OQC異常-USB 接口失效分析告.ppt

1、OQC異常USB connecter of IO card no function report,Department: FAE Date: 2009/10/23 Reporter:,What : USB接口失效 When : 2009.10.21 Where :OQC station Who : Whitney Failure rate：4/328,Description:,Define:,1. 机台于OQC 检查Device Manager中USB device项 有一未识别设备（图1）. 2.将此项未知USB设备driver Uninstall, 再重新加载-此项设备仍无法识别. 3.

2、分别于机台5个USB Port插上USB K/B, 检查其USB Port功能- (1)将USB K/B插于机台背部I/O端口左侧USB Port, 无法使用. 其余4个USB Port均正常. (2)将USB Mouse 、U盘分别插于该左侧USB Port, 亦无法使用. 4. 综上所述, 此机台背部I/O端口左侧USB Port（图2）失效.,OQC problem symptom,(图1),(图2),Analysis:,1. 机台至FAE分析区复测10次, 均可复制到不良. 检查USB失效Port 内部各PIN无异常. 2. 更换测试系统之HDD, 用产线测试程式 测试其USB por

3、t 功能- 于不良USB Port插上USB治具小卡, USB治具小卡灯正常闪烁(图3) , 测试其USB功能Fail (图4). 3. 将机台后盖及铁件拆除, 检查I/O card已插到位. 4. 将I/O card取下,检查其金手指无划痕、异物; 检查M/B端I/O card插槽无异常. 将I/O card重新插入M/B端I/O card插槽, 不良现象依旧. 5. 将I/O card装于良品机台, USB port test Fail. 6. 目检异常机台之失效USB Port 周边零件均无异常.,(图3),(图4),Analysis:,7. 将I/O card取下, 量测其失效USB

4、Port内部第三PIN (Data-) 对地阻抗异常 - 该Data PIN对地阻抗为90, 正常应在500-530范围内 8. 量测与I/O card失效USB Port相连电容、电感无异常. 9. 量测与I/O card之失效USB Port相连U13零件异常 - U13第一PIN对地阻抗为90, 正常应在500-530范围内 (此PIN与控制USB Port之差分信号Data-相连), 量测U13各PIN对地阻抗 数据如下. 10.FAE初步分析此异常为I/O card U13 NG.,Analysis:,11. 此异常 OQC抽测出4pcs均为 此同一Root cause所致, (1)

5、机种:300-1025ABA (2)机种:300-1025eu (3)机种:300-1020ABA SN:3CR9430C90 SN : 3CR9430JCB SN : 3CR9430ZBP (4)机种: 300-1040a SN: 3CR9430PJK 12.在OQC抽检至第二台同样现象时，FAE考虑厂内产线测试也有造成不良的可能 （1）在sfis web中查询因IO USB fail出现不良，大部分机种在C线测试 至不良高发生地段C产线观察产线人员 作业手法及测试治具，第一台产线就出现不良并将机台推至线外，FAE确认不良机台及出现不良站别 后，即刻通知EQ人员协助更换USB card治具；

6、 第二台出现不良锁定在另一站特定USB小卡治具，实测机台USB function失效，为排除其治具将其更换 第三台再次出现将不良治具更换，至此C线DOS站没有出现USB fail 分析以上三台均为维修回流机台 （2）针对维修测试站，模拟产线将USB cable插入IO card USB first port，此时USB cable对应的USB card LED指示灯正常闪烁，在插入USB keyboard 实测功能均可以正常使用，所有USB 治具全部复测后，功能都可以正常使用 以上验证均排除C线DOS USB治具不良 13.后经各单位共同讨论后立即对策如下: 产线Windows站测试过程中必选

7、测试到此接口,协助卡关 产线DMI站测试过程中必须测试此接口,协助卡关,14.导入立即对策之后，C线DMI站立即出现不良3PCS，FAE及leader至DMI量测IO card USB J12 PIN3（data-） 闻到机台有烧焦的味道且对地阻抗发生变化，具体量测数据如下： 15.观察Hi-pot测试时，发现作业人员在测试机台内漏电流 时，将USB cable插入IO J13 connecter进行测试. 检查其Hi-pot机USB治具有烧焦迹象且将USB cable外围粘合层展开发现cable内部铜丝有touch到USB接口铁件.在Hi-pot机治具端口插在USB Port后, 与其相对应

8、的USB Port信号(Data-) 对地short ,导致U13零件击穿.U13零件被击穿后, 其差分信号Data-输出异常, 导致其相连USB Port功能失效.,Analysis:,USB GND PIN有烧毁迹象,Analysis:,16.找到root cause后，立即通知EQ同仁将USB治具进行更换，并将USB本身(4PINGND，Data+，Data-,voltage)去空对机台进行Hi-pot测试,USB更换后治具实物 内部PIN去空,17.重工时发现部分不良机台至维修,更换I/O Card后USB Port 仍就失效.需更换M/B后USB Port接口功能正常.将产线重工机台

9、打下6sPCS进行分析,4pcs是重工再次打Hi-Port后发现的不良,2pcs重工时未打Hi-Port出现的不良,从分析结果发现不良有两种类型 (A.B):(第一次正常测试时,测试Hi-Port转接线治具不良,重工时测试Hi-Port已更换为良品).,Analysis:,A. 重工经过第二次测试Hi-Port,出现的不良为: M/B or I/O Card NG. B. 重工之前产线DMI站第一次测试过Hi-Port,但重工时未测试Hi-Port, 出现不良为: I/O Card & M/B NG 从A种类型不良结果中可看出：重工时可能会导致,已经出现I/O Card NG的机台,由于重工第

10、二次打Hi-Port 造成M/B NG.但从2pcs重工未打Hi-Port机台分析,在第一次测试Hi-Port就出现M/B不良,又与重工时无关. 详细见列表:,各取1PCS NG I/O Card & NG M/B 做进一步分析： 查看I/O Card线路图分析如下： 18. 通过查看电路图得知,U14芯片控制J11 USB(P0+/-) &J13 USB(P1+/-)的数据传输,此次出现问题是：产线在 DMI站进行耐高压的测试时,会使用U13芯片控制的J12 接口接地,测试Hi-Port接地治具中发现铜丝与USBP2-端 有Touch , 当J12中的USBP2-突然遇到很大的漏电流造成短路时, 保护电阻会立即切断线路,线路中的限流电感L2 （图2.3点）将滤波后的信号亦终止传输,U13芯片无法在对USBP2-进行控制,J12与M/B之间数据传输失效. 线路图如下：,Analysis:,Analysis:,查看M/B TSCT做进一步分析如下： 19.M/B端保护电感L60(LP9+/LP9-)一端通过P334(I/O Card插槽)相连,与J12进行数据传输, 当突遇其对地阻抗异常为:无穷大,正常阻抗为483,L60另一端穿孔后直接与M/B南桥相连,Analysis:,Conclusion:,立即