电容法测试作业指导书

1、电容法作业指导书,序,开短路测试：电路板在制作过程中，会由于工序或人为的原因造成应该导通的线路断路、应该绝缘的 网络短路。开短路测试的目的就是找出此类不良，防止不良流入电路板制作的下一个工序。 测试方法有电阻法、电容法、吸盘电容法、纯电容等，如图： 低阻测试：因为制程异常的原因，在PCB中形成的孔内空洞、铜薄，HDI板经过镭射钻孔后惨胶导致的导通不良等，用普通的开短路测试无法检测出。低阻测试很好的解决了此类问题,A B C D E,正常,A B C D E,C网络开路 （不良,A B C D E,D、E网络短路 （不良,目录,电容法测试原理 适用范围 测试参数设定 测试注意事项 普通电容调试,

2、电容法测试原理,平板电容器 平板电容器由两个彼此靠得很近的平行极板（设为A和B）所组成，两极板的面积均为S，设两极板分别带有+Q，-Q的电荷，于是每块极板的电荷密度为=Q/S, ,我们略去极板的边缘效应，把两极板间的电场看成是均匀电场，由高斯定理可得两板间场强为E=/。=Q/S。 再由U=AB E dl =Ed=Qd/S。再根据C=Q/U 得出C=。S/d既平板电容公式也就是C=S/4kd 注：。=1/4k 是真空电容率 平板电容器的电容与极板的面积S成正比，与极板间的距离d成反比，电容C的大小与电容是否带电无关，只与电容器本身的结构形状有关,电容法测试原理,原理：C = S / 4kd,S,

3、VCC/GND,d,B,A,Net1 S1,Net5 S5,Net2 S2,Net3 S3,Net4 S4,基准网络,Comp Side,d,Net6 S6,Net8 S8,Net9 S9,Ne7 S7,Net10 S10,Sold Side,电容法测试原理,首片截电容,A之電容值：150 F B之電容值：147F C之電容值：152F D之電容值：148F E之電容值：108F F之電容值：108F,E,F,截电容,开短路OK,标准电容值,后续板测试,A：147F B：148F C：150F D：145F E：3F F：101F,E,F,OK板,A：151F B： 15F C：154F D：

4、 148F E：105F F：104F,E,F,后续板测试,开短路复测电容 值异常的网络,开路测试E-F,OK,绝缘测试E-C,OK,测试结果OK,NG板,开路测试A-B,NG,绝缘测试E-C,OK,测试结果NG,适用范围,电容法适用于有基准网络的多层电路板。（无基准网络的多层板用电阻法；一、两层板用纯电容,四层板,显示有基准网络,显示有基准网络,测试参数设定,1.电容法测试必须打开导通、绝缘项。 2.使用电容法测试时，开路测试、绝缘测试均需勾选使用相位差测试，需勾选相位差 复测。 3.根据客户要求设定开路阻值、绝缘阻值和测试电压。（电容异常再用开短路测试异常网络,测试注意事项,2.对位一定要

5、注意不能对错。电容法后续片测试是首先测量电容值，如果对位错了，很有可能测试针扎到板外或孔内导致针断、孔划伤,1.电容法测试由于不需要使用吸盘补偿，故测量值应该是黑色,黄色代表已使用补偿文件.tbl,测试注意事项,3.没有基准网络的测试板使用电容法测试时，会出现右图一的提示，请点击“否”退出,4.电容值出现较大异常时，会出现右图二的提示。电容值有较多异常时，机台测试的连续性不好。 a.检查是否有扎偏现象，并根据扎偏程度，判断是对位对错还是针偏，若是对位对错需重新对位，若是针偏需做校正。 b.检查板子是否氧化。 c.检查板子表面，看是否有来料打报、大范围断线等明显异常。 d.根据电容法测试原理，电容值存在异常时，会使用电阻法