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文档简介

1、Chap5 物理气相沉积,PVD是以物理方式进行薄膜淀积的一种技术。在集成电路生产中,金属薄膜在欧姆接触、互连、栅电极和肖特基二极管等方面,都有很广泛的应用。 PVD有两种方法:蒸镀法(Evaporation Deposition)和溅镀法(Sputtering Deposition)。前者是通过加热被蒸镀物体,利用被蒸镀物体在高温(接近其熔点)时的饱和蒸汽压,进行薄膜淀积,又称热丝蒸发。后者是利用等离子体中的离子,对被溅镀物体(又称离子靶)进行轰击,使气相等离子体内具有被溅镀物体的粒子(原子),这些粒子淀积到硅晶体上形成溅镀薄膜,又称溅射。,蒸发:在真空系统中,金属原子获得足够的能量后便可以

2、脱离金属表面的束缚成为蒸汽原子,淀积在晶片上。按照能量来源的不同,有灯丝加热蒸发和电子束蒸发两种 溅射:真空系统中充入惰性气体,在高压电场作用下,气体放电形成的离子被强电场加速,轰击靶材料,使靶原子逸出并被溅射到晶片上,蒸发原理图,在薄膜淀积技术发展的最初阶段,蒸发法用的多。其优点:较高的淀积速率、相对高的真空度、较高的薄膜质量。 缺点:台阶覆盖能力差,淀积多元化合金薄膜时组分难以控制。 溅射法优点:淀积多源化合金薄膜时,化学成分容易控制、淀积的薄层与衬底附着性好等。 溅射技术制备薄膜的技术已基本取代真空蒸发法。,5.1 真空蒸发法制备薄膜的基本原理,蒸发:材料的温度低于熔化温度时,产生蒸气的

3、过程,称为升华,而熔化时产生蒸气的过程称为蒸发。 热蒸发: 蒸发材料,使其原子或分子蒸发,又称。,真空知识:PVD一般是以单质的固体材料为源,然后设法将它变为气态,再在衬底表面淀积而成薄膜。当一个系统中残留1Pa的空气时,由理想气体状态方程可以计算出,在室温下,每立方厘米空间约有2.4*1014个气体分子。这些气体分子不仅严重妨碍了铝、金、铬等金属蒸发分子由源向衬底的降落淀积,而且使每立方厘米衬底表面每秒钟要遭受到1018个空气分子的撞击,这个数值已远远超出了金属淀积膜的原子密度,这些物质夹在薄膜中,必然会破坏薄膜的成分与质量。所以,PVD法要求正式淀积之前,必须彻底地抽除淀积室内的残留气体,

4、即在低气压(又称本底真空度)下,才能开始淀积。,本底真空度,依据淀积方法,淀积物性质而异。如蒸铝要比蒸金要求更低的本底真空度。这是因为铝易被氧化之故。真空度越高,淀积室内气体分子越少,使得蒸发材料的原子或分子所走的路程就越长。 通常我们把大量原子或分子,两次间碰撞自由飞行的平均长度称为原子或分子的平均自由程(L)。,原子的平均自由程与气体压强成反比。也就是说,P越低,则L就越大。例如当P=1mmHg时,L=5*10-5cm;P=10-6mmHg时,L=5000cm。这就是要想源材料的原子或分子所走的路程越长,就必须将淀积室抽成高真空。生产上常用的是10-510-6mmHg,而蒸发源到衬底的距离

5、大约在1030cm之间,即平均自由程远远大于源到衬底的距离,当源分子或原子从源材料脱离以后,就可以直线形式射到衬底上。当然这不是绝对的,碰撞肯定也有的,只不过这种碰撞几率小到可以忽略不计。,一、真空蒸发设备 三大部分 (1)真空系统:为蒸发过程提供真空环境 (2)蒸发系统:放置蒸发源,以及加热和测温装置。 (3)基板及加热:放置衬底,对衬底加热装置及测量装置。 真空蒸发法过程: (1) 加热蒸发过程 (2) 气化原子或分子在蒸发源与基片之间的输运过程 (3)被蒸发的原子或分子在衬底表面的淀积过程,蒸发原理图,二、汽化热和蒸汽压 三、真空度与分子平均自由程 四、多组成薄膜的蒸发方法 单源蒸发法:

6、单源,合金溶液 多源同时蒸发法:多坩埚,同时蒸发 多源顺序蒸发法:多坩埚,按顺序蒸发,5.2 蒸发源,1.电阻加热源 利用电流通过加热源时所产生能够的焦耳热来蒸发材料。 蒸发中出现的质量问题: (1)铝层厚度控制不合适 铝层厚度是蒸铝工艺中一个主要的参数。太薄,在键合工序容易开焊造成半导体器件或集成电路断路,严重影响成品率。如果太厚,电极图形看不清,增加了光刻难度。腐蚀时间一长,容易造成脱胶,钻蚀现象。,(2)铝层表面氧化 蒸铝后出现铝层发黄或发灰,这说明表面被氧化及其他合金物出现,杨画册铝层 不仅难以光刻核键合,而且影响器件性能。 造成铝层氧化有以下原因: 1)钨丝纯度不够,杂质含量太多或清

7、洁处理得不够; 2)真空度低或真空零件不干净; 3)蒸发时挡板打开的过早,即在,铝溶液表面的氧化层还未去掉时就开始蒸发。因而把赃物也蒸发上去了; 4)衬底加热温度较高,并且取片过快; 5)扩散泵抽气率不高,在蒸发时,各部分加热后放出的气体未及时抽走; 6)真空系统中出现慢性漏气。,2.电子束蒸发源 (1)基于电子在电场作用下,获得动能轰击处于阴极的蒸发材料,使蒸发材料加热气化。 (2)电子束蒸发的优点: l 膜纯度高,钠离子玷污少 l 光刻腐蚀方便 l 镀膜层均匀 l 节约大量钨丝和铝源 l 应用范围广 l 铝膜晶粒致密均匀,3.激光加热源 利用高功率的连续或脉冲激光作为能源对蒸发材料进行加热

8、。 4.高频感应加热蒸发源 通过高频感应对装有蒸发材料的坩埚进行加热。,5.3 气体辉光放电,溅射:具有一定能量的入射离子在对固体表面轰击时,入射离子在与固体表面原子的碰撞过程中将发生能量和动量的转移,并能将固体表面的原子溅射出来。 基础是辉光放电。 1. 直流辉光放电 2. 辉光放电中的碰撞过程 弹性碰撞: 非弹性碰撞: (1)电离过程;(2)激发过程;(3)分解反应 3. 射频辉光放电,5.4 溅射,溅射是利用等离子体中的离子,对被溅射物体电极进行轰击,使气相等离子体内具有被溅射镀物的粒子,使其淀积到硅片表面并形成薄膜的一种方法,因此将高纯粒子从某种物质的表面撞击出原子的物理过程叫溅射。

9、溅射是目前大规模集成电路制造中应用得最广泛的一种镀膜方法,它可以用来淀积不同的金属,包括铝、铝合金、钛、钨钛合金。,溅射具有以下优点: )可在一个面积很大的靶子上进行,这样解决了大尺寸硅片淀积铝膜厚度均匀性的问题 )在选定的工作条件下,膜厚容易控制,只要调节时间就可得到所需厚度 3)溅射淀积薄膜的合金,成分要比蒸发容易控制 4)改变加在硅片上的偏压和温度,可以控制薄膜的许多重要性能,如台阶覆盖和晶粒结构等。 5)在溅射之前进行预溅射,做一番清洁处理,这样可以获得质量更好的薄膜。,一、溅射特性 1. 溅射阈值:1030ev取决于靶材料 2. 溅射率:被溅射出来的原子数与入射离子数之比,其大小于入

10、射离子的能量、种类、靶材料的种类等有关。 3. 溅射原子的能量和速度 有5个特点,二、溅射方法 1. 直流溅射:溅射率低,靶材料有较好导电性时可以很方便的溅射淀积各类金属薄膜。 2. 射频溅射:导电性很差的非金属材料的溅射。 3. 磁控溅射:店家速率较高,工作气体压力较低,薄膜质量好,是目前应用最广泛的一种溅射淀积方法。 4. 反应溅射:在淀积同时形成化合物。 5. 偏压溅射:在一般溅射基础上,加一定偏置电压在衬底与靶材料之间,改变入射到衬底表面的带电粒子的数量和能量。,6. 接触孔中薄膜的溅射淀积:带有准直器。 7. 长投准直溅射技术:不用准直器便能改善接触孔底部覆盖效果的溅射技术。 需要解决的问题: 1)溅射会导致反应室室壁表面凝结靶材料的原子

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