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文档简介

用双棱镜测定光波波长,一、干涉相关知识二、实验基本原理三、如何测量D、d、x四、元件共轴调节五、实验常见问题及处理,相干光与非相干光,分振幅法,获得相干光的两类典型方法,几种分波面干涉法,如前所述，用分波阵面的方法，可以获得相干光源，双棱镜颇具有代表性。虽然在激光出现之后，设法获得相干光源的工作已不如早期那样的重要，但双棱镜干涉在实验构思及装置调整等问题上仍然具有重要意义。双棱镜可看作是有两个折射棱角a很小（小于1）的直角棱镜底边相接而成。借助于双棱镜可使从光源S发出的光的波阵面沿两个不同方向传播。相当于虚光源S1及S2发出的两束相干光。在两束光交迭空间的任何位置上将有干涉发生，在该区域内可以接受并观察到干涉条纹。,一.实验基本原理,若S1和S2发之间的距离为d，S至观察屏的距离为D，Po为屏上与S1及S2等距离的点，在该点处两束光波的光程差也为零，因而两波相互加强而成零级的亮条纹。在Po点的两边还排列着明暗相间的干涉条纹。,如果测得D，d及便可由式求出值。,这样，两相邻亮条纹的距离为：,设S1和S2到屏上距Po点的距离为Xk的Pk点的光程差为，当Dd、DX时，有：,二.如何测量测量D、d、x,用两次成像法测量D、d，如下图示意：,在实验光具座上测出透镜两次移动间距（），同时用测微目镜测量放大和缩小虚光源的间距（d、d）,测量x,直接用测微目镜测量多条干涉条纹间距nX注意:用测微目镜测量时，要克服螺距差,三.元件共轴调节实验装置应调节到下述状态：（1）光具座上各元件等高共轴。（2）双棱镜的棱脊严格平行于狭缝，且狭缝宽度适当，以获得清晰的干涉条纹。,具体调节方法如下：1.调节单狭缝与双棱镜以及测微目镜共轴。（利用白光干涉中心位置的移动调节）2.调节透镜使其与上述系统共轴。（可参考透镜焦距测量实验）,四.实验仪器,干涉滤波片,可调狭缝,双棱镜,凸透镜,测微目镜,辅助屏,五.实验常见问题及处理,1.测量仪器没有调节好就开始测量数据。实验中通过测微目镜来测量数据，首先要调节测微目镜的可旋转目镜部分，将分划板上的叉丝调节到自己认为最清晰，方可开始后面的测量。2.用测微目镜测量数据，在具体的操作中转动读数鼓轮时同样要克服螺距差。3.在实验中往往出现干涉条纹不够清晰，而有些操作者就开始测量。引起条纹不够清晰的原因很多：1.)狭缝过宽，引起双缝干涉的条纹对比度降低2.）狭缝没有与双棱镜的棱脊平行，等等。,4.测量D、d了后，开始测量x，有的操作者往往会前后移动测微目镜以求观察的最清晰的干涉条纹，这样的操作是错误的，千万不能前后移动测微目镜，一旦移动则重测D、d。因此，在做实验的时候不要急于测量D、d，在还没有插入凸透镜之前，首
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