交货期控制在合同签订后3个月内;质保期要求一年;以

1、交货期控制在：合同签订后3 个月内；质保期要求：一年；以下两项为进口设备；仪器名称技术要求（一）粒径测量系统：1测量范围：0.3nm -10um*2 测量理论：采用最新动态光背散射技术，异相多普勒频移分析方法，全量程范围应用米氏理论，必须具有专利的非球形颗粒校正功能选项，并提供常用物质光学参数，提高分析结果的可靠性。*3 激光光源： 3 mW 波长 780nm 半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品。*4. 采用内置式非极性终身免更换样品池，易清洗，节约后期使用成本，且无须使用比色皿等类似样品池，以避免由于多种空间位阻对散射光信号的干扰*5. 必须能够在同一次进样的条件下 ,同一个

2、样品同时测量纳米粒度、 zeta 电位和分子量，可完全避免分别进样造成的人为进样误差。*6 激光光路：采用先进的“ Y”光纤光路，通过蓝宝石测量窗口直接测量样品。型不能使用传统的透镜扩束类装置，最大限度消除环境杂散光对检测系统的影响。7检测器：高灵敏硅光电感应二极管，应用可控参比方法，分析多普勒频移产生的能谱。不得采用多级增益放大式装置（如雪崩式传输） ，保证散射光信号的真实性。*8 检测角度：180o9分析时间：30 120 秒10重复性：误差1%11样品浓度范围：0.1ppm - 40%纳 米 粒 度（二） Zeta 电位测量系统：及 Zeta 电*1. 采用先进的膜电极设计，微电场电泳测

3、量，与纳米粒度测量一体化设计无需比位分析仪色皿或专门的电极样品池），对样品直接测量，保证分析结果的可靠性。2. 电位测量范围： -200mV - +200mV3. 电导率： 0-200ms/cm4. 浓度范围： 0.1ppm - 40% （ Wt ）（三）分子量的测定：测量范围： 300-2*107 道尔顿（四）操作系统：1 必须提供强大的数据处理能力，包括图形， 数据输出 / 输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其它分析统计数据。（五）配置清单：1. 纳米粒度 Zeta 电位分析仪主机 1 台*2. 内置式非极性免更换样品池1 套3. 中

4、英文分析软件 1 份*4.美国 NIST 认证纳米粒度标准样品6 瓶*5.美国 NIST 认证 Zeta 电位标准样品6 瓶6. 清洗工具套装 1 套7. 数据通讯线 1 份8. 电脑 :国产名牌， CPU 双核 , 4G 内存，至少 1TB 内存， 22 寸液晶显示屏1 套9. 打印机 :国产名牌 ,激光 A4 幅面 1 台 1 / 3数量110、提供制造厂商或其总代理授权书一、技术参数要求称量范围： 81g/220g可读性： 0.01mg/0.1mg重复性（标准偏差） ： 0.06mg(100g)* 重复性（标准偏差） ： 0.015mg(10g)线形： 0.15mg灵敏度漂移： 0.00

5、02%灵敏度温度漂移：0.0001%/ 典型稳定时间：1.5s/2.5s秤盘尺寸（ W*D ）（ mm）： 78*73二、产品功能要求：* 要求具有实时监控天平的状态指示灯， 可用灯光指示天平状态 ,可以清晰的显示天平是否已准备好开始称量任务。采用智能彩色触摸屏技术,具有中文操作界面，实现便捷的天平操作* 内置智能静电检测装置，可检测样品和/ 或容器上的静电荷,并提供警告。* 要求天平具有红外感应系统，能实现无需用手接触的操作：如开关门、去皮、回零等功能。具有水平控制系统，可实时监控水平，保证称量的精确性。内置两组砝码，具有随着温度漂移和时间设置触发的全自动校准和线性校准，确保天平性能免受环境

6、干扰。最小称量值功能，有效避免超出允许误差范围。分析天平*Test Manager 测试管理器，能提供符合质量法规规范的日常测试；8 个独立设置2的用户界面，确保可追溯性。网格称盘，实现快速、稳定的称量操作易巧称量组件，满足使用不同容器的称量要求。四面玻璃防风罩设计可以完全拆除，安全清洁。具有天平顶部把手设计，方便提放，从而毫无妨碍的清洁工作台可移动，分离的显示控制终端，方便天平使用显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀。内置 RS232 接口 ,后期可根据使用情况增加一个能用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和 PS/2 通讯接口插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备。符合 GLP 规范和其它质量体系要求的文档管理三、要求配置 :带显示操作终端的天平一台(含 RS232C 接口 )网格秤盘一个承水盘一个一套防风罩门一次性漏斗两个电力电缆的交流适配器一个显示操作终端的保护罩一个清洁刷一个金属篮易巧称量件一个操作说明书一本2 / 3* 制造商须在河南设有办事处，