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文档简介

1、 技术交流技术交流 内存内存ATE测试测试什么是ATE测试？qATE 是 Automated Test Equipment 的简称，即自动测试设备，它是对内存条或SDRAM芯片的品质进行检测的测试设备。qATE 测试 即使用自动测试设备对内存条或SDRAM芯片的品质进行测试。 ATE 的工作原理： 被测器件被测器件（DUT）测试系统测试系统（ATE）Test ProgramResultsInputOutputq高档的ATE测试设备有： Verigy公司的93K系统 Advantest公司的T5581/T5585/T5592系统 KINGTIGER公司的KT2A PRO系统q 特点： 精度高 速

2、度快 完整的电性能、功能和时序测试及分析 价格昂贵 专业的厂商使用 T5592测试系统简介q 能够测试各种存储器（专用）q 最高测试频率可以达到1.066GHzq 定时精度达到150ps(OTA)q 最大可测试芯片64颗，DDR内存条16条（2Station)q Driver与双向口分开，节约成本（存储器特点专门设计）硬件部分 ATE测试简介测试简介T5592测试项目测试项目q 连接性测试q 漏电流测试q 电源电流测试q 功能测试q 重要DC AC参数测试q SPD的读写测试 图形文件图形文件RESULT: P/F DC参数测试参数测试电压参数测试电压参数测试电流参数测试电流参数测试 DC测试

3、测试 目的：检测芯片的各项电气性能目的：检测芯片的各项电气性能 电压参数测试电压参数测试q主要电压参数电源电压VDD、VDDQ、VREF输入电压VIL、VIH输出电压VOL、VOHq测试目的：评估DUT能正常工作的电压范围评估输入管脚区分输入逻辑状态的能力评估输出管脚的输出相应逻辑电压的能力 电流参数测试电流参数测试q主要电流参数 电源电流IDD输入漏电流IIL、IIH输出漏电流IOL、IOH、IOZq测试目的：评估DUT的漏电流大小评估供给DUT工作时所需的电源电流大小 AC参数测试参数测试AC参数测试基本原理： 改变需要测试的参数，重复执行功能 测试，直到测试结果由PASS转为FAIL 为止。记录PASS/FAIL转换点，进行必 要的数学运算，得出需要测试的参数实 际数值。实质是以时间条件为基础来执 行功能测试。 AC参数测试参数测试qAC参数测试目的：保证器件的时序参数满足器件SPEC的要求保证器件在不同的时序条件限制下可正常工作分析器件时序参数解决故障问题Debug/优化测试程序的工具 Shmoo 图例图例-Margin Test (潜力测试）潜力测试） 用于评价芯片实际能力，通常使用用于评价芯片实际能力，通常使用SHMOO PLOT 工具进行分析工具进行分析 Shmoo 图例图例 二维Shmoo 同时改变两个 相互关联的参

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