AOIETESTGAPanalysis21PE2

1、e-test & aoi gap analysise-test aoi gap trend charte-test&aoi open gap trend chartpbga-4l e-test&aoi short gap trend up to 5701ppm from 5627ppmpbga-4l yield trend down to 97.07% from 98.04%異常狀況追蹤異常狀況追蹤清潔後銅缸2 前酸水洗滾輪存在大量異物鍍銅線內輸水管中存在大量異物:綠色菌類異物mapping 生產前後批狀況:發現鍍銅保養前所生產板材short相對增多defect ana

2、lysis銅層異物銅層異物層間short 主要異常為銅缸2前酸水洗存在大量異物,mapping 水洗管路發現存在大量菌類異物. action: pm 小組每班點檢,清潔滾輪 owner:jhero 普通乾膜厚板4096乾膜薄板經過確認5#壓膜輪會產生膜偏異常導致乾膜殘留至壓膜上機台參數壓膜輪異常狀況乾膜裁邊異常導致乾膜殘留壓膜輪異常狀況ee排查異常中,目前已經將傳動鏈條更換,前後漏銅距未明顯改善,待ee確認改善 owner:jason lin現場執行狀況現場執行狀況首件狀況整批狀況1.整批第一批生產時間與首件出aoi 時間相差3min (異常點),2.此次首件連續生產4批,生產所用曝光框非與首

3、件相同(異常),底片更換曝光框後根本無法生產,由此確認,此批首件非正常首件,首件回黃光室前整批已經生產.共同點確點狀況共同點確點狀況ww18共同點異常狀況共同點異常狀況曝光髒點改善曝光髒點改善異常狀況異常狀況:因底片架設光桌位置在黃光室回風位置,故此處位置落塵量相對環境落塵量大確認曝光桌位置落塵量追蹤正常情況下追蹤確認黃光室位置落塵量狀況action:改造曝光桌位置,在底片光桌下增加安裝hepa加吹風量,減少此處落塵量.吹吹風風抽抽風風2345678落塵量狀況黃光室構造底片上異物異常底片上異物異常曝光機底片框導軌存在大量鐵屑,action:1. 定義現場每班保養 owner: shiying/

4、bennis 2.底片框櫃加抽風 owner: t-mac現場反饋信息:1.黃光室人員相對個子較小,曝光機高處位置無法清潔到,2.曝光機底片框導軌距離過長保養期間無法保養到,需要提供特別工具在保養期間進行保養action:1.導購黃光室梯子,保證人員能夠將異常位置均能夠保養到owner:shiying due day:05/302.制定底片框導軌工具,清潔底片框導軌owner:shiying 5/30 廠商提供方案中.1.板面異物造成電測板面異物造成電測 open action:mapping 分析異物元素及產生位置 owner:shiying / reyes bao元素及切片分析defect

5、 mode內層追板異常內層追板異常放板位置增加滾輪,固定放板位置,防止放板追板異常des1# done des4# 保養期間改善 des6# 待加裝偵測器defect mode 板面異物short 板清機台內部大量黑色異物殘留在板清機action:1.ee確認點檢壓膜機異常點,異常外觀與以前發生氣管漏氣異常狀況相類似, owner:yongbo jia2.宣導現場發現異常叫修記錄異常狀況 owner:shiying3.尋檢小組每班點檢板清機異常狀況 owner:frad chen歷史異常defect mode銅屑異常銅屑異常defect mode切片action: mapping 確認異常產生

6、位置,定義改善方向曝光髒點改善曝光髒點改善曝光機底片框導軌存在大量鐵屑,action:1. 定義現場每班保養 owner: shiying/bennis 2.底片框櫃加抽風 owner: t-mac 現場反饋信息:1.黃光室人員相對個子較小,曝光機高處位置無法清潔到,2.曝光機底片框導軌距離過長保養期間無法保養到,需要提供特別工具在保養期間進行保養action:1.導購黃光室梯子,保證人員能夠將異常位置均能夠保養到owner:shiying due day:05/252.制定底片框導軌工具,清潔底片框導軌owner:shiying 05/25 產商評測制具曝光髒點改善曝光髒點改善異常狀況異常狀況:確認曝光桌位置落塵量追蹤正常情況下追蹤確認黃光室位置落塵量狀況action:改造曝光桌位置增加安裝hepa加吹風2345678位置標示異常狀況:電測制具超期,導致電測過檢異常1.i42p564015-v013 l110427a08 回測10條32顆缺點:其中手動機過檢3 自動機過檢4顆,占缺點22%.2.k01p554136 l110429a67 回測8調共33顆缺點,其中過檢13顆 占抽樣比率 36%電測過檢異常電測過檢異常action:edc 系統登錄確認電測制具更換時間建立提醒high light機