第6章-X射线物理学基础

1、1,第六章 X射线物理学基础,2,第一节 X射线的性质 第二节 X射线的产生与X射线谱 第三节 X射线与物质的相互作用,第六章 X射线物理学基础,3,第一节 X射线的性质,1. X射线的发现: X射线是1895年11月8日由德国物理学家伦琴（W.C.Rontgen）在研究真空管高压放电现象时偶然发现的。 当时，他用黑纸把真空放电管严实包裹，以防透光。实验时，发现凳子上涂有氰亚铂酸钡硬纸板发出浅绿色荧光，试着木块、硬橡胶等挡也挡不住，甚至可透过人的骨骸! 当时对此射线本质尚无了解，故取名X射线（伦琴射线）。 这一伟大发现，伦琴于1901年第一位诺贝尔奖获得者。,4,2. 威廉康拉德伦琴（Wilh

2、elmKonradRntgen ）摄于1896年,1845年3月27日生于德国莱茵州雷内普 （Lennep）镇。 1869年获苏黎世大学理学博士学位 1870年回德国维尔茨堡大学工作。1894年任维尔茨堡大学校长。 1895年11月8日发现了X射线。 1900年任慕尼黑大学物理研究所教授，主任。 1901年，获首届诺贝尔物理学奖。 1923年2月10日，在慕尼黑去世。,威廉康拉德伦琴（18451923）,5,3. 伦琴夫人的手 摄于1895年12月22日,六个星期后，伦琴确认是一种新射线，才告诉自己夫人。 1895年12月22日，他邀请夫人来到实验室，用光电管照射了15分钟，拍下了第一张人手X

3、射线照片。,6,4. X射线在医学界应用 X射线透视学,伦琴发现X射线后，一个月内发表了一种新射线的文章，引起社会各界强烈的反应。 消息传遍全球，各国竞相开展试验研究。虽未了解此现象本质，因其有强大穿透力，能透过人体显示骨骼，迅速被医学界广泛利用，成为透视人体、检查伤病的有力工具，产生了X射线透视学。 后来又用于金属探伤，对工业技术也有很大促进作用。,7,5. X射线最初医疗诊断1896.2.3美国Dr. Edwin Frost (1866-1935),8,6. X射线本质的认识,18951897年间，通过一系列实验，搞清了X射线产生、传播、穿透力等特性： 1. X射线虽人眼看不见，但能使某些

4、物质发出荧光。使照相底片感光，使气体、原子电离。 2. X射线沿直线传播，经电场或磁场不发生偏转。 3. X射线有很强穿透力，通过物质时可被吸收而强度衰减。 4. X射线还能杀伤生物细胞等特性。 但对X射线本质的认识，是对晶体结构的研究，即与X射线在晶体中发生衍射现象是分不开的。,9,7. X射线衍射现象的发现（一）,1912年，德国物理学家劳埃（M. Von Laue）利用晶体作为天然光栅成功观察到了X射线衍射现象。 他用CuSO45H2O进行了实验，获得了第一张X射线衍射照片。 1914年获诺贝尔物理学奖,Max von Laue 马克斯 冯 劳埃(1879-1960),10,8. X射线

5、衍射现象的发现（二）,X射线衍射现象发现： 1. 肯定了X射线的本质。即是一种电磁波，有波动性。 2. 证实了晶体结构的周期性。为晶体微观结构研究提供了崭新的方法。 晶体结构认识：从微米纳米级，有更接近本质的认识。 用X射线研究晶体结构的工作称X射线晶体学或X射线衍射学。,CuSO45H2O衍射照片 世界上第一张 X射线衍射照片,11,9.布拉格定律的建立和莫塞莱定律的发现,英国布拉格父子（W.H.Bragg和W.L.bragg）对此进行开创性工作。 1912年，W.L.布拉格进行了劳埃实验后认为：衍射斑点的产生是射线受到类似镜面“反射”的结果。并从劳埃方程式导出布拉格方程，推算出KCl及Na

6、Cl原子排列方式，并真正测量了X射线波长。 后一工作导致1913-1914年莫塞莱（H.G.J.Moseley)定律的发现。,12,10、莫塞菜定律,1913年，英国物理学家莫塞莱 （18871915 ）在研究X射线光谱时发现：特征X射线频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构（原子序数），此规律称莫塞莱定律。,式中： K与靶材物质主量子数有关的常数； 屏蔽常数，与电子所在的壳层位置有关。,成为X射线荧光分析和电子探针微区成分分析的理论基础。,或,13,第一节、X射线的性质,一、 X射线的波动性 1. X射线与可见光、红外线、紫外线等相同，均属电磁波，它是由高速带电粒子与物质原子中的内层电子

7、作用而产生的，它同时具有波动性和粒子性。 2. X射线波长比可见光短得多，约与晶体晶格常数同一数量级，在0.1nm左右。因此，其能量大、穿透能力强。 3. X射线与可见光一样，以光速呈直线传播，在真空中传播速度 2.998108m/s。,14,一、 X射线的波动性,4. X射线波长法定单位为：nm，以前也常用埃（）。,（1nm=10-9m10 ）,X 射线波长：100.001nm，两边与紫外线及射线 重叠。 晶体结构分析：波长在0.25 0.05nm， 金属探伤：波长约为0.10.005nm或更短， 波长较短的X 射线，习惯上称为“硬X射线”。 波长较长的X射线称为“软X射线。,15,常见的各

8、种电磁波的波长与频率,可见光,紫外线,红外线,微波,X射线,波长, 射线,频率,标准无线电波,长波,TV/FM,短波,长波,16,X射线波动性的表现（1）,1. X射线波动性：以一定频率和波长在空间传播，具有干涉与衍射现象；描述参量：频率和波长 。 2. 电磁波（横波），具有电场矢量E和磁场矢量H，以相同周相，在两相互垂直平面内作周期振动，且与传播方向垂直，传播速度光速。 3、X射线分析：主要考虑电场矢量E引起的物理效应。,17,X射线波动性的表现（2）,4. 电场矢量E 随传播时间或传播距离变化呈周期性波动，波振幅为 A（或E0）。 一束沿 y 轴方向传播的波长为的X射线波方程为：,图1-2

9、 E 的变化 (a) x一定时E 随t 的变化；(b) t一定时E 随x 的变化,18,X射线波方程,一束沿 y 轴方向传播波长为的X射线波方程为： 若以表示相位，即 令 则 当 t = 0 ，A = A0 ei，ei称为“相位因子”。,19,二、 X射线的粒子性,1. 实验证实X射线是波长极短的电磁波，有干涉与衍射现象。但波动性无法解释X射线的光电效应、荧光辐射等现象。 2. 按波动理论：物质中电子吸收X射线能量是连续的，当能量积累到一定程度就能放出电子。即：不论X射线频率如何低，只要入射强度大，时间长，总会发生光电效应的。 但实验结果，产生光电效应条件：不在于X射线强度与照射时间，而在于其

10、频率（或）。这与波动理论相矛盾性。 表明：X射线还有粒子性。,20,二、 X射线的粒子性,3. 粒子性表现：以光速运动的大量微观粒子组成不连续粒子流。称为“光子”或“光量子”。描述参量为能量E、动量P。 4. 波动性与粒子性描述参量间的关系：,X射线频率； h普朗克常数（6.62610-34 Js ） c X射线传播速度（2.998108m/s）,21,二、 X射线的粒子性,5. 粒子性突出表现： X射线在与物质（原子或电子）相互作用时，有交换能量，光子能量能被原子或电子吸收或被散射。 光电效应、荧光辐射等正是X射线粒子性的明显表现。,22,三、 X射线的强度,1. X射线强度用波动性观点描述

11、： 单位时间内通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小，强度与波振幅 A2 成正比。,2. X射线强度用粒子性观点描述： 单位时间内通过与传播方向相垂直的单位截面的光量子数目。 3. 绝对强度单位是J(m2s)，但难以测定，常用相对强度，如：底片相对黑度、探测器（计数管）计数值等。,23,X射线波粒二相性,1. X射线波动性：反映物质运动的连续性； X射线粒子性：反映物质运动分立性。 2. 对同一辐射所具有的波动性与粒子性的描述： 可用时间和空间展开的数学形式来描述； 可用统计学法确定某时间、位置粒子出现概率来描述。 因此，须同时接受波动和粒子两种模型。 3. X射线上述特性，成为研究晶体结构

12、、进行元素分析、医疗透视和工业探伤等方面的有力工具。,24,第二节 X射线的产生与X射线谱,一、X射线产生： 1. X射线：高速运动带电粒子（电子）与某物质相撞击后突然减速或被阻止，与该物质中内层电子相互作用而产生的。 2. X射线产生条件： 1）产生并发射自由电子（加热W灯丝发射热电子）； 2）在真空中迫使电子作定向的高速运动（加速电子）； 3）在电子运动路经上设障碍，使其突然减速或停止（靶） 据此，就可理解X射线发生器的构造原理了。,25,二、X射线管的结构（1）,1. 阴极：发射电子。由钨丝制成，通以一定电流加热后便能释放出大量的热激发电子。 2. 阳极： “靶” (target) 。使

13、电子突然减速并发射X射线的地方。由不同的金属组成，常用靶材有Cr、Fe、Co、Ni、Cu、Mo、Ag、W 等，根据不同需要选用。,阴极,阳极,26,二、X射线管的结构（2）,3. 窗口：X射线射出通道，常有两个或四个。 窗口材料：既有足够强度以维持管内高真空，又对X射线吸收较小。常用对X射线穿透性好的轻金属铍（Be）。 4. 聚焦罩：加在阴极灯丝外，使灯丝与聚焦罩保持约400V电位差，可聚焦电子束。,窗口,27,二、X射线管的结构（3）,5. 冷却系统：X射线发射向四周发散，大部分被管壳吸收，少量通过窗口得以利用。只有1能量转化为X射线，99转变为热能，故靶须水冷，以防止阳极过热的熔化。,冷却

14、水,28,荷兰Philips公司第二代陶瓷X射线管,焦点三维精确定位 (预校准模块化的基础） 陶瓷灯体 绝缘度高 重量轻 超长寿命 无需校准,29,美国热电瑞士ARL公司,新型陶瓷X光管 X-ray Tubes,Ceramic Tube（陶瓷光管）,Glass Tube（玻璃光管）,Possible targets are Cu, Cr, Fe, Co or Mo 可有的靶材为： Cu，Cr，Fe，Co 或Mo,30,三、 X射线光管的分类,a. 按制造材料可分：玻璃光管和金属陶瓷光管。 b. 按阳极靶可动与否：固定靶 X 光管；自转靶 X 光管。,日本理学公司 自转铜靶阳极,31,四、X射线

15、焦点 （1）,1. 焦点：阳极靶面被电子束轰击并发出X射线的区域。 尺寸和形状：取决于灯丝，螺线形灯丝产生长方形焦点。,靶的焦点形状及接收方向,2. 衍射工作，希望X光有： 较小焦点（分辨本领高） 较高强度（曝光时间短） X射线出射角： 常与靶面成3o8o（常为6o）,32,四、X射线管的焦点 （2）,3. 焦点形状：1l0mm长方形。表观焦点：在出射方向上X射线束的截面积，缩小。,靶的焦点形状及接收方向,4. 窗口 在与焦点长边和短边相对位置。 短边：表观焦点正方，强度高。 长边：表观焦点线状，强度弱。,33,五、X 射线谱,（一）连续X射线谱 1. 对X光管施不同电压，再测X射线强度和波长

16、，得强度与波长关系曲线，称为X射线谱。,Mo阳极靶不同管压下连续X光谱,2. 如：Mo靶V20kV时，曲线连续变化，称连续X射线谱（或白色X射线）。,34,（二）连续X射线谱实验规律,1. 不同管压下，各连续谱均有强度最大值；随管压V 强度；最高强度波长m （移向短波端）。 2. 在短波端均有最短极限波长称短波限SWL ，随管压 短波限SWL（移向短波端）。,a）管压影响 b）管流影响 c）靶材影响,35,3. X光最高强度约在1.5SWL处。 4. 管压不变，管流强度，但SWL 、m不变。 5.管压和管流相同，靶材Z强度，但SWL、m不变。,a）管压影响 b）管流影响 c）靶材影响,36,（

17、三）量子理论解释连续谱形成机理（1）,1. 量子理论观点： 能量 e V 电子与靶原子碰撞，电子失去部分能量，并辐射出光子。每次碰撞产生一个能量为 h的光子，称此辐射为“韧致辐射”。 如：当管流 I =10mA时，电子数目 n 6.241016个/秒。 如此多电子到达靶上时间和条件都不相同，且大多数电子须经多次碰撞，逐步把能量释放直到零，这样产生一系列能量为 hi 的光子序列，即形成连续谱。,37,何以存在短波限SWL？,极限情况：极少数电子一次碰撞将全部能量一次性转化为一个光子，此光子具最高能量和最短波长（短波限SWL）。 一般情况：光子能量电子能量。 极限情况：光子能量电子能量，即,将V和

18、以kV和nm为单位，其它常数代入上式，则有：,38,（四）连续X射线辐射强度和发射效率（1）,1. 连续X射线总强度（靶发出X光总能量）与连续谱强度分布曲线下所包络的面积成正比。,式中：Z阳极靶的原子序数；,i管电流（mA）；,V管压（KV）；,K1常数约为1.11.610-9。,39,2. X射线管效率：若X射线管仅产生连续谱时，若输入功率为iV，则产生连续X射线效率或X射线管效率：,可见，管压，靶材Z，管效率； 因常数K1(1.11.4）10-9，很小，即使用W靶（Z=74），管压为100kV时，1（Cu：0.1），效率是很低的。 为提高光管发射连续X射线的效率： 选用重金属靶， 施以高电

19、压，就是这个道理。,40,（五）特征（标识）X射线谱,一、特征X射线谱的形成 1. 当管电压V增高到大于阳极靶材相应的某个临界值VK时，即,则在连续谱的某特定波长处出现一些强度高峰，峰窄而尖锐的线形光谱。 如：Mo靶35kV (0.063nm和0.071nm )的谱线示于图。,41,一、特征X射线谱的形成,2. 改变管流、管压，这些谱线只改变强度，而峰位所对应的波长不变。 即特征波长只与靶原子序数Z有关，而与电压等无关，故称特征X射线。 3. 产生特征X射线的最低电压叫激发电压。,特征X射线,42,二、实验规律,1. 激发电压：取决于阳极靶的原子序数Z。对不同阳极靶临界激发电压是不同的。 2.

20、 阳极靶（Z）不同，所产生的特征X射线的波长也不同。 3. 当管压超过激发电压时，特征X射线波长不变，而强度按n次方的规律增大。,式中：i 管流，V管压，n常数（1.52)， C比例常数，与特征X射线波长有关。,4. X光管压V（35）V激时，特征X射线与连续X射线的比率为最大。（有利于衍射）,43,三、产生机理的分析（1）,特征X射线产生机理与连续X射线不同，它与阳极靶物质的原子结构紧密相关的。,内层电子跃迁辐射X射线示意图,1. 若高速电子的动能足够大，将K壳层中某个电子击出。临界激发电压：产生K激发的能量为Wk=E-EK，阴极电子的能量必须满足eVWk，才能产生K激发，称为临界激发电压。

21、 2. 则在被击出电子的位置出现空位，原子系统能量升高，处于 “激发态” 。若L壳层电子 K壳层后，能量降低。,44,三、产生机理的分析（2）,3. 这多余能量以一个X射线光量子的形式辐射出来， 则光子能量：,4. 对原子序数 Z 的物质，各原子能级的能量是固有的，所以，EKL便为固有值，也是固有的。这也就解释了特征X射线波长为一定值（特征值）的原因。,内层电子跃迁辐射X射线示意图,45,Balmer线系，,K 激发态,L 激发态,M 激发态,N 激发态,L K K谱线 (跨越 1个能级 ) M K K谱线 (跨越 2个能级 ) N K K谱线 (跨越 3个能级 ),ML L谱线 (跨越 1个

22、能级 ) NL L谱线 (跨越 2个能级 ) 依次类推还有M线系 。,原子能级示意图,即n = 2 时称为巴耳末线,46,三、产生机理的分析（3）,5. K线比K线 波长长而强度高,在原子系统中，各能级能量不同，且各能级间能量差也不均布，愈靠近原子核的相邻能级间的能量差愈大。,另外，因由LK层电子跃迁几率比由MK层约大5倍左右，故K线强度要比K线高5倍左右。,47,三、产生机理的分析（4）,6. 同一壳层还有若干个亚能级，电子所处能量不同，其能量差也固定。如： L 层：8个电子分属于L，L，L三个亚能级； 不同亚能级上电子跃迁会引起特征波长的微小差别。实验证明：,K由Kl 和 K2 双线组成的

23、。 Kl：L K 壳层； K2： L K 壳层；,K双重线,48,三、产生机理的分析（5）,7. 又因 LK (Kl)的跃迁几率较 LK (K2)的大一倍，故组成 K 两条线的强度比为：,如：W靶：Kl0.0709nm，K20.0714nm，一般情况下是分不开的，K线波长取其双线波长的加权平均值：,49,几种常见阳极靶材和特征谱参数,50,用X射线产生机理解释： 1）不同阳极靶有其固定的临界激发电压。 2）K空后，空位由L层电子占据的几率比M层大45倍。K强度是K的45倍。K的强度更小。 3）K波长比K更短。 4）V升高时，特征X射线波长不变。,51,（六）特征X射线的应用,莫塞来定律 特征X

24、射线谱是由布拉格发现，并经莫塞来加以系统化的。同系特征X射线的波长，随阳极靶的原子序数的增加而变短，在射线频率v的平方根和原子序数Z之间存在线性关系，即： 这个关系式称为莫塞来定律。（K和都是常数） 是X射线荧光分析和电子探针微区成分分析的理论基础。,52,第三节 X射线与物质的相互作用,X射线与物质相互作用是个复杂过程。 一束X射线通过物体后，其强度将被衰减，这是被散射和吸收的结果，且吸收是造成强度衰减的主要原因。,53,一、X射线的散射,一、X射线的散射 X射线照射物质上时，偏离了原来方向的现象。主要是核外电子与X射线的相互作用，会产生两种散射效应。 1. 相干散射（coherent sc

25、attering） 入射X射线与物质原子中内层电子作用，当X光子能量不足以使电子激发时，把能量转给电子，电子则绕其平衡位置发生受迫振动，成为发射源向四周辐射与入射X光波长（振动频率）相同电磁波（散射波）。 各电子散射波振动频率相同、位相差恒定，符合干涉条件，发生相互干涉，称为相干散射。,54,2非相干散射（康普顿吴有训效应）,2. 非相干散射：（incoherent scattering） X光子与外层价电子相碰撞时的散射。可用一个光子与一个电子的弹性碰撞来描述。, 电子：将被撞离原方向并带走光子部分动能成为反冲电子； X光量子：因碰撞而损失部分能量，其波长增加，并与原方向偏离2角。,X射线非

26、相干散射,55, 能量守恒定律：散射光子和反冲电子能量之和等于入射光子能量。可导出散射波长的增大值为:,2：为入射光与散射光 的传播方向间夹角。,X射线非相干散射, 可见，散射光波长变化与入射光波长 无关，只与散射角 2 有关。,56, 经典电磁理论：不能解释存在及随2而改变现象，此散射现象和定量关系遵守量子理论规律，也叫量子散射。,X射线非相干散射, 此空间各方向散射波与入射波波长不同，位相关系也不确定，不产生干涉效应，称非相干散射。 非相干散射：不参与对晶体的衍射，只会增加衍射背底，对衍射不利。 入射波长越短、被照射物质元素越轻，此现象越显著。,57, 非相干散射效应：由美国物理学家康普顿

27、（A.H.Compton）在1923年发现的，也称康普顿散射。 我国物理学家吴有训参加了实验工作，故称康吴效应。 因此，康普顿于1927年获诺贝尔物理学奖。,1927年的A.H.康普顿,中国物理学家吴有训,58,（一）X射线的真吸收 1、光电效应与荧光X射线： 1）光电效应：当入射X光子能量足够大，将内层电子击出，成为自由电子（称光电子），原子则为激发态，外层电子向内层空位跃迁，并辐射出一定波长的特征X射线。被打出的电子称为光电子，所辐射出的次级特征X射线称二次特征X射线或荧光X射线。 为区别入射X射线，称其为二次特征X射线或荧光X射线。,以入射X射线激发原子所发生的激发和辐射的现象称为“光电

28、效应”。,入射X射线,二、X射线的吸收,59,2）光电效应使入射X射线消耗大量的能量，表现为物质对入射X射线的强烈吸收。,图1-10 X光量子能量及质量吸收系数随波长的关系,在质量吸收系数曲线（m- ）上，表现为吸收系数的突变，此对应波长称吸收限。（如图）,60,3）产生K系荧光辐射条件（激发限 ） 入射光子能量h须大于或等于K层电子的逸出功WK，即：,VK把原子中K层电子击出所需的最小激发电压。 K把K层电子击出所需的入射光最长波长。 表明：只当入射X光波长K1.24VK 时，才能产生K系荧光辐射。,61,4.）讨论光电效应产生的条件时，K称K系激发限； 讨论X射线被物质吸收时，K称为吸收限

29、。,a. 当入射线波长光子能量 ，易穿过吸收体，则质量吸收系数m ；,b. 当K时，入射光子能量刚好击出吸收体的电子，形成大量光电子及二次荧光，光电效应最强烈，使m突然上升；,c. 当进一步 ，K，光电效应饱和，多余能量穿透过吸收体；穿透，。,62,5）注意： 吸收限：K1.24VK (nm)； 连续X射线谱中短波限：0=1.24V (nm) 两者形式完全相同，但意义决然不同： 1. 连续谱的短波限0随V的升高而变小； 2. 后者，说明每种物质的K激发限波长都有它特定的值。,63,应用与避免： X射线衍射分析，荧光X射线造成衍射花样的的背底比非相干散射要严重的多，因此应设法避免它，如选靶时，应

30、使靶的特征X射线波长不短于试样物质的激发限等等。 避免 X射线荧光光谱分析，要利用荧光X射线进行成分分析。 应用,64,2、俄歇（Auger）效应,1）当K层电子被击出后，原子处K激发态，能量为EK。若L层电子跃入K层填补空位。能量由EK EL，同时将有多余能量释放出来。,光电子、俄歇电子和荧光x射线三种过程示意图,能量释放会产生两种效应： A. 产生KX射线辐射； B. 产生俄歇电子：即能量被邻近电子或较外层电子（另一LII电子）所吸收，该电子受激发逸出变为二次电子。,65,2）该俄歇电子能量有固定值，按上例近似为,光电子、俄歇电子和荧光X射线三种过程示意图,此具有特征能量的电子是俄歇（M.

31、 P .Auger）于1925年发现的，称为俄歇电子。,从L层逃出的叫 KLL 俄歇电子；也可存在 KMM 俄歇电子。,66,俄歇效应的特点和应用： 1） 俄歇电子能量：只取决于该物质的原子能级结构，是一种元素的固有特征。 2）俄歇电子能量很低：只有几百eV，深处信号测量不到。 俄歇电子能谱仪最合适对固体表面23层原子层的成分分析，并还可进行逐层分析。 3）实验表明：轻元素俄歇电子的发射几率比荧光X射线发射几率大。所以，俄歇谱仪适合于对轻元素的成分分析。,67,1. X光通过物质而强度衰减X射线与物质作用主要是X射线被散射和吸收使得X射线被减弱。 当强度为 I0 的X射线照射到厚度 t 的均匀

32、物质上，在通过深度为 x 处的dx厚度的物质时，强度衰减与dx成正比。,对0t积分,l为常数，称为线吸收系数。,称为透射系数。,（二）透射系数与吸收系数,t,68,2. 线吸收系数l：表征X射线通过单位厚度物质的相对衰减量，与物质种类、密度、X光波长有关。 为了消除吸收系数对物理状态的依赖性，特别是单位体积内所含的物质数量及物质的组成，使用质量吸收系数m cm2g替代L：,吸收体密度，物质固有值；,物质固有值，可查表。,69,3. m 物理意义：X射线通过单位面积上单位质量物质后强度相对衰减量。 m与物质密度和状态（温度、压力等）无关；而与物质原子序数 Z 和X射线波长有关。其经验公式为：,对一定的吸收体，波长越短，穿透能力越强，吸收系数下降； 但随波长降低，并非呈连续变化，而在某波长突然升高，出现吸收限。,70,与K层电子对应的吸收称为K吸收限（K），吸收限两侧m的变化基本上遵循上式。只是比例系数K不同。,机理分析： A当很短时，能打出K电子，形成K吸收但因波长太短，不易倍K电子吸收，因此吸收系数小。 B波长增加，K电子越来越容易吸收这样的光子能量，直到K吸收限。 C当比K稍稍大一点，无法打出K电子，不能形成K吸收。可以