ASME(泄漏检测)(20210402154951)

1、ASME员炉及压力容器规国际性规V无损检测2004 版泄漏检、八、刖言“ ASME锅炉及压力容器规”是美国机械工程师协会于1911年成立的锅炉及压力容 器委员会所制定的，目的在于提供控制设计、制造和检测等质量的有关规则。这些规则 平衡了用户、制造商和检测师的要求，并为锅炉和压力容器在使用中保留了一定的安全 裕度，为防止破损和对生命财产安全提供合理可靠的保证。一、第V卷容第V卷分为A B两个分卷。A分卷无损检测方法第1章通用要求第2章射线照相检测第3章金属铸件的射线照相检测第4章在役检查的超声检测方法第5章材料和制造的超声检测方法第6章液体渗透检测第7章磁粉检测第8章管材制品的涡流检测第9章目视

2、检测第10章泄漏检测第11章纤维一增强环氧树脂容器声发射检测第12章加压试验时金属容器的声发射检测二、第1章通用要求注：通用要求即是对第2章12章都适用的要求。T 110适用围注：本章所包含的无损检测是其它规篇章或参照文件特别提到和要求引用的方法和规 要求。这些无损检测方法是：(1) 射线照相检测(2) 超声波检测(3) 液体渗透检测(4) 磁粉检测(5) 涡流检测(6) 目视检测(7) 泄漏检测(8) 声发射检测以上这些无损检测方法用于检测的对象是： 材料、焊缝和加工零部件的 表面和在的 瑕疵(或叫缺陷)。T120总则注：从10个方面提出了 A (或B)分卷的使用原则和有关规定。T130设备

3、注：规无损检测单位和无损检测人员应负责保证使用本规要求的检验设备。T150规程(a) 本规所涉及的无损检验方法在正常情况下对制造过程中遇到的大部分几何形状和材料都是适用的。(b) 当本规的其它篇章要求按本篇章规定进行检验时，制造厂、生产厂或安 装厂有责任按规有关卷的要求制定出无损检验规程及人员资格鉴定规程。(c) 当本规的有关篇章提出要求时，所有按本篇进行无损检验都必须按照书面的 规程执行。注：规是指“ ASME锅炉及压力容器规”。T160校验(a) 制造厂、制造商、安装单位应保证所有设备按 A分卷和/或B分卷要求进行校 验。(b) 在编制专用规和时，当要求校验时，生产厂、制造商或安装单位要规

4、定什么 校验是必须的。注：设备、计量器具都必须按要求进行校验。 T170 检验与检查(a) 与容器和受压部件制造有关的检查员应有责任作出充分核实，确证根据规 有关篇章的要求进行的全部检验工作已按本篇和规有关篇章的要求执行。他有权要 求见证本规有关篇章所提出的任一项检验。在本篇章中检查员一词是指具备本规各 有关篇章中所规定资格的授权检验师。(b) “检查”这个术语用于授权检验师的职责，而“检验”这个术语用于制造厂所 雇用的人员进行质量控制的职责。注：“检验”是无损检测人员的职责，而“检查”是授权检验师的职责，他对无损 检测人员和无损检测工作进行监督和见证。T180评定注：每种无损检测方法必须依据

5、验收标准进行检测结果的评定，因此，规的各有关 篇章中都应有验收标准的容。T190记录/文件记录/文件应符合规各有关篇章及本篇规中 A和/或B分卷的有关要求。规无损 检测单位和无损检测人对记录/文件负责。三、第10章泄漏试验本章中包括了正文和10个强制性附录和一个非强制性附录。正文规定了采用ASME规进行各种泄漏检测时的总要求。对各种泄漏检测技术在相应的强制性附录中有详细的 规定，而有关检测规程、设备、检定、评定，检测文件等正文中都作了一般性的规定。T 1010适用围注：当本规的有关卷规定采用第 10章的泄漏方法或技术时，应同时采用第 1 章的一般要求。即只要采用第10章的泄漏方法或技术时，必须

6、和第 1章同时采用。本章的强制性附录如下：附录I气泡试验一一直接加压法附录U气泡试验一一真空罩法附录川卤素二极管检漏仪探头试验附录w氦质谱试验一一检漏仪探关技术附录V氦质谱试验一一示踪探头技术附录切压力变更试验附录术语汇总附录毗热电导检测仪探头试验附录区氦质谱试验一一护罩技术附录X超声波泄漏试验公式符号附录A增补的泄漏试验公式符号T1020总则注：规定泄漏检测应按书面检测规程进行。T1021书面规程要求T1021.1 要求书面规程必须详细、实用。书面检测规程的要最低要求，其容详见相应的强制性附 录。书面规程要求对重要变素和非重要变素应规定单一值或数值围。T1021.2要求的修改T1021.3规

7、程鉴定书面规程应予鉴定，如果规程中重要变素有变化，应予重新鉴定。T1022有关规注：当有关规规定对受检的部件采用泄漏检测方法及其技术时，有关规中的下列要求应在检测及其管理中予以考虑：(a)人员的资格/证书；(b)技术/校准标准(c)检验围(d)可接受的试验灵敏度或泄漏率(e)报告要求记录的保存T1030设备注：对设备的一般规定仅仅是对压力计的要求。T1031 压力计压力计要：量程：刻度围应为检漏所需的最大压力的 1倍半至4倍。位置：无论与检测对象连接较近，还是较远，都应该保证检测人员在对检测部件充 压、抽空、或者检测过程中能够全面观察到压力计的变化，以便安全地控制检测全过程。 对于大型容器或者

8、复杂系统等检测对象规规定需要一个或多个压力计时，规推荐采用记录式压力计，它可以替代两个或更多个指示式压力计中之一。T1040 其他要求注：规规定检测部位表面清洁度、检测系统开口处密封材料、检测部位的湿度、检 测部件的压力极限等。T1041清洁度受检部件必须作清洁处理，保持干燥，检测部位表面无油脂、油漆等污染物。T1042开孔开孔处密封材料要求不含示踪气体，并在检测后易于去除。T1043温度检测时的最低温度或最高温度应不超过所采用泄漏检测方法或技术所允许的温度。T1044压力/真空（压力极限）压力/真空（极限压力）要求需作泄漏检测的部件应在 不超过设计压力的25%勺压 力下进行，但规有关卷另有规

9、定除外。T1050规程T1051预泄漏试验规要求在采用高灵敏度检漏之前可先作一次简便的预检，以检出和消除一些大的泄漏，但应注意预检不得封闭漏孔，影响正规检漏。T 1052 试验顺序规推荐泄漏检测应安排在水压试验和液压气动试验之前。T1060校准注：检漏设备的校准是泄漏检测安全、有效的可靠保证。这里所谓“校准”应理解 为计量检定，表示设备向高一级精度校准。T 1061 压力/真空计注：压力/真空计应该计量检定，除非另有规定，每年至少重新检定一次 。检定结 果必须符合制造厂商所列的精度。 压力/真空计在使用期间发生差错，必须随时送检 。 T1062温度测量装置温度测量装置也应按规定送检。 T106

10、3校准泄漏标准注：规定了标准漏孔的检定和漏率围T1063.1渗透型泄漏标准注：渗透型标准漏孔应是氦气经渗透穿过薄膜的漏孔，它应具有：1x10-7pa?m/s1x 10-11pa? m/s的氦漏率，并应检定合格。T1063.2毛细管型泄漏标准注：毛细管型标准漏孔应是使示踪气体穿过一个毛细管的漏孔。它应具有与所要求的检测灵敏度和示踪气体的实际百分比浓度的乘积相等或更小的漏率，应检定合格。 T1070试验(检测)注：这里试验就是检测。规对检漏技术的具体要求分别在强制性附录中作出了规定。T1080评定注：规对检漏技术检测结果评定的依据是验收标准。T 1081 验收标准注：各种检漏技术的验收标准在强制性

11、附录中都分别给出，除非另有规定，这些验 收标准应予采用。T1090文件注：文件主要是指试验报告或叫检测报告。T1091试验报告注：规规定了检漏试验报告至少应括以下容：(a) 检测日期；(b) 操作者的资格等级和；(c) 检测规程(编号)和修订号；(d) 检测方法或技术；(e) 检测结果；部件编号；(g) 检测仪器、标准漏孔和材料识别号；(h) 检测工况、检测压力、示踪气体和气体浓度；(I ) 压力计一一制造厂、型号、量程和编号；(j ) 温度测量装置和编号；(k)表示检漏方法和技术布置的草图。 T1092记录保存(应按本规有关卷的要求保存)四、附录I气泡试验一一直接加压技术I1000 引言I

12、1010适用围注：本附录适用于受检部件采用充压的方法进行气泡检漏的技术。I1020总则I1021书面规程要求变素一一引起检测条件、检测方法和检测技术变化的因素。注：规定了书面检测规程的要求，见(表I 1021),表中列出了重要变素有：气 泡形成溶液、表面温度、表面制备技术、照明强度、检测人员技能鉴定要求等。非重要 变素有：溶液注施器、加压气体、试验后的清洗技术、人员鉴定要求等项。此外，书面 规程还包括下列规定的要求：(a) 浸泡时间；(b) 压力表；(c) 试验压力；(d) 验收标准。书面规程的鉴定则按第10章总则的规定处理。I 1030通用要求I1031 气体注：检漏气体为空气，也可用惰性气

13、体。当用惰性气体时，要注意缺氧时检测人员 的安全。I 1032起泡溶液注：起泡溶液应采用检漏专用的溶液。形成起泡的溶液应能适应检测条件下的温度。I 1033浸泡池注：采用浸泡池方法检漏时，应采用水或其他适当的溶液。浸泡池应能适应检测条 件下的温度。I1070试验规定了检漏时的具体要求。I 1071 浸泡时间注：应至少保持压力的时间15mi n。因为压力的变化会影响产生气泡的大小、数量和速率，最终影响检测结果。I 1072表面温度注：受检部件表面温度应保持在 4C520C围。只要在围，允许对部件局部加热或 冷却。如果超出围，必须验证检漏结果，因为表面温度是重要变素。I 1073施加溶液注：施加溶

14、液到待检部位应避免操作不当产生气泡，以免与泄漏产生的气泡混淆， 造成错判或误判。I 1074浸入溶池注：被检表面应低于溶池的液面，并在易于观察的位置。I 1075照明和目视器材注：观察泄漏气泡的目视要求同 ASMEfi第9章目视检验的要求。观察方式分为两 种：第一种，直接目视检验(T 952)要求肉眼观察待检表面距离不超过 610mm视角 不小于300。视角不便观察时也可采用反光镜改善观察角度。待检部位照明强度至少 1000IX。光源和光强按规定要验证，验证结果要记录于文件，保存备查。第二种，远距 离目视检验(T 953)可以借助适当的目视器材，如反光镜、望远镜、窥镜、光导纤维、 照相机等。但

15、应注意目视器材的分辨率与检测要求相当。I 1076泄漏显示注：当被检件表面有连续气泡出现就表示受检部位有穿透性针孔泄漏。I 1077试验后的清洗注：检漏以后的部件应根据产品性能决定是否清洗。I1080评定I 1081 泄漏注：除非相关产品设计文件或采购技术条件另有规定，若未观察到被检区域有连续的气泡形成，则可验收。I 1082返修/重新试验注：当观察到有泄漏时，应标出泄漏位置，然后将被检件降压，按相关产品设计文 件或采购技术条件的规定返修泄漏处。所有经返修的区域，应按要求重新检测。五、附录H气泡试验一一真空罩技术n 1000 引言n 1010适用围注：适用于不能直接加压的部件，采用真空罩技术对

16、部件的局部待检部位进行气泡 检漏。n 1020总则n 1021书面规程要求注：规定了书面检测规程的要求，见(表n 1021)，表中列出了重要变素有：气 泡形成溶液、表面温度、表面制备技术、照明强度、检测人员技能鉴定要求等。非重要 变素有：真空罩(尺寸和外形)、真空源、溶液注施器、试验后的清洗技术、人员鉴定 要求等项。此外，书面规程还包括下列规定的要求：(a) 压力表；(b) 真空试验压力；(c) 真空保持时间；(d) 真空罩重叠；(e) 验收标准。书面规程的鉴定则按第10章总则的规定处理。n 1030设备n 1031 起泡溶液注：起泡溶液应采用检漏专用的溶液。形成起泡的溶液应能适应检测条件下的

17、温度。n 1032真空罩注：应具有适当的尺寸，例如长 762mm宽152mm该尺寸应与待检的局部区域相 适应；应具有顶视窗口，罩口应有垫圈与待检表面密封，并配有连接头、阀门、照明以 及测量用的真空计，真空计量程应为 0103Pa或与其相当的压力单位0760mmHg由 于真空罩技术压力不高，因而压力计量程限度不受规正文T1031要求的限制。n 1033真空源注：真空罩所要求的真空可用适当的方法获得，如空气喷吸器、真空泵或电动机带 动的抽气装置等。真空计应能指示出至少大气压以下13.8kPa。或按规有关卷的规定。n 1070试验n 1071 表面温度注：受检部件表面温度应保持在 4C520C围。只

18、要在围，允许对部件局部加热或 冷却。如果超出围，必须验证检漏结果，因为表面温度是重要变素。n 1072施加溶液注：在真空罩放置之前，应将起泡溶液施加到被试验的表面上，可用流布、喷涂或 刷涂的方法施加到被检表面。n 1073真空罩的放置注：真空罩应放置在涂有起泡溶液的被检表面上，然后将罩抽真空至所要求的真空 度。n 1074保压（真空）注：在检测中，所要求的真空度（压力差）至少应保持10s。n 1075真空罩的覆盖注：每一相邻区域的检测，真空罩的放置应至少有50mm勺覆盖。n 1076照明和目视器材注：与附录I气泡试验一一直接加压技术中的 （I 1075照明和目视器材）相同。 n 1077 泄漏

19、显示注：当被检件表面有连续气泡出现就表示受检部位有穿透性针孔泄漏。n 1078试验后的清洗注：检测后为了达到产品的使用性能，可能要进行清洗。n 1080评定 n 1081 泄漏注：除非相关产品设计文件或采购技术条件另有规定，若未观察到被检区域有连续的气泡形成，则可验收。n 1082返修/重新试验注：当观察到有泄漏时，应标出泄漏位置，然后将被检件降压，按相关产品设计文 件或采购技术条件的规定返修泄漏处。所有经返修的区域，应按要求重新检测。六、附录w 氦质谱仪试验一一探测器探头技术注：所谓“探测器探头技术”也就是国常指的氦质谱吸氦法或嗅吸探头法，“探测器探头”也就是吸枪。IV1000 引言IV 1

20、010适用围注：适用于氦质谱法用探测器探头对充氦的部件进行检漏的技术。探测器探头技术是一种半定量技术，因此只能适用于定位而不能用作定量。IV1020 总则IV 1021书面规程要求注：规定了探测器探头技术书面规程要求和规程鉴定要求。书面规程要求见T1021.1和表V 1021。表中列出了：五项重要变素，氦质谱检漏仪和探测器探头的制造 厂和型式、表面制备技术、受检部件金属温度、人员技能鉴定；六项非重要变素，加压 气体（空气或惰性气体）、扫查速率、信号发生装置、扫查方向、试验后的清理技术和 人员鉴定要求。此外还规定了下列规程要求：（a）设备泄漏标准（检漏仪标准漏孔漏率）;（b）系统泄漏标准（检测系

21、统标准漏孔漏率）;（c）示踪气体；（d）示踪气体浓度；（e）试验压力（充氦压力）;（f）浸泡时间（保压时间）；(g) 扫查距离；(h) 压力表；(i) 灵敏度验证核查；(j) 验收标准。上述规程鉴定的要求应按第10章总则的规定处理 IV1030 设备IV 1031 仪器注：应采用灵敏度比较高的氦质谱检漏仪，并采用下述一种或几种信号装置来指示 泄漏现象：仪表、音响装置、指示灯。IV 1032 辅助设备 注：一一稳压器。当电源电压有波动时，应在仪器上接一个稳压器；探测器探头。所有被检部位都应用探测器探头扫查。探头用一段软管与仪 器相连接，为了缩短响应时间和净化时间，软管的长度一般应不超过4570m

22、mV 1033校准泄漏标准注：校准泄漏标准(校准漏孔)应采用符合 T1063.1或T1063.2的渗透型标准 或毛细管型标准漏孔。采用校准漏孔的类型应根据检漏仪、检测灵敏度的要求或按本规 有关卷的规定。IV1060 校准IV 1061仪器校准注：在用已经检定的标准漏孔对检漏仪校准之前仪器应通电预热，预热的最少时间 应按照检漏仪制造厂的规定。校准检漏仪时用T1033.1所述的渗透型标准漏孔，使仪 器处于最佳或最合适的灵敏度下，检漏仪对氦的最小灵敏度为1 x 10-10Pa? nVs。IV 1062系统校准注：(1) 标准漏孔大小 被检系统校准时应采用毛细管型标准漏孔作为校准漏孔，由 于毛细管型标

23、准漏孔漏率用的是100%8浓度，因此要换算成检测系统检漏时所用的氦浓度，则检测系统毛细管型标准漏孔的最大漏率Q应按下式计算:QsoTG100式中Q为毛细管型标准漏孔漏率，%TG检漏所用的氦浓度。(2) 扫描(查)速率 将探测器探头与检漏仪连接后，在进行检测前的被检系统 校准时，应将探测器探头嘴在校准漏孔上扫查，扫查时，探测器探头嘴与校准漏孔应保 持在3.2mm以，以测得泄漏率为Q时扫查速率为准。对被检系统的扫查应不超过能检出 校准漏孔泄漏率为Q的速率。(3) 探测时间(响应时间)在被检系统校准时，应记录检漏仪输出信号达到稳定所需要的时间，即响应时间。这是对部件检漏确定漏孔的定位时间，应该越短越

24、好， 以减少确定泄漏位置所需的时间(4) 校准频度和灵敏度指被检系统灵敏度的校准次数，规定在检测前和检测后应该校准，检测中间应每隔2小时校准一次。若不能检出V 1062 .2所述的泄漏Q 则仪器要重新校准，并且从上一次合格的校准核查以及所有检测部位均应重作检测。 IV 1070试验(检测) IV 1071试验场所注：检测场所应注意避免过分通风，以免使检测所需的灵敏度降低。IV 1072示踪气体浓度注：除非本规有关卷另有规定， 氦示踪气体的浓度在检测压力下，应至少为10%体积浓度。IV 1073保压时间注：检测之前，检测压力应至少先保持30min,保压的目的是被检件氦气浓度均匀。 当出现下述情况

25、时，氦气会迅速扩散，这时允许保压时间少于30mi n。（a）采用特殊的临时性密封装置（例如抽气罩）检测开口部件。（b）充氦加压前已部分抽空的部件。V1074扫描（查）距离注：在达到要求的保压时间后，探测器探头嘴应在被检件表面上方通过。扫查时探 头嘴与被检表面的距离应保持在 3.2mm以。若被检系统校准时采用更小的距离，贝U扫查 时的距离不应超过该距离。IV1075扫描（查）速率注：最大的扫查速率应按V 1062 .2确定。IV1076扫描（查）方向注：检测时，扫查应从被检件最下部开始，然后渐次向上，因为氦气比空气轻。IV 1077泄漏检出注：采用检漏仪的（仪表、音响装置、指示灯）中一种或几种信

26、号装置来指示泄漏 检出。IV1078应用（略）IV1080 评定V 1081 泄漏注：除本规有关卷另有规定之外，若检出的泄漏率 不超过1 x 10-5Pa? nVs的允许 漏率，则该被检测的区域应可验收。IV 1082 返修/复检注：当检测出不能验收的泄漏时，应标出泄漏位置，然后将被检件降压，按相关产 品设计文件或采购技术条件的规定返修泄漏处。所有经返修的区域，应按要求重新检测。七、附录V氦质谱仪试验示踪探头技术注：所谓“示踪探头技术”也就是国常指的氦质谱喷氦法，“示踪探头”也就是喷枪。V 1010适用围注：适用于氦质谱法用示踪探头对抽空部件进行检漏的技术。示踪探头技术是一种半定量技术，因此只

27、能适用于定位而不能用作定量。V 1020总则V 1021书面规程要求注:规定了示踪探头技术书面规程要求和规程鉴定要求。 书面规程要求见T1021.1 和表V 1021。表中列出了：五项重要变素，氦质谱检漏仪和示踪探头的制造厂和型式、 表面制备技术、受检部件金属温度、人员技能鉴定；七项非重要变素，示踪探头流量率、 扫查速率、信号发生装置、扫查方向、真空泵系统、试验后的清理技术和人员鉴定要求。 此外还规定了下列规程要求：（a）设备泄漏标准（检漏仪标准漏孔漏率）;（b）系统泄漏标准（检测系统标准漏孔漏率）；（c）示踪气体；（d）真空试验压力；(e) 真空计量；(f) 浸泡时间；(g) 扫查距离；(h

28、) 灵敏度验证核查；(i) 验收标准。上述规程鉴定的要求应按第10章总则的规定处理。V 1030设备V 1031 仪器注：应采用灵敏度比较高的氦质谱检漏仪，并采用下述一种或几种信号装置来指示 泄漏现象：仪表、音响装置、指示灯。V 1032辅助设备注：(a)稳压器。当电源电压有波动时，应在仪器上接一个稳压器；(b)辅助泵系统。当测试设备的大小需求使用辅助真空泵系统，真空泵系统的绝对压力和泵速应能使检测灵敏度和响应量时间达到要求。(c) 集流腔。 就是用作正确连接仪器真空计、辅助泵、标准漏孔和检测部件 的管道和阀门系统。(d) 示踪探头。用一根输送氦气的导管，一端连接100%8气源，另一端为带 有

29、调节阀的细小开口，如同喷枪。(e) 护罩。一种适用的罩子或容器，带有通孔以便连接接头。(f) 真空计。真空计的量程应能测量检漏系统的绝对压力，真空计的位置应 在检测系统中远离泵系统的抽气口。V 1033校准泄漏标准注：校准泄漏标准(校准漏孔)应采用符合 T1063.1或T1063.2的渗透型标准 或毛细管型标准漏孔。采用校准漏孔的类型应根据检漏仪、检测灵敏度的要求或按本规 有关卷的规定。V 1060校准V 1061仪器校准注：在用已经检定的标准漏孔对检漏仪校准之前仪器应通电预热，预热的最少时间 应按照检漏仪制造厂的规定。校准检漏仪时用T1033.1所述的渗透型标准漏孔，使仪 器处于最佳或最合适

30、的灵敏度下，检漏仪对氦的最小灵敏度为1 x 10-10Pa? mVs。V 1062系统校准注：(1) 标准漏孔大小V 1033所述的已校准的标准漏孔(毛细管型标准漏孔)应 附接在待检部件上，并尽可能远离检漏仪与部件的连接处，这样才能真实反应实际漏孔的漏率。标准漏孔在校准检测系统时应保持开放(打开)。(2) 扫描(查)速率 抽空后的被检件达到足够的真空度时，将氦质谱仪连接到 被检系统。把示踪探头嘴横过校准漏孔(探头嘴应离校准漏孔6mm以)对被检系统进行 校准。在实际检测中，对于示踪探头中纯氦(100%的已知流速，被检系统的扫查速率 不应超过能检出校准漏孔泄漏率的速度。(3) 检测时间 在被检系统

31、校准时，应记录检漏仪标准漏孔输出信号达到稳定所 需要的时间叫检测时间(即响应时间)。这是对部件检漏确定漏孔的定位时间，应该越 短越好，以减少确定泄漏位置所需的时间。(4) 校准频度和灵敏度指被检系统灵敏度的校准次数，规定在检测前和检测后 应该校准，检测中间应每隔4小时校准一次。若不能检出W 1062 .2所述的泄漏Q 则仪器要重新校准，并且从上一次合格的校准核查以及所有检测部位均应重作检测。V 1070试验（检测）V 1071 扫描（查）速率注：最大的扫查速率应V 1062 .2确定。V 1072扫描（查）方向注：检测时，扫查应从被检件最上部开始，然后渐次向下扫查，因为氦气比空气轻。V 107

32、3扫描（查）距离注：示踪探头应在被检件表面上扫过，扫查时探头嘴与被检件表面距离应保持在 6mm以。若被检系统校准时米用更小的距离，贝U扫查时的距离不应超过该距离。V 1074泄漏探测（检出）注：采用检漏仪的（仪表、音响装置、指示灯）中一种或几种信号装置来指示泄漏 检出。V 1075流率（氦流量）注：最小流率（可由示踪探头阀门调节） 应如V 1062 .2设置。V 1080评定V 1081 泄漏注：除本规有关卷另有规定之外，若检出的泄漏率 不超过1 x 10-6Pa? nVs的允许 漏率，则该被检测的区域应可验收。V 1082 返修/复检注：当检测出不能验收的泄漏时，应标出泄漏位置，然后将被检件

33、降压，按相关产 品设计文件或采购技术条件的规定返修泄漏处。所有经返修的区域，应按要求重新检测。八、附录区氦质谱仪试验一一护罩技术IX 1010适用围注：适用于氦质谱法用充氦护罩对抽空部件进行检漏的技术。护罩技术是一种定量 测量技术。X1020总则注：书面规程要求规定了护罩技术书面规程要求和规程鉴定要求。书面规程要求见T1021.1和表X1021。表中列出了：五项重要变素，设备制造和型号、表面制备技术、受检部件金属 温度、确定护罩中示踪气体最小浓度的技术、人员技能鉴定；四项非重要变素，护罩材 料、真空泵系统、试验后的清理技术和人员鉴定要求。此外还规定了下列规程要求：（a）设备泄漏标准（检漏仪标准

34、漏孔漏率）；（b）系统泄漏标准（检测系统标准漏孔漏率）；（c）真空计量；（d）验收标准。上述规程鉴定的要求应按第10章总则的规定处理。X1030设备注：关于氦质谱检漏仪的要求与上述附录W或附录V样。关于辅助设备同样有对（a）稳压器；（b）辅助泵系统；（c）集流腔；（d）护罩；（e）真空计等项要求。关于标准漏孔则明确规定应采用渗透型标准漏孔。标准漏孔的最大漏率应为：1x 10-7pa? m/s。除非本规有关卷另有规定。X1050工艺注：规定了护罩检漏技术的工艺要求。其一，对于低的氦质谱仪流率（氦漏率低）、长响应时间的被检系统(体积较大或管路较长的被检系统)，氦气会渗透进入非金属密 封部位(例如橡

35、胶密封垫圈)导致检测结果不符合实际情况(造成本底增大或非漏孔泄 漏)。如果可能，推荐在上述密封部位进行护罩技术检漏，以排除护罩氦气因被检系统 密封不好而影响检测结果。其二，对于重复检漏或先前检漏的对比检漏，此时初步系统 灵敏度校准可以省略。IX1060 校准注：关于氦质谱检漏仪的校准要求与上述附录W或附录V样。系统校准(1) 标准漏孔 应带有100%屯氦气，经计量检定或校准后与待检部件连接，连接 部位应有远离仪器与部件的连接处，这样才能真实反应实际漏孔的漏率。(2) 响应时间 应记录系统的响应时间，即打开标准漏孔至检漏仪有稳定读数的 时间，此时稳定读数刻度记为 M。(3) 本底读数 测定响应时

36、间后应记录系统的本底读数，即系统的背景噪声读数。这是仪器在关闭标准漏孔后的稳定读数刻度，记为M。(4) 初始灵敏度校准 系统初始灵敏度应按下式计算：M1 M 2式中：S1 初始灵敏度，Pa m3/s/刻度;CL 标准漏孔的泄漏率，Pa m / s。如检测系统设备设置有变化，辅助泵旁路氦气分压有变化，标准漏孔有变化等都应 重新校准。初始校准后标准漏孔关闭。(5) 最终灵敏度校准 在被检系统完成检测后，且被检件仍处于护罩中，在标准 漏孔关闭的情况下，记下仪器在响应时间后稳定的输出读数记为M。然后再次打开标准漏孔可得到一个增大的仪器稳定读数 M。最终系统灵敏度S2应按下式计算：S2CLM 4 M 3

37、式中：S2 最终灵敏度，Pa m3/s/刻度;CL 标准漏孔的泄漏率，Pa m / s。如果最终灵敏度S2减小到初始灵敏度S的35%以下，仪器应进行清洗或修理，并重 新校准，然后对被检件重新检测。X 1070试验(检测)注：护罩技术用于检漏分为标准技术和替代技术两种。X 1071 标准技术注：规定单壁部件或零件可用塑料材料制作护罩。初始校准后护罩充以示踪气体氦 气，氦气的浓度应予确定或估计。测量系统的持续时间应等于或大于系统的响应时间。 最终校准后的系统所测到的泄漏率分为三种检漏情况确定。(a)当M=M时，系统泄漏率应记为：“低的系统可探测围”(小于被检系统可检测 围)，检漏项目合格。（b）当

38、M3M2 （被检系统泄漏率大于本底值）时，被检系统泄漏率Q按下式计算确疋:S2 M 3 M 21000TG3Pa m /s式中：%T（是护罩中示踪气体氦气的浓度。（c）当M超过被检系统可探测围时，亦即输出信号离开仪表分度区，此时被检系统 泄漏率应记为“大于系统可探测围”（大于被检系统可检测围），检漏项目不合格。 IX 1072替代技术注：对于以泄漏率单位Pa m3/s为仪表指示的氦质谱检漏仪，替代技术利用系统修 正因子SCF取代标准技术中所述的仪表读数刻度。初始校准和最终校准相应的系统修正 因子PSCF和FSCF分别由下列公式计算：PSCF CL. M1 M 2FSCF CL. M 4 M 3

39、FSCF M3 M21003 ,Pa m / s同样如FSCF=35%PSC，仪器应进行清洗或修理，并重新校准，然后对被检件重新 检测。可见替代技术与标准技术小异，系统测得的泄漏率同样按下式确定：00TGX 1080评定注：护罩技术检漏的验收标准为：1 x 10-7 Pa? m/s，但规有关卷另有规定除外。 本附录还规定，如果泄漏率超出允许值，所有焊缝和其他可疑部位都应采用示踪探头技 术重检。所作的重检部位标记（或密封处）应易于清除。泄漏的部件应按规定要求处理, 如部件返修，所有经返修的区域，应按要求重新检测。九、附录W压力变更试验注：所谓“压力变更”即为压力变化。W 1010适用围注：适用于

40、检测密封容器（或被检件的分界面）在特定的压力或真空环境下的漏率。 当采用此方法时，可以采用诸如压力控制、绝对压力、压力保持、压力丧失、压力衰减、 压力升高和真空保持等方法。这些检测规定在单位时间的压力、体积百分比的最大许可 改变或单位时间的质量改变。1020总则注：书面规程要求规定了压力变更技术书面规程要求和规程鉴定要求。书面规程要求见T1021.1和表1021。表中列出了：五项重要变素，压力计或真空计制造厂商和型号、表面制备 技术、受检部件金属温度、使用的温度测量设备制造厂商和型号、人员技能鉴定；三项 非重要变素，使用的抽真空系统、试验后的清理技术和人员鉴定要求。此外还规定了下 列规程要求：

41、（a）试验/真空试验压力；（b）浸泡时间（保压时间）;（c）试验持续时间；（d）记录（时间）间隔；（e）验收标准。上述规程鉴定的要求应按第10章总则的规定处理。1030设备1031压力测量仪表注：（a）压力计量程 刻度指示和记录型压力计的量程应符合 T 1013（a）的要求, 液柱式压力计或波登管式压力表的整个量程均可使用。（b）压力计位置 压力计的位置应按T 1031（b）所述。（c）压力计类型压力变更检测中可采用常规或绝对压力计（指示式和记录式 压力表/真空表）。当要求更高精度时，可采用液柱式压力计或波登管式压力表。所采用 的压力表应具有与验收标准相适应的精度、分辨力和重复性。1032温度

42、测量仪注：当用干球或露点温度测量仪时，应具有与泄漏验收标准相适应的精度。分辨力 和重复性。1060校准W 1061压力测量仪注：所有刻度指示、记录型和波登管式压力计应按 T 1061（b）校准。液体压力计的 标定应由已经国家标准校准的标准来校准（如果有这样的国家标准）。1062温度测量仪注干球或露点温度测量仪应由已经国家标准校准的标准来校准（如果有这样的国家标准）。1070试验（检测）1071 加压注：若被检件需在高于大气压力的情况下检测时，应按T1044规定加压。W 1072抽真空注：若被检件需在真空情况下检测时，应至少抽真空至绝对压力13.8kPa或按照本规有关卷的要。W 1073试验（检

43、测）持续时间注：保持检测压力（或真空）的持续时间应按本规有关卷的规定。若无规定，则应 根据被检件或被检系统的漏率大小、且在本规有关卷所要求的精度来确定检测持续时 间。对于很小的部件或系统，几分钟的持续时间可能已经足够；但对于大的部件或系统， 需要作出温度和水蒸气校正，则可能要求若干小时的持续时间。1074小的加压系统注：对于很小的加压系统，如密封垫空隙，仅能测量其系统（金属）的温度，为达 到温度稳定，在加压完成后、开始检测以前，应至少有15min的保持时间。1075大的加压系统注：对于大的加压系统的温度稳定，其部气体温度是在加压完成后测量的，在检测 开始之前应测定部气体的温度是否已经稳定。10

44、76试验（检测）开始注：检测开始时应记录最初的温度和压力（或真空），然后每隔一定时间（不超过 60mi n）均作记录，真到规定的检测时间结束。1077主要变素（注意事项）注：(a)当要求对大气压的变化进行补偿时，就采用绝对压力表或常规压力表和气 压计作检测压力的测量。(b)当本规有关卷有要求时，或水蒸气压力的变化明显影响检测结果时，应测 量部的露点或相对湿度。1080评定1081可验收的检测注：若压力变化或泄漏率等于或小于本规有关卷规定，则被检件可以验收。1082应拒收的检测注：若压力变化或泄漏率超过本规有关卷规定，则检测的结果不能认为满意，则该 被检件拒收。并可用强制性附录上所述的其他方法确

45、定泄漏的位置。在确定漏率超标的 原因、并按本规有关卷进行返修之后，应重新进行原先的检测。F面进行复习ASME锅炉及压力容器规复习容问答题:1“ ASME锅炉及压力容器规”是由哪个国家制定的，目的是什么 ？答：“ ASME锅炉及压力容器规”是美国机械工程师协会于1911年成立的锅炉及压力容器委员会所制定的，目的在于提供控制设计、制造和检测等质量的有关规则。2. ASM第V卷“第1章 通用要求”规定的无损检测方法有哪些 ？答：这些无损检测方法是：（1）射线照相检测；（2）超声波检测；（3）液体渗透检测；（4）磁粉检测；（5）涡流检测；（6）目视检测；（7）泄漏检测；（8）声发射检测。3. ASM第

46、V卷“第1章通用要求”规定的无损检测方法用于检测的对象是什么 ？答：用于检测的对象是：材料、焊缝和加工零部件的表面和在的瑕疵（缺陷） 。4. ASM标准中的“检验”与“检查”怎样理解 ？答：“检验”是无损检测人员的职责，而“检查”是授权检验师的职责，他对无损检测人员和无损检测工作进行监督和见证。5. ASME“第10章 泄漏试验”要求压力计应安放在什么位置 ？答：无论与检测对象连接较近，还是较远，都应该保证检测人员在对检测部件充压、 抽空、或者检测过程中能够全面观察到压力计的变化。6. “ ASM气泡试验一一直接加压技术”怎么样判定受检部位有穿透性针孔泄漏 ？答：当被检件表面有连续气泡出现就表

47、示受检部位有穿透性针孔泄漏。7. ASME“氦质谱仪试验一一护罩技术”系统校准有哪些容？答：（1）测响应时间；（2）测本底读数；（3）初始灵敏度校准；（4）最终灵敏度 校准。8. 简述ASME“压力变更试验”适用围。答：适用于检测密封容器在特定的压力或真空环境下的漏率。判断题：1. ASM要求每种无损检测方法必须依据验收标准进行检测结果的评定。（+）2. ASME第10章泄漏试验”包括了正文和10个强制性附录和一个非强制性附录。（+）3. ASME“第10章 泄漏试验”规定检测时的最低温度或最高温度应不超过所采用泄漏 检测方法或技术所允许的温度。（+）4. ASM“第10章 泄漏试验”要求需作

48、泄漏检测的部件应在不超过设计压力的 25%勺压 力下进行。（-）5. ASM“第10章 泄漏试验”要求需作泄漏检测的部件应在不超过设计压力的 25%勺压 力下进行，但规有关卷另有规定除外。（+）6. ASME第 10章 泄漏试验”推荐泄漏检测应安排在水压试验和液压气动试验之前。（+）7. ASM“第10章 泄漏试验” 规定毛细管型标准漏孔应具有与所要求的检测灵敏度和示踪气体的实际百分比浓度的乘积相等或更小的漏率，应检定合格。（+）8“ ASM气泡试验一一直接加压技术”适用于受检部件采用充压的方法进行气泡检漏的 技术。（+）9. “ASM气泡试验直接加压技术”规定应至少保持压力的时间15min。

49、（+）10“ASME气泡试验一一直接加压技术”规定受检部件表面温度应在4C520C围。（+）11 “ ASM气泡试验一一真空罩技术”适用于不能直接加压的部件。（+）12“ ASME气泡试验一一真空罩技术” 在检测中，所要求的真空度（压力差）至少应保 持 10s。（ +）13“ASME气泡试验一一真空罩技术”每一相邻区域的检测，真空罩的放置应至少有50mm 的覆盖。（+）14. ASM“氦质谱仪试验一一探测器探头技术”适用于氦质谱法用探测器探头对充氦的部件进行检漏的技术。（+）种定量技术。（-）种半定量技术。（+）探头用一段软管与仪器相连接，软管规定被检系统灵敏度的校准在检测前 次。（+）除非本

50、规有关卷另有规定，氦示踪气（+）规定检测时，扫查应从被检件最上部规定检测时，扫查应从被检件最下部15. ASM“氦质谱仪试验一一探测器探头技术”是16. ASM“氦质谱仪试验一一探测器探头技术”是17. ASM“氦质谱仪试验一一探测器探头技术” 的长度一般应不超过4570mm （+）18. ASM“氦质谱仪试验一一探测器探头技术” 和检测后应该校准，检测中间应每隔 2小时校准19. ASM“氦质谱仪试验一一探测器探头技术”体的浓度在检测压力下，应至少为10淋积浓度。20. ASM“氦质谱仪试验一一探测器探头技术” 开始，然后渐次向下。（-）21. ASM“氦质谱仪试验一一探测器探头技术”开始，

51、然后渐次向上。（+）22. ASM“氦质谱仪试验一一示踪探头技术”适用于氦质谱法用示踪探头对抽空部件 进行检漏的技术。（+）23. ASM“氦质谱仪试验一一示踪探头技术”是一种半定量技术。（+）24. ASM“氦质谱仪试验 示踪探头技术”在被检系统校准时，检漏仪标准漏孔输 出信号达到稳定所需要的时间叫检测时间（即响应时间）。（+）25. ASM“氦质谱仪试验示踪探头技术”被检系统灵敏度的校准规定在检测前和 检测后应该校准，检测中间应每隔 4小时校准一次。（+）26. ASM“氦质谱仪试验一一示踪探头技术”检测时，扫查应从被检件最上部开始， 然后渐次向下扫查。（+）27. ASM“氦质谱仪试验一

52、一示踪探头技术”扫查时探头嘴与被检件表面距离应保持在6mm以。（+）28. ASM“氦质谱仪试验一一护罩技术”适用于氦质谱法用充氦护罩对抽空部件进行 检漏的技术。（+）29. ASM“氦质谱仪试验一一护罩技术”是一种半定量测量技术。（-）29. ASM“氦质谱仪试验一一护罩技术”是一种定量测量技术。（+）30. ASM“氦质谱仪试验一一护罩技术”明确规定应采用渗透型标准漏孔。（+）31. ASM“氦质谱仪试验一一护罩技术”规定如果最终灵敏度S减小到初始灵敏度S的35%下，仪器应进行清洗或修理，并重新校准，然后对被检件重新检测。（+）32. ASM“压力变更试验”规定在加压完成后、开始检测以前，应至少有15min的保持 时间。（+）33. ASM“压力变更试验”规定被检容器水蒸气压力的变化明显影响检测结果时，应测 量部的露点或相对湿度。（+）择题选:1. ASM“第10章 泄漏试验”对压力计量程的要：（A）。A:刻度围应为检漏所需的最大压力的1倍半至4倍；B:刻度围应为检漏所需的最大压力的1倍至2倍；C:刻度围应为检漏所需的最大压力的1倍至3倍；D:刻度围应与检漏所需的最大压力相等。2. ASME“第10章 泄漏试验” 规定，除非另有规定压力/真空计应：（B）。A:每一年半至少重新检定一次；B:每年至少重