波片应选（c ）a cu； b. fe；c. ni； d. mo；3. 当电子把全部能量都转换为x 射线时,该x 射线波长称（a）a.短波限 0； b. 激发限 k；c.吸取限； d.特点 x 射线4. 当 x 射线将某物质原子的k 层电子打出去后,l 层电子回迁k 层,余外能量将另一个l 层电子打出核外,这整个过程将产生（d）a.光电子； b. 二次荧光； c. 俄歇电子； d. （

2、 a+c）二.1. 最常用的x 射线衍射方法为（b）；a.劳厄法； b.粉末法； c.周转晶体法；d.德拜法；2. 射线衍射方法中,试样为单晶体的为（d ）a.劳埃法b.周转晶体法c.平面底片照相法d. a 和 b3. 晶体属于立方晶系,一晶面截x 轴于 a/2 .y 轴于 b/3 .z 轴于 c/4 ,就该晶面的指标为（ b ）a.364b.234c .213d.4684. 立方晶系中,指数相同的晶面和晶向（b ）a.相互平行b.相互垂直c.成肯定角度范畴d.无必定联系5. 晶面指数（ 111）与晶向指数（111）的关系为（c）；a. 垂直；b.平行；c.不肯定；6. 在正方晶系中,晶面指数

3、100 包括几个晶面（b）；a. 6；b. 4；c. 2d. 1；7. 用来进行晶体结构分析的x 射线学分支为（b ）a.x 射线透射学； b.x 射线衍射学；c.x射线光谱学；d.其它三.1.对于简洁点阵结构的晶体,系统消光的条件为（a）a.不存在系统消光b. h+k 为奇数c.h+k+l 为奇数d.h.k. l 为异性数2.立方晶系 100 晶面的多重性因子为（d）a.2b. 3c.4d.63.洛伦兹因子中,第一几何因子反映的为（a ）a.晶粒大小对衍射强度的影响b.参与衍射晶粒数目对衍射强度的影响c.衍射线位置对衍射强度的影响d.试样外形对衍射强度的影响4.洛伦兹因子中,其次几何因子反映

4、的为（b ）a.晶粒大小对衍射强度的影响b.参与衍射晶粒数目对衍射强度的影响c.衍射线位置对衍射强度的影响d.试样外形对衍射强度的影响5.洛伦兹因子中,第三几何因子反映的为（c ）a.晶粒大小对衍射强度的影响b.参与衍射晶粒数目对衍射强度的影响c.衍射线位置对衍射强度的影响d.试样外形对衍射强度的影响6.对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有（c）a.112b.113 c .101d. 111精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载7.对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有（c）a.200 b . 220c.112d. 1118.热振动对x-ray衍射的影响中不正确选项（e）a.温度上升

5、引起晶胞膨胀b.使衍射线强度减小c.产生热漫散射d.转变布拉格角 e .热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9.将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（c）a.结构因子b.角因子c.多重性因子d.吸取因子四.1.衍射仪的测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30 度角时, 计数管与入射线成多少度角 .（ b）a. 30度；b. 60度；c. 90度；2.不利于提高德拜相机的辨论率的为（d）；a. 采纳大的相机半径；b.采纳 x 射线较长的波长；c.选用大的衍射角；d.选用面间距较大的衍射面；3.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法为（c）a.正装法b.反装法c.偏装法d.以上均可4

6、.样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系为（b）a.11b.2 1c. 12d.没有确定比例5.关于相机辨论率的影响因素表达错误选项（c）a.相机半径越大,辨论率越高b.角越大,辨论率越高c.x 射线波长越小,辨论率越高d.晶面间距越大,辨论率越低6.粉末照相法所用的试样外形为（c ）a.块状b.分散c.圆柱形d.任意外形7.低角的弧线接近中心孔,高角线靠近端部的底片安装方法为（a）a.正装法b.反装法c.偏装法d.任意安装都可8.以气体电离为基础制造的计数器为（d ）a.正比计数器b.盖革计数器c.闪耀计数器d.a 和 b9.利用 x 射线激发某种物质会产生可见的荧光,而且荧光的多

7、少与x 射线强度成正比的特性而制造的计数器为（c）a.正比计数器b.盖革计数器c.闪耀计数器d.锂漂移硅检测器五.1.测定钢中的奥氏体含量,如采纳定量x 射线物相分析,常用方法为（c）；a. 外标法； b.内标法； c.直接比较法；d. k 值法；2.x 射线物相定性分析时,如已知材料的物相可以查（c）进行核对；a.哈氏无机数值索引；b.芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引；d. a 或 b ；3.pdf卡片中,数据最牢靠的用（b ）表示a.ib.c.d.c4.pdf卡片中,数据牢靠程度最低的用（c ）表示a.ib.c.d.c5.将所需物相的纯物质另外单独标定,然后与多项混合物中待测相的相

8、应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为（a ）a.外标法b.内标法c.直接比较法d.k 值法6.在待测试样中掺入肯定含量的标准物质,把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较,从而获得待测相含量的定量分析方法称为（ b ）a.外标法b.内标法c.直接比较法d.k 值法九.1. 透射电子显微镜中可以排除的像差为（b ）； a球差； b. 像散 ； c. 色差；精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载2.由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射才能不同而造成的像差称为（a ）a.球差b.像散c.色差d.背散3.由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为

9、（b ）a.球差b.像散c.色差d.背散4.由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（c ）a.球差b.像散c.色差d.背散5.制造出世界上第一台透射电子显微镜的为（b ）a.德布罗意b.鲁斯卡c.德拜d.布拉格十.1.透射电镜中电子枪的作用为（a ）a.电子源b.会聚电子束c.形成第一副高辨论率电子显微图像d.进一步放大物 镜像2.透射电镜中聚光镜的作用为（b ）a.电子源b.会聚电子束c.形成第一副高辨论率电子显微图像d.进一步放大物 镜像3.透射电镜中物镜的作用为（c ）a.电子源b.会聚电子束c.形成第一副高辨论率电子显微图像d.进一步放大物 镜像4.透射电镜中电中间镜的作用为（d ）

10、a.电子源b.会聚电子束c.形成第一副高辨论率电子显微图像d.进一步放大物 镜像5.能提高透射电镜成像衬度的光阑为（b）a.其次聚光镜光阑b.物镜光阑c.选区光阑d.索拉光阑6.物镜光阑安放在（c ）a.物镜的物平面b.物镜的像平面c.物镜的背焦面d.物镜的前焦面7.选区光阑在tem 镜筒中的位置为（b ）a.物镜的物平面b.物镜的像平面c.物镜的背焦面d.物镜的前焦面8.电子衍射成像时为将（a）a.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合b.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合 c.关闭中间镜d.关闭物镜9.透射电镜成形貌像时为将（b）a.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合b.中间镜的物平面与与物镜

11、的像平面重合c.关闭中间镜d.关闭物镜10.为了减小物镜的球差,往往在物镜的背焦面上安放一个（b ）a.其次聚光镜光阑b.物镜光阑c.选区光阑d.索拉光阑11.如 h-800 电镜的最高辨论率为0.5nm ,那么这台电镜的有效放大倍数为（c）；a. 1000； b. 10000； c. 40000； d.600000；十二.1.单晶体电子衍射花样为（a）；a. 规章的平行四边形斑点；b. 同心圆环； c. 晕环； d.不规章斑点；2. 薄片状晶体的倒易点外形为（c）；a. 尺寸很小的倒易点；b. 尺寸很大的球；c. 有肯定长度的倒易杆；d. 倒易圆盘；3. 当偏离矢量s<0 时,倒易点为

12、在厄瓦尔德球的（a）；a. 球面外； b. 球面上； c. 球面内； d. b+c；4. 能帮忙排除180o不唯独性的复杂衍射花样为（a ） ；a. 高阶劳厄斑； b. 超结构斑点； c. 二次衍射斑； d. 孪晶斑点；5. 菊池线可以帮忙（d ） ；a. 估量样品的厚度；b. 确定 180o不唯独性； c. 鉴别有序固溶体；d. 精确测定晶体取向；6. 假如单晶体衍射花样为正六边形,那么晶体结构为（d）；a. 六方结构； b. 立方结构； c. 四方结构； d. a 或 b；精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载7.有一倒易矢量为g2a2bc,与它对应的正空间晶面为（c）；a. （2

13、10）； b. （ 220）； c. （ 221）；d. （ 110）；十三.1.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这为（c ）；a. 明场像； b. 暗场像； c. 中心暗场像；d.弱束暗场像；2. 当 t=5s/2 时,衍射强度为（d）；a.ig=0； b. ig<0； c. ig>0； d. ig=imax；3. 已知一位错线在挑选操作反射g1=（110）和 g2=（ 111）时,位错不行见,那么它的布氏矢量为（b）；a. b=（ 0 -1 0）； b. b=（ 1 -1 0）；c. b=（ 0 -1 1）； d. b=（ 0 1 0）；4. 当其次

14、相粒子与基体呈共格关系时,此时的成像衬度为（c）；a. 质厚衬度； b. 衍衬衬度； c. 应变场衬度； d. 相位衬度；5.当其次相粒子与基体呈共格关系时,此时所看到的粒子大小（b）；a. 小于真实粒子大小；b. 为应变场大小；c. 与真实粒子一样大小；d. 远远大于真实粒子；6.中心暗场像的成像操作方法为（c ） ；a以物镜光栏套住透射斑；b以物镜光栏套住衍射斑；c将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑；十四.1.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号为（b）；a. 背散射电子； b. 二次电子； c. 吸取电子； d.透射电子；2.在扫描电子显微镜中,以下二次电子像衬度最亮的区域为（b

15、） ；a.和电子束垂直的表面；b. 和电子束成30o的表面； c. 和电子束成45o的表面； d. 和电子束成 60o的表面；3.可以探测表面1nm 层厚的样品成分信息的物理信号为（d）；a. 背散射电子； b. 吸取电子； c. 特点 x 射线； d. 俄歇电子；十五.1.扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器为（b ）；a. 波谱仪； b. 能谱仪； c. 俄歇电子谱仪；d. 特点电子能量缺失谱；2.波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点为（a ） ；a. 快速高效； b. 精度高； c. 没有机械传动部件；d. 价格廉价；3.要分析基体中碳含量,一般应选用（a）电子探针仪,a. 波

16、谱仪型b.能谱仪型填空：一.1. 当 x 射线管电压超过临界电压就可以产生连续x射线和标识x射线；2. 当 x 射线管电压低于临界电压仅产生连续x 射线；当x 射线管电压超过临界电压就可以产生连续x 射线和特点x 射线；3. 特点 x 射线的产生过程中,如k 层产生空位,由l 层和 m层电子向k 层跃迁产生的k 系特点辐射按次序称k 射线和 k射线；4. x射线的本质既具有波动性也具有粒子性,具有波粒二象性；5. 短波长的x 射线称硬 x 射线,常用于金属部件的无损探伤；长波长的x 射线称软 x 射线,常用于医学透视上；6. 连续谱短波限只与管电压有关；7. 特点 x 射线谱的频率或波长只取决

17、于阳极靶物质的原子能级结构；二.1.本质上说, x 射线的衍射为由大量原子参与的一种散射现象；精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载2.布拉格方程在试验上的两种用途为结构分析和x 射线光谱学；3.粉末法中晶体为多晶体,不变化,变化；4.平面底片照相法可以分为透射和背射两种方法；5.平面底片照相方法适用于讨论晶粒大小.择优取向以及点阵常数精确测定方面；三.1.原子序数z 越小,非相干散射越强；2.结构因子与晶胞的外形和大小无关；3.热振动给x 射线的衍射带来很多影响有：温度上升引起晶胞膨胀.衍射线强度减小.产生向各个方向散射的非相干散射；4.衍射强度公式不适用于存在织构组织；5.结构因子

18、 =0 时,没有衍射我们称系统消光或 结构消光；对于有序固溶体,原本消光的地方会显现弱衍射；6.影响衍射强度的因素除结构因子外仍有角因子,多重性因子, 吸取因子, 温 度因子 ；四.1. 在肯定的情形下,90 度, sin 0；所以精确测定点阵常数应挑选 高角度衍射线；2. 德拜照相法中的底片安装方法有:正装法、 反装法和偏装法三种；3. 在粉末多晶衍射的照相法中包括德拜 - 谢乐法. 聚焦照相法和 针 孔法；4. 德拜相机有两种,直径分别为57.3mm和 114.6mm；测量角时,底片上每毫米对应2o和1 o ；5. 衍射仪的核心为测角仪圆,它由辐射源.试样台和探测器共同组成；6. 可以用作

19、x 射线探测器的有正比计数器. 盖革计数器和 闪耀计数器等；7. 影响衍射仪试验结果的参数有狭缝光阑.时间常数和扫面速度等；五.1.x 射线物相分析包括定性分析和 定量分析,而定性分析更常用更广泛；2.x 射线物相定量分析方法有外标法. 内标法. 直接比较法等；3.定量分析的基本任务为确定混合物中各相的相对含量；4.内标法仅限于粉末试样；九.1.电磁透镜的像差包括球差. 像散和 色差；2.透射电子显微镜的辨论率主要受衍射效应和球面像差两因素影响；3.透射电子显微镜中用磁场来使电子聚焦成像的装置为电磁透镜；4.像差分为两类,即几何像差和色差；十.1.tem中的透镜有两种,分别为静电透镜和电磁透镜

20、；2.tem 中的三个可动光栏分别为聚光镜光栏位于其次聚光镜焦点上,物镜光栏位于物镜的背焦面上,选区光栏位于物镜的像平面上； 3.tem成像系统由物镜.中间镜和投影镜组成；4.透射电镜主要由电子光学系统、 电源与掌握系统和真空系统三部分组成；5.透射电镜的电子光学系统分为三部分,即照明系统.成像系统和观看记录系统；十一.1.限制复型样品的辨论率的主要因素为复型材料的粒子尺寸大小；2.今日复型技术主要应用于萃取复型来揭取其次相微小颗粒进行分析；精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载3.质厚衬度为建立在非晶体样品中原子对入射电子的散射和透射电子显微镜小孔径角成像基础上的成像原理,为说明非晶

21、态样品电子显微图像衬度的理论依据；4.粉末样品制备方法有胶粉混合法和 支持膜分散粉末法；5.透射电镜的复型技术主要有一级复型.二级复型和萃取复型三种方法；十二.1.电子衍射和x 射线衍射的不同之处在于入射波长不同.试样尺寸外形不同,以及样品对电子和 x 射线的散射才能不同；2.电子衍射产生的复杂衍射花样为高阶劳厄斑.超结构斑点.二次衍射.孪晶斑点和菊池花样；3.偏离矢量s 的最大值对应倒易杆的长度,它反映的为角偏离布拉格方程的程度；4.单晶体衍射花样标定中最重要的一步为确定晶体结构；5.二次衍射可以使密排六方.金刚石结构的花样中在本该消光的位置产生衍射花样,但体心立方和面心立方结构的花样中不会

22、产生余外衍射；6.倒易矢量的方向为对应正空间晶面的法线；倒易矢量的长度等于对应晶面间距的倒 数 ；7.只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上,就表示该晶面满意布拉格条件,能产生衍射；十三.1.运动学理论的两个基本假设为双光束近似和柱体近似；2.对于抱负晶体, 当样品厚度或 偏离矢量连续转变时衬度像中会显现等厚消光条纹或 等倾消光条纹；3.对于缺陷晶体,缺陷衬度为由缺陷引起的位移矢量导致衍射波振幅增加了一个附加位相角,但为如附加的位相角=2的整数倍时,缺陷也不产生衬度； 4.一般情形下, 孪晶与层错的衬度像都为平行直线,但孪晶的平行线间距不等,而层错的平行线为等间距的；5.实际的位错线在位错线像的一侧,

23、其宽度也大大小于位错线像的宽度,这为由于位错线像的宽度为应变场宽度；十四.1.电子束与固体样品相互作用可以产生背散射电子. 二次电子.透射电子. 特点 x 射线. 俄歇电子. 吸取电子等物理信号；2.扫描电子显微镜的放大倍数为阴极射线电子束在荧光屏上的扫描宽度与电子枪电子束在样品表面的扫描宽度的比值；在衬度像上颗粒.凸起的棱角为亮 衬度,而裂纹. 凹坑就为暗 衬度；3.辨论率最高的物理信号为俄歇电子或二次电子为 5 nm ,辨论率最低的物理信号为特点 x 射线为 100nm以上；4.扫描电镜的辨论率为指二次电子信号成像时的辨论率5.扫描电子显微镜可以替代金相显微镜进行材料金相观看, 也可以对断

24、口进行分析观看； 6.扫描电子显微镜常用的信号为二次电子和背散射电子；7.扫描电子显微镜为电子光学系统,信号收集处理.图像显示和记录系统,真空系统三个基本部分组成； 8. 电子光学系统包括电子枪.电磁透镜.扫描线圈和样品室；十五.1.电子探针的功能主要为进行微区成分分析；精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载2.电子探针的信号检测系统为x 射线谱仪, 用来测定特点波长的谱仪叫做波谱仪；用来测定x 射 线 特 征 能 量 的 谱 仪 叫 做 能 量 分 散 谱 仪 ；3.电子探针仪的分析方法有定性分析和定量分析；其中定性分析包括定点分析.线分析.面分析；4.电子探针包括能谱仪和 波 谱仪

25、两种仪器；判定题：一.1. 激发限与吸取限为一回事,只为从不同角度看问题；（ ）2. 经滤波后的x 射线为相对的单色光； （ ）3. 产生特点 x 射线的前提为原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态；（）4. 挑选滤波片只要依据吸取曲线挑选材料,而不需要考虑厚度；（×）二.1.x 射线衍射与光的反射一样,只要满意入射角等于反射角就行；（ ×）2.干涉晶面与实际晶面的区分在于：干涉晶面为虚拟的,指数间存在公约数n；（）3.布拉格方程只涉及x 射线衍射方向,不能反映衍射强度；（）三.1.衍射方向在x 射线波长肯定的情形下取决与晶面间距（）2.在一个晶面族中,等同晶面越多,参与

26、衍射的概率就越大（ ）3.x 射线衍射线的峰宽可以反映出很多晶体信息,峰越宽说明晶粒越大（×）4.原子的热振动可使x 射线衍射强度增大（× ）5.温度肯定时,衍射角越大,温度因子越小,衍射强度随之减小（）6.布拉格方程只涉及x 射线衍射方向,不能反映衍射强度（）7.衍射角肯定时,温度越高,温度因子越小,衍射强度随之减小（）8.原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射（× ）四.1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受辨论率,缩短嚗光时间；（ × ）2.在衍射仪法中,衍射几何包括二个圆；一个为测角仪圆,另一个为辐射源.探测器与试样三者仍必需位于同一聚焦圆；（

27、）3.德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确；（ × ）4. 衍射仪法和德拜法一样,对试样粉末的要求为粒度匀称.大小适中, 没有应力；（ ）5. 要精确测量点阵常数；必需第一尽量削减系统误差,其次选高角度角,最终仍要用直线外推法或柯亨法进行数据处理；（ ）6.粉末照相法所用的粉末试样颗粒越细越好（× ）7.德拜相机的底片安装方式中,正装法多用于点阵常数的确定（× ）8.依据不消光晶面的n 值比值可以确定晶体结构（ ）9.为了提高德拜相机的辨论率,在条件答应的情形下,应尽量采纳波长较长的x-ray源（ ） 10.在分析大晶胞的试样时,应尽可能选用波长较长的x-ray源,

28、 以便抵偿由于晶胞过大对辨论率的不良影响（ ） 11.挑选小的接受光阑狭缝宽度,可以提高接受辨论率,但会降低接受强度（ ） 五 . 1.x 射线衍射之所以可以进行物相定性分析,为由于没有两种物相的衍射花样为完全相同的；（ ） 2.理论上x 射线物相定性分析可以告知我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告知我们这些物相的含量有多少；（ ）3.各相的衍射线条的强度随着该相在混合物中的相对含量的增加而增强（ ）4.内标法仅限于粉末试样（ ）精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载5.哈氏索引和芬克索引均属于数值索引（ ）6.pdf索引中晶面间距数值下脚标的x 表示该线条的衍射强度待定（

29、15; ）7.pdf卡片的右上角标有说明数据牢靠性高（ ）8.多相物质的衍射花样相互独立,互不干扰（× ）9.物相定性分析时的试样制备,必需将择优取向减至最小（）九.1.tem的辨论率既受衍射效应影响,也受透镜的像差影响；（ ）2.孔径半角为影响辨论率的重要因素,tem中的角越小越好； （ × ）3.tem 中主要为电磁透镜,由于电磁透镜不存在凹透镜,所以不能象光学显微镜那样通过凹凸镜的组合设计来减小或排除像差,故tem中的像差都为不行排除的；（×）4.tem的景深和焦长随辨论率r0 的数值减小而减小；随孔径半角的减小而增加；随放大倍数的提高而减小； （ 

30、5; ）5.电磁透镜的景深和焦长随辨论率r0的数值减小而减小；随孔径半角的减小而增加（ ）6.光学显微镜的辨论率取决与照明光源的波长,波长越短,辨论率越高（）7.波长越短, 显微镜的辨论率越高, 因此可以采纳波长较短的射线作为照明光源；（× ）8.用小孔径角成像时可使球差明显减小；（ ）9.限制电磁透镜辨论率的最主要因素为色差；（ × ）10.电磁透镜的景深越大,对聚焦操作越有利；（ ）十.1.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同,前者取决于仪器辨论率和人眼辨论率,后者仅仅为仪器的制造水平；（ ）2.物镜的辨论率主要打算于极靴的外形和加工精度（ ）3.物镜光阑可以减小像

31、差但不能提高图像的衬度（×）4.物镜光阑孔越小,被挡去的电子越多,图像的衬度越大（）5.物镜光阑能使物镜孔径角减小,能减小像差,得到质量较高的图像（）6.物镜光阑为没有磁性的（）7.利用电子显微镜进行图像分析时,物镜和样品之间的距离为固定不变的（ ）十二.1.多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样,随着环直径增大, 衍射晶面指数也由低到高； （）2.单晶衍射花样中的全部斑点同属于一个晶带；（×）3.偏离矢量s=0 时,衍射斑点最亮；这为由于s=0 时为精确满意布拉格方程,所以衍射强度最大；（ ）4.对于未知晶体结构,仅凭一张衍射花样为不能确定其晶体结构的；仍要从不同位向拍照多幅衍

32、射花样,并依据材料成分.加工历史等或结合其它方法综合判定晶体结构；（）5.电子衍射和x 射线衍射一样必需严格符合布拉格方程；（×）6.倒易矢量能唯独地代表对应的正空间晶面；（）十三.1.实际电镜样品的厚度很小时、能近似满意衍衬运动学理论的条件、这时运动学理论能很好地说明衬度像； （ ）2.厚样品中存在消光距离g,薄样品中就不存在消光距离g；（ ×）3.明场像为质厚衬度,暗场像为衍衬衬度；（ ×）4.晶体中只要有缺陷,用透射电镜就可以观看到这个缺陷；（ ×）5.等厚消光条纹和等倾消光条纹通常为形貌观看中的干扰,应当通过更好的制样来防止它们的显现；（ 

33、15;）十四.1.扫描电子显微镜中的物镜与透射电子显微镜的物镜一样；（×）2.扫描电子显微镜的辨论率主要取决于物理信号而不为衍射效应和球差；（）精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载3.扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度；（×）4.扫描电子显微镜具有大的景深,所以它可以用来进行断口形貌的分析观看；（）十五.1.波谱仪为逐一接收元素的特点波进步行成分分析；能谱仪为同时接收全部元素的特点x射线进行成分分析的； （ ）名词说明：0.系统消光： 因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上衍射线消逝的现象；1.结构因子： 定量表征原子排布以

34、及原子种类对衍射强度影响规律的参数；2. hanawalt索引： 数字索引的一种, 每种物质的全部衍射峰之中,必定有三个 峰的强度最大 而非面网间距最大 ； 把这三个强度最大的峰,按肯定的规律排序,就构成了 hanawalt 排序和索引方法；排序时,考虑到影响强度的因素比较复杂,为了削减因强度测量的差异而带来的查找困难,索引中将每种物质列出三次；数据检索时, 按实际衍射图谱中的3 强峰进行数据检索, 即可找到对应的衍射卡片；3. 直接比较法：将试样中待测相某跟衍射线的强度与另一相的某根衍射线强度相比较的定量金相分析方法；4. 球差：即球面像差, 为由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射才

35、能不同造成的； 轴上物点发出的光束, 经电子光学系统以后, 与光轴成不同角度的光线交光轴于不同位置,因此,在像面上形成一个圆形弥散斑,这就为球差；像散：由透镜磁场的非旋转对称引起的像差；色差： 由于电子的波长或能量非单一性所引起的像差,它与多色光相像,所以叫做色差；5. 景深： 透镜物平面答应的轴向偏差；焦长：透镜像平面答应的轴向偏差；在成一幅清楚像的前提下, 像平面不变,景物沿光轴前后移动的距离称 “景深”；景物不动,像平面沿光轴前后移动的距离称“焦长”；6. ariy斑： 物体上的物点通过透镜成像时,由于衍射效应,在像平面上得到的并不为一个点, 而为一个中心最亮. 四周带有明暗相间同心圆环

36、的圆斑,即所谓airy斑；7. 孔径半角： 孔径半角为物镜孔径角的一半, 而物镜孔径角为物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度； 因此,孔径半角为物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度的一半；8. 点辨论率与晶格辨论率：点辨论率为电镜能够辨论的两个物点间的最小间距；晶格辨论率为能够辨论的具有最小面间距的晶格像的晶面间距；9. 选区衍射： 为了分析样品上的一个微小区域,在样品上放一个选区光阑,使电子束只能通过光阑孔限定的微区,对这个微区进行衍射分析；10. 有效放大倍数： 把显微镜最大辨论率放大到人眼的辨论本事（0.2mm）,让人眼能辨论的放大倍数,即眼睛辨论率/ 显

37、微镜辨论率；精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载11. 质厚衬度： 由于试样的质量和厚度不同,各部分对入射电子发生相互作用,产生的吸取与散射程度不同,而使得透射电子束的强度分布不同,形成反差, 称为质- 厚衬度；12. 偏离矢量 s：倒易杆中心至与爱瓦尔德球面交截点的距离可用矢量s 表示, s就为偏离矢量；13. 晶带定律：凡为属于 uvw 晶带的晶面,它的晶面指数hkl都必需符合hu+kv+lw=0,通常把这种关系式称为晶带定律；14. 相机常数： 定义 k=l,称相机常数,其中l 为镜筒长度,为电子波长；15. 明场像： 让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法,叫明

38、场成像,所得到的像叫明场像；16. 暗场像： 用物镜光阑拦住透射束及其余衍射束,而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法,称为暗场成像,所得图象为暗场像；17. 中心暗场像： 用物镜光阑拦住透射束及其余衍射束,而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法, 称为暗场成像, 所得图象为暗场像； 假如物镜光阑处于光轴位置,所得图象为中心暗场像；18. 消光距离 g：晶体内透射波与衍射波动力学相互作用,使其强度在晶体深度方向上发生周期性振荡,振荡的深度周期叫消光距离；19. 衍射衬度： 入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后,样品内不同部位组织的成像电子束在像平面上存在强度差别的反映；衍射衬度主要为由于晶

39、体试样满意布拉格反射条件程度差异以及结构振幅不同而形成电子图象反差；20. 背散射电子： 入射电子被样品原子散射回来的部分；它包括弹性散射和非弹性散射部分； 背散射电子的作用深度大, 产额大小取决于样品原子种类和样品外形；21. 吸取电子：入 射电子进入样品后,经多次非弹性散射,能量缺失殆尽（假定样品有足够厚度,没有透射电子产生） ,最终被样品吸取；吸取电流像可以反映原子序数衬度,同样也可以用来进行定性的微区成分分析；22. 特点 x 射线： 原子的内层电子受到激发以后,在能级跃迁过程中直接释放的具有特点能量和波长的一种电磁波辐射；利用特点x 射线可以进行成分分析；23. 二次电子： 二次电子

40、为指被入射电子轰击出来的核外电子；二次电子来自表面 50-100 .的区域,能量为0-50 ev ；它对试样表面状态特别敏锐,能有效地显示试样表面的微观形貌；24. 俄歇电子： 假如原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量不以 x 射线的形式释放, 而为用该能量将核外另一电子打出, 脱离原子变为二次电子, 这种二次电子叫做俄歇电子；俄歇电子信号适用于表层化学成分分析；25. 波谱仪： 电子探针的信号检测系统为x 射线谱仪,用来测定x 射线特点波长的谱仪叫做波长分散谱仪；精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载26. 能谱仪： 电子探针的信号检测系统为x 射线谱仪,用来测定x 射线特点能量

41、的谱仪叫做能量分散谱仪；问答题：1. 什么叫“相干散射” .“短波限”.吸取限？答：相干散射,物质中的电子在 x 射线电场的作用下,产生强迫振动；这样每个电子在各方向产生与入射 x 射线同频率的电磁波； 新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射；短波限,连续 x 射线谱在短波方向有一个波长极限,称为短波限 0. 它为由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的x 射线；吸取限：主要由于光电效应引起的吸取突然增加所对应的x 射线的波长；2. 分析以下荧光辐射产生的可能性,为什么？（ 1）用 cuk x 射线激发 cuk 荧光辐射；（ 2）用 cuk x 射线激发 cuk 荧光辐射；（ 3）用 cuk x 射

42、线激发 cul 荧光辐射；解：假设 ek 为 k 壳层的能量, el 为 l 壳层的能量, em为 m壳层的能量, cuk x 射线的能量为 ek-el ,cuk x 射线的能量为 ek-em, cuk 荧光辐射的能量为ek-el, cul荧光辐射的能量为el-em,（ 1）不行能,用cuk x 射线激发cuk荧光辐射,需要ek 的能量；（ 2）不行能,用cuk x 射线激发cuk荧光辐射,需要ek 的能量；（ 3）有可能,用cuk x 射线激发cul 荧光辐射,需要el 的能量,详细能不能仍要比较 ek-el 和 el 的大小；3. 特点 x 射线谱的产生气理；答：高速运动的粒子（电子或光子

43、）将靶材原子核外电子击出去,或击到原子系统外,或填到未满的高能级上, 原子的系统能量上升, 处于激发态；为趋于稳固,原子系统自发向低能态转化： 较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁,这一降低的能量以一个光子的形式辐射出来变成光子能量,且这降低能量为固定值 （因原子序数固定）,因而固定,所以辐射出特点x 射线谱；4. 布拉格方程 2dsin =中的 d.分别表示什么？布拉格方程式有何用途？答： dhkl表示 hkl晶面的面网间距,角表示拂过角或布拉格角,即入射x 射线或衍射线与面网间的夹角,表示入射x 射线的波长；该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的 d 值；通过测量, 求特点 x 射线的,并

44、通过判定产生特点x 射线的元素；这主要应用于 x 射线荧光光谱仪和电子探针中；（2）已知入射 x 射线的波长,通过测量,求晶面间距；并通过晶面间距,测定晶体结构或进行物相分析；5. 给出简洁立方.面心立方.体心立方.密排六方以及体心四方晶体结构x 衍射发生消光的晶面指数规律；答：常见晶体的结构消光规律简洁立方对指数没有限制（不会产生结构消光） ；面心立方h, k, l奇偶混合；体心立方h+k+l=奇数；精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载密排六方h+2k=3n、同时 l= 奇数；体心四方h+k+l=奇数；6. 打算 x 射线强度的关系式为,试说明式中各参数的物理意义 .答： x 射线

45、衍射强度的公式,试中各参数的含义为：i0 为入射 x 射线的强度； 为入射 x 射线的波长；r为试样到观测点之间的距离；v为被照耀晶体的体积；vc为单位晶胞体积；p为多重性因子,表示等晶面个数对衍射强度的影响因子；f为结构因子,反映晶体结构中原子位置.种类和个数对晶面的影响因子；a 为吸取因子, 圆筒状试样的吸取因子与布拉格角.试样的线吸取系数l和试样圆柱体的半径有关；平板状试样吸取因子与有关,而与角无关； 为角因子, 反映样品中参与衍射的晶粒大小,晶粒数目和衍射线位置对衍射强度的影响；e-2m为温度因子 =有热振动影响时的衍射强度无热振动抱负情形下的衍射强度7. 罗伦兹因数为表示什么对衍射强

46、度的影响？其表达式为综合了哪几方面考虑而得出的？答：罗仑兹因数为三种几何因子对衍射强度的影响,第一种几何因子表示衍射的晶粒大小对衍射强度的影响, 罗仑兹其次种几何因子表示晶粒数目对衍射强度的影响,罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍射强度的影响；8. 试比较衍射仪法与德拜法的优缺点？（ 1）简便快速（ 2）辨论才能强（ 3）直接获得强度数据（ 4）低角度区的 2测量范畴大（ 5）样品用量大（ 6）设备较复杂,成本高；9. 试总结德拜法衍射花样的背底来源,并提出一些防止和削减背底的措施；答：德拜法衍射花样的背底来源为入射波的非单色光.进入试样后诞生的非相干散射.空气对x 射线的散射.温度波动引

47、起的热散射等；实行的措施有尽量使 用单色光.缩短曝光时间.恒温试验等；10. 粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？答.粉末样品颗粒过大会使德拜花样不连续,或过小, 德拜宽度增大, 不利于分精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载-3析工作的进行； 由于当粉末颗粒过大 （大于 10 cm）时,参与衍射的晶粒数削减,-5精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载会使衍射线条不连续； 不过粉末颗粒过细 （小于 10这些都不利于分析工作；cm）时,会使衍射线条变宽,精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载多晶体的块状试样,

48、 假如晶粒足够细将得到与粉末试样相像的结果, 即衍射峰宽化；但晶粒粗大时参与反射的晶面数量有限, 所以发生反射的概率变小, 这样会使得某些衍射峰强度变小或不显现；11. 试验中挑选 x 射线管以及滤波片的原就为什么？已知一个以fe 为主要成分的样品,试挑选合适的x 射线管和合适的滤波片？答：试验中挑选 x 射线管的原就为为防止或削减产生荧光辐射,应当防止使用比样品中主元素的原子序数大26（特殊为 2）的材料作靶材的x 射线管；挑选滤波片的原就为 x 射线分析中, 在 x 射线管与样品之间一个滤波片, 以滤掉k线；滤波片的材料依靶的材料而定,一般采纳比靶材的原子序数小 1 或 2 的材料；分析以

49、铁为主的样品,应当选用co 或 fe 靶的 x 射线管,它们的分别相应挑选fe 和 mn为滤波片；12. 电子波有何特点？与可见光有何异同？答：电子波的波长较短, 轴对称非匀称磁场能使电子波聚焦；其波长取决于电子运动的速度和质量, 电子波的波长要比可见光小5 个数量级； 两者都为波, 具有波粒二象性,波的大小.产生方式.聚焦方式等不同；13. 电磁透镜的像差为怎样产生的,如何来排除或减小像差？答：电磁透镜的像差可以分为两类：几何像差和色差； 几何像差为由于投射磁场几何外形上的缺陷造成的, 色差为由于电子波的波长或能量发生肯定幅度的转变而造成的；几何像差主要指球差和像散； 球差为由于电磁透镜的中

50、心区域和边缘区域对电子的折射才能不符合预定的规律造成的,像散为由透镜磁场的非旋转对称引起的；排除或减小的方法：球差：减小孔径半角或缩小焦距均可减小球差,特殊小孔径半角可使球差明显减小；像散：引入一个强度和方向都可以调剂的矫正磁场即消像散器予以补偿；色差：采纳稳固加速电压的方法有效地较小色差；14. 说明影响光学显微镜和电磁透镜辨论率的关键因素为什么？如何提高电磁透镜的辨论率？答：光学显微镜的辨论本事取决于照明光源的波长；电磁透镜的辨论率由衍射效应和球面像差来打算,球差为限制电磁透镜辨论本事的主要因素；如只考虑衍射效应, 在照明光源和介质肯定的条件下,孔径角越大, 透镜的辨论本事越高； 如同时考

51、虑衍射和球差对辨论率的影响,关键在确定电磁透镜的正确孔径半角,使衍射效应斑和球差散焦斑的尺寸大小相等；15. 电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响？说明电磁透镜的景深大.焦长长,为什么因素影响的结果？假设电磁透镜没有像差,也没有衍射airy斑,即辨论率极高,此时景深和焦长如何？精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载答：电磁透镜景深与辨论本事dfr0 .孔径半角之间关系：2r0 tg2r0 .表精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载明孔径半角越小. 景深越大； 透镜集长d l 与辨论本事r0 ,像点所张孔径半角精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载d2r0 m2r0 m2r02精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎下载l的关系：tand l,m ,m,m为透镜放大倍精品学习资料精选学习资料 - - - 欢迎